JPH02192292A - Ｍｕｓｅ受像機のテスト装置 - Google Patents
Ｍｕｓｅ受像機のテスト装置Info
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- JPH02192292A JPH02192292A JP1010436A JP1043689A JPH02192292A JP H02192292 A JPH02192292 A JP H02192292A JP 1010436 A JP1010436 A JP 1010436A JP 1043689 A JP1043689 A JP 1043689A JP H02192292 A JPH02192292 A JP H02192292A
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- JP
- Japan
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- signal
- muse
- test
- section
- failure
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明はＭＵＳＨ（ｍｕｌｔｉｐｌｅ ５ｕｂＮｙｑ
ｕｉｓｔ ｓａｍｐｌ−ｉｎｇ ｅｎｃｏｄｉｎｇ）受
像機のテスト装置に係り、更に詳しくはメモリを含むデ
ィジタル信号処理回路等からなるＭＵＳＨデコーダをテ
ストする新規なＭＵＳＥＥ受像機のテスト装置に関する
ものである。
ｕｉｓｔ ｓａｍｐｌ−ｉｎｇ ｅｎｃｏｄｉｎｇ）受
像機のテスト装置に係り、更に詳しくはメモリを含むデ
ィジタル信号処理回路等からなるＭＵＳＨデコーダをテ
ストする新規なＭＵＳＥＥ受像機のテスト装置に関する
ものである。
［技術的背景とその課題］
近年、現行のテレビ受像機より大画面（アスペクト比９
： １６）のハイビジョン受像機（ＨＤＴＶ）の開発
が種々行われている。このＨＤＴＶは、現行のテレビ受
像機と比較して画像の臨場感や迫力だけでなく、Ｗ像の
質感等に優れており、実用化されるのも時間の問題とな
っている。
： １６）のハイビジョン受像機（ＨＤＴＶ）の開発
が種々行われている。このＨＤＴＶは、現行のテレビ受
像機と比較して画像の臨場感や迫力だけでなく、Ｗ像の
質感等に優れており、実用化されるのも時間の問題とな
っている。
ところで、そのＨＤＴＶ、例えばＭＵＳＥ受像機におい
ては、送信ＭＵＳＥ信号が帯域圧縮信号である゛ことか
ら、そのＭＵＳＥ信号より画像を再生するための現行の
テレビ受像機にないＭＩＪＳＩＩ！デコーダ（メモリを
含む）のハードウェア回路が備えられている。
ては、送信ＭＵＳＥ信号が帯域圧縮信号である゛ことか
ら、そのＭＵＳＥ信号より画像を再生するための現行の
テレビ受像機にないＭＩＪＳＩＩ！デコーダ（メモリを
含む）のハードウェア回路が備えられている。
そのため、その河υＳＲ受像機の出荷時におけるテスト
は、現行のテレビ受像機のようなモニタの画像によるテ
ストだけではというわけにいかない、すなわち、そのＮ
ＵＳＥ受像機にはパーソナルコンピュータと同様にメモ
リを含むディジタル信号処理回路等が設けられているか
らである。
は、現行のテレビ受像機のようなモニタの画像によるテ
ストだけではというわけにいかない、すなわち、そのＮ
ＵＳＥ受像機にはパーソナルコンピュータと同様にメモ
リを含むディジタル信号処理回路等が設けられているか
らである。
この発明は上記の点に鑑みなされたものであり、その目
的はＭＵＳＥ受像機の出荷時のテスト等を容易に行なう
ことができるようにしたテスト装置を提供することにあ
る。
的はＭＵＳＥ受像機の出荷時のテスト等を容易に行なう
ことができるようにしたテスト装置を提供することにあ
る。
［課題を解決するための手段］
上記目的を達成するために、この発明はアンテナにて受
信した帯域圧縮（Ｍｕｓｓ）信号をＡ／Ｄ変換し、この
ディジタル変換した河υＳＥ信号をメモリに記憶し、か
つ、ディジタル信号処理し、その処理した信号をＤ／Ａ
変換して表示装置に出力するＭＵＳＥ受像機に用いられ
る検査装置であって、上記ＡＩＤ変換直後に入力するデ
ィジタルのテスト信号を発生するディジタル信号発生手
