JPH02199690A - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
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- JPH02199690A JPH02199690A JP2061189A JP2061189A JPH02199690A JP H02199690 A JPH02199690 A JP H02199690A JP 2061189 A JP2061189 A JP 2061189A JP 2061189 A JP2061189 A JP 2061189A JP H02199690 A JPH02199690 A JP H02199690A
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- Japan
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- optical disk
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- amplifier
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 45
- 238000001816 cooling Methods 0.000 abstract description 16
- 239000000428 dust Substances 0.000 abstract description 4
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 238000010186 staining Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光ディスク装置に関する。
最近、市場にあられれた光ディスク装置は、従来の磁気
ディスク装置に比して、−桁以上の面記録密度を実現し
ており、又、媒体の可換性を利用して、イメージデータ
の保存用、磁気ディスク装置に対するバックアップ用と
して使われ出している。この光ディスク装置では、レー
ザダイオードのレーザ光を光ディスク媒体上において、
１μｍ程度の微小スポットに絞るための対物レンズを使
用している。この対物レンズへのゴミ、ホコリ等の付着
は、光ディスク媒体上への情報の書込み品質に大きな影
響を与える。一方、光ディスク装置の中には、ロジック
部、リードライト回路部、サーボ回路部、サーボアンプ
部等の発熱源を有しており、これら回路部の温度上昇を
規定以下に押さえるためには、成る程度の冷却風が必要
である。
ディスク装置に比して、−桁以上の面記録密度を実現し
ており、又、媒体の可換性を利用して、イメージデータ
の保存用、磁気ディスク装置に対するバックアップ用と
して使われ出している。この光ディスク装置では、レー
ザダイオードのレーザ光を光ディスク媒体上において、
１μｍ程度の微小スポットに絞るための対物レンズを使
用している。この対物レンズへのゴミ、ホコリ等の付着
は、光ディスク媒体上への情報の書込み品質に大きな影
響を与える。一方、光ディスク装置の中には、ロジック
部、リードライト回路部、サーボ回路部、サーボアンプ
部等の発熱源を有しており、これら回路部の温度上昇を
規定以下に押さえるためには、成る程度の冷却風が必要
である。
このファンによる冷却風量は、光ディスク装置の最悪動
作モード、つまりシーク動作時の最悪デユーティ時のキ
ャリッジ駆動部等の発熱量を見込んで、必要風量が決定
されていた。
作モード、つまりシーク動作時の最悪デユーティ時のキ
ャリッジ駆動部等の発熱量を見込んで、必要風量が決定
されていた。
上述した従来の光ディスク装置では、筐体内の空冷のた
めのファンの回転数が装置の動作モード（特にシークモ
ード）の最悪デユーティ時を想定した回転数となってい
るため、装置が非動作時、例えば光ディスク装置に光デ
ィスク媒体が投入されていない時でも、又光ディスク装
置に光ディスク媒体が投入されているが、上位制御装置
からデータアクセスがない、いわゆる待機時においても
、余分な冷却ｍＪｌが送られていた。
めのファンの回転数が装置の動作モード（特にシークモ
ード）の最悪デユーティ時を想定した回転数となってい
るため、装置が非動作時、例えば光ディスク装置に光デ
ィスク媒体が投入されていない時でも、又光ディスク装
置に光ディスク媒体が投入されているが、上位制御装置
からデータアクセスがない、いわゆる待機時においても
、余分な冷却ｍＪｌが送られていた。
このなめ、冷却風量内に含まれるゴミ、ホコリ等が光学
ヘッド内の対物レンズに付着し、これによって、光ディ
スク媒体上に情報を記録する際の記録パワーの低下を招
き、十分な書込品質が確保できないという欠点があった
。
ヘッド内の対物レンズに付着し、これによって、光ディ
スク媒体上に情報を記録する際の記録パワーの低下を招
き、十分な書込品質が確保できないという欠点があった
。
本発明の目的は上述した対物レンズの汚れを少なくした
改良された光ディスク装置を提供することにある。
改良された光ディスク装置を提供することにある。
前記目的を達成するため、本発明はレーザダイオードか
ら発するレーザ光を微小に絞って、光ディスク媒体上に
情報の記録・再生を行う光ディスク装置において、光学
ヘッドを搭載し、光ディスク媒体上への任意のトラック
に移動可能な光ディスク駆動ａｍと、上位制御装置から
の動作指令に応じて前記光ディスク駆動機構を制御する
光ディスク制御回路と、前記光ディスク制御回路の出力
を電力増幅し、前記光ディスク駆動機構を駆動するため
の電力増幅器と、前記電力増幅器の駆動素子の温度を検
出する温度検出器と、前記温度検出器の出力を増幅する
増幅器と、前記増幅器の出力に応じて回転数が変化する
ファンとを有するものである。
ら発するレーザ光を微小に絞って、光ディスク媒体上に
情報の記録・再生を行う光ディスク装置において、光学
ヘッドを搭載し、光ディスク媒体上への任意のトラック
に移動可能な光ディスク駆動ａｍと、上位制御装置から
の動作指令に応じて前記光ディスク駆動機構を制御する
光ディスク制御回路と、前記光ディスク制御回路の出力
を電力増幅し、前記光ディスク駆動機構を駆動するため
の電力増幅器と、前記電力増幅器の駆動素子の温度を検
出する温度検出器と、前記温度検出器の出力を増幅する
増幅器と、前記増幅器の出力に応じて回転数が変化する
ファンとを有するものである。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第１図は本発明の実施例を示すブロック図である。
図において、光学ヘッドを搭載し、光ディスク媒体上を
半径方向に移動可能な光ディスク駆動機構２は、光ディ
スク制御回路１の出力を電力増幅する電力増幅器３の出
力によって駆動Ｍｆｎされる。
半径方向に移動可能な光ディスク駆動機構２は、光ディ
スク制御回路１の出力を電力増幅する電力増幅器３の出
力によって駆動Ｍｆｎされる。
この電力増幅器３の巾の駆動素子４上には温度検出器（
又はヒートシンク）５が設けられており、この温度検出
