JPH02193060A - 磁気探傷用蛍光磁性粉およびその探傷方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、各種鉄鋼材料、たとえば連鋳ビレットにおけ
る表面部の疵、ピンホールなどの欠陥を磁気探傷法によ
り検査する場合に使用し、その検出精度を向上させるこ
とのできる蛍光磁性粉に関するものである。

従来の技術 鉄鋼などの強磁性体からなるビレットに電流を流すと表
面近くに磁束が生じる。また電磁石などで外部から強力
な磁界をかけると、ビレット表面近くにやはり磁束が生
じる。もしそのビレット表面に疵や亀裂などの欠陥があ
るとその両端にＮ極とＳ極が生じ、その磁束の一部がビ
レット表面の疵などから外部へ遺漏する。その表面に磁
束と相互作用する磁性粉の液を散布すると遺漏磁束のあ
る部分に磁性粉が多くつく。磁性粉に蛍光樹脂などを付
着させておくと、ここ←蛍光の模様ができる。これを肉
眼などで判定することでビレットの欠陥を発見すること
ができる。このような手段により、欠陥を検出するのが
磁気探傷法である。

有害疵があるままだと、圧延や伸線などの最中に割れな
どの弊害が起こることがあるので、発見された欠陥は人
手またはスプレーなどでマーキングし、グラインダーで
削り落してから圧延や伸線工程へまわしている。この検
出すべき疵の深さは、品種ごとに決まっており、その規
準よりも深い欠陥は次工程で割れなどの原因となるが、
規準の深さ未満の深さの欠陥は、次工程の圧延などで消
滅する。

したがって基準の深さよりも深い疵のみを検出し、それ
より浅い疵は検出しないのが望ましい。

ところが実際には基準の深さよりも深い疵を１００％検
出しようとすると、検出する必要のない浅い疵まで検出
してしまい、その結果その浅い疵をグラインダーで削り
落す作業の労務費と、手入れによる無駄なコストをかけ
ることになっていた。

この主な原因は、磁気探傷法における蛍光磁性粉にある
と考えられる。すなわち従来の蛍光磁性粉は、第２図に
示すように、マグネタイトの０．２〜ｌＯｍの粒度範囲
の微粉と蛍光樹脂とを溶融状態あるいは溶媒中で混合し
、凝固させたインゴットを粉砕して作る方法が一般的で
あるので、平均粒径が２〜５如で、０．２から２５塵の
非常に広い粒度分布を持ち、さらに形状も不規則で、し
かも各粒子を見ると磁性粉と樹脂との量が一定ではない
ので、各粒子の磁気感度も非常に広い範囲にばらついて
いる。この結果、どの磁界レベルに対しても付着する蛍
光磁性粉となってしまい浅い疵から遺漏する弱い磁界に
対しても、付着してしまうのである。磁気探傷において
検出精度を上げる試みは数多くなされてきた。たとえば
、特開昭５３−１０８０８８では、鋼材などの欠陥深さ
、欠陥角度、欠陥幅を検知する方法を開示している。し
かし漏洩磁束の法線方向の欠陥信号をセンサーで検出す
る必要があり、実際のラインでそのような精密な測定を
するのは難しいのである。また特開昭５４−２７４９１
でも、有害疵を判別する方法を開示している。しかし、
これは、蛍光磁性粉そのものが持つ問題点にはふれず、
蛍光磁性粉が出す光を検出したのちに信号化し、信号を
処理する回路を工夫することによって、疵を判定しよう
というもので、蛍光磁性粉から出る輝度を定量的に検出
できないかぎり、実用上は意味がない。疵深さの判別を
蛍光磁性粉の工夫でやろうとする試みは、非常に少ない
が特開昭４８−４７８８４がある。これによると磁性粉
と蛍光顔料、バインダー樹脂以外に、非磁性体で着色に
悪影響を与えず、かつ溶剤、水、熱、電気、磁気に対し
て安全な第４の物質を添加して、製品の呈色、見掛透磁
率、真比重を制御することを特徴としている。

発明が解決しようとする課題 従来の磁気探傷用蛍光磁性粉の原料の磁性粉の粒度分布
が非常に広く、さらに蛍光磁性粉にしたときの粒度分布
も非常に広いものであり、各粒子をみると磁性粉の含有
量も一定ではなく非常に広い範囲でばらついているので
、どの磁界レベルに対しても付着する蛍光磁性粉となっ
てしまい、浅い疵から遺漏する弱い磁界に対しても付着
してしまう。

