JPH02194663A - メモリ装置およびスイッチング装置 - Google Patents
メモリ装置およびスイッチング装置Info
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- JPH02194663A JPH02194663A JP1014706A JP1470689A JPH02194663A JP H02194663 A JPH02194663 A JP H02194663A JP 1014706 A JP1014706 A JP 1014706A JP 1470689 A JP1470689 A JP 1470689A JP H02194663 A JPH02194663 A JP H02194663A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
する。
[産業上の利用分野]
本発明はメモリ装置およびスイッチング装置に係り、特
に不均質節■種超伝導体を用い、その残留磁化を利用し
て動作させるメモリ装置およびスイッチング装置に関す
る。
に不均質節■種超伝導体を用い、その残留磁化を利用し
て動作させるメモリ装置およびスイッチング装置に関す
る。
[従来の技術]
近年、臨界温度が液体窒素の沸点<77K)を越える酸
化物高温超伝導体が発見され、エレクトロニクス分野で
の超伝導体現象の利用が期待されている。
化物高温超伝導体が発見され、エレクトロニクス分野で
の超伝導体現象の利用が期待されている。
そして従来、超伝導体を利用したメモリ素子やスイッチ
ング素子としては、ジョセフソン素子が用いられている
0例えばジョセフソン素子を用いたメモリ素子において
は、超伝導線で作った閉ループに流れる電流の有無やそ
の向きの違いにより“0”、1”の情報を記憶し、その
超伝導閉ループにゲートとして挿入した1個または2個
のジョセフソン素子により書込みを行ない、またループ
電流が発生する磁界を検出したりループ電流による閾f
iiixの変化を検出したりすることにより読出しを行
なっている。
ング素子としては、ジョセフソン素子が用いられている
0例えばジョセフソン素子を用いたメモリ素子において
は、超伝導線で作った閉ループに流れる電流の有無やそ
の向きの違いにより“0”、1”の情報を記憶し、その
超伝導閉ループにゲートとして挿入した1個または2個
のジョセフソン素子により書込みを行ない、またループ
電流が発生する磁界を検出したりループ電流による閾f
iiixの変化を検出したりすることにより読出しを行
なっている。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、上記従来のジョセフソン素子を用いたメ
モリ素子は、デジタルメモリのみでアナログメモリとし
ての機能は有してなかった。
モリ素子は、デジタルメモリのみでアナログメモリとし
ての機能は有してなかった。
また、十分に大きなS/N比がとれないという問題もあ
った。さらに、構造も複雑で製作が容易でないという問
題もあった。
った。さらに、構造も複雑で製作が容易でないという問
題もあった。
そこで本発明は、S/N比が大きく、また構造も簡単で
製作が容易な、デジタルメモリおよびアナログメモリと
しての機能を有するメモリ装置およびスイッチング装置
を提供することを目的とする。
製作が容易な、デジタルメモリおよびアナログメモリと
しての機能を有するメモリ装置およびスイッチング装置
を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明者らは、不均質節■種超伝導体の残留磁化を利用
するという新しい原理を用いたメモリ装置およびスイッ
チング装置により、上記課題を解決した。
するという新しい原理を用いたメモリ装置およびスイッ
チング装置により、上記課題を解決した。
すなわち上記課題は、所定の電流により残留磁化が発生
し、臨界電流以上の電流により前記残留磁化が消去され
る超伝導体で作られたメモリ線と、前記メモリ線の残留
磁化量を読み収る検出素子とを有することを特徴とする
