JPH02195944A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
- Publication number
- JPH02195944A JPH02195944A JP1015295A JP1529589A JPH02195944A JP H02195944 A JPH02195944 A JP H02195944A JP 1015295 A JP1015295 A JP 1015295A JP 1529589 A JP1529589 A JP 1529589A JP H02195944 A JPH02195944 A JP H02195944A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- memory
- data
- profile data
- ray
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- Pending
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野コ
この発明はＸ線撮影の分野で利用される。
この発明はＸ線ＣＴ装置に関し、とくにＸ線ＣＴ画像上
の高吸収物質にがかる像影の消去に関する。
の高吸収物質にがかる像影の消去に関する。
外科手術などの処置において体内にボルトなど金属が挿
入される場合がある。
入される場合がある。
Ｘｆｆ１ＣＴ１ｉ像では、被写体内にこのような金属な
どのようにＸ線吸収係数の特に大きいものがあると、そ
の部分から強いアーチ、イファクトを生じ、その部分以
外の領域の読影の大きな障害になる場合がある。 その
ため、上記のようなＸ線高吸収物質を画像上から除去す
る試みがなされている。
どのようにＸ線吸収係数の特に大きいものがあると、そ
の部分から強いアーチ、イファクトを生じ、その部分以
外の領域の読影の大きな障害になる場合がある。 その
ため、上記のようなＸ線高吸収物質を画像上から除去す
る試みがなされている。
［発明が解決しようとする課題〕
従来例によるＸ線高吸収物質除去方式では、高吸収物質
の画像上の形状を円形と仮定して、臨床上、予想される
様々な形状の高吸収物質に適用し、除去しているが無理
がある。
の画像上の形状を円形と仮定して、臨床上、予想される
様々な形状の高吸収物質に適用し、除去しているが無理
がある。
さらに同一画像上に２ケ所以上の高吸収物質が存在する
場合には、各々の高吸収物質の効果を正確に把握できな
いため、その処理によって、かえって新たな著しいアー
ティファクトを発生させてしまうことがある。
場合には、各々の高吸収物質の効果を正確に把握できな
いため、その処理によって、かえって新たな著しいアー
ティファクトを発生させてしまうことがある。
この発明の目的は、除去したいＸ線高吸収物質にかかる
画像領域を再構成画像表示上で逐一指定してそのプロフ
ィールデータをその都度求めて、元のプロフィールデー
タから除去した再構成画像が得られるＸ線ＣＴ装置を提
供することである。
画像領域を再構成画像表示上で逐一指定してそのプロフ
ィールデータをその都度求めて、元のプロフィールデー
タから除去した再構成画像が得られるＸ線ＣＴ装置を提
供することである。
［課題を解決するための手段］
前記した目的は、収集されたプロフィルデータのメモリ
と、そのデータを読み出し再構成画像処理を介して得ら
れた再構成画像のメモリと、その画像を表示させてＸ線
高吸収物質にかかる画像領域を指定する手段と、再構成
画像メモリから該指定された画像領域のデータを読み出
し、別に指定された角度からみたプロフィールデータを
演算するフオワード・プロジェクション演算部と、算出
されたプロフィールデータからＸ線高吸収物質のみのプ
ロフィールデータを抽出し、これを元のプロフィールデ
ータから除去してプロフィールデータのメモリを書き変
える手段とを具備することにより、達成される。
と、そのデータを読み出し再構成画像処理を介して得ら
れた再構成画像のメモリと、その画像を表示させてＸ線
高吸収物質にかかる画像領域を指定する手段と、再構成
画像メモリから該指定された画像領域のデータを読み出
し、別に指定された角度からみたプロフィールデータを
演算するフオワード・プロジェクション演算部と、算出
されたプロフィールデータからＸ線高吸収物質のみのプ