また、特開昭４８−４７８８４に開示されているように
非磁性体の第４の物質を添加するということは、透磁率
を低下させることになり、欠陥からの遺漏磁束との相互
作用が弱くなり、検出しなければならない大きい欠陥を
見のがす確率が高くなる。

更に、従来の磁気探傷用蛍光磁性粉は、前述のように粉
砕粉であるため、形状も不規則となり、平均粒径２〜１
０ｔＵで０．２〜２５趨の非常に幅広い粒度分布をもち
、また１つの粒に含まれる磁性粉の含有量が異なるので
、粒子ごとの磁気特性がばらつき、どのレベルの磁界に
対してもくっつく蛍光磁性粉となっている。したがっで
ある基準の疵深さより深い疵を１００％検出するように
磁化電流を設定すると、その基準よりも浅い疵も大半検
出してしまい、検出した疵については総てグラインダー
で削り落すので、無駄な手入れとなっていた。

本発明の目的は、ある基準の疵の深さよりも深い疵につ
いては１００％検出しそれよりも浅い疵は検出しないよ
うにして無駄な手入れをなくし、コスト低減を図ること
にある。

課題を解決するための手段 上述した課題を解決する目的で、鋭意研究を重ねた結果
、従来使用されている蛍光磁性粉を使うかぎり、磁気探
傷装置をいかに工夫しても、検出する必要のない小さい
疵も検出してしまうことがわかった。そこでさらに蛍光
磁性粉の検討を進めた結果、本発明に至ったもので、そ
の要旨は平均粒径の０．７〜１．３倍の粒径の範囲内に
ＧＯνｔ４％以上含まれる粒度分布をもつ磁性粉の表面
に蛍光樹脂を塗布してなる磁気探傷用蛍光磁性粉、また
は平均粒径の０．７倍の粒径以下の微粉の割合が１Ｏｗ
ｔ．％以下の粒度分布をもつ磁性粉の表面に蛍光樹脂を
塗布してなる磁気探傷用蛍光磁性粉、または短径に対す
る長径の比が２以下の形状の磁性粉であり、更に、これ
らの粉を磁気探傷に使用するにあたり、その懸濁液濃度
を１〜５ｇ／ｆｌの範囲で、士０．５ｇ／ｆｌの精度で
使用する磁気探傷方法である。

基準の疵の深さより浅い疵は検出しないようにし、それ
よりも深い疵は１００％検出するための蛍光磁性粉とは
いかなるものかを以下に説明する。

浅い疵と深い疵を弁別するためには、第３図に示すよう
に、浅い疵から漏れる漏洩磁束は小さく、深い疵から漏
れる漏洩磁束は大きいという現象を利用する。よって、
小さい漏洩磁束にはつかまらないが大きな漏洩磁束には
つかまるような蛍光磁性粉を作れば良い。蛍光磁性粉は
１〜５ｔｒ／ｌの濃度で水中に分散させて使うので、蛍
光磁性粉が漏洩磁束につかまるかどうかは蛍光磁性粉と
漏洩磁束との磁気引力が水の押し流す力や重力より強い
か弱いかで決まると考えられる。ここでは簡単のために
磁束引力と重力とのバランスを考えることにする。磁気
引力は蛍光磁性粉の各粒子の飽和磁束密度や透磁率で決
まり重力は質量で決まる。

漏洩磁束の大きさが決まったとき、１つの蛍光磁性粉の
粒子がそれにつかまるかどうかはそれぞれの力の大きさ
がわかるので予測できる。ところが、浅い疵から出る弱
い漏洩磁束に対して、ある蛍光磁性粉はつかまるが、あ
る粒子はつかまらないということが起こるので、浅い疵
が検出されたりされなかったりする。これは、蛍光磁性
粉の質量や磁気特性が非常に広い範囲にばらついている
ためである。蛍光磁性粉の質量と磁気特性にばらつきが
なければ、あるレベル以上の大きさの磁束にはつかまる
が、それ以下の磁束にはつかまらないということは可能
となる。したがって基準の疵深さより浅い疵は検出せず
、それより深い疵のみを検出する蛍光磁性粉のもつべき
条件は次の２点となる。

すなわち、蛍光磁性粉の各粒子の質量のばらつきをなく
すため、その粒度分布をシャープにすることと、蛍光樹
脂も含めた各粒子の磁気感度のばらつきをなくすことに
なる。