メモリ装置によって達成される。
し、臨界電流以上の電流により前記残留磁化が消去され
る超伝導体で作られたメモリ線と、前記メモリ線の残留
磁化量を読み収る検出素子とを有することを特徴とする
メモリ装置によって達成される。
また、上記課題は、所定の電流により残留磁化が発生し
、臨界電流以上の電流により前記残留磁化が消去される
超伝導体で作られたコントロール線と、前記コントロー
ル線の前記残留磁化の有無によってオンオフするスイッ
チング素子とを有することを特1とするスイッチング装
置によって達成される。
、臨界電流以上の電流により前記残留磁化が消去される
超伝導体で作られたコントロール線と、前記コントロー
ル線の前記残留磁化の有無によってオンオフするスイッ
チング素子とを有することを特1とするスイッチング装
置によって達成される。
[作 用]
第■種超伝導体は下部臨界磁場Hc +以上の磁場が印
加されると、完全マイスナー状態が壊れ、磁化される。
加されると、完全マイスナー状態が壊れ、磁化される。
不均質節■種超伝導体の場合、この磁化は印加磁場を収
り除いても完全にはなくならず、残留磁化Mrとして導
体中に残る。この残留磁化Mrの大きさは、不均質節■
種超伝導体が経験した最高磁場により決まる。そして不
均質節■種超伝導体の超伝導特性や形状に依存して決ま
る磁場侵入度Hpの2倍以上の磁場では、残留磁化Mr
は飽和する。′&たこの残留磁化Mrは、例えば臨界電
流以上の電流を流す等によって超伝導状態を壊すことに
より、消去される。
り除いても完全にはなくならず、残留磁化Mrとして導
体中に残る。この残留磁化Mrの大きさは、不均質節■
種超伝導体が経験した最高磁場により決まる。そして不
均質節■種超伝導体の超伝導特性や形状に依存して決ま
る磁場侵入度Hpの2倍以上の磁場では、残留磁化Mr
は飽和する。′&たこの残留磁化Mrは、例えば臨界電
流以上の電流を流す等によって超伝導状態を壊すことに
より、消去される。
従って、本発明は、不均質節■種超伝導体で作られたメ
モリ線に所定の電流を流して形成した残留磁化状態がデ
ジタルメモリ信号となり、残留磁化の有無が検出素子に
よって読み取られることにより、デジタルメモリ装置と
して機能する。
モリ線に所定の電流を流して形成した残留磁化状態がデ
ジタルメモリ信号となり、残留磁化の有無が検出素子に
よって読み取られることにより、デジタルメモリ装置と
して機能する。
また、不均質節■種超伝導体で作られたメモリ線に所定
の電流を流して発生した残留磁化量がアナログメモリ信
号となり、この信号が検出素子によって読み取られるこ
とにより、アナログメモリ装置として機能する。
の電流を流して発生した残留磁化量がアナログメモリ信
号となり、この信号が検出素子によって読み取られるこ
とにより、アナログメモリ装置として機能する。
さらにまた、不均質第■種超伝導体部の残留磁化状態に
応じて、スイッチング素子がオンオフすることにより、
スイッチング装置として機能する。
応じて、スイッチング素子がオンオフすることにより、
スイッチング装置として機能する。
[実施例]
以下、本発明を図示する実施例に基づいて具体的に説明
する。
する。
第1図は本発明の第1の実施例によるメモリ装置を示す
斜視図である。
斜視図である。
基板(図示せず)上に、不均質第■種超伝導体である例
えばY B a 2 Cu s 07−Xで作られたメ
モリ線2が設けられている。そしてこのメモリ線2上に
、絶縁層(図示せず)を介して、検出素子としての例え
ばニオブNbを用いたブリッジ型ジョセフソン素子4が
設けられている。
えばY B a 2 Cu s 07−Xで作られたメ
モリ線2が設けられている。そしてこのメモリ線2上に
、絶縁層(図示せず)を介して、検出素子としての例え
ばニオブNbを用いたブリッジ型ジョセフソン素子4が
設けられている。
そしてこれらのメモリ線2およびブリッジ型ジョセフソ
ン素子4は、温度4,2にの液体ヘリウムによって冷却
されている。なお、この液体ヘリウムの代わりに、温度
77にの液体窒素を用いてもよい。
ン素子4は、温度4,2にの液体ヘリウムによって冷却
