JPH02194376A - レジスタ・ビツト・スライス - Google Patents
レジスタ・ビツト・スライスInfo
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- JPH02194376A JPH02194376A JP1246599A JP24659989A JPH02194376A JP H02194376 A JPH02194376 A JP H02194376A JP 1246599 A JP1246599 A JP 1246599A JP 24659989 A JP24659989 A JP 24659989A JP H02194376 A JPH02194376 A JP H02194376A
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
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- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
- G01R31/318533—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
- G01R31/318544—Scanning methods, algorithms and patterns
- G01R31/318547—Data generators or compressors
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C19/00—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、コンプレックス論理回路のテストに関し、さ
らに詳細には、ビルトイン論理ブロック・オブザーバ(
すなわち、BILBO)において使用される再構成可能
なレジスタΦビット・スライスに関する。
らに詳細には、ビルトイン論理ブロック・オブザーバ(
すなわち、BILBO)において使用される再構成可能
なレジスタΦビット・スライスに関する。
これまで、大規模集積回路における欠陥の有無をテスト
することが必要であった。製造工程によシ生産された全
コンポーネントの一部しか”偵′(す力わち、仕様書の
要件を満たしている)していない場合、欠陥のあるコン
ポーネントから゛合格”コンポーネントヲ何等かの方法
で分離しなければならない。このため、入力の刺激(入
力テスト・パターン)をテスト下にあるデイバイスに供
給し、テスト下にあるデイバイスの出力を、期待される
“合格”結果に比較するというテストが行なわれる。
することが必要であった。製造工程によシ生産された全
コンポーネントの一部しか”偵′(す力わち、仕様書の
要件を満たしている)していない場合、欠陥のあるコン
ポーネントから゛合格”コンポーネントヲ何等かの方法
で分離しなければならない。このため、入力の刺激(入
力テスト・パターン)をテスト下にあるデイバイスに供
給し、テスト下にあるデイバイスの出力を、期待される
“合格”結果に比較するというテストが行なわれる。
従来、テスト・パターンの発生は、手により、またはい
くぶんコンピュータの助けをかりて行なわれてきた。し
かし、テストされる回路の設計は、ますます複雑になっ
てきているので、手でテスト・パターンを発生するのに
要するテスト時間は、かなり増大してしまう。
くぶんコンピュータの助けをかりて行なわれてきた。し
かし、テストされる回路の設計は、ますます複雑になっ
てきているので、手でテスト・パターンを発生するのに
要するテスト時間は、かなり増大してしまう。
また、高価ではあるが他の手動テスト・ノくターン発生
方法がある。この方法では、それらの回路設計に多くの
シンプルカ設計技術を組み込むことが可能で、それによ
シ実際にテスト特性をより高めながら、テスト・パター
ン発生およびアプリケジョンのコストを低減することが
できる。さらに、テストされるべき回路に、代表的には
外部テスト装置に要求されている多くの能力を組み込む
ことができる。これらビルトイン自己テスト(BIST
)技術は、自動テスト装置の要件を大幅に簡単化する
ことができ、しかもかなりコストを節約することができ
る。
方法がある。この方法では、それらの回路設計に多くの
シンプルカ設計技術を組み込むことが可能で、それによ
シ実際にテスト特性をより高めながら、テスト・パター
ン発生およびアプリケジョンのコストを低減することが
できる。さらに、テストされるべき回路に、代表的には
外部テスト装置に要求されている多くの能力を組み込む
ことができる。これらビルトイン自己テスト(BIST
)技術は、自動テスト装置の要件を大幅に簡単化する
ことができ、しかもかなりコストを節約することができ
る。
しかし、これらテスト能力改善技術およびビルトイン自
己テスト技術は、テストに要するコストの低減から見る
と魅力的であるが、かなυ問題となるような価格である
。大抵のテスト用設計技術は、チップ資源、電力、工1
0ビンに費やされ、またノーマル・オペレーションにお
ける回路の速度特性に衝撃を与える。
己テスト技術は、テストに要するコストの低減から見る
と魅力的であるが、かなυ問題となるような価格である
。大抵のテスト用設計技術は、チップ資源、電力、工1
0ビンに費やされ、またノーマル・オペレーションにお
ける回路の速度特性に衝撃を与える。
ビルトイン自己テストを使用している設計により、実際
の回路設計における入力刺激が発生されかつ回路のレス
ポンスの値が求められる。オン・チップ回路を最小にす
るため、自己テスト・オペレーションの外部シーケンシ
ングが用いられる場合がよくある。また、入力刺激を発
生しかつ回路のレスポンスの値を求めるには、様々な方
法がある。このような方法の1つに、疑似乱数テスト・
パターンを伴なうビルトイン自己テストがある。
の回路設計における入力刺激が発生されかつ回路のレス
ポンスの値が求められる。オン・チップ回路を最小にす
るため、自己テスト・オペレーションの外部シーケンシ
ングが用いられる場合がよくある。また、入力刺激を発
生しかつ回路のレスポンスの値を求めるには、様々な方
法がある。このような方法の1つに、疑似乱数テスト・
パターンを伴なうビルトイン自己テストがある。
テスト目的の論理回路に加えて、テスト・パターン・ジ
ェネレータ、並列記号分析レジスタ、およびシリアル走
査レジスタは、チップ資源および電力を消費する。論理
回路に複数のテスト・コンポーネントを加えるという問
題点は、必要とされている機能を単一レジスタに組み込
むことによシ解決される。このレジスタは、ビルトイン
論理ブロック・オブザーバ(すなわち、BILBO)と
して知られている。
ェネレータ、並列記号分析レジスタ、およびシリアル走
査レジスタは、チップ資源および電力を消費する。論理
回路に複数のテスト・コンポーネントを加えるという問
題点は、必要とされている機能を単一レジスタに組み込
むことによシ解決される。このレジスタは、ビルトイン
論理ブロック・オブザーバ(すなわち、BILBO)と
して知られている。
様々なモードのオペレーションをザポートするため、各
BILBOレジスタのビット−スライスは、レジスタを
同期セット、テスト・パターン・ジェネレータ、記号分
析、才たはノーマル(すなわち、パラレル・ロード)動
作モードに再構成するフロント・エンド論理装置を必要
としている。フロント・エンド論理装置の制御入力は、
BILBOの動作モードを決定するのに使用される。
BILBOレジスタのビット−スライスは、レジスタを
同期セット、テスト・パターン・ジェネレータ、記号分
析、才たはノーマル(すなわち、パラレル・ロード)動
作モードに再構成するフロント・エンド論理装置を必要
としている。フロント・エンド論理装置の制御入力は、
BILBOの動作モードを決定するのに使用される。
論理回路のセクションをテストする装置を供給するため
、論理回路のいたるところにBrLBOレジスタを配置
することができる。代表的な例では、第1.BILBO
レジスタは、テスト・パターン・ジェネレータとして構
成され、第2BILBOレジスタは、記号分析レジスタ
として構成されている。
、論理回路のいたるところにBrLBOレジスタを配置
することができる。代表的な例では、第1.BILBO
レジスタは、テスト・パターン・ジェネレータとして構
成され、第2BILBOレジスタは、記号分析レジスタ
として構成されている。
テスト・パターン・ジェネレータは、一連のパターンを
論理回路の1セクシヨンに供給され、テスト・パターン
・シーケンスの結果は、記号分析レジスタによりコンパ
クト化される。テスト・バタ−ン・シーケンスが完了す
ると、第2BILBOレジスタは、シリアル走査レジス
タとして再構成され、コンパクト化された結果は、他の
場所に転送される。
論理回路の1セクシヨンに供給され、テスト・パターン
・シーケンスの結果は、記号分析レジスタによりコンパ
クト化される。テスト・バタ−ン・シーケンスが完了す
ると、第2BILBOレジスタは、シリアル走査レジス
タとして再構成され、コンパクト化された結果は、他の
場所に転送される。
BILBOレジスタの現在の設計は、論理的に接続され
た複数のビット・スライスから成っている。
た複数のビット・スライスから成っている。