段と、上記メモリを含むディジタル信号処理回路等を経
た上記テスト信号と上記Ａ／Ｄ変換直後に入力したテス
ト信号とを比較し、この比較結果に基づいて前記メモリ
を含むディジタル信号処理回路等の故障やその故障個所
を検出する制御手段とを備えたことを要旨とする。
信した帯域圧縮（Ｍｕｓｓ）信号をＡ／Ｄ変換し、この
ディジタル変換した河υＳＥ信号をメモリに記憶し、か
つ、ディジタル信号処理し、その処理した信号をＤ／Ａ
変換して表示装置に出力するＭＵＳＥ受像機に用いられ
る検査装置であって、上記ＡＩＤ変換直後に入力するデ
ィジタルのテスト信号を発生するディジタル信号発生手
段と、上記メモリを含むディジタル信号処理回路等を経
た上記テスト信号と上記Ａ／Ｄ変換直後に入力したテス
ト信号とを比較し、この比較結果に基づいて前記メモリ
を含むディジタル信号処理回路等の故障やその故障個所
を検出する制御手段とを備えたことを要旨とする。
また、この発明のテスト装置は、上記故障やその故障個
所等を表示する表示手段を備えたことを要旨とする。
所等を表示する表示手段を備えたことを要旨とする。
［作 用］
上記構成としたので、 ＭＵＳＥ受像機に備えられるＨ
ＵＳＥデコーダのメモリを含むディジタル信号処理回路
に、所定ディジタルのテスト信号を入力し、その阿りＳ
Ｏデコーダを経たテスト信号とそのディジタル信号処理
回路に入力したテスト信号とが比較される。その比較結
果により、上記ＭＵＳＨデコーダのメモリ、静止領域補
間および動き領域補間等の回路に故障があるか否かの判
断が行われる。そして、上記表示手段にてその故障個所
に応じた表示が行われる。すなわち、ＭＵＳＥ受像機の
ＭＵＳＥデコーダを行なうことができ、モニタの画像で
はできない部分のテストが可能となり、しかもＭＵＳＥ
デコーダのみについてテストを行なうことができ、モニ
タを備えたＭＵＳＥ受像機の出荷時にはモニタの画像を
目視だけ行なえばよく、その出荷時のテストが簡単にな
る。
ＵＳＥデコーダのメモリを含むディジタル信号処理回路
に、所定ディジタルのテスト信号を入力し、その阿りＳ
Ｏデコーダを経たテスト信号とそのディジタル信号処理
回路に入力したテスト信号とが比較される。その比較結
果により、上記ＭＵＳＨデコーダのメモリ、静止領域補
間および動き領域補間等の回路に故障があるか否かの判
断が行われる。そして、上記表示手段にてその故障個所
に応じた表示が行われる。すなわち、ＭＵＳＥ受像機の
ＭＵＳＥデコーダを行なうことができ、モニタの画像で
はできない部分のテストが可能となり、しかもＭＵＳＥ
デコーダのみについてテストを行なうことができ、モニ
タを備えたＭＵＳＥ受像機の出荷時にはモニタの画像を
目視だけ行なえばよく、その出荷時のテストが簡単にな
る。
［実 施 例］
以下、この発明の実施例を図面に基づいて説明する。
図において１ＭυＳＥ受像機には、アンテナ１にて周波
数変換された帯域圧縮（ＭＵＳＥ）信号の所定チャネル
を選択するチューナ部２と、その選択されたチャネルの
ＭＵＳＥ信号をディジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換
部３と、このディジタルのＭＵＳＥ信号のノイズを軽減
し、伝送路用逆ｒ（ガンマ）特性をかけるデイエンファ
シス・ｒ−１部４と、このデイエンファシス・ｒ−１部
４を介したディジタルＭＵＳＥ信号（画像データ）を記
憶するメモリ部５と、そのＭＵＳＥ信号の画像の静止領
域を補間する静止領域補間部６と、その画像の動き領域
を補間する動き領域補間部７と、そのＭＵＳＦ！、信号
より動き領域を検出する動き領域検出部８と、静止領域
に対応する信号のみを通すＬＰＦ（ローパスフィルタ；
１２Ｍｔｌｚ）部９と、それら静止領域と動き領域を混
合する混合部１０と、この混合された信号をアナログに
変換するＤ／Ａ変換部１１と、上記メモリ部５、静止領
域補間部６、動き領域補間部７および動き領域検出部８
等を制御し、かつ、後述テスト装置との間で制御信号等
を授受するための制御部１２とから構成されている。な
お、そのアナログ変換された信号に基づいた画像を表示
するためのモニタ装置（陰極線管）やＭＵＳＥ受像機に
必要な他の回路は省略している。