されている。なお、この液体ヘリウムの代わりに、温度
77にの液体窒素を用いてもよい。
次に、第2図を用いて、第1の実施例の動作を説明する
。
。
第2図は、YBaz Cup 07−Xで作られたメモ
リ線2に流す書込/消去のための電流Iとその電流Iに
よって内部に発生ずる残留磁化Mrとの関係を示すグラ
フである。
リ線2に流す書込/消去のための電流Iとその電流Iに
よって内部に発生ずる残留磁化Mrとの関係を示すグラ
フである。
いま、Y B a 2 Cu s O7−Xで作られた
メモリ線2に電流Iを流すと、この電流Iによって自己
磁場が発生する。電流Iの値が小さく従って自己磁場が
小さいときには、完全マイスナー効果を示すために、こ
の状態から電流Iを取り除いても磁化は残留しない、す
なわち残留磁化Mrはゼロである。
メモリ線2に電流Iを流すと、この電流Iによって自己
磁場が発生する。電流Iの値が小さく従って自己磁場が
小さいときには、完全マイスナー効果を示すために、こ
の状態から電流Iを取り除いても磁化は残留しない、す
なわち残留磁化Mrはゼロである。
次第に電流Iを大きくしていき、下部臨界磁場Hc +
に対応する電流ff1lclより大きくなると、磁束は
量子化されてY9a2CusO□−Xで作られたメモリ
線2に入っていき、第1図に示されたメモリ線2の幅お
よびこのメモリ線2が経験する最高磁場に依存する残留
磁化Mrを示すようになる。すなわちこのときの残留磁
化Mrは、メモリ線2に流れる電流■に比例する。
に対応する電流ff1lclより大きくなると、磁束は
量子化されてY9a2CusO□−Xで作られたメモリ
線2に入っていき、第1図に示されたメモリ線2の幅お
よびこのメモリ線2が経験する最高磁場に依存する残留
磁化Mrを示すようになる。すなわちこのときの残留磁
化Mrは、メモリ線2に流れる電流■に比例する。
さらに電流Iが大きくなり、自己磁場が磁場1受入度H
pの2倍を越えると、すなわち電流riIpを越えると
、残留磁化Mrは飽和して、一定の値を保持するように
なる。そして電IIが臨界電流Icを越えると、メモリ
線2における超伝導相は常伝導相に転移し、残留磁化λ
1rはセロになる。
pの2倍を越えると、すなわち電流riIpを越えると
、残留磁化Mrは飽和して、一定の値を保持するように
なる。そして電IIが臨界電流Icを越えると、メモリ
線2における超伝導相は常伝導相に転移し、残留磁化λ
1rはセロになる。
こうしてメモリ線2に流れる電流Iは、1 c + <
I < I c においてメモリ線2に残留磁化Mrを発生させ、I>I
c においてメモリ線2の残留磁化Mrを消去する。
I < I c においてメモリ線2に残留磁化Mrを発生させ、I>I
c においてメモリ線2の残留磁化Mrを消去する。
すなわち電流Iによって、情報としての残留磁化Mrの
書込み、消去が行なわれる。
書込み、消去が行なわれる。
そしてこのメモリ線2の残留磁化Mrは、メモリ線2に
近接して設けられているブリッジ型ジョセフソン素子4
のブリッジ6に磁場を印加する。
近接して設けられているブリッジ型ジョセフソン素子4
のブリッジ6に磁場を印加する。
そしてこの残留磁化Mrによって、ブリッジ型ジョセフ
ソン素子4の臨界電流値が劣化し、電圧が発生する。
ソン素子4の臨界電流値が劣化し、電圧が発生する。
メモリ線2の残留磁化がゼロのときのブリッジ型ジョセ
フソン素子4の臨界電流値をlc、残留磁化が印加され
たときの臨界44流値をIw、飽和残留磁化が印加され
たときの臨界電流値をIll、とする。
フソン素子4の臨界電流値をlc、残留磁化が印加され
たときの臨界44流値をIw、飽和残留磁化が印加され
たときの臨界電流値をIll、とする。
いま、ブリッジ型ジョセフソン素子4に流す電流■。を
1 M < I o < I c
となるように設定すると、電圧が発生するかしないかに
より、メモリ線2に残留磁化Mrが有るか無いかという
残留状態を、“O”か“1”かというデジタルメモリ信
号として読み取ることができる。
より、メモリ線2に残留磁化Mrが有るか無いかという
