JPH02201127A - 光遅延時間原点検出器 - Google Patents
光遅延時間原点検出器Info
- Publication number
- JPH02201127A JPH02201127A JP1762689A JP1762689A JPH02201127A JP H02201127 A JPH02201127 A JP H02201127A JP 1762689 A JP1762689 A JP 1762689A JP 1762689 A JP1762689 A JP 1762689A JP H02201127 A JPH02201127 A JP H02201127A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- delay time
- photodetector
- optical
- time origin
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光学測定技術に係り、特に超短パルスレーザを
坩いたポンプ・プローブ測定に好適な遅延時間原点測定
器に関する。
坩いたポンプ・プローブ測定に好適な遅延時間原点測定
器に関する。
従来、光遅延時間原点の検出については、ジャーナル・
オブ・アプライド・フィジックス 38(1967年)
第2231頁から2234頁(J、Appl、Phys
、38.(1967)pp2231−2234)におい
て論じられている。ただしこの従来例は、光パルス幅を
求める方法であり、直接的に遅延時間原点を求めてはい
ない。
オブ・アプライド・フィジックス 38(1967年)
第2231頁から2234頁(J、Appl、Phys
、38.(1967)pp2231−2234)におい
て論じられている。ただしこの従来例は、光パルス幅を
求める方法であり、直接的に遅延時間原点を求めてはい
ない。
(発明が解決しようとする8M)
上記従来技術は、光の第2高調波を発生させるため、測
定できる光の波長が制限される。特に紫外光に対しては
、その第2高調波が真空紫外光となり、適用できない、
また、 iJ視光に対しても、第2高調波発生用の非線
形光学素子は波長により選択が必要となる。従って広い
波長範囲をカバーするためには、高価な非線形光学素子
が複数必要であった。さらに位相整合をとるため光学調
整が複雑になるなどの問題もあった。
定できる光の波長が制限される。特に紫外光に対しては
、その第2高調波が真空紫外光となり、適用できない、
また、 iJ視光に対しても、第2高調波発生用の非線
形光学素子は波長により選択が必要となる。従って広い
波長範囲をカバーするためには、高価な非線形光学素子
が複数必要であった。さらに位相整合をとるため光学調
整が複雑になるなどの問題もあった。
本発明の目的は1票外光を含む広い波長範囲の光パルス
に対して適用でき、しかも藺゛便かつ安価な遅延時間原
点検出器を提供することにある。
に対して適用でき、しかも藺゛便かつ安価な遅延時間原
点検出器を提供することにある。
[[Mを解決するための手段]
上記1」的は、第2高調波をとるかわりに、光の1次の
干渉を用いることにより達成される。
干渉を用いることにより達成される。
また2干渉編を観測する際、直列に配置した光伝導索−
rを用い、さらに14月υj検波を行なうことにより、
より、I5感度な+1]IJ定がiif能となる。
rを用い、さらに14月υj検波を行なうことにより、
より、I5感度な+1]IJ定がiif能となる。
It、lxの2つの光を重ね合わせると、m il+!
1時間内の平均強度は、次式で与えられる。
1時間内の平均強度は、次式で与えられる。
I = ”’I s + −1”’P + 2 J’T
”l了’zytz(τ)ここでγ12(τ)は1次の0
1干渉度の実部である。
”l了’zytz(τ)ここでγ12(τ)は1次の0
1干渉度の実部である。
第;3項は干渉による項であり、2つの光パルスが時間
的に麺1(なった点、つまりτ=Oでピークを持ち、時
間的に離れてしまった点でOとなる。よってこのγ12
(τ)を&211’!することによりτ=0の点、すな
わち遅延時間原点を検出することができる。
的に麺1(なった点、つまりτ=Oでピークを持ち、時
間的に離れてしまった点でOとなる。よってこのγ12
(τ)を&211’!することによりτ=0の点、すな
わち遅延時間原点を検出することができる。
2つの光伝導素子を直列に配置し、片方でキャリヤを注
入し、もう片方でキャリヤをサンプリングするという方
法を用いれば、γ1.2 (τ)は容易に61q定でき
る。この時、光の一方に強度変調をかけ、これに同期さ
せてサンプリングした電荷を1llll定すれば、2つ
の光の相関信号のみを観41I!でき、高感度の測定が
可能となる。
入し、もう片方でキャリヤをサンプリングするという方
法を用いれば、γ1.2 (τ)は容易に61q定でき
る。この時、光の一方に強度変調をかけ、これに同期さ
せてサンプリングした電荷を1llll定すれば、2つ
の光の相関信号のみを観41I!でき、高感度の測定が
可能となる。
以下1本発明の一実施例を第1図により説明する。
光パルス12を、ビームスプリッタ」でビーム13とビ
ーム14に分ける。これをコーナーキューブプリズム3
,4とミラー2とレンズ6で光検出器7へ導く、ビーム
13はチョッパ9で強度変調し、光検出器7の出力をこ