数変換された帯域圧縮（ＭＵＳＥ）信号の所定チャネル
を選択するチューナ部２と、その選択されたチャネルの
ＭＵＳＥ信号をディジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換
部３と、このディジタルのＭＵＳＥ信号のノイズを軽減
し、伝送路用逆ｒ（ガンマ）特性をかけるデイエンファ
シス・ｒ−１部４と、このデイエンファシス・ｒ−１部
４を介したディジタルＭＵＳＥ信号（画像データ）を記
憶するメモリ部５と、そのＭＵＳＥ信号の画像の静止領
域を補間する静止領域補間部６と、その画像の動き領域
を補間する動き領域補間部７と、そのＭＵＳＦ！、信号
より動き領域を検出する動き領域検出部８と、静止領域
に対応する信号のみを通すＬＰＦ（ローパスフィルタ；
１２Ｍｔｌｚ）部９と、それら静止領域と動き領域を混
合する混合部１０と、この混合された信号をアナログに
変換するＤ／Ａ変換部１１と、上記メモリ部５、静止領
域補間部６、動き領域補間部７および動き領域検出部８
等を制御し、かつ、後述テスト装置との間で制御信号等
を授受するための制御部１２とから構成されている。な
お、そのアナログ変換された信号に基づいた画像を表示
するためのモニタ装置（陰極線管）やＭＵＳＥ受像機に
必要な他の回路は省略している。
一方、テスト装置ｉＴは、上記Ａ／Ｄ変換の直後に画像
データの静止領域あるいは動き領域の信号およびコント
ロール信号等を出力し、上記Ｄ／Ａ変換の直前の信号を
入力し、出力信号と入力信号とを比較して、各デイバイ
ス（メモリ等）のエラーや故障個所等を判断する機能を
有している。そのため、そのテスト装＠Ｔには、テスト
信号（静止領域、コントロール信号）を出力する小メモ
リ部１３と、動き領域の信号を出力する動画部１４と、
テストの割込みベクタを発生するベクタ発生部１５と、
上述のテスト結果のデータが記憶されるテストデータ部
１６と、乱数を発生し、上述のテスト信号等の出力制御
、その出力信号と入力信号とを比較判断する制御部１７
と、上記信号の比較により検出したエラーを表示するた
めの信号エラー表示部１８と。
データの静止領域あるいは動き領域の信号およびコント
ロール信号等を出力し、上記Ｄ／Ａ変換の直前の信号を
入力し、出力信号と入力信号とを比較して、各デイバイ
ス（メモリ等）のエラーや故障個所等を判断する機能を
有している。そのため、そのテスト装＠Ｔには、テスト
信号（静止領域、コントロール信号）を出力する小メモ
リ部１３と、動き領域の信号を出力する動画部１４と、
テストの割込みベクタを発生するベクタ発生部１５と、
上述のテスト結果のデータが記憶されるテストデータ部
１６と、乱数を発生し、上述のテスト信号等の出力制御
、その出力信号と入力信号とを比較判断する制御部１７
と、上記信号の比較により検出したエラーを表示するた
めの信号エラー表示部１８と。
メモリ部５の記憶エラーを表示するメモリエラー表示部
１９と、上記ＬＰＦ部９の動作エラーを表示するＬＰＦ
エラー表示部２０と、画像データの補間エラーを表示す
る補間エラー表示部２１とが備えられている。
１９と、上記ＬＰＦ部９の動作エラーを表示するＬＰＦ
エラー表示部２０と、画像データの補間エラーを表示す
る補間エラー表示部２１とが備えられている。
次に、上記テスト装置Ｔの動作、各デイバイスのテスト
、故障個所、動作不可等の判断について説明する。
、故障個所、動作不可等の判断について説明する。
まず、ＭＵＳＥデコーダの各デイバイス（ディジタル信
号処理を行なうＩＣ等）をチエツクするため、制御部１
７にてベクタ発生部１５の割込みベクタが発生されると
もに、擬似乱数信号が発生され、この擬似乱数信号がＡ
／Ｄ変換直後においてＮυＳＥデコーダのディジタル信
号処理回路に入力され、パーソナルコンピュータと同様
にそのディジタル信号処理回路の各デイバイスがテスト
される。
号処理を行なうＩＣ等）をチエツクするため、制御部１
７にてベクタ発生部１５の割込みベクタが発生されると
もに、擬似乱数信号が発生され、この擬似乱数信号がＡ
／Ｄ変換直後においてＮυＳＥデコーダのディジタル信
号処理回路に入力され、パーソナルコンピュータと同様
にそのディジタル信号処理回路の各デイバイスがテスト
される。