使用する磁性粉は、強磁性体ならば何でも良いが、純鉄
、Ｆｅ−Ｃｒ、Ｆｅ　−Ｓｌ　、Ｆｅ３Ｏ４などの軟磁
性体が好ましい。飽和磁束密度ができるだけ高いほうが
欠陥への付着の感受性が上がるので、その点では純鉄粉
が望ましい。また蛍光磁性粉は水などに分散させて使う
ので、循環使用中に飽和磁束密度が変化しないよう、す
なわち、さびないことが必要であり、そのためには、Ｆ
ｃ−Ｃｒ、Ｆｅ−５１合金の磁性粉が望ましい。

特に、Ｆｅ−３ｉ合金は透磁率を上げることにつながる
ので都合が良い。粉砕された後の磁性粉やアトマイズさ
れた直後の磁性粉の粒度分布は第４図に示すように幅が
広く、平均粒径の０．７〜１．３倍の粒径の範囲内に含
まれる割合は多くても３０ｖＬ、％であり、一般的には
３０ｗｔ．％以下である。そこで蛍光磁性粉の各粒子の
質量のばらつきをなくすために、本発明では、微粉と粗
粉のカットをする。

特に微粉のカットが重要である。方法としては、４４虜
より粗い粗粉は篩操作によって、４４μｓより細い微粉
は市販の乾式分級機または湿式分級機によって分級処理
する。所定の粒度分布にならない場合には、それらの処
理方法を組み合わせて使用したり、２〜３度繰り返し処
理したりして、分級する粒度を調整して所定のシャープ
な粒度分布のものを得る磁性粉の粒度分布をそろえる程
度は、平均粒径の０．７〜１．３倍の粒径の範囲内に含
まれる割合がＢＯｖＬ、％以上にするか、平均粒径の０
．７倍の粒径以下の微粉の割合が、１０ｖＬ、％以下と
することが好ましい。粒度分布はシャープであればある
程、疵の深さの判別に有利であるが、分級作業は非常に
コストがかかる。かといって粒度分布が上記の範囲より
も広くなると、各粒子の質量のばらつきが大きすぎ、効
果が出ない。平均粒径の０．７〜１．３倍の粒径の範囲
内に含まれる割合が８０ｗｔ、％より多い程、あるいは
平均粒径の０．７倍の粒径以下の微粉の割合が１０ｗｔ
．％より少ない程、ある基準の疵の深さより浅い疵を検
出しない程度が増してくる。望ましくは、必要な粒径の
ものが１００％ある方が良いが、前述の数値の範囲なら
、実用上効果が出ることが確認されている。粒径の範囲
において平均粒径の０．７倍を小さくすると、浅い疵を
検出してしまいコスト削減のメリットが少なくなってし
まうし、１．３倍を大きくすると基準の疵深さより深い
疵を検出することになり、圧延や伸線などの最中の割れ
などの弊害が発生することになる。

蛍光樹脂も含めた各粒子の磁気感度のばらつきをなくす
ために、磁性粉につける蛍光物質の量を一定にする必要
がある。そのためには第１図に示すような、球形状に近
いものが良い。球形度としては、短径に対する長径の比
が２以下が好ましい。

望ましくは、球形状の方が良い。磁性粉を球状化する方
法としては、５１３Ｎ４粉末と磁性粉とを混合し、それ
を熱処理することにより球状化した後、両粉末の比重差
で磁性粉のみを分離する方法か、磁性粉をボールミル処
理して角を落すことによって球状化する方法がある。

球形状であれば他の磁性粉と凝集したりすることがなく
分散性は良好である。また、球形状だと分級精度も向上
する。

次に、蛍光樹脂のコーティングについて説明する。

蛍光顔料を含む酢酸ビニール樹脂、エポキシ樹脂などの
粉末を熔融させ、５〜１Ｏｗｔ．％の量を分級・球状化
した磁性粉の表面に塗布する。この樹脂の膜厚は２〜３
−である。粒度をそろえる分級処理は、蛍光樹脂を磁性
粉にコーティングした後でもよいが、コーティング膜厚
の均一性向上、分級により除去された微粉および粗粉の
再利用からすれば、分級、球状化、樹脂コーティングの
順が望ましい。蛍光物質は紫外線で発光するものならば
何でもよいが、目視での判別性向上および磁性粉に均一
にコートするときの容品さから小量でも、最もよく光る
ものを選択することが望ましい。