ロフィールデータを抽出し、これを元のプロフィールデ
ータから除去してプロフィールデータのメモリを書き変
える手段とを具備することにより、達成される。
一作 用］
再構成画像表示上で指定したＸ線高吸収物質を含む領域
を拡大して、その拡大画像からフオワード・プロジェク
ション処理によって除去したい高吸収物質のプロフィー
ルを求め、このプロフィールを元の高吸収物質を含むプ
ロフィールから差し引いて、画像再構成を行なう。
を拡大して、その拡大画像からフオワード・プロジェク
ション処理によって除去したい高吸収物質のプロフィー
ルを求め、このプロフィールを元の高吸収物質を含むプ
ロフィールから差し引いて、画像再構成を行なう。
除去したい高吸収物質のみの画像を得ることにより、２
つ以上の高吸収物質が存在する場合に、注目する高吸収
物質だけの情報を抽出することができる。 また、フオ
ワード・プロジェクションを行なうことにより、画像上
の高吸収物質の形伏に仮定を導入することなしに処理で
きる。
つ以上の高吸収物質が存在する場合に、注目する高吸収
物質だけの情報を抽出することができる。 また、フオ
ワード・プロジェクションを行なうことにより、画像上
の高吸収物質の形伏に仮定を導入することなしに処理で
きる。
〔実 施 例コ
この発明の好適な実施例は、図面に基づいて説明される
。
。
第１図はその１実施例を示した要部構成ブｂツク図であ
る。
る。
この図において、１０はＸ線管と検出器からなるスキャ
ナを含んだデータ収集システム（ＤＡＳ）である。 Ｄ
ＡＳＩＯによって計測された各角度におけるデータはメ
モリ１２ （メモリ１）に記憶され、前処理演算部１４
で各種の補正が施された後、記憶部（メモリ２）を有す
る演算部１６に送られる。
ナを含んだデータ収集システム（ＤＡＳ）である。 Ｄ
ＡＳＩＯによって計測された各角度におけるデータはメ
モリ１２ （メモリ１）に記憶され、前処理演算部１４
で各種の補正が施された後、記憶部（メモリ２）を有す
る演算部１６に送られる。
通常の画像再構成においては、前処理演算部１４の出力
データがそのままメモリ２に書き込まれる。 そのデー
タはコンボリューション演算部（ＣＶ）１８、逆投影（
バックプロジェクションないしＢＰ）演算部２０を経て
再構成画像情報となりメモリ２２ （メモリ３）に格納
され、表示される。
データがそのままメモリ２に書き込まれる。 そのデー
タはコンボリューション演算部（ＣＶ）１８、逆投影（
バックプロジェクションないしＢＰ）演算部２０を経て
再構成画像情報となりメモリ２２ （メモリ３）に格納
され、表示される。
このような処理を経て得られた画像例が第２図の画像１
として表示器２４により示される。 その中に２つの高
吸収物質の像影Ｎｌ 、Ｎ２が含まれているとする。
として表示器２４により示される。 その中に２つの高
吸収物質の像影Ｎｌ 、Ｎ２が含まれているとする。
このうち、高吸収物質像影Ｎ１を画像から除去する場合
の例を説明する。 画像１は多数の角度から計測された
プロフィールから再構成されており、そのうち図ではＯ
” ９０’方向から得られた補正後のプロフィールＡ
、Ｂが示されている。
の例を説明する。 画像１は多数の角度から計測された
プロフィールから再構成されており、そのうち図ではＯ
” ９０’方向から得られた補正後のプロフィールＡ
、Ｂが示されている。
これらは演算部１６のメモリ２に記憶されている。
画像１の高吸収物質像影Ｎ１を含む小領域は、表示画像
２４上で操作者によりカーソルキーなどで指定され、そ
の拡大画像例を画像２とし、第３図に示されている。
２４上で操作者によりカーソルキーなどで指定され、そ
の拡大画像例を画像２とし、第３図に示されている。
画像２は画像１から単純拡大してもよいが、データの信
頼度を上げるため、指定の領域部分を拡大再構成する方
が望ましい。
頼度を上げるため、指定の領域部分を拡大再構成する方
が望ましい。
２６はフオワード・プロジェクション演算部であり、フ
オワード・プロジェクションは画像２に対して施す。
フオワード・プロジェクションとは、再構成画像から、
ある角度方向のプロフィールを作成することを意味し、
例えば０° ９０”方向のフオワード・プロジェクショ
ンの結果は、プロフィ−ルミ、ｂである。
オワード・プロジェクションは画像２に対して施す。
フオワード・プロジェクションとは、再構成画像から、
ある角度方向のプロフィールを作成することを意味し、
