JPH02201129A - 光ファイバ式分布形温度センサ - Google Patents
光ファイバ式分布形温度センサInfo
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- JPH02201129A JPH02201129A JP1019991A JP1999189A JPH02201129A JP H02201129 A JPH02201129 A JP H02201129A JP 1019991 A JP1019991 A JP 1019991A JP 1999189 A JP1999189 A JP 1999189A JP H02201129 A JPH02201129 A JP H02201129A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical fiber
- stokes
- sensor
- scattered light
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- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
U産業上の利用分野]
本発明は温度センサ特に光ファイバ式分布形温度センサ
に関するものである。
に関するものである。
[従来の技術]
光ファイバ式分布形温度センサは、光フアイバ中の散乱
光強度が温度によって変化することを利用し、この変化
を公知のOT D R(0oticaj口11e Do
main ReflectoIIetry)の手法で検
知することにより、光ファイバの長手方向に沿った温度
分布を計測するものである。方式としてはラマン散乱光
を利用したものとレーリー散乱光を利用したものが知ら
れており、前者の信号は後者に比べ、微弱(約100〜
1/1000)であるが、温度変化に対する信号変化層
が大きく、有望な方式と考えられている。
光強度が温度によって変化することを利用し、この変化
を公知のOT D R(0oticaj口11e Do
main ReflectoIIetry)の手法で検
知することにより、光ファイバの長手方向に沿った温度
分布を計測するものである。方式としてはラマン散乱光
を利用したものとレーリー散乱光を利用したものが知ら
れており、前者の信号は後者に比べ、微弱(約100〜
1/1000)であるが、温度変化に対する信号変化層
が大きく、有望な方式と考えられている。
本出願人が先に提案したラマン散乱光を利用した光ファ
イバ式分布形温度センサ(以下、単にラマン式温度セン
サと呼ぶ)は、光ファイバの一端から波長λ0、パルス
幅Tw、パルス周jtjl T pの光を入射させ、光
フアイバ内で発生するラマン散乱光の二成分である波長
λaのアンチストークス光、及び波長λSのストークス
光を、パルス光入射時刻を1=0として、それぞれ時間
の関数1 a(t)、 I 5(t)として測定し、
これらの比I a(t)/ I 5(t)が純粋に温度
の関数であること、及び光パルス入射後、光パルス入射
端(後方1孜乱光計測、g)に戻ってくるまでの時間が
2XL、/Coであること(CO;光フアイバ中の光速
)を利用して、光ファイバに沿った線状の温度分布測定
を行う装置である。
イバ式分布形温度センサ(以下、単にラマン式温度セン
サと呼ぶ)は、光ファイバの一端から波長λ0、パルス
幅Tw、パルス周jtjl T pの光を入射させ、光
フアイバ内で発生するラマン散乱光の二成分である波長
λaのアンチストークス光、及び波長λSのストークス
光を、パルス光入射時刻を1=0として、それぞれ時間
の関数1 a(t)、 I 5(t)として測定し、
これらの比I a(t)/ I 5(t)が純粋に温度
の関数であること、及び光パルス入射後、光パルス入射
端(後方1孜乱光計測、g)に戻ってくるまでの時間が
2XL、/Coであること(CO;光フアイバ中の光速
)を利用して、光ファイバに沿った線状の温度分布測定
を行う装置である。
アンチストークス光及びストークス光の後方散乱光計測
は、光ファイバの破断点検知等に用いる0TDRとほぼ
同じuノ定方法で行われている。
は、光ファイバの破断点検知等に用いる0TDRとほぼ
同じuノ定方法で行われている。
上記ラマン式温度センサは、例えば塩カケープルに沿わ
せてセンサ用光ファイバを敷設することにより、電力ケ
ーブルの長手方向の温度分布を知ることができ、送電容
量の制御等に利用したり、ケーブルの劣化等により生じ