本発明の対象とする各種鉄鋼材料の削り落とすべき疵の
深さは、０．２鰭から２諷識までく規格などによって種
々に及ぶため、蛍光磁性粉の最適な平均粒径も種々のも
のになる。例えば、疵深さが０．８ｍｍ以上の深さの疵
を１００％検出し、それより浅い疵を検出しないために
は平均粒径３ｏ−の磁性粉が最適であることが実験の結
果確かめられた。

それより小さいと浅い疵を検出してしまう確率が高くな
り、それより大きいと０．ｆｉｍｍ以上の深さの疵を検
出する可能性が出てくる。

本発明の蛍光磁性粉を実用するにあたって、前記したと
うり基準の疵深さより深い疵については１００％検出し
、それより浅い疵は検出しないという検出精度の向上を
目的としているので、磁気探傷装置とくに磁性粉液供給
装置についても工夫が必要である。

その装置の蛍光磁性粉液供給系統図の例を第５図に示す
。ビレットを断面方向に磁化する極間コイルと長手方向
に磁化する貫通コイルの中をＶローラで走間させつつ磁
性粉液を散布し、ブラックライトの紫外線により疵を検
出する磁気探傷装置の場合で説明すると、基準の疵深さ
を常時検出するようにするには以下の種々の管理が重要
となる。

すなわち、蛍光磁性粉は水に分散させて使うが、その濃
度に変化があると検出精度も変化するので、一定の濃度
に管理することが重要である。具体的には、浅い疵を多
く検出したり、深い疵の未検出など問題が発生するので
、濃度管理は非常に重要である。ここでは濃度検出器に
より一定の時間間隔で濃度をδ−ｊ定し、設定値より低
かったら自動的に磁性粉供給装置により蛍光磁性粉を供
給する。

またこの操作は、蛍光磁性粉液を散布する場所の近くで
行ない、配管系統で濃度変化が起きないようにする。濃
度の管理範囲としては、１〜５ｔｒ　／　ＩＩ±０．５
ｇ／ｉｔが好ましい。磁性粉の比重にもよるが、蛍光磁
性粉の粒度分布がシャープな程、濃度が濃いことになる
。すなわち、蛍光磁性粉の分散個数濃度が影響するため
、蛍光磁性粉の平均粒径が同じ場合、蛍光磁性粉の粒度
分布が幅広い程、一般的に微粉を多く含まれることにな
り、蛍光磁性粉濃度は淡くてよいことになる。蛍光磁性
粉の粒度分布が幅広い場合には、１〜２ｇ／ｌ。

幅狭い場合には３〜５ｇ／ｌが適している。

Ｉｇ／Ｎ未満だと磁気探傷の際、蛍光磁性粉の輝度が足
りなくなり、５ｇ、Ｑを越えると、探傷時バックグラン
ドが上がってしまい見にくくなる。

また、濃度の幅を±０．５ｇ／Ｄとしたのは、安定した
磁気探傷をするための精度である。また粒度が大きくな
ると欠陥への付着の時、磁性粉の重量が重いため流れや
すくなり結果として付着量が少くなる傾向にあるため磁
粉液濃度を高くすることになる。

更に、ビレットからスケール、サビなどが蛍光磁性粉液
に入るので、循環使用していると、蛍光磁性粉液や配管
、タンクなどが汚れてくる。よって定期的に自動的に系
全体を洗浄できるようにしておく必要がある。

また、本発明の蛍光磁性粉は、基準の疵の深さより深い
疵については１００％検出し、それより浅い疵は検出し
ないようにするという検出精度の向上を目的としている
ので、検出したい疵の深さにより、蛍光磁性粉の粒径も
異なってくる。よって、浅い疵の検出用の蛍光磁性粉と
深い疵検出用の蛍光磁性粉とをビレットの疵深さ基準に
基づき２種類以上用意し、例えば、第５図に示すように
タンクＡとタンクＢとに分けて磁性粉液を作り、ビレッ
トの種類によって切り供えるようにすることにより更に
好ましいシステムとなる。

所定のビレットの処理本数まで回収し、所定の本数を越
えた時点で新液に交換する。ビレットへの散布量は磁性
粉が沈降しない程度の流量とし、常時一定になるように
する。