例えば０° ９０”方向のフオワード・プロジェクショ
ンの結果は、プロフィ−ルミ、ｂである。
これらａ、ｂには、除去したい高吸収物質像影Ｎｌとそ
の周囲物質の像影の情報が含まれている。
の周囲物質の像影の情報が含まれている。
プロフィ−ルミ、ｂにおいて、除去したい高吸収物質像
影Ｎ１のみのプロフィールａｌ、ｂｌを得る処理が必要
となる。 これは内挿演舅によっても可能であるが、第
４図に示すように、プロファイルａをコンボリューショ
ンして得られた、データＰｉにおいて、高吸収物質Ｎ１
に属する範囲を平滑化してデータＰ２を得て、これをデ
コンボリューションした結果をデータＰ３とすると、デ
ータａ−Ｐ３によっても求められる。
影Ｎ１のみのプロフィールａｌ、ｂｌを得る処理が必要
となる。 これは内挿演舅によっても可能であるが、第
４図に示すように、プロファイルａをコンボリューショ
ンして得られた、データＰｉにおいて、高吸収物質Ｎ１
に属する範囲を平滑化してデータＰ２を得て、これをデ
コンボリューションした結果をデータＰ３とすると、デ
ータａ−Ｐ３によっても求められる。
プロフィールａｌ、ｂｌは拡大した画像２のプロフィー
ルであるから、その拡大位置、拡大率などの情報から元
のプロフィールＡ、Ｂと共通の単位を有するプロフィー
ルａ２、ｂ２を求めることができる。 これを元のプロ
フィールＡ、Ｂから差し引いて得られたプロフィール（
Ａ−ａ２）、（Ｂ−ｂ２）は、高吸収物質Ｎｌを除去し
たプロフィールである このようなプロフィールを多数の方向から求めてそのメ
モリ２を書き変え、通常の画像再構成を行なえば、高吸
収物質Ｎ１が除去された画像を得ることができる。
ルであるから、その拡大位置、拡大率などの情報から元
のプロフィールＡ、Ｂと共通の単位を有するプロフィー
ルａ２、ｂ２を求めることができる。 これを元のプロ
フィールＡ、Ｂから差し引いて得られたプロフィール（
Ａ−ａ２）、（Ｂ−ｂ２）は、高吸収物質Ｎｌを除去し
たプロフィールである このようなプロフィールを多数の方向から求めてそのメ
モリ２を書き変え、通常の画像再構成を行なえば、高吸
収物質Ｎ１が除去された画像を得ることができる。
第１図のブロック図において、拡大した画像はメモリ３
に記憶されており、フオワード・プロジェクション演算
部２６で、フオワード・プロジェクション処理をした後
、メモリ２を有する演算部１６で、高吸収物質のプロフ
ィール上での除去が行なわれ、メモリ２が書き変えられ
る。
に記憶されており、フオワード・プロジェクション演算
部２６で、フオワード・プロジェクション処理をした後
、メモリ２を有する演算部１６で、高吸収物質のプロフ
ィール上での除去が行なわれ、メモリ２が書き変えられ
る。
（効 果〕
この発明によれば、画像上の高吸収物質を、その形状、
個数によらず、正確に除去することができる。 その際
、２つ以上の高吸収物質が存在するならば、注目する高
吸収物質だけの情報を抽出して除去でき、またフオワー
ド・プロジェクションを行うことにより、画像上の高吸
収物質の形状に仮定を導入することなしに処理できる。
個数によらず、正確に除去することができる。 その際
、２つ以上の高吸収物質が存在するならば、注目する高
吸収物質だけの情報を抽出して除去でき、またフオワー
ド・プロジェクションを行うことにより、画像上の高吸
収物質の形状に仮定を導入することなしに処理できる。
なお、Ｘ線高吸収物質は処理の中で、ＣＴ値があるしき
い値より大きいものとして認識されるので、他方あるし
きい値より小さいものとして処理すれば、低吸収物質（
例えば体内のガス）及秒その部分から生じるアーティフ
ァクトの除去にも応用できる。
い値より大きいものとして認識されるので、他方あるし
きい値より小さいものとして処理すれば、低吸収物質（
例えば体内のガス）及秒その部分から生じるアーティフ
ァクトの除去にも応用できる。
さらに、フオワード・プロジェクションを行うことから
、除去したい物体が撮影中に体動とともに移動した場合
にも対応できる。
、除去したい物体が撮影中に体動とともに移動した場合
にも対応できる。
第１図はこの発明の１実施例を示した要部構成ブロック
図、第２図は２つのＸ線高吸収物質が表示された画像と
プロフィール処理行程との例示図、第３図は１つのＸ線
高吸収物質の拡大表示画像とその物質のみのプロフィー
ル抽出態様との例示図、第４図は高吸収物質とその周囲
像から高吸収物質のみを除去するプロフィール処理行程