る部分的に温度の高い箇所の検知等が行なえる。また、
ビルやトンネル等の火災検知用として使用すれば、火災
発生位置の標定を行うことらできる。
せてセンサ用光ファイバを敷設することにより、電力ケ
ーブルの長手方向の温度分布を知ることができ、送電容
量の制御等に利用したり、ケーブルの劣化等により生じ
る部分的に温度の高い箇所の検知等が行なえる。また、
ビルやトンネル等の火災検知用として使用すれば、火災
発生位置の標定を行うことらできる。
第4図は、上記ラマン式温度センサの具体的構成例であ
り、計測装置10とセンサ用光ファイバ20から構成さ
れている。
り、計測装置10とセンサ用光ファイバ20から構成さ
れている。
計測装置10内のパルス光源2から出射された光は、光
ファイバ21、光分岐2I131を介してセンサ用光フ
ァイバ20に導かれ、該光フアイバ内で後方散乱光を励
起する。励起された後方散乱光の一部は計測装置10側
に戻り、光分岐器31、光ファイバ22を介して光分岐
器32に導かれる。
ファイバ21、光分岐2I131を介してセンサ用光フ
ァイバ20に導かれ、該光フアイバ内で後方散乱光を励
起する。励起された後方散乱光の一部は計測装置10側
に戻り、光分岐器31、光ファイバ22を介して光分岐
器32に導かれる。
光分岐器32で二分された後方散乱光のうち、光ファイ
バ23aに導かれたものは、中心波長λaの光学フィル
タ4a、受光器5a及び平均化処理回路6aで構成され
るアンチストークス光用0TDR計測回路30aに入り
、この光強度からアンチストークス光強度の時間関数1
a(t)が求められる。@方、光分岐81132で二
分された後方散乱光のうち、光ファイバ23sに導かれ
たものは、中心波長λSの光学フィルタ4s、受光器5
s及び平均化処理回路65″c41!成されるストーク
ス光用0TDR計測回路30sに入り、この光強度から
ストークス光強度の時間関数15(t)が求められる。
バ23aに導かれたものは、中心波長λaの光学フィル
タ4a、受光器5a及び平均化処理回路6aで構成され
るアンチストークス光用0TDR計測回路30aに入り
、この光強度からアンチストークス光強度の時間関数1
a(t)が求められる。@方、光分岐81132で二
分された後方散乱光のうち、光ファイバ23sに導かれ
たものは、中心波長λSの光学フィルタ4s、受光器5
s及び平均化処理回路65″c41!成されるストーク
ス光用0TDR計測回路30sに入り、この光強度から
ストークス光強度の時間関数15(t)が求められる。
パルス光源2と平均化処理回路6a、6sの同期合せは
、トリガ回路1の同期信号によって行う。
、トリガ回路1の同期信号によって行う。
得られた時間関数1 a(t)及びI 5(t)を温度
分布演算回路7に入力し、I a(t)/ I 5(t
)の演算を行うことにより、センサ用光ファイバに沿っ
た線状温度分布測定を行っている。
分布演算回路7に入力し、I a(t)/ I 5(t
)の演算を行うことにより、センサ用光ファイバに沿っ
た線状温度分布測定を行っている。
[発明が解決しようとする課題]
ラマン式温度センサは上述した方法で線状の温度分布が
測定でき、これまでに検討されてきた線状温度分布測定
法の中では、感度が高く、実用的な方式であるため、長
距離の温度分布が計測できる可能性がある。
測定でき、これまでに検討されてきた線状温度分布測定
法の中では、感度が高く、実用的な方式であるため、長
距離の温度分布が計測できる可能性がある。
ところで、レーリー散乱光の波長λrは入射光の波長^
0と同一であるなめ、第2図に示すように、レーリー散
乱光の波長分布は入射光の波長分布とほぼ同一となる。
0と同一であるなめ、第2図に示すように、レーリー散
乱光の波長分布は入射光の波長分布とほぼ同一となる。
これに対し、アンチストー2ス光の波長λaは入射光の
波長λ0よりΔλ「(数〜数十r+1)だけ短くなり、
逆にストークス光の波長λSは入射光の波長λ0よりΔ
λrだけ長くなる。
波長λ0よりΔλ「(数〜数十r+1)だけ短くなり、
逆にストークス光の波長λSは入射光の波長λ0よりΔ
λrだけ長くなる。
また、ラマン散乱光(アンチストークス光とストークス
光)はレーリー散乱光に比べ、非常に微弱(約1/10
0〜1/1(100)であり、それぞれの波長ら接近し
ていることから、入射パルス光が完全な9色光(単一の
波長を有する光)でないため、第2図に示すように、ラ
マン散乱光の波長領域にもレーリー散乱光成分の一部が