残留状態を、“O”か“1”かというデジタルメモリ信
号として読み取ることができる。
このようにして、YBa2Cus OツーXで作られた
メモリ線2の残留磁化状態を、検出素子としてのブリッ
ジ型ジョセフソン素子4によって読み取ることにより、
デジタルメモリ装置として機能することができる。
メモリ線2の残留磁化状態を、検出素子としてのブリッ
ジ型ジョセフソン素子4によって読み取ることにより、
デジタルメモリ装置として機能することができる。
次に、アナログメモリ装置として機能させる場合につい
て説明する・。
て説明する・。
既に述べたように、ブリッジ型ジョセフソン素子4の臨
界電流値は、メモリ線2における残留磁化Mrに依存し
て決まる。このため、ブリッジ型ジョセフソン素子4に
流す電Kl。を変化させていき、どの電流値でブリッジ
型ジョセフソン素子4に電圧が発生するかを知ることに
より、メモリ線2がどの程の残留磁化Mrを有している
かという残留磁化量を、アナログメモリ信号として読み
取ることができる。
界電流値は、メモリ線2における残留磁化Mrに依存し
て決まる。このため、ブリッジ型ジョセフソン素子4に
流す電Kl。を変化させていき、どの電流値でブリッジ
型ジョセフソン素子4に電圧が発生するかを知ることに
より、メモリ線2がどの程の残留磁化Mrを有している
かという残留磁化量を、アナログメモリ信号として読み
取ることができる。
このようにして、Y B a 2 Cu 、07−Xで
作られたメモリ線2の残留磁化量を、検出素子としての
ブリッジ型ジョセフソン素子4によって読み取ることに
より、アナログメモリ装置として機能することができる
。
作られたメモリ線2の残留磁化量を、検出素子としての
ブリッジ型ジョセフソン素子4によって読み取ることに
より、アナログメモリ装置として機能することができる
。
このように第1の実施例によれば、不均質筒■種超伝導
体であるY B a 2Cu s Ot−xによってメ
モリ線2を形成し、そのメモリ線2における残留磁化状
態すなわち残留磁化の有無を、検出素子としてのブリッ
ジ型ジョセフソン素子4によって読み取ることにより、
デジタルメモリ装置とじて機能させることができる。
体であるY B a 2Cu s Ot−xによってメ
モリ線2を形成し、そのメモリ線2における残留磁化状
態すなわち残留磁化の有無を、検出素子としてのブリッ
ジ型ジョセフソン素子4によって読み取ることにより、
デジタルメモリ装置とじて機能させることができる。
また、そのメモリ線2における残留磁化量を、検出素子
としてのブリッジ型ジョセフソン素子4によって読み収
ることにより、アナログメモリ装置として機能させるこ
とができる。
としてのブリッジ型ジョセフソン素子4によって読み収
ることにより、アナログメモリ装置として機能させるこ
とができる。
次に、本発明の第2の実施例によるメモリ装置を説明す
る。
る。
第3図は本発明の第2の実施例によるメモリ装置を示す
斜視図である。
斜視図である。
例えばY B a 2Cu s O7−Xで作られたメ
モリ線2a、2bは、それぞれU字型形状をなし、互い
に相対している。そしてこれらのメモリ線2a2bの間
に、それぞれ絶縁層(図示せず)を介して、検出素子と
して例えばニオブNbを用いたブリッジ型ジョセフソン
素子4が設けられている。
モリ線2a、2bは、それぞれU字型形状をなし、互い
に相対している。そしてこれらのメモリ線2a2bの間
に、それぞれ絶縁層(図示せず)を介して、検出素子と
して例えばニオブNbを用いたブリッジ型ジョセフソン
素子4が設けられている。
また、第1の実施例と同様に、これらのメモリ線2a、
2bおよびブリッジ型ジョセフソン素子4は、液体ヘリ
ウムまたは液体窒素によって冷却されている。
2bおよびブリッジ型ジョセフソン素子4は、液体ヘリ
ウムまたは液体窒素によって冷却されている。
第2の実施例によるメモリ装置の動作は上記第1の実施
例とほとんど同様であるが、第1の実施例において、メ
モリ線2に発生する残留磁化Mrがブリッジ型ジョセフ
ソン素子4のブリッジ6に水平磁場として印加されるの