続いて、制御部１７にてＭＵＳＨのプロトコルの全静信
号が発生されるとともに、小メモリ部１３からテスト信
号が読み出され、この同じテスト信号がある周期でＭＵ
ＳＥデコーダのＡ／Ｄ変換直後に出力される。そして、
制御部１７にてＭＵＳＥデコーダを経た信号と出力信号
とが比較され、この比較結果によりそのＮυＳＲデコー
ダ内の静止領域補間系のテストが行われる。ところで、
メモリまわりのデイバイスが正常だからといって、必ず
しも正しい映像信号が出力されるとは限らない。しかし
、上記出力信号と入力信号の比較に基づいてテストを行
なうことにより、当該阿υＳＥ受像機にて正常な映像信
号が得られるか否かの判断が可能となっている。
号が発生されるとともに、小メモリ部１３からテスト信
号が読み出され、この同じテスト信号がある周期でＭＵ
ＳＥデコーダのＡ／Ｄ変換直後に出力される。そして、
制御部１７にてＭＵＳＥデコーダを経た信号と出力信号
とが比較され、この比較結果によりそのＮυＳＲデコー
ダ内の静止領域補間系のテストが行われる。ところで、
メモリまわりのデイバイスが正常だからといって、必ず
しも正しい映像信号が出力されるとは限らない。しかし
、上記出力信号と入力信号の比較に基づいてテストを行
なうことにより、当該阿υＳＥ受像機にて正常な映像信
号が得られるか否かの判断が可能となっている。
続いて、制御部１７にて１２Ｍ１（ｚ以上のテスト信号
が小メモリ部１３から読み出され、上記全静信号のテス
ト信号とともに、ＭＵＳＥデコーダのＡ／Ｄ変換直後に
出力される。そして、制御部１７にてＭＵＳＥデコーダ
を経た信号と出力信号とが比較された際、それら信号が
一致しない場合には静止領域系のＬＰＦ部９に何等かの
故障が発生していることになる。
が小メモリ部１３から読み出され、上記全静信号のテス
ト信号とともに、ＭＵＳＥデコーダのＡ／Ｄ変換直後に
出力される。そして、制御部１７にてＭＵＳＥデコーダ
を経た信号と出力信号とが比較された際、それら信号が
一致しない場合には静止領域系のＬＰＦ部９に何等かの
故障が発生していることになる。
また、制御部１７にて動画部１４からテスト信号が読み
出され、この同じテスト信号がある周期でＭＵＳＥデコ
ーダのＡ／Ｄ変換直後に出力される。これにより、上記
静止領域系のテストと同様に、ＭＵＳＥデコーダの動き
領域補間系のテストが行なうことができる。さらに、制
御部１７にてにυＳＨの擬似コントロール信号が発生さ
れ、上記ＭＵＳＥデコーダのＡＩＤ変換直後に出力され
る。なお、その擬似コントロール信号としては、例えば
動き補正信号、ＡＭ／ＦＭ等を変化させたものである。
出され、この同じテスト信号がある周期でＭＵＳＥデコ
ーダのＡ／Ｄ変換直後に出力される。これにより、上記
静止領域系のテストと同様に、ＭＵＳＥデコーダの動き
領域補間系のテストが行なうことができる。さらに、制
御部１７にてにυＳＨの擬似コントロール信号が発生さ
れ、上記ＭＵＳＥデコーダのＡＩＤ変換直後に出力され
る。なお、その擬似コントロール信号としては、例えば
動き補正信号、ＡＭ／ＦＭ等を変化させたものである。
これにより。
上記同様に制御部１７にてコントロール信号に関係する
阿υＳＥデコーダを種々テストすることができる。
阿υＳＥデコーダを種々テストすることができる。
このように、ＭｕＳＥデコーダの個々のデイバイスチエ
ツクに始まり、それらの動作等のテストが行われた際、
それらチエツク、テストでエラーが生じた場合、信号エ
ラー表示部１８．メモリエラー表示部１９、ＬＰＦエラ
ー表示部２０および補間エラー表示部２１等にて表示さ
れる。これにより、 ＭＵＳＥデコーダのみのチエツク
を行なうことができ、しかもその回路や個々のデイバイ
スの故障個所を限定することができるという利点がある
。また、パーソナルコンピュータと同様に予めそのＭＵ
ＳＥデコーダをテストしておくことができ、さらにモニ
タを備えたＭＵＳＥ受像機の出荷時においては、そのモ
ニタの画像を目視でテストするだけよく、簡単なテスト
で済ませられ、かつ、これで完全なテストが行われたこ
とになる。
ツクに始まり、それらの動作等のテストが行われた際、
それらチエツク、テストでエラーが生じた場合、信号エ
ラー表示部１８．メモリエラー表示部１９、ＬＰＦエラ