ビット・スライスは、ノーマル・モード(すなわち、並
列ロード)で動作している間に、データ入力からメモリ
・デイバイスの入力までの信号路に沿った1つ以上の電
流スイッチを切り換えなければならないフロント・エン
ド論理装置から成っている。この切り換えによシ、ノー
マル動作モードにあるレジスタは、実部1i4J速度よ
りも遅い速度で実行する。この場合、実時間速度は、フ
ロント・エンド論理itを有してい々いレジスタがノー
マル・モードにおいて動作する速度と考えられる。
列ロード)で動作している間に、データ入力からメモリ
・デイバイスの入力までの信号路に沿った1つ以上の電
流スイッチを切り換えなければならないフロント・エン
ド論理装置から成っている。この切り換えによシ、ノー
マル動作モードにあるレジスタは、実部1i4J速度よ
りも遅い速度で実行する。この場合、実時間速度は、フ
ロント・エンド論理itを有してい々いレジスタがノー
マル・モードにおいて動作する速度と考えられる。
したがって、ノーマル・レジスタ動作に対する速度@馨
が最も小さいフロント・エンド論理装置を用いることが
望ましい。
が最も小さいフロント・エンド論理装置を用いることが
望ましい。
本発明は、従来のBILBOレジスタ設計に特有のノー
マル・オペレーションにおける実時間速度動作の問題を
解決している。優れた論理設計技術により、本発明は、
データ入力からメモリ・デイバイスまでの信号路に沿っ
た1つの電流スイッチ(たとえば、双安定マルチパイプ
レーク)を切り換えるBILBOレジスタのビット・ス
ライスにフロント・エンド論理装置を提供する。1つの
電流スイッチの切り換えにより生じた遅延は、2:1マ
ルチプレクサに関連した遅延すなわち約1ゲートの遅延
に等しい。したがって、信号路に沿って1つじか′1棧
流スイッチが存在しないので、ノマル・オペレーション
・モードにおいて、ホホ実時間に近い速度が得られる。
マル・オペレーションにおける実時間速度動作の問題を
解決している。優れた論理設計技術により、本発明は、
データ入力からメモリ・デイバイスまでの信号路に沿っ
た1つの電流スイッチ(たとえば、双安定マルチパイプ
レーク)を切り換えるBILBOレジスタのビット・ス
ライスにフロント・エンド論理装置を提供する。1つの
電流スイッチの切り換えにより生じた遅延は、2:1マ
ルチプレクサに関連した遅延すなわち約1ゲートの遅延
に等しい。したがって、信号路に沿って1つじか′1棧
流スイッチが存在しないので、ノマル・オペレーション
・モードにおいて、ホホ実時間に近い速度が得られる。
し発明の概要〕
本発明は、BILBOレジスタにおいて使用される再構
成可能々レジスタのビット・スライスを供給する。更に
詳細には、フロント・エンド論理装置は、データ入力装
置とフロント・エンド論理装置の出力との間の却−電流
スイッチ(たとえば、トランジスタ)を切り換えるよう
供給されている。
成可能々レジスタのビット・スライスを供給する。更に
詳細には、フロント・エンド論理装置は、データ入力装
置とフロント・エンド論理装置の出力との間の却−電流
スイッチ(たとえば、トランジスタ)を切り換えるよう
供給されている。
したがって、単一電流スイッチの遅延が、再構成可能に
変られた標準シフト・レジスタのノーマル・オペレーシ
ョンに加えられる。
変られた標準シフト・レジスタのノーマル・オペレーシ
ョンに加えられる。
以下、添付の図面に基いて、本発明の実施例(で関し説
明する。
明する。
第1図は、直列に接続したレジスタ・ビット・スライス
2,4,6,8,10,12,14.16から成る本発
明のBILBOレジスタ30を示している。前のビット
・スライスの反転出力は、次のビット・スライスの第2
テータ入力に論理的に接続している。たとえば、ビット
・スライス20反転出力は、ビット・スライス4のシリ
アル・データ入力に論理的に接続している。さらに1各
ビツト・スライスは、第1データ入力、クロック入力、
入力CTRLI、入力CTRL2、第2データ出力を有
している。BIL]30レジスタ30は、CTRL1入
力およびCTRL2入力における信号にしたがって、様
々な動作モードで動作する。さらに、BILBOレジス
タ30は、入力CTRL3における信号にしたがって、
シリアル走査動作モードせたは自己テスト動作モードを
エネーブルするように、レジスタ・ビット・スライスに
論理的に接続したテスト・パターン発生/シリアル走査
回路18゜20.22.24を有している。
2,4,6,8,10,12,14.16から成る本発
明のBILBOレジスタ30を示している。前のビット
・スライスの反転出力は、次のビット・スライスの第2
テータ入力に論理的に接続している。たとえば、ビット
・スライス20反転出力は、ビット・スライス4のシリ
アル・データ入力に論理的に接続している。さらに1各
ビツト・スライスは、第1データ入力、クロック入力、
入力CTRLI、入力CTRL2、第2データ出力を有
している。BIL]30レジスタ30は、CTRL1入
力およびCTRL2入力における信号にしたがって、様
々な動作モードで動作する。さらに、BILBOレジス
タ30は、入力CTRL3における信号にしたがって、
シリアル走査動作モードせたは自己テスト動作モードを
エネーブルするように、レジスタ・ビット・スライスに
論理的に接続したテスト・パターン発生/シリアル走査
回路18゜20.22.24を有している。
第2図は、本実施例において使用されるビット・スライ
スの論理レベル回路を示している。ここでは、論理レベ
ル回路は正の論理設計を用いているが、本発明は負の論
理レベル回路でもよいことは、当朶者には明白であろう
。オだ、ビット・スライス40を第1図のビット・スラ
イス・ブロック2,4.6,8,10.12.14.1
6に挿入して、BILBOレジスタ30をフル論理レベ
ル回路にしてもよい。
スの論理レベル回路を示している。ここでは、論理レベ
ル回路は正の論理設計を用いているが、本発明は負の論
理レベル回路でもよいことは、当朶者には明白であろう
。オだ、ビット・スライス40を第1図のビット・スラ
イス・ブロック2,4.6,8,10.12.14.1
6に挿入して、BILBOレジスタ30をフル論理レベ
ル回路にしてもよい。
ビット・スライス40は、メモリ装置44の入力に論理
的に接続したフロント・エンド論理装置42を治してい
る。メモリ装置44は、バイナリ・データ・ビットを記
憶する装置(たとえば、双安定マルチパイプレークif
cはフリップ・70ツブ)、出力、クロック入力を有し
2ていることが望ましい。
的に接続したフロント・エンド論理装置42を治してい
る。メモリ装置44は、バイナリ・データ・ビットを記
憶する装置(たとえば、双安定マルチパイプレークif
cはフリップ・70ツブ)、出力、クロック入力を有し
2ていることが望ましい。
フロント・エンド論理装置42は、さらに第1データ入
力装置、第2データ入力装置、制御入力装置、論理装置
を有し、ていることが望捷しい。図示の本実施例におい
て、論理装置は、XORゲート50の入力に論理的に接
続したORゲート46、NORゲート48を有し7、O
Rゲート46の入力は、入力CTRL1 と第1デー
タ入力(すなわち、DlN)に論理的に接続1.ている
、NORゲート48の入力は、入力CTRL2 と第2
データ入力(すなわち、5lN)に論理的に接続してい
ることが望才しい。
力装置、第2データ入力装置、制御入力装置、論理装置
を有し、ていることが望捷しい。図示の本実施例におい
て、論理装置は、XORゲート50の入力に論理的に接
続したORゲート46、NORゲート48を有し7、O
Rゲート46の入力は、入力CTRL1 と第1デー
タ入力(すなわち、DlN)に論理的に接続1.ている
、NORゲート48の入力は、入力CTRL2 と第2
データ入力(すなわち、5lN)に論理的に接続してい
ることが望才しい。
フロント・エンド装置N42は、第1データ入力(す力
わち、DIN)、第2データ入力(すなわち、5IN)
、入力CTRLI、入力CTRL2 の論理関数を備
えている。本実施例において、ビット・スライス40は
、メモリ装置44の入力に供給される論理関数の出力に
したがって、検数の動作モードに栴成される。供給され
る論理関数は、次の通りであることが望捷しい。
わち、DIN)、第2データ入力(すなわち、5IN)
、入力CTRLI、入力CTRL2 の論理関数を備
えている。本実施例において、ビット・スライス40は
、メモリ装置44の入力に供給される論理関数の出力に
したがって、検数の動作モードに栴成される。供給され
る論理関数は、次の通りであることが望捷しい。
(D、N+CTRL1)XOR(S、N+CTRL2)
本実施例において、この関数の出力は、メモリ装置44
の入力に供給される。次の表は、メモリ装置44の入力
に供給されるフロント・エンド論理装置の出力を示して
いる。
本実施例において、この関数の出力は、メモリ装置44
の入力に供給される。次の表は、メモリ装置44の入力
に供給されるフロント・エンド論理装置の出力を示して
いる。
1 0 0 1)IN X0
R8IN2 0 1、 D
、N3 1、 OS、N 第1動作モー1゛で動作し、ているピッ[・・スライス
40は、メモリ装置44の入力に[:DIN X OR
扁〕の出力を供給することが望寸しい。第2モードで動
作し、でいる場合、ビット・スライス40は、DINに