に対して、第2の実施例においては、メモリ線2a、2
bの残留磁化Mrによって、ブリッジ型ジョセフソン素
子4のブリッジ6に垂直磁場が印加される。
例とほとんど同様であるが、第1の実施例において、メ
モリ線2に発生する残留磁化Mrがブリッジ型ジョセフ
ソン素子4のブリッジ6に水平磁場として印加されるの
に対して、第2の実施例においては、メモリ線2a、2
bの残留磁化Mrによって、ブリッジ型ジョセフソン素
子4のブリッジ6に垂直磁場が印加される。
しかも、ブリッジ型ジョセフソン素子4を挟む2つのU
字型形状のメモリ線2a、2bには、同じ方向に書込/
消去電流Iが流されるため、これら2つのメモリ線2a
、2bの存在による垂直磁場の相乗効果と共に、各メモ
リ線2a、2bのU字型形状による相乗効果も加わって
、ブリッジ型ジョセフソン素子4のブリッジ6に印加さ
れる磁場は極めて強力になる。従って、第2の実施例に
よるメモリ装置は、十分に大きなS/N比をとることが
できる。
字型形状のメモリ線2a、2bには、同じ方向に書込/
消去電流Iが流されるため、これら2つのメモリ線2a
、2bの存在による垂直磁場の相乗効果と共に、各メモ
リ線2a、2bのU字型形状による相乗効果も加わって
、ブリッジ型ジョセフソン素子4のブリッジ6に印加さ
れる磁場は極めて強力になる。従って、第2の実施例に
よるメモリ装置は、十分に大きなS/N比をとることが
できる。
このようにして、第2の実施例によるメモリ装!は、第
1の実施例と同様に、デジタルメモリ装置またはアナロ
グメモリ装置として機能することができる。
1の実施例と同様に、デジタルメモリ装置またはアナロ
グメモリ装置として機能することができる。
次に、本発明の第3の実施例によるスイッチング装置を
説明する。
説明する。
第4図は本発明の第3の実施例によるスイッチング装置
を示す斜視図である。
を示す斜視図である。
基板(図示せず)上に、不均質筒■種超伝導体である例
えばYB a2Cu 307−Xで作られたコントロー
ル線12が設けられている。そしてこのコントロール線
12上に、絶縁層(図示せず)を介して、スイッチング
素子としての例えばニオブNbを用いたブリッジ型ジョ
セフソン素子14が設けられている。
えばYB a2Cu 307−Xで作られたコントロー
ル線12が設けられている。そしてこのコントロール線
12上に、絶縁層(図示せず)を介して、スイッチング
素子としての例えばニオブNbを用いたブリッジ型ジョ
セフソン素子14が設けられている。
そしてこれらのメモリ線2およびブリッジ型ジョセフソ
ン素子4は、温度4.2にの液体ヘリウムまたは温度7
7にの液体窒素によって冷却されている。
ン素子4は、温度4.2にの液体ヘリウムまたは温度7
7にの液体窒素によって冷却されている。
次に、動作を説明する。
上記第1の実施例によるメモリ装置において、書込/消
去電流lによるメモリ線2への残留磁化Mrの書込みお
よび消去が行なわれるのと同様にして、コントロール線
12に流す制御電流Iは、コントロール線12に残留磁
化Mrを発生させ、またその残留磁化M rを消去させ
る。
去電流lによるメモリ線2への残留磁化Mrの書込みお
よび消去が行なわれるのと同様にして、コントロール線
12に流す制御電流Iは、コントロール線12に残留磁
化Mrを発生させ、またその残留磁化M rを消去させ
る。
そしてこのコントロール線12の残留磁化Mrによって
、ブリッジ型ジョセフソン索子14のブリッジ16に磁
場が印加され、ブリッジ型ジョセフソン素子14の臨界
電:a値が変化して、電圧状態ヘスイッチする。
、ブリッジ型ジョセフソン索子14のブリッジ16に磁
場が印加され、ブリッジ型ジョセフソン素子14の臨界
電:a値が変化して、電圧状態ヘスイッチする。
このようにして、Y B a 2 Cu s O□−8
で作られたコントロール線12の残留磁化Mrによって
、ブリッジ型ジョセフソン素子14のスイッチング動作
を行なうことができる。
で作られたコントロール線12の残留磁化Mrによって
、ブリッジ型ジョセフソン素子14のスイッチング動作
を行なうことができる。