また、蛍光磁性粉液の流量の供給流量が一定でないと検
出精度を向上させるのが難しくなる。

よって一定量が散布されるように蛍光磁性粉液の流量制
御を行なう必要がある。

更に、磁性粉を沈降させないために適切な撹拌装置を用
いる必要があり、洗浄装置を取り付けることにより、供
給系の詰まりなどの防止ができ、メンテナンス費用の削
減が図られる。

以上のような機能を満足する蛍光磁性粉液供給系統を持
った磁気探傷装置とする必要がある。

実施例 以下、本発明を実施例並びに比較例により詳細に説明す
る。

実施例　１ 平均粒径８０虜のアトマイズ鉄粉をボールミル粉砕し、
平均粒径を２８ｍにした。この粉砕鉄粉の粗粉と微粉と
をカットする分級操作を行ない、平均粒径２Ｇ、ｌμｓ
の鉄粉を得た。この分級された鉄粉表面にエポキシ樹脂
１００！量部に対し、蛍光顔料７０重量部を含む蛍光樹
脂を均一に熔着させた。その蛍光樹脂の溶着量は７．８
％であった。蛍光樹脂を熔着した蛍光磁性粉の平均粒径
は、２９．８−であり、平均粒径の０．７倍の粒径であ
る２０．９μｓと平均粒径の１．３倍の粒径である３８
．７μｓとの粒径範囲にある割合は、６０．３ｗｔ、％
であり、平均粒径の０．７倍の粒径である２０．９ｍ以
下の割合は、２０．１ｗｔ、％で、短径に対する長径の
比は、平均２．６であった。

比較例　１ 実施例１と同様に粉砕鉄粉を造った。しかし、実施例１
と異なり分級操作をすることなく、この粉砕鉄粉表面に
エポキシ樹脂１００重量部に対し、蛍光顔料７０重量部
を含む蛍光樹脂を熔着させた。

その蛍光樹脂の溶着量は蛍光磁性粉の８．Ｏｗｔ、％で
あり、蛍光磁性粉の平均粒径は３０．２ｕｍであった。

蛍光磁性粉の平均粒径３０．２ｍの０，７倍の粒径であ
る２１．１−と平均粒径の１．３倍の粒径である３９．
３ｇｍとの粒径の範囲にある割合は２９．８ｗｔ．％で
あり、平均粒径の０．７倍の粒径である２１．１μｓ以
下の割合は３５．２ｗｔ．％であった。

実施例　２ 実施例１と同じ原料を用い、同様に粉砕鉄粉をまず造り
、その粉砕粉の平均粒径は、２６μｓであった。その後
、実施例１よりは、粗粉および微粉のカットを進めた分
級操作を行ない、平均粒径２５．８庫の分級粉を得た。

この分級鉄粉表面に対し実施例１と同様に蛍光樹脂を熔
着し、その量は８．Ｏｗｔ。

％であった。この蛍光鉄粉の粒度特性および形状特性は
、表・１に示す値のものであった。

実施例　３ 実施例１〜２と同じように粉砕粉を分級処理した。ただ
しこの場合には微粉のみをカットする処理をした。実施
例１〜２と同様に蛍光樹脂を熔着し、その量は蛍光鉄粉
の７．９ｖＬ、％であった。この蛍光鉄粉の特性などを
表・１に示す。

実施例　４ 実施例１〜２と同様に粉砕鉄粉の粗粉と微粉とをカット
する分級操作を行なった後、その分級鉄粉を６重量部に
対し５１３Ｎ４粉末（平均粒径１．３　ｍ）　４重量部
をメタノール中で湿式均一混合し、乾燥後、１２８０℃
で３０分間熱処理した。冷却後、比重差で５１３Ｎ４と
鉄粉とを分離して球状鉄粉を造った。それに蛍光樹脂を
８．ＯｗＬ、％熔着した。

その蛍光鉄粉の諸特性を表・１に示す。

（以下余白） 実施例　５ 実施例１〜４、比較例１の蛍光磁性粉および従来の市販
の蛍光磁性粉（比較例２、特性値は表・１に示す）を用
いて、第５図に示す装置によって、以下の条件で磁気探
傷を行なった。

