JPH0219987B2 - - Google Patents

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JPH0219987B2
JPH0219987B2 JP60057334A JP5733485A JPH0219987B2 JP H0219987 B2 JPH0219987 B2 JP H0219987B2 JP 60057334 A JP60057334 A JP 60057334A JP 5733485 A JP5733485 A JP 5733485A JP H0219987 B2 JPH0219987 B2 JP H0219987B2
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shift region
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Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) 本発明は安定な単一波長で発振する分布帰還型
半導体レーザ(以下DFBレーザと称する)に関
するものである。
(従来技術とその問題点) DFBレーザは素子内部に形成した回折格子に
よる分布帰還とその波長選択性を利用して単一波
長で発振する半導体レーザである。このような単
一波長半導体レーザを光源に用いた光フアイバ通
信システムにおいては、その伝送媒体として波長
分散(波長の違いによつて伝送速度が異なる性
質)のある光フアイバを用いても、長距離伝送後
の信号波形が乱れないという利点があるため、
DFBレーザは長距離光フアイバ通信用光源とし
て有望視されている。
ところで、従来のDFBレーザは回折格子の周
期によつて決まるブラツグ波長近傍に、ストツプ
バンドと呼ばれる発振モードの存在しない波長帯
を持ち、このストツプバンドの両側に2本の発振
可能モードを有しているため、全ての素子が単一
波長で発振するのではなく、中には2本の軸モー
ドで発振するものもあつた。この問題を解決する
ために、例えば1984年4月12日発行のエレクトロ
ニクスレターズ誌、第20巻、第8号、ページ326
〜327では、DFBレーザの中央部分で、回折格子
の周期を伝搬波長λの1/4だけずらした構造(以
下λ/4シフト構造と称する)を提案している。
このλ/4シフト構造DFBレーザではブラツグ
波長に一致して発振可能モードが存在し、且つこ
のモードの発振閾値利得が他のモードに比べ著し
く低くなるため、ブラツグ波長での安定な単一波
長発振が得られる。前記論文ではλ/4シフト構
造DFBレーザについて、両端面の反射が無い場
合、及び一方の端面の反射が無く、他方の端面が
反射率約30%の劈開面である場合の理論的な検討
を行つており、前記λ/4シフトの領域はどちら
の場合も素子中央部分にあるのが理想的であると
述べている。
しかし、本願の発明者の理論的検討によれば、
前記論文で示したλ/4シフト領域の最適位置に
は若干の誤りがあることが判明した。すなわち、
両端面が無反射、あるいは両端面の反射率が等し
い場合には、λ/4シフト領域の最適位置は素子
中央でよいのであるが、両端面の反射率が非対称
な場合には、その最適位置が素子中央部分からず
れることが本発明者によつて見い出された。一般
にDFBレーザにおいては、不要モードであるフ
アブリペロ・モードを抑制し且つ前端面からの光
取り出し効率を高くすることを目的として、例え
ば1984年3月15日発行のエレクトロニクスレター
ズ誌、第20巻、第6号ページ233〜235で示されて
いるように、素子前端面に無反射コーテイング
(以下ARコーテイングと称する)を施すことが
多い。このような場合においては、λ/4シフト
領域をどこに設けたら良いのかについての検討は
なされていなかつた。
(発明の目的) 本発明は、特に非対称な端面反射率を有する
DFBレーザにおいて、安定な単一波長で発振す
るDFBレーザを提供することにある。
(発明の構成) 本発明による半導体レーザの構成は、ストライ
プ状発領域と、このストライプ状発光領域に近接