入る。
光)はレーリー散乱光に比べ、非常に微弱(約1/10
0〜1/1(100)であり、それぞれの波長ら接近し
ていることから、入射パルス光が完全な9色光(単一の
波長を有する光)でないため、第2図に示すように、ラ
マン散乱光の波長領域にもレーリー散乱光成分の一部が
入る。
このため、ラマン散乱光成分のみを完全に分離すること
は几しく、温度測定精度にある限界を与えていた。
は几しく、温度測定精度にある限界を与えていた。
本発明の目的は、前記した従来技術の欠点を改善し、高
精度の光ファイバ式分布形温度センサを提供することに
ある。
精度の光ファイバ式分布形温度センサを提供することに
ある。
L課題を解決するための手段]
本発明の光ファイバ式分布形温度センサは、計測系内の
光源からセンサ用光ファイバに光パルスを入射させ、該
ファイバで発生する後方散乱光を該計測系に導くと共に
、これら後方散乱光の中からレーリー散乱光の中心波長
域及びラマン散乱光のストークス光若しくはアンチスト
ークス光の中心波長域の光を分離する手段と、該分離さ
れたストークス光若しくはアンチストークス光の中心波
長域を対↑波長域として固定して、前記分離されたスト
ークス光若しくはアンチスI・−ラス光の光強度から前
記分離されたレーリー散乱光の′NN家長長域の換算光
強度を差し引いて真のラマン散乱光成分を求め、求めた
真のラマン散乱光成分と11η記レーリー散乱光の光強
度との比からセンサ用光ファイバの温度を求める演算手
段とを設けて桶成したものである。
光源からセンサ用光ファイバに光パルスを入射させ、該
ファイバで発生する後方散乱光を該計測系に導くと共に
、これら後方散乱光の中からレーリー散乱光の中心波長
域及びラマン散乱光のストークス光若しくはアンチスト
ークス光の中心波長域の光を分離する手段と、該分離さ
れたストークス光若しくはアンチストークス光の中心波
長域を対↑波長域として固定して、前記分離されたスト
ークス光若しくはアンチスI・−ラス光の光強度から前
記分離されたレーリー散乱光の′NN家長長域の換算光
強度を差し引いて真のラマン散乱光成分を求め、求めた
真のラマン散乱光成分と11η記レーリー散乱光の光強
度との比からセンサ用光ファイバの温度を求める演算手
段とを設けて桶成したものである。
別の形層としては、計測系内の光源からセンサ用光ファ
イバに光パルスを入射させ、該ファイバで発生ずる後方
散乱光を該計測系に導くと共に、これら後方散乱光の中
からレーリー散乱光中心波長域並びにラマン散乱光のス
トークス光及びアンチストークス光の中心波長域の光を
分離する手段と、該分離されたストークス光の中心波長
域及びアンチストークス光の中心波長域をそれぞれ対象
波長域として固定して、前記分離されたストークス光及
びアンチストークス光の光強度からそれぞれ前記分離さ
れたレーリー散乱光の対象波長域でのtaX光強度を差
し引いて、真のラマン散乱光成分としてのストークス光
及びアンチストークス光の光強度を求め、求めた真のラ
マン散乱光成分としてのストークス光の光強度とアンチ
ストークス光の光強度との比からセンサ用光ファイバの
温度を求める演算手段とを設けて楕成することもできる
。
イバに光パルスを入射させ、該ファイバで発生ずる後方
散乱光を該計測系に導くと共に、これら後方散乱光の中
からレーリー散乱光中心波長域並びにラマン散乱光のス
トークス光及びアンチストークス光の中心波長域の光を
分離する手段と、該分離されたストークス光の中心波長
域及びアンチストークス光の中心波長域をそれぞれ対象
波長域として固定して、前記分離されたストークス光及
びアンチストークス光の光強度からそれぞれ前記分離さ
れたレーリー散乱光の対象波長域でのtaX光強度を差
し引いて、真のラマン散乱光成分としてのストークス光
及びアンチストークス光の光強度を求め、求めた真のラ
マン散乱光成分としてのストークス光の光強度とアンチ
ストークス光の光強度との比からセンサ用光ファイバの
温度を求める演算手段とを設けて楕成することもできる
。
r作用l
ラマン散乱光(アンチストークス光、ストークス光)及
びレーリ散乱光の光強度は入射光強度■0に比例するが
、その温度依存性は前者が大きく後者は小さい、従って
、レーリ欣乱光の温度依存性を前者に比べ無視し、アン
チスト−クス光及びストークス光の温度関数をfa(丁
)、 f 5(T)とすると、アンチストークス光、ス
トークス光及びし−り散乱光の光強度T a(t)、I
5(t)、I r(t)は、Ia(t)=Baxfa