ー表示部２０および補間エラー表示部２１等にて表示さ
れる。これにより、 ＭＵＳＥデコーダのみのチエツク
を行なうことができ、しかもその回路や個々のデイバイ
スの故障個所を限定することができるという利点がある
。また、パーソナルコンピュータと同様に予めそのＭＵ
ＳＥデコーダをテストしておくことができ、さらにモニ
タを備えたＭＵＳＥ受像機の出荷時においては、そのモ
ニタの画像を目視でテストするだけよく、簡単なテスト
で済ませられ、かつ、これで完全なテストが行われたこ
とになる。
なお、上記ＭｕＳＥデコーダのみのチエツク、テストに
際し、それら結果がそれぞれ表示部に表示されるが、モ
ニタ（陰極線管）に表示するようにしてもよい。
際し、それら結果がそれぞれ表示部に表示されるが、モ
ニタ（陰極線管）に表示するようにしてもよい。
［発明の効果］
以上説明したように、この発明のＭＵＳＥ受像機のテス
ト装置ｌ゛によれば、種々ディジタル信号を人力し、前
記メモリを含むディジタル信号処理回路等を経た信号と
その入力ディジタル信号とを比較し、この比較結果に基
づいて前記メモリを含むディジタル信号処理回路等の故
障や状態を検出するようにしたので、ＭＵＳＥ受像機の
ＳυＳＥデコーダのみでチエツク、テストすることがで
き、しかもその故障個所等を限定することができ、ＭＬ
ＩＳＥ受像機の出荷時におけるモニタの目視ではテスト
できない部分の故障個所を検出し、かつ、修理が可能と
なる。また、この発明によれば、そのＭＵＳＨデコーダ
のハードウェア回路が大きく、デイバイス数も多くとも
、それらの故障個所が自動的に判明するため、それらの
故障個所を探す手間が省けるという効果があり、さらに
モニタを備えたＭＩＪＳＥ受像機の出荷時には画像の目
視だ（すでよく、テストが簡単に済ませられるという効
果がある。
ト装置ｌ゛によれば、種々ディジタル信号を人力し、前
記メモリを含むディジタル信号処理回路等を経た信号と
その入力ディジタル信号とを比較し、この比較結果に基
づいて前記メモリを含むディジタル信号処理回路等の故
障や状態を検出するようにしたので、ＭＵＳＥ受像機の
ＳυＳＥデコーダのみでチエツク、テストすることがで
き、しかもその故障個所等を限定することができ、ＭＬ
ＩＳＥ受像機の出荷時におけるモニタの目視ではテスト
できない部分の故障個所を検出し、かつ、修理が可能と
なる。また、この発明によれば、そのＭＵＳＨデコーダ
のハードウェア回路が大きく、デイバイス数も多くとも
、それらの故障個所が自動的に判明するため、それらの
故障個所を探す手間が省けるという効果があり、さらに
モニタを備えたＭＩＪＳＥ受像機の出荷時には画像の目
視だ（すでよく、テストが簡単に済ませられるという効
果がある。
図面はこの発明の一実施例を示す阿υＳＥ受像機のテス
ト装置の概略的ブロック図である。 図中、２はチューナ部、３はＡ／Ｄ変換部、４はデイエ
ンファシス・ｒ−１部、５はメモリ部、６は静止領域補
間部、７は動き領域補間部、８は動き領域検出部、９は
ＬＰＦ（ローパスフィルタ；１２Ｍ）［ｚ）部、１０は
混合部、１１はＤ／Ａ変換部、１２は制御部（ＣＰＵ）
、 １３は小メモリ部、１４は動画部、１５はベクタ発
生部、 １６はテストデータ部、１７は制御部。 １８は信号エラー表示部、１９はメモリエラー表示部。 ２０はＬＰＦエラー表示部、２１は補間エラー表示部。 Ｔはテスト装置である。
ト装置の概略的ブロック図である。 図中、２はチューナ部、３はＡ／Ｄ変換部、４はデイエ
ンファシス・ｒ−１部、５はメモリ部、６は静止領域補
間部、７は動き領域補間部、８は動き領域検出部、９は
ＬＰＦ（ローパスフィルタ；１２Ｍ）［ｚ）部、１０は
混合部、１１はＤ／Ａ変換部、１２は制御部（ＣＰＵ）
、 １３は小メモリ部、１４は動画部、１５はベクタ発
生部、 １６はテストデータ部、１７は制御部。 １８は信号エラー表示部、１９はメモリエラー表示部。 ２０はＬＰＦエラー表示部、２１は補間エラー表示部。 Ｔはテスト装置である。
Claims (2)
- （１）アンテナにて受信した帯域圧縮（ＭＵＳＥ）信号
をＡ／Ｄ変換し、このディジタル変換したＭＵＳＥ信号
をメモリに記憶し、かつ、ディジタル信号処理し、その
処理した信号をＤ／Ａ変換して表示装置に出力するＭＵ