した光の進行方向に沿う周期状凹凸構造に有する
分布帰還型半導体レーザにおいて、前記ストライ
プ状発光領域の両端に反射率の異なる2つの端面
を備え、前記周期状凹凸構造の中央部より前記反
射率の高い方の端面に近い側で、前記周期状凹凸
構造を前記ストライプ方向に2分し、この2分す
る部分に2分された周期状凹凸構造の間で光学的
な位相ズレ量としてΠ/4〜3Π/4を生じさせ
る位相シフト領域を備えたことを特徴としてい
る。このような構造でも特に、前記位相シフト領
域での光学的位相ズレ量がπ/2となるように、
前記位相シフト領域の長さを前記位相シフト領域
を伝搬する光の波長の(1+2n)/4倍(但し、
nは0以上の整数)とした構造、あるいは、前記
位相シフト領域を伝搬する光と前記周期状凹凸構
造に沿つて伝搬する光の伝搬定数の差の逆数の
π/2倍となるように位相シフト領域の長さを定
めた構造では効果が著しく大きくなる。
(発明の作用・原理) まず、λ/4シフト構造DFBレーザの原理に
ついて述べる。最も効果の大きい、位相ズレ量が
Π/2の場合について述べる。第4図aはλ/4
シフト構造DFBレーザの回折格子の形状である。
回折格子の周期Λは一般にΛ=mλg/2(λgは半
導体中での光の伝搬波長、mは1以上の整数)と
なるように設定するが、ここでは話を簡単にする
ためm=1の1次の回折格子とするが一般性は失
なわれない。両端には反射率R1,R2の2つの端
面があり、回折格子の一部に長さ△Lの平担な位
相シフト領域がある構造を考える。このような回
折格子を持つDFBレーザでは、図中A点から左
側を見た反射光と、B点から右側に見た反射光の
ブラツグ波長での位相はそれぞれπ/2である。
従つて、位相シフト領域がない(△L=0)一般
のDFBレーザでは、ブラツグ波長で共振器内を
一周する光にπの位相ズレが生じてしまい、ブラ
ツグ波長では発振モードは存在しない。これに対
し、λ/4シフト構造DFBレーザでは、素子中
央部(L1=0.5L)に設けた位相シフト領域(ここ
で言う位相シフト領域とは、便宜上平担部両側の
回折格子の凸部から凸部とする。)長さを△L=
λg/4とすることにより、光がこの位相シフト
領域を通過する際、片道でπ/2、往復だけでπ
だけ位相がシフトされ、左右の回折格子による位
相ズレを打ち消すために、ブラツグ波長での安定
な単一波長発振が得られる。
以上説明したように、従来のλ/4シフト構造
DFBレーザにおける位相シフト領域は、ブラツ
グ波長での位相整合をとることによつて、ブラツ
グ波長に一致した安定な単一発振を得ることを目
的としていた。また、その最適位置は素子中央部
(L1=0.5L)であるとされていた。しかし、ブラ
ツグ波長でのより安定な単一波長発振を得るため
には、位相シフト領域において、位相整合のみな
らず、左右の反射光の強度的な整合もとることが
望ましい。これを実現するためには左右の反射光
の強度が等しくなる位置に位相シフト領域を設け
ればよい訳である。一般に両端の反射率が異なる
(R1≠R2)場合には、左右を見た反射光の強度が
等しくなる位置は素子中央部よりも高反射端面側
にずれる。従つて、位相シフト領域の最適位置も
素子中央部より高反射端面側にずれる。これを実
証するために次の様な計算による検討を試みた。
第4図bは、左右の端面の反射率がそれぞれR1
=30%、R2=0の場合について、位相シフト領
域の位置(L1/L)を変えた時の、ブラツグ波
長に一致するメインモードとその両側のサブモー
ドの発振閾値利得の変化の様子を示したものであ
る。L1/L=0.3〜0.4の時、メインモードの発振
閾値利得が最小となり、サブモードについては最
大となる。つまり、位相シフト領域の位置を、
3:7〜4:6の割合で高反射端面側に近づける
ことによつて、DFBレーザの発振閾値が最少と
なり、且つサブモードが抑制された安定な単一波
長発振が得られることを示している。尚、両端面
の反射率が等しい(R1=R2)場合には、位相シ
フト領域の最適位置は従来通り素子中央部でよい
ため、本願は非対称な端面反射率を有するλ/4
シフト構造DFBレーザについて有効である。
以上の説明では位相ズレ量をΠ/2とした場合