より受信された論理信号をメモリ装置44の入力に供給
することが望捷しい。さらに、第3モードで動作1〜で
いる場合、ビット・スライス40はN SINにより
受信された論理信号をメモリ装fi44の入力に供給す
ることが望ましい。最稜に、第4モードで動作している
場合、メモリ装置44は、論理°真”信月を受信するこ
とが望ましい。
R8IN2 0 1、 D
、N3 1、 OS、N 第1動作モー1゛で動作し、ているピッ[・・スライス
40は、メモリ装置44の入力に[:DIN X OR
扁〕の出力を供給することが望寸しい。第2モードで動
作し、でいる場合、ビット・スライス40は、DINに
より受信された論理信号をメモリ装置44の入力に供給
することが望捷しい。さらに、第3モードで動作1〜で
いる場合、ビット・スライス40はN SINにより
受信された論理信号をメモリ装fi44の入力に供給す
ることが望ましい。最稜に、第4モードで動作している
場合、メモリ装置44は、論理°真”信月を受信するこ
とが望ましい。
なお、フロント・エンド論理出力の補元をメモリ装置4
4の入力に供給できることは、当業者には明白であろう
。また、他の動作モードを供給するため、他の論理関数
全フロント・エンド論理装置によって供給することがで
きることは、当業者には明白であろう。
4の入力に供給できることは、当業者には明白であろう
。また、他の動作モードを供給するため、他の論理関数
全フロント・エンド論理装置によって供給することがで
きることは、当業者には明白であろう。
第3図は、第2図示のビット・スライス40のフロント
・エンド論理装置42のトランジスタ・レベル回路co
を示している。フロント・エンド論理装置60は、電流
モード論理(cML)設計構造を用いている。したがっ
て、代表的には、Vcc62は、+3.3■に設定され
、VEE 110は、OVに設定されている。さらに、
VRI 78 は、約Vcc 62−1/2 VBE
(on) −0,7Vで、VH2106は、約VRI
78 V up、 (on)である。
・エンド論理装置42のトランジスタ・レベル回路co
を示している。フロント・エンド論理装置60は、電流
モード論理(cML)設計構造を用いている。したがっ
て、代表的には、Vcc62は、+3.3■に設定され
、VEE 110は、OVに設定されている。さらに、
VRI 78 は、約Vcc 62−1/2 VBE
(on) −0,7Vで、VH2106は、約VRI
78 V up、 (on)である。
CTRLI 72とCTRL2100は、論理低”信号
に設定されている場合、フロント・エンド論理装置60
は、第1動作モードで動作する。したがって、トランジ
スタ74,82,102は、オフに切り換えられ、DI
N68と5IN92 によシ受信された信号の論理関
数は、出力88.90に供給される。本実施例において
、論理関数は、〔D1NXOR8,N〕である。
に設定されている場合、フロント・エンド論理装置60
は、第1動作モードで動作する。したがって、トランジ
スタ74,82,102は、オフに切り換えられ、DI
N68と5IN92 によシ受信された信号の論理関
数は、出力88.90に供給される。本実施例において
、論理関数は、〔D1NXOR8,N〕である。
DIN6Bによυ受信された論理信号が、■R□78に
関して論理低”信号であるならば、トランジスタ70.
84は、オフに切り換えられ、電流導通路は、トランジ
スタ76′iブ辷は80を介して形成される。さらに、
トランジスタ94および電流源96により電圧レベルが
シフトされた後、5IN92により受信された論理信号
が、V、2106に関して論理“低”信号であるならば
、トランジスタ98はオフに切り換えられ、電流導通路
は、トランジスタ104 を介して形成される。したが
って、Vcc62 から■EE110 までの電流路は
、抵抗64、トランジスタ80、トランジスタ104お
よび電流源108 を介して形成される。この電流路に
より、抵抗64に電圧降下が生じ、その結果、論理”低
”信号が出力90に供給される。電流源108からの全
電流が抵抗64を通過するので、抵抗BBKは、電圧降
下は生ぜず、その結果、論理′高”信号が出力88に供
給される。
関して論理低”信号であるならば、トランジスタ70.
84は、オフに切り換えられ、電流導通路は、トランジ
スタ76′iブ辷は80を介して形成される。さらに、
トランジスタ94および電流源96により電圧レベルが
シフトされた後、5IN92により受信された論理信号
が、V、2106に関して論理“低”信号であるならば
、トランジスタ98はオフに切り換えられ、電流導通路
は、トランジスタ104 を介して形成される。したが
って、Vcc62 から■EE110 までの電流路は
、抵抗64、トランジスタ80、トランジスタ104お
よび電流源108 を介して形成される。この電流路に
より、抵抗64に電圧降下が生じ、その結果、論理”低
”信号が出力90に供給される。電流源108からの全
電流が抵抗64を通過するので、抵抗BBKは、電圧降
下は生ぜず、その結果、論理′高”信号が出力88に供
給される。
しかし、トランジスタ94および電流源96により電圧
レベルがシフトされた後、81N92により受信された
論理信号が、vR2106に関して論理”高′信号であ
るならば、トランジスタ104はオフに切υ換えられ、
電流導通路は、トランジスタ98を介して形成される。
レベルがシフトされた後、81N92により受信された
論理信号が、vR2106に関して論理”高′信号であ
るならば、トランジスタ104はオフに切υ換えられ、
電流導通路は、トランジスタ98を介して形成される。
したがって、■cc62からVEEllo まテノ電流
路は、抵抗66、トランジスタ76、トランジスタ98
および電流源108 を介して形成される。この電流路
により、抵抗66に電圧降下が生じ、その結果、論理“
低”信号が出力8Bに供給される。電流源10Bからの
全電流が抵抗66を通過するので、抵抗64には電圧降
下は生ぜず、その結果、論理高”信号が出力90に供給
される。
路は、抵抗66、トランジスタ76、トランジスタ98
および電流源108 を介して形成される。この電流路
により、抵抗66に電圧降下が生じ、その結果、論理“
低”信号が出力8Bに供給される。電流源10Bからの
全電流が抵抗66を通過するので、抵抗64には電圧降
下は生ぜず、その結果、論理高”信号が出力90に供給
される。
D1N68によシ受信された論理化上が、■R178に
関して論理゛高″信号であるならば、トランジスタ76
.80は、オフに切り換えられ、電流導通路は、トラン
ジスタ70または84を介して形成される。さらに、ト
ランジスタ94およヒ[流源96によシその電圧レベル
が変えられた後、5IN92により受信された論理信号
が、VR2106に関して論理”低”信号であるならば
、トランジスタ98はオフに切り換えられ、電流導通路
は、トランジスタ104 を介しで形成される。したが
って、この電流導通路によシ抵抗66に電圧降下が生じ
、その結果、論理低”イ盲号が出力88に供給される。
関して論理゛高″信号であるならば、トランジスタ76
.80は、オフに切り換えられ、電流導通路は、トラン
ジスタ70または84を介して形成される。さらに、ト
ランジスタ94およヒ[流源96によシその電圧レベル
が変えられた後、5IN92により受信された論理信号
が、VR2106に関して論理”低”信号であるならば
、トランジスタ98はオフに切り換えられ、電流導通路
は、トランジスタ104 を介しで形成される。したが
って、この電流導通路によシ抵抗66に電圧降下が生じ
、その結果、論理低”イ盲号が出力88に供給される。
電流源108からの全電流が抵抗66を通過するので、
抵抗64には電圧降下は生ぜず、その結果、論理“高“
信号が出力90に供給される。
抵抗64には電圧降下は生ぜず、その結果、論理“高“
信号が出力90に供給される。
トランジスタ94および電流源96によυその電圧レベ
ルが変えられた後、5IN92によシ受信された論理信
号が、V、2106に関して論理”高”信号であるなら
ば、トランジスタ104はオフに切り換えられ、電流導
通路は、トランジスタ98を介して形成される。したが
って、Vcc52からv、、110 までの電流路は、
抵抗64、トランジスタ70、トランジスタ98および
電流源108を経ている。この電流路により、抵抗64
に電圧降下が生じ、その結果、論理”低”信号が出力9
0に供給される。電流源108からの全電流が抵抗64
を通過するので、抵抗66には電圧降下は生ぜず、その
結果、論理高”信号が出力88に供給される。
ルが変えられた後、5IN92によシ受信された論理信
号が、V、2106に関して論理”高”信号であるなら
ば、トランジスタ104はオフに切り換えられ、電流導
通路は、トランジスタ98を介して形成される。したが
って、Vcc52からv、、110 までの電流路は、
抵抗64、トランジスタ70、トランジスタ98および
電流源108を経ている。この電流路により、抵抗64
に電圧降下が生じ、その結果、論理”低”信号が出力9
0に供給される。電流源108からの全電流が抵抗64
を通過するので、抵抗66には電圧降下は生ぜず、その
結果、論理高”信号が出力88に供給される。
CTRL172が、論理低”信号に設定され、CTRL