このように第3の実施例によれば、不均質第■種超伝導
体であるYBa2Cu、O□−8によってコントロール
線12を形成し、そのコントロール線12に残留磁化M
rを発生させることにより、スイッチング素子としての
ブリッジ型ジョセフソン素子14にオンオフ動作をおこ
なわせることができる。
体であるYBa2Cu、O□−8によってコントロール
線12を形成し、そのコントロール線12に残留磁化M
rを発生させることにより、スイッチング素子としての
ブリッジ型ジョセフソン素子14にオンオフ動作をおこ
なわせることができる。
次に、本発明の第4の実施例によるスイッチング装置を
説明する。
説明する。
第5図は本発明の第2の実施例によるスイッチング装置
を示す斜視図である。
を示す斜視図である。
例えばYBa、Cu、O□−8で作られたコントロール
線12a、12bは、それぞれU字型形状をなし、互い
に相対している。そしてこれらのコントロール線12a
、12bの間に、それぞれ絶縁層(図示せず)を介して
、スイッチング素子として例えばニオブNbを用いたブ
リッジ型ジョセフソン素子4が設けられている。
線12a、12bは、それぞれU字型形状をなし、互い
に相対している。そしてこれらのコントロール線12a
、12bの間に、それぞれ絶縁層(図示せず)を介して
、スイッチング素子として例えばニオブNbを用いたブ
リッジ型ジョセフソン素子4が設けられている。
第4の実施例によるコントロール装置の動作は、上記第
3の実施例とほとんど同様であるが、第2の実施例によ
るメモリ装置において説明したように、ブリッジ型ジョ
セフソン素子14を挟む2つのU字型形状のコントロー
ル線12a、12bにそれぞれ同じ方向の制御電流Iが
流されるため、ブリッジ型ジョセフソン素子14のブリ
ッジ16には、強力な垂直磁場が印加されることになる
。
3の実施例とほとんど同様であるが、第2の実施例によ
るメモリ装置において説明したように、ブリッジ型ジョ
セフソン素子14を挟む2つのU字型形状のコントロー
ル線12a、12bにそれぞれ同じ方向の制御電流Iが
流されるため、ブリッジ型ジョセフソン素子14のブリ
ッジ16には、強力な垂直磁場が印加されることになる
。
このようにして、第4の実施例によるスイッチング装置
は、第3の実施例と同様に、スイッチ77機能を奏する
ことができる。
は、第3の実施例と同様に、スイッチ77機能を奏する
ことができる。
なお、上記第1ないし第4の実施例においては、メモリ
線2またはコントロール線12として、YB a2C(
1s 07−Xを用いているが、これに限らず、不均質
第■種超伝導体であれば何を用いてもよい6例えばYB
at Cus 07−Xのアモルファスでもよいし、N
bx SnやV s G aなどの化合物またはこれら
のアモルファスであってもよい。
線2またはコントロール線12として、YB a2C(
1s 07−Xを用いているが、これに限らず、不均質
第■種超伝導体であれば何を用いてもよい6例えばYB
at Cus 07−Xのアモルファスでもよいし、N
bx SnやV s G aなどの化合物またはこれら
のアモルファスであってもよい。
これらはいずれも製作が容易であり、また残留磁化が大
きいため、メモリ装置のS/N比を大きくすることがで
きる。
きいため、メモリ装置のS/N比を大きくすることがで
きる。
また、上記第1ないし第4の実施例においては、検出素
子またはスイッチング素子として、ブリッジ型ジョセフ
ソン索子4,14を用いているが、この型に限らず、ポ
イント接合型ジョセフソン素子、トンネル接合型ジョセ
フソン素子であってもよい。
子またはスイッチング素子として、ブリッジ型ジョセフ
ソン索子4,14を用いているが、この型に限らず、ポ
イント接合型ジョセフソン素子、トンネル接合型ジョセ
フソン素子であってもよい。
さらにまた、こうしたジョセフソン素子の代わりに、磁
場によって電位差が生じる特性を有するホール素子を用
いることもできる。
場によって電位差が生じる特性を有するホール素子を用
いることもできる。
[発明の効果]