０）ビレットサイズ：１２０關角×長さ１８ｍ（ロ）ビ
レット材質：炭素Ｍ　（０，０１３〜１．０％Ｃ）（ハ
）ビレット表面状！！：ディスケーリング状態Ｇ）磁　
化　方　法：極間コイル十貫通コイル方式（ト）照　明
　装装置ニブラックライト照度８００μＷ　／　ｃｄ （へ）検査スピード：１５ｍ／ｍ［ｎ ■検　査　方　法：検査員２名（２面／１人×２人−４
面）による肉眼 検査 なお、蛍光磁性粉液濃度は、３ｇ１Ｄ±０．５ｔ／ｌと
なるように管理した。

その結果、第６図に示す検出率曲線が得られた。

ビレットの疵深さが０．６＋＊ｍ以上の疵を１００％検
出するように磁化電流値を設定した場合に、本発明の蛍
光磁性粉を使用すると従来の蛍光磁性粉などの比較例１
，２を使用する場合に比べて、０，６關未満の疵を検出
する確率が極めて低いことがわかる。

実施例　６ 本発明の実施例４の蛍光磁性粉と比較例２の従来の市販
粉との２種類の蛍光磁性粉を用いて、それぞれ３２本づ
つの同様に製造されたビレットにつき、疵深さ０．６ｍ
ｍ以上を検出する目的で、実施例５に掲げた条件で磁気
探傷を行ない、検出された疵につき、グラインダーがけ
をした。

１回のグラインダーがけの時間であるいわゆる火花時間
に対する度数分布を実施例４および比較例２の粒につき
それぞれ第７図の（イ）および（０）に示す。平均火花
時間に度数を掛けることにより１時間当り何トンのビレ
ットが処理されたかを＝１算すると、本発明である実施
例４の蛍光磁性粉を使用した場合、３４１．０ｔｏｎ／
ｈｒであるのに対し、従来の市販粉である比較例２の場
合、２２３．２ｔｏｎ／　ｈｒであり、■、５３倍のグ
ラインダーかけ効率向上であることが分かる。

発明の効果 本発明の蛍光磁性粉を磁気探傷に用いるとある基準の疵
の深さを設定し、その基準より深い疵は１００％検出し
、それより浅い疵は検出しないということが可能となり
、無駄なグラインダーがけにより削り落とすことがなく
なり、大幅に種々の面での節約および削減ができること
になる。

また、本発明の磁気探傷方法により、以下の期待ができ
る。磁性粉の濃度を管理することにより適切な紙検出レ
ベルを維持することが可能となり品質管理精度向上が図
られる。

【図面の簡単な説明】 第１図は、本発明の理想的な形態の蛍光磁性粉であり、
第２図は従来の蛍光磁性粉である。 第３図は０）浅い疵、（ロ）深い疵の場合のそれぞれの
欠陥６と漏洩磁束４との関係を示す説明図である。第４
図は本発明および従来品の蛍光磁性粉などの粒度分布で
ある。第５図は、磁気探傷装置における蛍光磁性粉液供
給系統図である。第６図は本発明による実施例および比
較例の蛍光磁性粉を用いた場合の疵の深さとその検出率
との関係を示した試験結果である。第７図は、本発明お
よび従来の蛍光磁性粉を用いて磁気探傷した場合のグラ
インダーによる疵取りを行なった火花時間の度数分布で
ある。 １・・・磁性粉 ３・・・マグネタイト ５・・・蛍光磁性粉 ７・・・ビレット ９・・・貫通コイル １３・・・蛍光磁性粉液散布装置 １５・・・磁性粉供給装置 ２・・・蛍光樹脂 ４・・・漏洩磁束 ６・・・欠　陥 ８・・・極間コイル １０・・・ブラックライト 第１図 第２図

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）平均粒径の０．７〜１．３倍の粒径の範囲内に６
   ０ｗｔ．％以上含まれる粒度分布を持つ磁性粉の表面に
   蛍光樹脂を塗布してなる磁気探傷用蛍光磁性粉。
2. （２）平均粒径の０．７倍の粒径以下の微粉の割合が１
   ０ｗｔ．％以下の粒度分布を持つ磁性粉の表面に蛍光樹
   脂を塗布してなる磁気探傷用蛍光磁性粉。
3. （３）短径に対する長径の比が２以下の形状の磁性粉よ
   りなる第１または第２請求項記載の磁気探傷用蛍光磁性
   粉。
4. （４）磁気探傷方法において、第１、第２または第３請
   求項記載の蛍光磁性粉の懸濁液濃度を１〜５ｇ／ｌの範
   囲で、±０．５ｇ／ｌの精度で使用する磁気探傷方法。