210Qが、論理ヤ高″信号に設定された場合、フロン
ト・エンド論理装置60は第2動作モードで動作スる。
210Qが、論理ヤ高″信号に設定された場合、フロン
ト・エンド論理装置60は第2動作モードで動作スる。
したがって、トランジスタ74.82は、オフに切り換
えられ、トランジスタ102 を介して電流導通路が形
成される。その結果、電流は既にトランジスタss、1
o2o結合対に流れていて、S、N92に存在する論理
信号に関係なく流れ続けるので、S、N92で受信され
た論理信号電流導通路を変化しない。そのため、DIN
68により受信された論理信号の論理関数は、出力88
.90に供給される。この論理関数は、電流導通路に沿
った単一トランジスタ(たとえば、トランジスタγaま
たはγ6)を切り撲えることにより発生される。したが
って、単一トランジスタ(たとえば、電流スイッチ)は
、第2動作モードにおいて、D□N68から出力88ま
たは901での論理信号路に沿ってブリ換える。
えられ、トランジスタ102 を介して電流導通路が形
成される。その結果、電流は既にトランジスタss、1
o2o結合対に流れていて、S、N92に存在する論理
信号に関係なく流れ続けるので、S、N92で受信され
た論理信号電流導通路を変化しない。そのため、DIN
68により受信された論理信号の論理関数は、出力88
.90に供給される。この論理関数は、電流導通路に沿
った単一トランジスタ(たとえば、トランジスタγaま
たはγ6)を切り撲えることにより発生される。したが
って、単一トランジスタ(たとえば、電流スイッチ)は
、第2動作モードにおいて、D□N68から出力88ま
たは901での論理信号路に沿ってブリ換える。
DIN 6 Bにより受信された論理信号が、vR37
8に関して論理”低”信号であるならば、トランジスタ
70.84は、オフに切り換えられ、電流導通路は、ト
ランジスタ76または80を介して形成される。したが
って、Vcc 62からVEE 110までの電流路は
、抵抗66、トランジスタ76、トランジスタ98およ
び電流源108を経ている。
8に関して論理”低”信号であるならば、トランジスタ
70.84は、オフに切り換えられ、電流導通路は、ト
ランジスタ76または80を介して形成される。したが
って、Vcc 62からVEE 110までの電流路は
、抵抗66、トランジスタ76、トランジスタ98およ
び電流源108を経ている。
この電流髭によム抵抗66に電圧降下が生じ、その結果
、論理′低“信号が、出力88に供給される。電流源1
08からの全電流が抵抗66を通過するので、抵抗64
には、電圧降下は生ぜず、その結果、論理高”信号が出
力90に供給される。
、論理′低“信号が、出力88に供給される。電流源1
08からの全電流が抵抗66を通過するので、抵抗64
には、電圧降下は生ぜず、その結果、論理高”信号が出
力90に供給される。
しかし、DIN68によシ受信された論理信号が、■R
178に関して論理”高”信号であるならば、トランジ
スタ76.80は、オフに切り換えられ、電流導通路は
トランジスタ70または84を介して形成される。した
がって、Vcc62からVEElloまでの電流路は、
抵抗64、トランジスタ70、トランジスタ102およ
び電流源108を経ている。この電流路により、抵抗6
4に電圧降下が生じ、その結果、論理”低”化上が出力
90に供給される。電流源108からの全電流が抵抗6
4’を通過するので、抵抗66には電圧降下は生ぜず、
その結果、論理゛高″信号が出力88に供給される。
178に関して論理”高”信号であるならば、トランジ
スタ76.80は、オフに切り換えられ、電流導通路は
トランジスタ70または84を介して形成される。した
がって、Vcc62からVEElloまでの電流路は、
抵抗64、トランジスタ70、トランジスタ102およ
び電流源108を経ている。この電流路により、抵抗6
4に電圧降下が生じ、その結果、論理”低”化上が出力
90に供給される。電流源108からの全電流が抵抗6
4’を通過するので、抵抗66には電圧降下は生ぜず、
その結果、論理゛高″信号が出力88に供給される。
CTRLI 72が、論理高”信号に設定妬れ、CTR
L2100が、論理“低”信号に設定された場合、フロ
ント・エンド論理装置60は第3動作モードで動作する
。したがって、トランジスタ102 はオフに切り換え
られ、トランジスタT4または82を介して電流導通路
が形成される。その結果、電流は既にトランジスタ82
および84の他、トランジスタ70.74の結合対に流
れていて、D、、、68に存在する論理信号に関係なく
流れ続けるので、電流導通路を変化しない。そのため、
5IN92の論理信号の論理関数は出力88゜90に供
給される。
L2100が、論理“低”信号に設定された場合、フロ
ント・エンド論理装置60は第3動作モードで動作する
。したがって、トランジスタ102 はオフに切り換え
られ、トランジスタT4または82を介して電流導通路
が形成される。その結果、電流は既にトランジスタ82
および84の他、トランジスタ70.74の結合対に流
れていて、D、、、68に存在する論理信号に関係なく
流れ続けるので、電流導通路を変化しない。そのため、
5IN92の論理信号の論理関数は出力88゜90に供
給される。
トランジスタ94および電流源96によシその電圧レベ
ルが変えられた後、81N92によシ受信された論理信
号2が、■R2106に関して論理但−”信もである力
らば、トランジスタ98はオフに切り換えられ、電流導
通路は、トランジスタ104を弁して形成される。した
がって、Vcc62からVEEllo までの電流路
は、抵抗66、トランジスタ82、トランジスタ104
および電流源108を経ている。この電流路によシ、
抵抗66に電圧降下が生じ、その結果、論理低”信号が
出力88に供給される。電流源108からの全電流が抵
抗66を通過するので、抵抗64には、電圧降下は生ぜ
ず、その結果、論理高”信号が出力90に供給される。
ルが変えられた後、81N92によシ受信された論理信
号2が、■R2106に関して論理但−”信もである力
らば、トランジスタ98はオフに切り換えられ、電流導
通路は、トランジスタ104を弁して形成される。した
がって、Vcc62からVEEllo までの電流路
は、抵抗66、トランジスタ82、トランジスタ104
および電流源108を経ている。この電流路によシ、
抵抗66に電圧降下が生じ、その結果、論理低”信号が
出力88に供給される。電流源108からの全電流が抵
抗66を通過するので、抵抗64には、電圧降下は生ぜ
ず、その結果、論理高”信号が出力90に供給される。
しかし、トランジスタ94および電流源96によりその
電圧レベルが変えられた後、81N92により受信され
た論理信号が、■R2106に関して論理高”化上であ
るならば、l−ランジスタ104まオフに切り換えられ
、電流導通路は、トランジスタ98を介して形成される
。したがって、vCC62からVEE 110までの電
流導通路は、抵抗64、l−ラフジスタフ4、トランジ
スタ98および電流源1087il−経ている。この電
流路によシ、抵抗64に電圧降下が生じ、その結果、論
理′低”信号が出力90に供給される。電流源108か
らの全電流が抵抗64を通過するので、抵抗66には電
圧降下は生ぜず、その結果、論理高”信号が出力88に
供給される。
電圧レベルが変えられた後、81N92により受信され
た論理信号が、■R2106に関して論理高”化上であ
るならば、l−ランジスタ104まオフに切り換えられ
、電流導通路は、トランジスタ98を介して形成される
。したがって、vCC62からVEE 110までの電
流導通路は、抵抗64、l−ラフジスタフ4、トランジ
スタ98および電流源1087il−経ている。この電
流路によシ、抵抗64に電圧降下が生じ、その結果、論
理′低”信号が出力90に供給される。電流源108か
らの全電流が抵抗64を通過するので、抵抗66には電
圧降下は生ぜず、その結果、論理高”信号が出力88に
供給される。
CTRLI 72とCTRL2100が、論理高”信号
に設定された場合、フロント・エンド論理装置60は、
第4動作モードで動作する。したがって、電流導通路は
トランジスタ102の他、トランジスタ74または82
を介して形成される。したがって、Vcc62からVE
E 110までの電流導通路は、抵抗64、トランジス
タ74、トランジスタ102および電流源108を経て
いる。この電流路により、抵抗64に電圧降下が生じ、
その結果、論理”低”信号が出力90に供給される。電
流源108からの全電流が抵抗64を通過するので、抵
抗66には電圧降下は生ぜず、その結果、論理高”信号
が出力88に供給される。
に設定された場合、フロント・エンド論理装置60は、
第4動作モードで動作する。したがって、電流導通路は
トランジスタ102の他、トランジスタ74または82
を介して形成される。したがって、Vcc62からVE
E 110までの電流導通路は、抵抗64、トランジス
タ74、トランジスタ102および電流源108を経て
いる。この電流路により、抵抗64に電圧降下が生じ、
その結果、論理”低”信号が出力90に供給される。電
流源108からの全電流が抵抗64を通過するので、抵
抗66には電圧降下は生ぜず、その結果、論理高”信号
が出力88に供給される。