の周波数でロックインアンプ10により同期検波してい
る。コーナーキューブプリズム4はパルスステージ5に
より、光軸と平行に移剪」させることができ、これによ
り遅延をかけることができる。ステージ5とロックイン
アンプ10は、コントローラ11で制御され、データ収
録を行なう。ビーム13と14は、ニュートラルデンシ
ティフィルタ15により、同強度となるように調整さ九
ている。用いた光パルス]2は、モード同期色素レーザ
の第2話調波であり、時間幅1ips、繰返し82 M
HZ、波長:300 n mである。
ーム14に分ける。これをコーナーキューブプリズム3
,4とミラー2とレンズ6で光検出器7へ導く、ビーム
13はチョッパ9で強度変調し、光検出器7の出力をこ
の周波数でロックインアンプ10により同期検波してい
る。コーナーキューブプリズム4はパルスステージ5に
より、光軸と平行に移剪」させることができ、これによ
り遅延をかけることができる。ステージ5とロックイン
アンプ10は、コントローラ11で制御され、データ収
録を行なう。ビーム13と14は、ニュートラルデンシ
ティフィルタ15により、同強度となるように調整さ九
ている。用いた光パルス]2は、モード同期色素レーザ
の第2話調波であり、時間幅1ips、繰返し82 M
HZ、波長:300 n mである。
光検出器を、第2図により説明する。この検出器は、石
英基板上にアモルファスシリコン26を蒸着し、その後
蒸着によりアルミニウlX電極23゜24.25を形成
した。この電極は特性インピーダンス50Ωのマイクロ
ストリップラインとし、電極25は抵抗27で終端して
いる。ギャップ28.29は幅40μmとしている。
英基板上にアモルファスシリコン26を蒸着し、その後
蒸着によりアルミニウlX電極23゜24.25を形成
した。この電極は特性インピーダンス50Ωのマイクロ
ストリップラインとし、電極25は抵抗27で終端して
いる。ギャップ28.29は幅40μmとしている。
ビーム13をギャップ2已に絞り込み、ビーム14はギ
ャップ29と28にかかるように絞り込む。コントロー
ラ11によりパルスステージ5を動かして遅延+1J間
を変えると、ロックインアンプ出力は、第13図のよう
に倹動する。この信号の尖頭が、遅延時間原点になる。
ャップ29と28にかかるように絞り込む。コントロー
ラ11によりパルスステージ5を動かして遅延+1J間
を変えると、ロックインアンプ出力は、第13図のよう
に倹動する。この信号の尖頭が、遅延時間原点になる。
この信号のすその部分は、アモルファスシリコンのキャ
リヤの相関を表オ〕す。
リヤの相関を表オ〕す。
ピークを鮮明にとらえるためには、このすそ部分が\I
L坦である方がよい。そのためには、今問題としている
時間領域、つまり光の可干渉時間程度に比べて、キャリ
ヤの寿命が十分に長い光伝導材料を用いればよい。ここ
で用いたアモルファスシリコンは、そのキャリヤ寿命が
〜1μsと、ピコ秒に比べ十分長いため、信号のすそは
十分平坦になっている。
L坦である方がよい。そのためには、今問題としている
時間領域、つまり光の可干渉時間程度に比べて、キャリ
ヤの寿命が十分に長い光伝導材料を用いればよい。ここ
で用いたアモルファスシリコンは、そのキャリヤ寿命が
〜1μsと、ピコ秒に比べ十分長いため、信号のすそは
十分平坦になっている。
光検出器としては、ここではアモルファスシリコンを用
いたが、GaAs、InP、Ge、ZnS。
いたが、GaAs、InP、Ge、ZnS。
Zn5e、ZnTe、戒はポリアセチレン、ポリジアセ
チレン、ポリビニルカルバゾール等の有機半導体、或は
、前記半導体にCr+Mn、Izなど不純物を添加した
ものを用いてもよい、また、本実施例では、電極はマイ
クロストリップラインを形成したが、ストリップライン
でも良いし、また必らずしも伝送路とする必要もなく、
ランドを形成してもよい。光に強度変調をかけるには、
本実施例で用いたチョッパの他、電気光学効果、音影光
学効果を用いたものでも良い。
チレン、ポリビニルカルバゾール等の有機半導体、或は
、前記半導体にCr+Mn、Izなど不純物を添加した
ものを用いてもよい、また、本実施例では、電極はマイ
クロストリップラインを形成したが、ストリップライン
でも良いし、また必らずしも伝送路とする必要もなく、
ランドを形成してもよい。光に強度変調をかけるには、
本実施例で用いたチョッパの他、電気光学効果、音影光
学効果を用いたものでも良い。
本発明によれば、光遅延時間j原意が簡便に検出できる
。高価な非線形光字素tが不要であるためコストを低く
でき、しかも紫外光を含む広い波長範囲の光に対し適用
が可能である。さらに位相整合の必要もないため、光学
系の調′浩が容易である。
。高価な非線形光字素tが不要であるためコストを低く
でき、しかも紫外光を含む広い波長範囲の光に対し適用
が可能である。さらに位相整合の必要もないため、光学
系の調′浩が容易である。
また、通常、光パルス幅に比べて可干渉時間幅の方が狭
いため、本発明の方が、第2高調波を用いた方法よりl
l+++定情度は高い。
いため、本発明の方が、第2高調波を用いた方法よりl
l+++定情度は高い。
この方法は、l1iIl長にも応用がIjf能である。
又。
2つに分けたビームの一方に試料を置くと光路長が変化
するため1本方法で光路長を側疋する事により試料の屈
折率を求めることもできる。光源として色素レーザなど
の波長可変レーザを用いれば。