器５の出力は増幅器６によって適度に増幅され、その出
力電圧に基いてファン７を電圧駆動する。
又はヒートシンク）５が設けられており、この温度検出
器５の出力は増幅器６によって適度に増幅され、その出
力電圧に基いてファン７を電圧駆動する。
これらの各要素は一つの筐体８の中に適切に実装配置さ
れている。さて、前記構成から判るように、筐体内の各
要素からの発熱源の冷却は、電圧可変なファン７の冷却
風量によって行われる。この風量（つまりファンの回転
数）の設計の際には、光ディスク駆動機構２、具体的に
はキャリッジ可動部の最悪シーク動作デユーティ時のキ
ャリッジコイル及びパワーアンプ部の発熱量に相応した
冷却風量を必要とする１本発明の実施例においては、電
力増幅器３の中の駆動素子４上に取り付けられた温度検
出器５の出力を検出し、この温度検出器５の出力を増幅
器６によって増幅することによって、ＤＣファン７の印
加電圧を変えることによってファン７の回転数が変えら
れるよう構成されている。もちろん、温度検出器５の取
り付けは駆動素子４が取付けられているヒートシンク上
に設けられていても良い。
れている。さて、前記構成から判るように、筐体内の各
要素からの発熱源の冷却は、電圧可変なファン７の冷却
風量によって行われる。この風量（つまりファンの回転
数）の設計の際には、光ディスク駆動機構２、具体的に
はキャリッジ可動部の最悪シーク動作デユーティ時のキ
ャリッジコイル及びパワーアンプ部の発熱量に相応した
冷却風量を必要とする１本発明の実施例においては、電
力増幅器３の中の駆動素子４上に取り付けられた温度検
出器５の出力を検出し、この温度検出器５の出力を増幅
器６によって増幅することによって、ＤＣファン７の印
加電圧を変えることによってファン７の回転数が変えら
れるよう構成されている。もちろん、温度検出器５の取
り付けは駆動素子４が取付けられているヒートシンク上
に設けられていても良い。
以上説明したように本発明は光ディスク駆動装置の主な
発熱源であるキャリッジ駆動用パワーアンプのヒートシ
ンクの温度上昇を測定するための温度検出器を設け、こ
の出力に応じて冷却用ファンの駆動電圧を制御し、激し
いシーク動作の繰り返しによるパワーアンプのヒートシ
ンクの温度上昇に相応して、冷却ファンの回転数を上昇
させて冷却風を増やし、又、シーク動作が少ない場合に
は、つまり、パワーアンプのヒートシンクの温度上昇が
少ない時には、ファン回転数を下げ、これによって冷却
風量も減らす。
発熱源であるキャリッジ駆動用パワーアンプのヒートシ
ンクの温度上昇を測定するための温度検出器を設け、こ
の出力に応じて冷却用ファンの駆動電圧を制御し、激し
いシーク動作の繰り返しによるパワーアンプのヒートシ
ンクの温度上昇に相応して、冷却ファンの回転数を上昇
させて冷却風を増やし、又、シーク動作が少ない場合に
は、つまり、パワーアンプのヒートシンクの温度上昇が
少ない時には、ファン回転数を下げ、これによって冷却
風量も減らす。
このように必要冷却風量を細かく制御することによって
、冷却風量に含まれるゴミ、ホコリによる対物レンズの
汚れの進行を少なくし、これに起因する障害発生頻度を
少なくできるという効果がある。
、冷却風量に含まれるゴミ、ホコリによる対物レンズの
汚れの進行を少なくし、これに起因する障害発生頻度を
少なくできるという効果がある。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
１・・・光ディスク制御回路
２・・・光ディスク駆動機構
３・・・電力増幅器
Claims (1)
- （１）レーザダイオードから発するレーザ光を微小に絞
って、光ディスク媒体上に情報の記録・再生を行う光デ
ィスク装置において、光学ヘッドを搭載し、光ディスク
媒体上への任意のトラックに移動可能な光ディスク駆動
機構と、上位制御装置からの動作指令に応じて前記光デ
ィスク駆動機構を制御する光ディスク制御回路と、前記
光ディスク制御回路の出力を電力増幅し、前記光ディス
ク駆動機構を駆動するための電力増幅器と、前記電力増
幅器の駆動素子の温度を検出する温度検出器と、前記温
度検出器の出力を増幅する増幅器と、前記増幅器の出力
に応じて回転数が変化するファンとを有することを特徴
とする光ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2061189A JPH02199690A (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2061189A JPH02199690A (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | 光ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02199690A true JPH02199690A (ja) | 1990-08-08 |
Family
ID=12032059
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2061189A Pending JPH02199690A (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02199690A (ja) |
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8964361B2 (en) | 2010-07-21 | 2015-02-24 | Teradyne, Inc. | Bulk transfer of storage devices using manual loading |
| US9001456B2 (en) | 2010-08-31 | 2015-04-07 | Teradyne, Inc. | Engaging test slots |
| US9459312B2 (en) | 2013-04-10 | 2016-10-04 | Teradyne, Inc. | Electronic assembly test system |
| US9779780B2 (en) | 2010-06-17 | 2017-10-03 | Teradyne, Inc. | Damping vibrations within storage device testing systems |
| US10725091B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-07-28 | Teradyne, Inc. | Automated test system having multiple stages |
| US10775408B2 (en) | 2018-08-20 | 2020-09-15 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US10845410B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-11-24 | Teradyne, Inc. | Automated test system having orthogonal robots |