第4図は、第2図に示したビット・スライス40のフロ
ント・エンド論理装置42の別のトランジスタ・レベル
装置120を示している。フロント・エンド論理装置1
20は、エミッタ接続論理(ECL)設計構造を用いて
いる。したがって、代表的には、Vcc122は、0■
に設定され、■EE170は、負の供給電圧に設定され
ている。さらに、V、□138は、約VCc122−1
/2vBE(On)−0,7Vで、■R2166は、約
vR1138−■RE(on)である。
ント・エンド論理装置42の別のトランジスタ・レベル
装置120を示している。フロント・エンド論理装置1
20は、エミッタ接続論理(ECL)設計構造を用いて
いる。したがって、代表的には、Vcc122は、0■
に設定され、■EE170は、負の供給電圧に設定され
ている。さらに、V、□138は、約VCc122−1
/2vBE(On)−0,7Vで、■R2166は、約
vR1138−■RE(on)である。
CTRLI 132 とCTRL2160 が、論理
“低2信号に設定されると、フロント・エンド論理装置
120は、第1動作モードで動作する。したがって、ト
ランジスタ134,142,162は、オフに切り換え
られ、D、N12B と5IN152によシ受信された
信号の論理関数は、それぞれ論理信号レベル調整装置1
46.147を介して出力148゜150に供給される
。論理信号レベル調整装置146,1471d、、EC
Lフロント・エンド論理装置120により供給された出
力を、メモリ装置の入力に受け入れられる論理レベルに
調整する。本実施例においては、論理関数は、CD、N
X0R8IN ]である。
“低2信号に設定されると、フロント・エンド論理装置
120は、第1動作モードで動作する。したがって、ト
ランジスタ134,142,162は、オフに切り換え
られ、D、N12B と5IN152によシ受信された
信号の論理関数は、それぞれ論理信号レベル調整装置1
46.147を介して出力148゜150に供給される
。論理信号レベル調整装置146,1471d、、EC
Lフロント・エンド論理装置120により供給された出
力を、メモリ装置の入力に受け入れられる論理レベルに
調整する。本実施例においては、論理関数は、CD、N
X0R8IN ]である。
DIN128 により受信された論理信号が、■□11
38に関して論理“低”化上であるならば、トランジス
タ130,144は、オフに切り換えられ、電流導通路
は、トランジスタ136 または140ヲ介して形成さ
れる。さらに、トランジスタ154および電流源156
によりその電圧レベルを変えた後、81N152により
受信された論理信号が、■R2166に関して論理”低
”信号である々らば、トランジスタ158はオフに切り
換えられ、電流導通路は、トランジスタ164 を介し
て形成される。したがって、vcc122から)ノEE
170までの電流路は、抵抗124.1−ランジスタ1
40、トランジスタ164 および電流源168を経て
いる。
38に関して論理“低”化上であるならば、トランジス
タ130,144は、オフに切り換えられ、電流導通路
は、トランジスタ136 または140ヲ介して形成さ
れる。さらに、トランジスタ154および電流源156
によりその電圧レベルを変えた後、81N152により
受信された論理信号が、■R2166に関して論理”低
”信号である々らば、トランジスタ158はオフに切り
換えられ、電流導通路は、トランジスタ164 を介し
て形成される。したがって、vcc122から)ノEE
170までの電流路は、抵抗124.1−ランジスタ1
40、トランジスタ164 および電流源168を経て
いる。
この電流路により、抵抗124 に電圧降下が生じ、そ
の結果、論理”低”信号が、論理レベル調整装置147
を介して出力150に供給される。電流源168から
の全電流が抵抗124を通過するので、抵抗126 K
は、電圧降下は生ぜず、その結果、論理”高”信号が論
理レベル調整装置146を介して出力148に供給され
る。
の結果、論理”低”信号が、論理レベル調整装置147
を介して出力150に供給される。電流源168から
の全電流が抵抗124を通過するので、抵抗126 K
は、電圧降下は生ぜず、その結果、論理”高”信号が論
理レベル調整装置146を介して出力148に供給され
る。
しかし、トランジスタ154および電流源156により
電圧レベルを変えた後、5IN152により受信された
論理信号が、■R2166に関して論理”高“信号であ
るならは、トランジスタ164はオフに切り換えられ、
電流導通路はトランジスタ158 を介して形成される
。したがって、Vcc 122から■EE170才での
電流路は、抵抗126、トランジスタ136、トランジ
スタ158および電流6G(168を経ている。この電
流路により、抵抗126に電圧降下が生じ、その結果、
論理”低”信号が、論理1ノベル訓1整装置146を介
して出力148 に供給される。電流源168からの全
電流が抵抗126を通過するので、抵抗124には電圧
降下は生ぜず、その結果、論理”高”信号が論理レベル
調整装置147 を介して出力90に供給される。
電圧レベルを変えた後、5IN152により受信された
論理信号が、■R2166に関して論理”高“信号であ
るならは、トランジスタ164はオフに切り換えられ、
電流導通路はトランジスタ158 を介して形成される
。したがって、Vcc 122から■EE170才での
電流路は、抵抗126、トランジスタ136、トランジ
スタ158および電流6G(168を経ている。この電
流路により、抵抗126に電圧降下が生じ、その結果、
論理”低”信号が、論理1ノベル訓1整装置146を介
して出力148 に供給される。電流源168からの全
電流が抵抗126を通過するので、抵抗124には電圧
降下は生ぜず、その結果、論理”高”信号が論理レベル
調整装置147 を介して出力90に供給される。
D1N128 により受信された論理信号が、■ア。
138に関して論理高“信号であるならば、 トランジ
スタ136,140は、オフに切り換えられ、電流導通
路は、トランジスタ130または144を介して形成さ
れる。さらに、トランジスタ154および電流源156
によりその電圧レベルを変えた後、S、N152によシ
受信された論理信号が、VR2166に関して論理”低
″仏号であるならば、トランジスタ158はオフに切り
換えられ、電流導通路は、トランジスタ164を介して
形成される。したがって、この電流導通路により抵抗1
26に電圧降下が生じ、その結果、論理”低”信号が論
理レベル調整装置146を介して出力14Bに供給され
る。電流源168からの全電流が抵抗126を通過する
ので、抵抗124には、電圧降下は生ぜず、その結果、
論理”高”信号が論理レベル調軽装置147 を介して
出力150に供給される。
スタ136,140は、オフに切り換えられ、電流導通
路は、トランジスタ130または144を介して形成さ
れる。さらに、トランジスタ154および電流源156
によりその電圧レベルを変えた後、S、N152によシ
受信された論理信号が、VR2166に関して論理”低
″仏号であるならば、トランジスタ158はオフに切り
換えられ、電流導通路は、トランジスタ164を介して
形成される。したがって、この電流導通路により抵抗1
26に電圧降下が生じ、その結果、論理”低”信号が論
理レベル調整装置146を介して出力14Bに供給され
る。電流源168からの全電流が抵抗126を通過する
ので、抵抗124には、電圧降下は生ぜず、その結果、
論理”高”信号が論理レベル調軽装置147 を介して
出力150に供給される。
トランジスタ154および電流源156により電圧レベ
ルが変えられた後、S、Nj52により受信された論理
信号が■1□100に関して論理高”信号であるならば
、トランジスタ164 はオフに切り換えられ、電流導
通路は、トランジスタ158を介して形成される。した
がって、Vcc122がら■EE170までの電流路は
、抵抗124、トランジスタ130、トランジスタ15
BおよびEi源168を経ている。この電流#によシ、
抵抗124KN圧降下が生じ、その結果、論理゛低2信
号が、論理レベル調整装R147を介して出力150に
供給される。電流源168からの全電流が抵抗124を
通過するので、抵抗126には、電圧降下は生ぜず、そ
の結果、論理“高″信号が論理レベル調整装置146
を介して出力148に供給される。
ルが変えられた後、S、Nj52により受信された論理
信号が■1□100に関して論理高”信号であるならば
、トランジスタ164 はオフに切り換えられ、電流導
通路は、トランジスタ158を介して形成される。した
がって、Vcc122がら■EE170までの電流路は
、抵抗124、トランジスタ130、トランジスタ15
BおよびEi源168を経ている。この電流#によシ、
抵抗124KN圧降下が生じ、その結果、論理゛低2信
号が、論理レベル調整装R147を介して出力150に
供給される。電流源168からの全電流が抵抗124を
通過するので、抵抗126には、電圧降下は生ぜず、そ
の結果、論理“高″信号が論理レベル調整装置146
を介して出力148に供給される。
CTRLI 132が論理“イ氏−信号に設定され、C
TRL2160が論理“高”信号に設定された場合、フ
ロント・エンド論理装置120 は第2動作モー ドで