するため1本方法で光路長を側疋する事により試料の屈
折率を求めることもできる。光源として色素レーザなど
の波長可変レーザを用いれば。
屈折率分散も測定する事ができるという効果もある。
第1図は本発明の一実施例の光学系の構成図。
@2図は光検出器の電極パターンを示す断面図、第3図
は本発明の実施例の検出器で得られる(イ号波形図であ
る。 3.4・・コーナーキューブプリズム、7・・光検出器
、9 ・チョッパ、10・・・ロックインアンプ。 23.24.25・・・アルミ電極、26・・・アモル
ファス・シリコン族Rm。 第 図 篤 2 図 z7 捲加 2B、 zq 午゛路ソフ゛ 1 こ゛−ムヌ7′ソッタ 3.4 コーた〒ユーアフtリスA 7 尤狩ホ器 9 −′rヨ・フハ′ 11 コシドロー之 ミラー へ〇ルススi−シ 直シ瓦電源 口・!7C戸)0 r3 図 jJL延時間
は本発明の実施例の検出器で得られる(イ号波形図であ
る。 3.4・・コーナーキューブプリズム、7・・光検出器
、9 ・チョッパ、10・・・ロックインアンプ。 23.24.25・・・アルミ電極、26・・・アモル
ファス・シリコン族Rm。 第 図 篤 2 図 z7 捲加 2B、 zq 午゛路ソフ゛ 1 こ゛−ムヌ7′ソッタ 3.4 コーた〒ユーアフtリスA 7 尤狩ホ器 9 −′rヨ・フハ′ 11 コシドロー之 ミラー へ〇ルススi−シ 直シ瓦電源 口・!7C戸)0 r3 図 jJL延時間
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光パルスを2つに分ける光分岐器と、分けた光のう
ち少なくとも一方に遅延をかける光遅延器と光検出器よ
りなる光学系において、2つの光を干渉させる光学系を
設けたことを特徴とする光遅延時間原点検出器。 2、特許請求の範囲第1項に記載の光遅延時間原点検出
器において、光検出器として、直列に配置した2つの光
伝導素子を用いたことを特徴とする光遅延時間原点検出
器。 3、特許請求の範囲第2項に記載の光遅延時間原点検出
器において、2つに分けた光の少なくとも一方に強度変
調をかけ、光検出器の出力を同期検波することを特徴と
する光遅延時間原点検出器。 4、特許請求の範囲第2項に記載の光遅延時間原点検出
器において、光検出器として、測定する光の可干渉時間
に比べて十分長い寿命の光キャリヤを持つ光伝導素子を
用いたことを特徴とする光遅延時間原点検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1762689A JPH02201127A (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | 光遅延時間原点検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1762689A JPH02201127A (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | 光遅延時間原点検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02201127A true JPH02201127A (ja) | 1990-08-09 |
Family
ID=11949079
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1762689A Pending JPH02201127A (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | 光遅延時間原点検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02201127A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09184987A (ja) * | 1996-01-08 | 1997-07-15 | Hamamatsu Photonics Kk | 光遅延装置 |
| JP2017060991A (ja) * | 2015-08-31 | 2017-03-30 | 国立大学法人九州大学 | レーザー加工方法、加工物の製造方法、レーザークリーニング方法、レーザー加工装置、及びレーザークリーニング装置 |
-
1989
- 1989-01-30 JP JP1762689A patent/JPH02201127A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09184987A (ja) * | 1996-01-08 | 1997-07-15 | Hamamatsu Photonics Kk | 光遅延装置 |
| EP0784222A3 (en) * | 1996-01-08 | 1998-08-12 | Hamamatsu Photonics K.K. | Optical delay apparatus |
| JP2017060991A (ja) * | 2015-08-31 | 2017-03-30 | 国立大学法人九州大学 | レーザー加工方法、加工物の製造方法、レーザークリーニング方法、レーザー加工装置、及びレーザークリーニング装置 |
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