例示図である。 特許出願人 株式会社 島津製作所 代理人 弁理士 池 １）定゛ 夫
図、第２図は２つのＸ線高吸収物質が表示された画像と
プロフィール処理行程との例示図、第３図は１つのＸ線
高吸収物質の拡大表示画像とその物質のみのプロフィー
ル抽出態様との例示図、第４図は高吸収物質とその周囲
像から高吸収物質のみを除去するプロフィール処理行程
例示図である。 特許出願人 株式会社 島津製作所 代理人 弁理士 池 １）定゛ 夫
Claims (1)
- １、収集されたプロフィルデータのメモリと、そのデー
タを読み出し再構成画像処理を介して得られた再構成画
像のメモリと、その画像を表示させてＸ線高吸収物質に
かかる画像領域を指定する手段と、再構成画像メモリか
ら該指定された画像領域のデータを読み出し、別に指定
された角度からみたプロフィールデータを演算するフオ
ワード・プロジェクション演算部と、算出されたプロフ
ィールデータからＸ線高吸収物質のみのプロフィールデ
ータを抽出し、これを元のプロフィールデータから除去
してプロフィールデータのメモリを書き変える手段とを
具備していることを特徴とする、Ｘ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1015295A JPH02195944A (ja) | 1989-01-25 | 1989-01-25 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1015295A JPH02195944A (ja) | 1989-01-25 | 1989-01-25 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02195944A true JPH02195944A (ja) | 1990-08-02 |
Family
ID=11884843
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1015295A Pending JPH02195944A (ja) | 1989-01-25 | 1989-01-25 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02195944A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001137228A (ja) * | 1999-09-07 | 2001-05-22 | General Electric Co <Ge> | ２回パス式コーン・ビーム画像再構成の方法及び装置 |
| JP2004357969A (ja) * | 2003-06-05 | 2004-12-24 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線計測装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02149258A (ja) * | 1988-11-30 | 1990-06-07 | Yokogawa Medical Syst Ltd | 金属偽像等を低減する画像処理装置 |
-
1989
- 1989-01-25 JP JP1015295A patent/JPH02195944A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02149258A (ja) * | 1988-11-30 | 1990-06-07 | Yokogawa Medical Syst Ltd | 金属偽像等を低減する画像処理装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001137228A (ja) * | 1999-09-07 | 2001-05-22 | General Electric Co <Ge> | ２回パス式コーン・ビーム画像再構成の方法及び装置 |
| JP2004357969A (ja) * | 2003-06-05 | 2004-12-24 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線計測装置 |
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