動作する。したがって、トランジスタ134.142
は、オフに切り換えられ、トランジスタ162 を介1
−で電流導通路が形成される。その結果、電流は既にト
ランジスタ158,162の結合対に流れていて、S、
N152に存在する論理信号に関係なく流れ続けるので
、5IN152で受信された論理信号電流導通路を変イ
ヒしない。そのため、D、N12B により受信された
論理信号の論理関数は、出力148,150 に供給さ
れる。この論理関数は、電流導通路に沿った単一トラン
ジスタ(たとえば、トランジスタ130 または136
)を切り換えることにより発生される。したがって、単
一トランジスタ(たとえば電流スイッチ)は、第2動作
モードにおいてり、N128から論理レベル調整装置1
46または147 までの論理信号路に沿って切り換え
る。
TRL2160が論理“高”信号に設定された場合、フ
ロント・エンド論理装置120 は第2動作モー ドで
動作する。したがって、トランジスタ134.142
は、オフに切り換えられ、トランジスタ162 を介1
−で電流導通路が形成される。その結果、電流は既にト
ランジスタ158,162の結合対に流れていて、S、
N152に存在する論理信号に関係なく流れ続けるので
、5IN152で受信された論理信号電流導通路を変イ
ヒしない。そのため、D、N12B により受信された
論理信号の論理関数は、出力148,150 に供給さ
れる。この論理関数は、電流導通路に沿った単一トラン
ジスタ(たとえば、トランジスタ130 または136
)を切り換えることにより発生される。したがって、単
一トランジスタ(たとえば電流スイッチ)は、第2動作
モードにおいてり、N128から論理レベル調整装置1
46または147 までの論理信号路に沿って切り換え
る。
DIN128により受信された論理信号が、VR113
8に関して論理′低′”信号であるならば、トランジス
タ130または144は、オフに切り換えら扛、電流導
通路は、トランジスタ136,140を介して形成され
る。したがって、Vcc122からVEE170壕での
電流路は、抵抗126、 トランジスタ136、)ラン
ジスタ162および電流源168を経ている。この電流
路により抵抗126に電圧降下が生じ、その結果、論理
”低“信号が、論理レベル調整装置146を介して出力
148に供給される。電流源168からの全電流が抵抗
126を通過するので、抵pi: 124 には電圧降
下は生ぜず、その結果、論理高”信号が論理レベル調整
装置147を介してLBB12O3供給される。
8に関して論理′低′”信号であるならば、トランジス
タ130または144は、オフに切り換えら扛、電流導
通路は、トランジスタ136,140を介して形成され
る。したがって、Vcc122からVEE170壕での
電流路は、抵抗126、 トランジスタ136、)ラン
ジスタ162および電流源168を経ている。この電流
路により抵抗126に電圧降下が生じ、その結果、論理
”低“信号が、論理レベル調整装置146を介して出力
148に供給される。電流源168からの全電流が抵抗
126を通過するので、抵pi: 124 には電圧降
下は生ぜず、その結果、論理高”信号が論理レベル調整
装置147を介してLBB12O3供給される。
しかし、D、N128 によシ受イムされたd−理信号
が、V、、138 に関し、て論理”窩”信号であるな
らば、l−ランジスタ136,140 は、オフに切り
換えられ、電流導通路は、トランジスタ130,144
を介して形成される。したがって、Vcc122 か
ら■EF、170までの電流路は、抵抗124、 トラ
ンジスタ130、トランジスタ162および電流源16
8 を経ている。この;電流路によシ抵抗124に電圧
降下が生じ、その結果、論理低”信号が、論理レベル調
整装置147を介して出力150 に供給される。電流
源168からの全電流が抵抗124を通過するので、抵
抗126 Kは電圧降下は生ぜず、その結果、論理“高
”信号が論理レベル調整装置146を介して出力148
に供給される。
が、V、、138 に関し、て論理”窩”信号であるな
らば、l−ランジスタ136,140 は、オフに切り
換えられ、電流導通路は、トランジスタ130,144
を介して形成される。したがって、Vcc122 か
ら■EF、170までの電流路は、抵抗124、 トラ
ンジスタ130、トランジスタ162および電流源16
8 を経ている。この;電流路によシ抵抗124に電圧
降下が生じ、その結果、論理低”信号が、論理レベル調
整装置147を介して出力150 に供給される。電流
源168からの全電流が抵抗124を通過するので、抵
抗126 Kは電圧降下は生ぜず、その結果、論理“高
”信号が論理レベル調整装置146を介して出力148
に供給される。
CTRLl、132が論理”高”信号に設定され、CT
RL2160が論理′低”信号に設定された場合、フロ
ント・エンド論理装置120は第3動作モードで動作す
る。したがって、トランジスタ162はオフに切り換え
られ、トランジスタ134または142を介して電流導
通路が形成される。
RL2160が論理′低”信号に設定された場合、フロ
ント・エンド論理装置120は第3動作モードで動作す
る。したがって、トランジスタ162はオフに切り換え
られ、トランジスタ134または142を介して電流導
通路が形成される。
その結果、電流は既にトランジスタ142および144
の他、トランジスタ130,134 の結合対に流れて
いて、Drri12Bに存在する論理信号に関係なく流
れ続けるので、電流導通路を変化しない。そのため、S
、N152 の論理信号の論理関数は、論理レベル調整
装置146,147 を介して出力148,150 に
供給される。
の他、トランジスタ130,134 の結合対に流れて
いて、Drri12Bに存在する論理信号に関係なく流
れ続けるので、電流導通路を変化しない。そのため、S
、N152 の論理信号の論理関数は、論理レベル調整
装置146,147 を介して出力148,150 に
供給される。
]・ラランジメタ15および電流源156によりその電
圧レベルを変えた後、81N152によシ受信された論
理信号がvR2166に関し2て論理“低”信号である
ならば、トランジスタ158はオフに切り換えられ、電
流導通路は、トランジスタ164を介して形成される。
圧レベルを変えた後、81N152によシ受信された論
理信号がvR2166に関し2て論理“低”信号である
ならば、トランジスタ158はオフに切り換えられ、電
流導通路は、トランジスタ164を介して形成される。
したがって、Vcc122 から■EE 170 まで
の電流路は、抵抗126、トランジスタ142、トラン
ジスタ164および電流源168を経ている。この電流
路により、抵抗126に電圧降下が生じ、その結果、論
理”低”信号が、論理レベル調整装置146を介して出
力14Bに供給される。電流源168からの全電流が抵
抗126を通過するので、抵抗124 には電圧降下は
生ぜず、その結果、論理高”信号が論理レベル調整装置
147を介して出力150に供給される。
の電流路は、抵抗126、トランジスタ142、トラン
ジスタ164および電流源168を経ている。この電流
路により、抵抗126に電圧降下が生じ、その結果、論
理”低”信号が、論理レベル調整装置146を介して出
力14Bに供給される。電流源168からの全電流が抵
抗126を通過するので、抵抗124 には電圧降下は
生ぜず、その結果、論理高”信号が論理レベル調整装置
147を介して出力150に供給される。
しかし、トランジスタ154 および電流源156によ
シその電圧レベルを変えた後、5IN152により受信
された論理信号が、VR2166K関して論理゛高′信
号であるならば、トランジスタ164けオフに切り換え
られ、電流導通路はl・ランジスタ158を介して形成
される。したがって、■cc122からVEg170′
、1:での電流導通路は、抵抗124、トランジスタ1
34、トランジスタ158および電流源168を経てい
る。との電流、路によシ、抵抗124に電圧降下が生じ
、その結果、論理低”信号が、論理レベル調整装置14
7を介して出力150 に供給される。電流源168か
らの全電流が抵抗124を通過するので、抵抗126に
は電圧降下は生ぜず、その結果、論理”高”信号が論理
レベル調整装置146 を介して出力148に供給され
る。
シその電圧レベルを変えた後、5IN152により受信
された論理信号が、VR2166K関して論理゛高′信
号であるならば、トランジスタ164けオフに切り換え
られ、電流導通路はl・ランジスタ158を介して形成
される。したがって、■cc122からVEg170′
、1:での電流導通路は、抵抗124、トランジスタ1
34、トランジスタ158および電流源168を経てい
る。との電流、路によシ、抵抗124に電圧降下が生じ
、その結果、論理低”信号が、論理レベル調整装置14
7を介して出力150 に供給される。電流源168か
らの全電流が抵抗124を通過するので、抵抗126に
は電圧降下は生ぜず、その結果、論理”高”信号が論理
レベル調整装置146 を介して出力148に供給され
る。
CTRLI 132 とCTRL2160が、論理高“
信号に設定された場合、フロント・エンド論理装置12
0は、第4動作モードで動作する。したがって、電流導