ＳＥ受像機に用いられる検査装置であって、 前記Ａ／Ｄ変換直後に入力するディジタルのテスト信号
を発生するディジタル信号発生手段と、前記メモリを含
むディジタル信号処理回路等を経た前記テスト信号と前
記Ａ／Ｄ変換直後に入力したテスト信号とを比較し、こ
の比較結果に基づいて前記メモリを含むディジタル信号
処理回路等の故障やその故障個所を検出する制御手段と
を備えたことを特徴とするＭＵＳＥ受像機のテスト装置
。 - （２）前記故障やその故障個所等を表示する表示手段を
備えた請求項（１）記載のＭＵＳＥ受像機のテスト装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1010436A JPH02192292A (ja) | 1989-01-19 | 1989-01-19 | Ｍｕｓｅ受像機のテスト装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1010436A JPH02192292A (ja) | 1989-01-19 | 1989-01-19 | Ｍｕｓｅ受像機のテスト装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02192292A true JPH02192292A (ja) | 1990-07-30 |
Family
ID=11750111
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1010436A Pending JPH02192292A (ja) | 1989-01-19 | 1989-01-19 | Ｍｕｓｅ受像機のテスト装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02192292A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5325197A (en) * | 1991-08-01 | 1994-06-28 | U.S. Philips Corporation | Television signal processing unit which provides monitoring during periods of the television signal to detect erroneous circuit operation |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61224586A (ja) * | 1985-03-28 | 1986-10-06 | Sony Corp | 高品位テレビ用テスト信号発生装置 |
| JPS62216489A (ja) * | 1986-03-17 | 1987-09-24 | Fujitsu Ltd | カラ−表示装置の検査装置 |
-
1989
- 1989-01-19 JP JP1010436A patent/JPH02192292A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61224586A (ja) * | 1985-03-28 | 1986-10-06 | Sony Corp | 高品位テレビ用テスト信号発生装置 |
| JPS62216489A (ja) * | 1986-03-17 | 1987-09-24 | Fujitsu Ltd | カラ−表示装置の検査装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5325197A (en) * | 1991-08-01 | 1994-06-28 | U.S. Philips Corporation | Television signal processing unit which provides monitoring during periods of the television signal to detect erroneous circuit operation |
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