| US10948534B2 (en) | 2017-08-28 | 2021-03-16 | Teradyne, Inc. | Automated test system employing robotics |
| US10983145B2 (en) | 2018-04-24 | 2021-04-20 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US11226390B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-01-18 | Teradyne, Inc. | Calibration process for an automated test system |
| US11754596B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Test site configuration in an automated test system |
| US11754622B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Thermal control system for an automated test system |
| US11867749B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-01-09 | Teradyne, Inc. | Vision system for an automated test system |
| US11899042B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-02-13 | Teradyne, Inc. | Automated test system |
| US11953519B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-04-09 | Teradyne, Inc. | Modular automated test system |
| US12007411B2 (en) | 2021-06-22 | 2024-06-11 | Teradyne, Inc. | Test socket having an automated lid |
-
1989
- 1989-01-30 JP JP2061189A patent/JPH02199690A/ja active Pending
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9779780B2 (en) | 2010-06-17 | 2017-10-03 | Teradyne, Inc. | Damping vibrations within storage device testing systems |
| US8964361B2 (en) | 2010-07-21 | 2015-02-24 | Teradyne, Inc. | Bulk transfer of storage devices using manual loading |
| US9001456B2 (en) | 2010-08-31 | 2015-04-07 | Teradyne, Inc. | Engaging test slots |
| US9459312B2 (en) | 2013-04-10 | 2016-10-04 | Teradyne, Inc. | Electronic assembly test system |
| US10725091B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-07-28 | Teradyne, Inc. | Automated test system having multiple stages |
| US11226390B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-01-18 | Teradyne, Inc. | Calibration process for an automated test system |
| US10845410B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-11-24 | Teradyne, Inc. | Automated test system having orthogonal robots |
| US10948534B2 (en) | 2017-08-28 | 2021-03-16 | Teradyne, Inc. | Automated test system employing robotics |
| US10983145B2 (en) | 2018-04-24 | 2021-04-20 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US10775408B2 (en) | 2018-08-20 | 2020-09-15 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US11754596B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Test site configuration in an automated test system |
| US11754622B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Thermal control system for an automated test system |
| US11867749B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-01-09 | Teradyne, Inc. | Vision system for an automated test system |
| US11899042B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-02-13 | Teradyne, Inc. | Automated test system |
| US11953519B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-04-09 | Teradyne, Inc. | Modular automated test system |
| US12007411B2 (en) | 2021-06-22 | 2024-06-11 | Teradyne, Inc. | Test socket having an automated lid |
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