通路はトランジスタ162の他、トランジスタ134
または 142を介して形成される。したがって、Vc
c122 からVEE170までの電流導通路は、抵抗
124、トランジスタ134、トランジスタ162およ
び電流源168を経ている。この電流路により、抵抗1
24 に電、圧降下が住じ、その結果、論理低”信号が
、論理レベル調整装置147を介して出力150に供給
される。
信号に設定された場合、フロント・エンド論理装置12
0は、第4動作モードで動作する。したがって、電流導
通路はトランジスタ162の他、トランジスタ134
または 142を介して形成される。したがって、Vc
c122 からVEE170までの電流導通路は、抵抗
124、トランジスタ134、トランジスタ162およ
び電流源168を経ている。この電流路により、抵抗1
24 に電、圧降下が住じ、その結果、論理低”信号が
、論理レベル調整装置147を介して出力150に供給
される。
1G;流源168からの全電流が抵抗124を通過する
ので、抵抗126には、電圧降下は生ぜず、その結果、
論理”高″信号が論理レベル調整装置146 を介して
出力148に供給される。
ので、抵抗126には、電圧降下は生ぜず、その結果、
論理”高″信号が論理レベル調整装置146 を介して
出力148に供給される。
第5図は、第2図に示されているビット・スライス40
のトランジスタ・レベル装置180の別の実施例を示し
ている。フロント・エンド論理装置60は、第2図のフ
ロント・エンド論理装置42に対応している。さらに、
メモリ装置180は、第2図のメモリ装置44に対応し
ている。メモリ装置180は、CML設計構造を用いて
いるマスタースレーブ・フリラフ拳フロップである。
のトランジスタ・レベル装置180の別の実施例を示し
ている。フロント・エンド論理装置60は、第2図のフ
ロント・エンド論理装置42に対応している。さらに、
メモリ装置180は、第2図のメモリ装置44に対応し
ている。メモリ装置180は、CML設計構造を用いて
いるマスタースレーブ・フリラフ拳フロップである。
なお、本発明は、本発明の思想から離れることなく様々
に改変し得ることは、画業者には明白であろう。また、
本発明は、本発明の実施例において示された特定の状況
に限定されず、様々に改変し得る。
に改変し得ることは、画業者には明白であろう。また、
本発明は、本発明の実施例において示された特定の状況
に限定されず、様々に改変し得る。
本発明の実施例において、特定の論理構成や電気的構成
が示されているが、同様の結果を得るのに、図示されて
いる特定の構成の代りに一般的な論理装置やまたは電子
装置を使用することができることは、当業者には明白で
あろう。たとえば、幅広い用途を得るには、CM、L
またはECL設計構造が一般には望ましいが、他の設計
構造を使用することにより、前述したような電子装置お
よび論理装置を使用することもできる。また、ここでは
正の論理規定を使用しているが、負の論理規定を使用し
てもよいことは、当業者には明白であろう。さらに、本
発明の詳細な説明するため、ここに示されたシステムの
動作に必要な特定の論理素子およびそれに伴なう条件が
示されてきたが、本発明の思想から離れることなく、た
とえば、NOR形論理装置の代シにN AND形論理装
置を使用するなど、ここで述べられている装置に類似し
た論理装置を使用することもできる。
が示されているが、同様の結果を得るのに、図示されて
いる特定の構成の代りに一般的な論理装置やまたは電子
装置を使用することができることは、当業者には明白で
あろう。たとえば、幅広い用途を得るには、CM、L
またはECL設計構造が一般には望ましいが、他の設計
構造を使用することにより、前述したような電子装置お
よび論理装置を使用することもできる。また、ここでは
正の論理規定を使用しているが、負の論理規定を使用し
てもよいことは、当業者には明白であろう。さらに、本
発明の詳細な説明するため、ここに示されたシステムの
動作に必要な特定の論理素子およびそれに伴なう条件が
示されてきたが、本発明の思想から離れることなく、た
とえば、NOR形論理装置の代シにN AND形論理装
置を使用するなど、ここで述べられている装置に類似し
た論理装置を使用することもできる。
以上のように、本発明について、実施例に関連して説明
してきたが、本発明は様々に改変し得ることは、当業者
には明白であろう。
してきたが、本発明は様々に改変し得ることは、当業者
には明白であろう。
第1図は、本発明のビット・スライスを使用しているB
rLBOレジスタを示した論理レベル図、第2図は、本
発明のビットΦスライスを使用した論理レベル図、第3
図は、CML設計構造を用いている本発明のフロント・
エンド論理装置を示したトランジスタ・レベル図、第4
図は、ECL 設計構造を用いている本発明のフロント
・エンド論理装置および論理レベル調整装置を示したト
ランジスタ・レベル図、第5図は、CML設計構造を用
いている本発明のビット・スライスを示したトランジス
タ・レベル図である。 2.4,6,8,10,12,14.16・・・−レジ
スタ書ビット会スライス、18,20゜22.24・・
・φテス)−パターン発生/シリアル走査回路、30・
・・・BILBOレジスタ、40・◆9・ビット・スラ
イス、42−〇eeフロント・エンド論理装置、44・
・・・メモリ装置、46・・串・ORゲート、48・−
・・NORゲート、 50 ・ ・ ・ ・XORゲー
ト、 60 ・ ・ ・・フロント・エンド論理装置、
62,122 ・・e aVcc 、 68 、1
28 ・畢−・DlNl 72゜132 拳・・・C
TRLI、70,74,76゜80.82,84,10
2,104,130,134゜136.14.0,14
2,144,162,164・拳・トラ、リジスタ、9
2,132 ・・・・SIN%100゜ CTRL2. 110.170 ’VER。 146.147 論理レベ ル調整装置。
rLBOレジスタを示した論理レベル図、第2図は、本
発明のビットΦスライスを使用した論理レベル図、第3
図は、CML設計構造を用いている本発明のフロント・
エンド論理装置を示したトランジスタ・レベル図、第4
図は、ECL 設計構造を用いている本発明のフロント
・エンド論理装置および論理レベル調整装置を示したト
ランジスタ・レベル図、第5図は、CML設計構造を用
いている本発明のビット・スライスを示したトランジス
タ・レベル図である。 2.4,6,8,10,12,14.16・・・−レジ
スタ書ビット会スライス、18,20゜22.24・・
・φテス)−パターン発生/シリアル走査回路、30・
・・・BILBOレジスタ、40・◆9・ビット・スラ
イス、42−〇eeフロント・エンド論理装置、44・
・・・メモリ装置、46・・串・ORゲート、48・−
・・NORゲート、 50 ・ ・ ・ ・XORゲー
ト、 60 ・ ・ ・・フロント・エンド論理装置、
62,122 ・・e aVcc 、 68 、1
28 ・畢−・DlNl 72゜132 拳・・・C
TRLI、70,74,76゜80.82,84,10
2,104,130,134゜136.14.0,14
2,144,162,164・拳・トラ、リジスタ、9
2,132 ・・・・SIN%100゜ CTRL2. 110.170 ’VER。 146.147 論理レベ ル調整装置。
Claims (3)
- (1)(a)データ信号を受信する入力を有し、かつビ
ットを記憶するメモリ装置と、 (b)フロント・エンド論理装置と、 から成るレジスタ・ビット・スライスにおいて、上記フ
ロント・エンド論理装置は、 (i)メモリ装置の入力に論理的に接続した出力と、 (ii)1つ以上の制御入力信号を受信する制御入力装
置と、 (iii)第1データ入力信号を受信する第1データ入
力装置と、 (iv)第2データ入力信号を受信する第2データ入力
装置と、 (v)電流スイッチと、 (vi)第1データ入力装置からメモリ装置の入力まで
の信号路に沿って多くて1つの電流スイッチを切り換え
ている間に、メモリ装置の入力に第1データ入力装置を
論理的に接続することにより第1動作モードで動作する
装置と、 (vii)メモリ装置の入力に第2データ入力装置を論
理的に接続することにより、第2動作モードで動作する
装置と、 (Viii)第1および第2データ入力装置から受信さ
れた入力信号から発生された論理関数をメモリ装置の入
力に供給することにより、第3動作モードで動作する装
置と、 (ix)1つ以上の制御入力信号に基いて動作モードの
1つに選択的に構成する装置と、 から成ることを特徴とするレジスタ・ビット・スライス
。 - (2)(a)データ信号を受信する入力を有し、かつビ
ットを記憶するメモリ装置と、 (b)フロント・エンド論理装置と、 (c)フロント・エンド論理装置の出力に論理的に接続
する入力と、メモリ装置の入力に論理的に接続する出力
とを有し、かつフロント・エンド論理装置の出力により
供給された出力信号を、メモリ装置の入力に受け入れら
れるレベルに調整する論理レベル調整装置と、 から成るレジスタ・ビット・スライスにおいて、上記フ
ロント・エンド論理装置は、 (i)出力信号を供給する出力と、 (ii)1つ以上の制御入力信号を受信する制御入力装
置と、 (iii)第1データ入力信号を受信する第1データ入
力装置と、 (iv)第2データ入力信号を受信する第2データ入力