以上のように本発明によれば、不均質第1種超伝導体の
残留磁化をデジタル信号あるいはアナログ信号または制
御信号として利用することにより、S/N比が大きく、
また構造も簡単で製作が容易な、デジタルメモリ機能あ
るいはアナログメモリ機能またはスイッチング機能を奏
することができる。
残留磁化をデジタル信号あるいはアナログ信号または制
御信号として利用することにより、S/N比が大きく、
また構造も簡単で製作が容易な、デジタルメモリ機能あ
るいはアナログメモリ機能またはスイッチング機能を奏
することができる。
第1図は、本発明の第1の実施例によるメモリ装置を示
す斜視図、 第2図は、第1図のメモリ装置の動作を説明するための
グラフ、 第3図は、本発明の第2の実施例によるメモリ装置を示
す斜視図、 第4図は、本発明の第3の実施例によるスイッチング装
置を示す斜視図、 第5図は、本発明の第4の実施例によるスイッチング装
宣を示す斜視図である。 図において、 2 + 2 a + 2 b・・・・・・メモリ線、
4.14・・・・・・ブリッジ型ジョセフソン素子、6
.16・・・・・・ブリッジ、 12.12a、12b・・・・・・コントロール線。 電流I 弁ジ月の第3の失が回倒にはうスインナシク慴ど■丘ノ
斥ずン日見図第4図
す斜視図、 第2図は、第1図のメモリ装置の動作を説明するための
グラフ、 第3図は、本発明の第2の実施例によるメモリ装置を示
す斜視図、 第4図は、本発明の第3の実施例によるスイッチング装
置を示す斜視図、 第5図は、本発明の第4の実施例によるスイッチング装
宣を示す斜視図である。 図において、 2 + 2 a + 2 b・・・・・・メモリ線、
4.14・・・・・・ブリッジ型ジョセフソン素子、6
.16・・・・・・ブリッジ、 12.12a、12b・・・・・・コントロール線。 電流I 弁ジ月の第3の失が回倒にはうスインナシク慴ど■丘ノ
斥ずン日見図第4図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、所定の電流により残留磁化が発生し、臨界電流以上
の電流により前記残留磁化が消去される超伝導体で作ら
れたメモリ線と、 前記メモリ線の残留磁化量を読み取る検出素子と を有することを特徴とするメモリ装置。 2、所定の電流により残留磁化が発生し、臨界電流以上
の電流により前記残留磁化が消去される超伝導体で作ら
れたコントロール線と、 前記コントロール線の前記残留磁化の有無によってオン
オフするスイッチング素子と を有することを特徴とするスイッチング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1014706A JPH02194663A (ja) | 1989-01-24 | 1989-01-24 | メモリ装置およびスイッチング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1014706A JPH02194663A (ja) | 1989-01-24 | 1989-01-24 | メモリ装置およびスイッチング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02194663A true JPH02194663A (ja) | 1990-08-01 |
Family
ID=11868617
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1014706A Pending JPH02194663A (ja) | 1989-01-24 | 1989-01-24 | メモリ装置およびスイッチング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02194663A (ja) |
-
1989
- 1989-01-24 JP JP1014706A patent/JPH02194663A/ja active Pending
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