について述べたが、位相ズレ量はΠ/4〜3Π/
4の範囲であれば効果は顕著であり、本発明の目
的は達成できる。
実施例 1 以下本発明の実施例を図面に用いて詳細に説明
する。
第1図は本発明の第1の実施例であるDFBレ
ーザの縦断面図である。n−InP基板1の上に周
期2000Åの回折格子2と長さλg/4(約1000Å)
の平担な位相シフト領域3を例えば電子ビーム露
光法及び化学エツチング法を用いて形成する。位
相シフト領域3の位置は端面から0.35:0.65の位
置とする。その後波長組成1.1μmのn−
InGaAsP光ガイド層4、波長組成1.3μmのノン
ドープInGaAsP活性層5、P−InPクラツド層
6、P+−InGaAsPキヤツプ層7をそれぞれ順に
0.1μm、0.1μm、3μm、0.5μmの厚さにエピタキ
シヤル成長する。このようにして得られた多層半
導体ウエハの上下に電極8,9を形成し、また、
位相シフト領域3から遠い側の端面にSiN等によ
るARコーテイング膜10を形成して所望の構造
が得られる。こうして得られたDFBレーザは、
最も理想的なλ/4シフト構造となつており、そ
のほとんどの素子でブラツグ波長での安定な単一
波長発振を得ることができた。
尚、ここで示した回折格子2のように、位相シ
フト領域3によつて一部繰り返し周期をずらした
回折格子2は一般に製作困難とされているが、発
明者らは前述した電子ビーム露光法によつてそれ
を実現した。また昭和59年度電子通信学会光・電
波部門全国大会講演論文集、分冊2、第265番で
示されているような、ポジおよびネガレシストの
同時干渉露光法等によつてもこのような回折格子
2を製作することができた。本実施例では位相シ
フト領域3の長さ△Lをλg/4としたが、△L
=λg(1+2n)/4(但しnは0以上の整数)で
あれば位相シフト領域3を通過する光の位相は片
道でπ/2ずれるため、nは必ずしも0である必
要はない。
実施例 2 実施例1では位相シフト領域3によつて、一部
周期をずらした回折格子2を用いた例を示した
が、このような回折格子2は製作が難しいため、
本実施例では製作容易な位相シフト構造DFBレ
ーザについて述べる。
第2図は本発明の第2の実施例であるDFBレ
ーザの縦断面図である。n−InP基板1の上に周
期2000Åの均一な回折格子2を従来の干渉露光法
と化学エツチング法を用いて形成した後、端面か
ら0.35:0.65の位置に前記回折格子2の一部を深
さ0.1μm、長さ約20μmにエツチング除去した位
相シフト領域3を形成する。この後更に波長組成
1.1μmのn−InGaAsP光ガイド層4、波長組成
1.3μmのノンドーブInGaAsP活性層5、P−InP
クラツド層6、P+−InGaAsPキヤツプ層7を順
にエピタキシヤル成長する。光ガイド層4の厚さ
は回折格子2の上部で約0.1μm、位相シフト領域
3において約0.2μmであり、他の層厚は実施例1
と同じである。こうして得られた多層半導体ウエ
ハの上下に電極8,9を形成し、また、位相シフ
ト領域3から遠い端面側にARコーテイング膜1
0を形成し所望の構造が得られる。この構造の素
子では、回折格子2が形成された領域と、位相シ
フト領域3とでは光ガイド層4の厚さが異なるた
めそれぞれの領域の等価屈折率が異なり、そのた
め、両領域での光の伝搬定数に差が生じる。この
伝搬定数の差が△βの時、位相シフト領域3の長
さ△Lを△L=π/2△βと設定することによ
り、位相シフト領域3を光が通過する時の位相シ
フト量は片道で等価的にπ/2となる。本実施例
のように、光ガイド層4の厚さが位相シフト領域
3において回折格子2の上部よりも約0.1μm程度
厚くなつている場合には、前記伝搬定数の差は約
0.08(rad/μm)となり、位相シフト領域3の長
さは約20μmでよいことになる。
本実施例で示したDFBレーザは、等価的に
λ/4シフト構造と同じであり、実施例1で示し
たλ/4シフト構造DFBレーザと同様にブラツ
グ波長で安定な単一波長発振を得ることができ
た。更に本実施例で示したDFBレーザは、実施
例1で示したものと異なり、回折格子2をInP基