装置と、 (v)電流スイッチと、 (vi)第1データ入力装置からメモリ装置の入力まで
の信号路に沿って多くて1つの電流スイッチを切り換え
ている間に、フロント・エンド論理装置の出力に第1デ
ータ入力装置を論理的に接続することにより第1動作モ
ードで動作する装置と、 (vii)フロント・エンド論理装置の出力に第2デー
タ入力装置を論理的に接続することにより第2動作モー
ドで動作する装置と、 (viii)第1および第2データ入力装置から受信さ
れた入力信号から発生された論理関数をフロント・エン
ド論理装置の出力に供給することにより、第3動作モー
ドで動作する装置と、 (ix)1つ以上の制御入力信号に基いて動作モードの
1つに選択的に構成する装置と、 から成ることを特徴とするレジスタ・ビット・スライス
。 - (3)(a)データ信号を受信する入力を有し、かつビ
ットを記憶するメモリ装置と、 (b)フロント・エンド論理装置と、 (c)フロント・エンド論理装置の出力に論理的に接続
する入力と、メモリ装置の入力に論理的に接続する出力
とを有し、かつフロント・エンド論理装置の出力により
供給された出力信号を、メモリ装置の入力に受け入れら
れるレベルに調整する論理レベル調整装置と、 から成るレジスタ・ビット・スライスにおいて、上記フ
ロント・エンド論理装置は、 (i)出力信号を供給する出力と、 (ii)第1制御入力信号を受信する第1制御入力装置
と、 (iii)第2制御入力信号を受信する第2制御入力装
置と、 (iv)第1データ入力信号を受信する第1データ入力
装置と、 (v)第2データ入力信号を受信する第2データ入力装
置と、 (vi)電流スイッチと、 (vii)第1制御入力信号が“真”の信号から成りか
つ第2制御入力信号が“偽”の信号から成る場合、第1
データ入力装置からメモリ装置の入力までの信号路に沿
って多くて1つの電流スイッチを切り換えている間に、
フロント・エンド論理装置の出力に第1データ入力装置
を論理的に接続することにより第1動作モードで動作す
る装置と、 (viii)第1制御入力信号が“偽”の信号から成り
かつ第2制御入力信号が“真”の信号から成る場合、フ
ロント・エンド論理装置の出力に第2データ入力装置を
論理的に接続することにより第2動作モードで動作する
装置と、(ix)第1制御入力信号が“偽”の信号から
成りかつ第2制御入力信号が“偽”の信号から成る場合
、第1および第2データ入力装置から受信された入力信
号から発生されたXOR論理関数をフロント・エンド論
理装置の出力に供給することにより第3動作モードで動
作する装置と、 (x)第1制御入力信号が“真”の信号から成りかつ第
2制御入力信号が“真”の信号から成る場合、“真”の
信号をフロント・エンド論理装置の出力に論理的に接続
することにより第4動作モードで動作する装置と、 から成ることを特徴とするレジスタ・ビット。 スライス。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/248,888 US4894800A (en) | 1988-09-23 | 1988-09-23 | Reconfigurable register bit-slice for self-test |
| US248,888 | 1988-09-23 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02194376A true JPH02194376A (ja) | 1990-07-31 |
Family
ID=22941118
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1246599A Pending JPH02194376A (ja) | 1988-09-23 | 1989-09-25 | レジスタ・ビツト・スライス |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4894800A (ja) |
| EP (1) | EP0370194A3 (ja) |
| JP (1) | JPH02194376A (ja) |
| CA (1) | CA1296110C (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2841882B2 (ja) * | 1991-02-04 | 1998-12-24 | 日本電気株式会社 | 疑似乱数パタン発生器 |
| US5699506A (en) * | 1995-05-26 | 1997-12-16 | National Semiconductor Corporation | Method and apparatus for fault testing a pipelined processor |
| GB2345976B (en) * | 1999-01-22 | 2003-06-25 | Sgs Thomson Microelectronics | Test circuit for memory |
| DE19929546C1 (de) * | 1999-06-23 | 2000-09-07 | Michael Goessel | Multi-Mode Speicherelement |
| US6728799B1 (en) * | 2000-01-13 | 2004-04-27 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Hybrid data I/O for memory applications |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3539824A (en) * | 1968-09-03 | 1970-11-10 | Gen Electric | Current-mode data selector |
| FR2531230A1 (fr) * | 1982-07-27 | 1984-02-03 | Rank Xerox Sa | Ensemble destine au test automatique centralise de circuits imprimes et procede de test de circuits a microprocesseur faisant application de cet ensemble |
| US4513418A (en) * | 1982-11-08 | 1985-04-23 | International Business Machines Corporation | Simultaneous self-testing system |
| US4503537A (en) * | 1982-11-08 | 1985-03-05 | International Business Machines Corporation | Parallel path self-testing system |
| US4594711A (en) * | 1983-11-10 | 1986-06-10 | Texas Instruments Incorporated | Universal testing circuit and method |
| US4597080A (en) * | 1983-11-14 | 1986-06-24 | Texas Instruments Incorporated | Architecture and method for testing VLSI processors |
| GB8501143D0 (en) * | 1985-01-17 | 1985-02-20 | Plessey Co Plc | Integrated circuits |
| US4701920A (en) * | 1985-11-08 | 1987-10-20 | Eta Systems, Inc. | Built-in self-test system for VLSI circuit chips |
-
1988
- 1988-09-23 US US07/248,888 patent/US4894800A/en not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-09-20 EP EP19890117398 patent/EP0370194A3/en not_active Withdrawn
- 1989-09-22 CA CA000612460A patent/CA1296110C/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-09-25 JP JP1246599A patent/JPH02194376A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0370194A3 (en) | 1991-10-16 |
| CA1296110C (en) | 1992-02-18 |
| EP0370194A2 (en) | 1990-05-30 |
| US4894800A (en) | 1990-01-16 |
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