板1の表面全体に均一に形成した後、位相シフト
領域3を後付けで形成すればよいため、回折格子
2の製作が容易である利点を有している。
尚、本実施例では、光ガイド層4が位相シフト
領域3において厚くなつている例を示したが、光
ガイド層4は位相シフト領域3において逆に薄く
なつていてもよい。
実施例 3 第3図a,bは本発明の第3の実施例である
DFBレーザの縦断面図及び水平断面図である。
本実施例も実施例2と同じく等価的な位相シフト
領域3を有する製作容易なDFBレーザである。
n−InP基板1の上に周期2000Åの均一な回折格
子2を形成した後、波長組成1.1μmのn−
InGaAsP光ガイド層4及び波長組成1.3μmのノ
ンドーブInGaAsP活性層5を端面から0.35:0.65
の位置で一部幅を拡くしたストライプ状に形成し
た後、全面にP−InPクラツド層6、P−
InGaAsPキヤツプ層7を順にエピタキシヤル成
長する。ストライプ状に形成した光ガイド層4と
活性層5の幅は狭い部分で2μm、広い部分で3μ
mとし、位相シフト領域3にあたるストライプ幅
の広い部分の長さは約40μmである。各層の厚さ
は実施例1と同じである。こうして得られた多層
半導体ウエハの上下に電極8,9を形成し、また
前記位相シフト領域3から遠い端面側にARコー
テイング膜10を形成し、所望の構造が得られ
る。この構造においても、ストライプ幅の狭い領
域と位相シフト領域3との間で約0.04(rad/μ
m)の伝搬定数の差が生じるため、位相シフト領
域3の長さを約40μmとすることにより実施例2
と同様に等価的なλ/4シフト構造になつてい
る。このDFBレーザにおいても、ブラツグ波長
での安定な単一波長発振が得られる。
尚、本実施例では、位相シフト領域3の長さが
全体の共振器長(約300μm)に比べ短いことか
ら、位相シフト領域3に残された回折格子2の影
響が小さいので、位相シフト領域3に回折格子2
を残したままの構造としたが、位相シフト領域3
には回折格子2がない方がより理想的である。ま
た、本実施例では位相シフト領域3の幅をその両
側より広くしたが、その逆に狭くしてもよい。
以上述べてきた本発明の実施例においては、片
端面にARコーテイング膜10を形成した構造を
示したが、本発明は両端面の反射率が非対称であ
れば有効であり、端面構造はこれに限定されな
い。例えば前端面を無反射とし後端面を反射率80
%程度の高反射としたDFBレーザにおいても本
発明は有効であり、その場合位相シフト領域3を
高反射端面側に2:8の割合で近づけて設けるこ
とによりメインモードとサブモードとの発振閾値
利得差は著しく大きくなる。また本発明の実施例
では発振波長1.3μmのDFBレーザの例を示した
が、本発明は他の波長帯のDFBレーザにおいて
も有効である。更に、本発明の実施例では、回折
格子2を活性層5よりも下に設けた構造を示した
が、活性層5の上に光ガイド層4を形成し、この
光ガイド層4の表面に回折格子2を形成してもよ
い。
本発明の実施例では、位相シフト領域3におけ
る位相シフト量をπ/2となるようにその長さを
設定したが、位相シフト量がπ/4〜3π/4の
範囲であれば位相シフトによる効果があるため、
位相シフト量は必ずしもπ/2である必要はな
い。しかし位相シフト量がΠ/2の時、単一波長
の発振が最も安定に得られる。また、本発明の実
施例では、位相シフト領域3の位置を0.35:0.65
の割合で高反射端面側に近づけた構成としたが、
位相シフト領域3が素子中央部より少しでも高反
射端面側に近ければ、素子中央に位相シフト領域
3を設けたDFBレーザよりもメインモードとサ
ブモードの発振閾値利得差を大きくとることがで
きるため、位相シフト領域3の位置は素子中央よ
りも高反射端面寄りであれば特に限定されない。
(発明の効果) 本発明によるDFBレーザでは、位相シフト領
域3を持たない従来のDFBレーザが素子中央に
位相シフト領域3を持つDFBレーザに比べ、発
振閾値電流が低くなり、且つ、より安定な単一波
長発振が得られるため、単一波長で発振する
DFBレーザの歩留りが向上し、更に、高速変調
時や長期使用中にも発振モードが変化するような
問題はなくなる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図、第3図は本発明による第1、
第2、第3の実施例であるDFBレーザの断面図
であり、1はn−InP基板、2は回折格子、3は
位相シフト領域、4はn−InGaAsP光ガイド層、
5はノンドーブInGaAsP活性層、6はP−InPク
ラツド層、7はP+−InGaAsPキヤツプ層、8,
9は電極、10はARコーテイング膜である。ま
た、第4図のa図は位相シフト構造DFBレーザ
の回折格子の形状を、bは位相シフト領域の位置
とメインモード及びサブモードの発振閾値利得の
関係を示す図である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 ストライプ状発光領域と、このストライプ状
    発光領域に近接して光の進行方向に沿う周期状の
    凹凸構造を有する分布帰還型半導体レーザにおい
    て、前記ストライプ状発光領域の両端に反射率の
    異なる2つの端面を備え、前記周期状凹凸構造の
    中央部より前記反射率の高い方の端面に近い側で
    前記周期状凹凸構造を前記ストライプ方向に2分
    し、この2分する部分に、2分された周期状凹凸
    構造の間で光学的な位相ズレ量としてΠ/4〜
    3Π/4を生じさせる位相シフト領域を備えたこ
    とを特徴とする分布帰還型半導体レーザ。 2 前記位相シフト領域での光学的位相ズレ量が
    Π/2となるように、前記位相シフト領域の長さ
    を前記位相シフト領域を伝搬する光の波長の(1
    +2n)/4倍(但しnは0以上の整数)とした
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の分
    布帰還型半導体レーザ。 3 前記位相シフト領域での光学的位相ズレ量が
    等価的にΠ/2となるように、前記位相シフト領
    域の長さを前記位相シフト領域を伝搬する光と前
    記周期状凹凸構造に沿つて伝搬する光の伝搬定数
    の差の逆数のΠ/2倍としたことを特徴とする特
    許請求の範囲第1項記載の分布帰還型半導体レー
    ザ。
JP60057334A 1985-03-20 1985-03-20 分布帰還型半導体レ−ザ Granted JPS61216383A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60057334A JPS61216383A (ja) 1985-03-20 1985-03-20 分布帰還型半導体レ−ザ
US06/840,818 US4796273A (en) 1985-03-20 1986-03-18 Distributed feedback semiconductor laser
EP86103692A EP0195425B1 (en) 1985-03-20 1986-03-19 Distributed feedback semiconductor laser
DE8686103692T DE3681052D1 (de) 1985-03-20 1986-03-19 Halbleiterlaser mit verteilter rueckkopplung.

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60057334A JPS61216383A (ja) 1985-03-20 1985-03-20 分布帰還型半導体レ−ザ

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Publication Number Publication Date
JPS61216383A JPS61216383A (ja) 1986-09-26
JPH0219987B2 true JPH0219987B2 (ja) 1990-05-07

Family

ID=13052668

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