(T)xlo −(i)I 5(t)= B s
x f s(■)x I o・(2)I r(t)=
Br x Io −(3)但し、Ba、
Bs、Br:比例定数 となり、I a(t)/ I rft)あるいは、I
5(t)/I r(t)が純粋に温度の関数となること
が判る。
びレーリ散乱光の光強度は入射光強度■0に比例するが
、その温度依存性は前者が大きく後者は小さい、従って
、レーリ欣乱光の温度依存性を前者に比べ無視し、アン
チスト−クス光及びストークス光の温度関数をfa(丁
)、 f 5(T)とすると、アンチストークス光、ス
トークス光及びし−り散乱光の光強度T a(t)、I
5(t)、I r(t)は、Ia(t)=Baxfa
(T)xlo −(i)I 5(t)= B s
x f s(■)x I o・(2)I r(t)=
Br x Io −(3)但し、Ba、
Bs、Br:比例定数 となり、I a(t)/ I rft)あるいは、I
5(t)/I r(t)が純粋に温度の関数となること
が判る。
?iAX手段は、ラマン散乱光によるアンチストークス
光とストークス光の一方又は両方の・m報に加え、レー
リー散乱光の情報も活用して、センサ用光ファイバの温
度を算出する。算出手順は、ストークス光及び/又はア
ンチストークス光の光強度からレーリー散乱光の対象波
長域での換算光強度を差し引くことにより、真のラマン
散乱光成分としての純粋なアンチストークス光又はスト
ークス光の光強度を求めてこれとレーリー散乱光の光強
度との比をとるが、純粋なストークス光とアンチストー
クス光の光強度を共に求めて両者の比をとることによる
。ラマン散乱光成分のみが完全に分離される結果となる
ので、光ファイバ式分布形温度センサの精度が大幅に向
上する。
光とストークス光の一方又は両方の・m報に加え、レー
リー散乱光の情報も活用して、センサ用光ファイバの温
度を算出する。算出手順は、ストークス光及び/又はア
ンチストークス光の光強度からレーリー散乱光の対象波
長域での換算光強度を差し引くことにより、真のラマン
散乱光成分としての純粋なアンチストークス光又はスト
ークス光の光強度を求めてこれとレーリー散乱光の光強
度との比をとるが、純粋なストークス光とアンチストー
クス光の光強度を共に求めて両者の比をとることによる
。ラマン散乱光成分のみが完全に分離される結果となる
ので、光ファイバ式分布形温度センサの精度が大幅に向
上する。
尚、後方散乱光の発生位置は、光パルスの入射時刻と後
方散乱光が計測系へ到達する時刻の差から求めることが
できる。
方散乱光が計測系へ到達する時刻の差から求めることが
できる。
レーリー散乱光やラマン散乱光のそれぞれの中心波長域
の光、正確には中心波長に相当する波長領域の光を分離
する手段としては、それぞれの波長に適合した光分波器
、光方向性結合器あるいは分岐器とフィルタの組合わせ
等を用いることができる。
の光、正確には中心波長に相当する波長領域の光を分離
する手段としては、それぞれの波長に適合した光分波器
、光方向性結合器あるいは分岐器とフィルタの組合わせ
等を用いることができる。
[実施例1
以下、本発明による光ファイバ式分布形温度センサの実
施例を第1図により説明する。本実施例による光ファイ
バ式分布形温度センサの基本構成1、J第11図に示ず
センサ例とほぼ同じであり、異なる点は以下の通りであ
る。
施例を第1図により説明する。本実施例による光ファイ
バ式分布形温度センサの基本構成1、J第11図に示ず
センサ例とほぼ同じであり、異なる点は以下の通りであ
る。
まず構成上は、0TDR計潤回路として、ストークス散
乱光用0TDR計測回路30sの代わりにレーリー散乱
光用0TDR計測回路30rを挿入した形となっている
。このレーリー散乱光用0TDR計潤回1JR30rは
、中心波長λrの光学フィルタ4r、受光器5r及び平
均化処理回路6rで構成され、もう一方のアンナス1−
−クス光Jn OT” D R計測四R30aは、中心
波長λaの光学フィルタ4a、受光器5a及び平均化処
理回路6aで構成されている。
乱光用0TDR計測回路30sの代わりにレーリー散乱
光用0TDR計測回路30rを挿入した形となっている
。このレーリー散乱光用0TDR計潤回1JR30rは
、中心波長λrの光学フィルタ4r、受光器5r及び平
均化処理回路6rで構成され、もう一方のアンナス1−
−クス光Jn OT” D R計測四R30aは、中心
波長λaの光学フィルタ4a、受光器5a及び平均化処
理回路6aで構成されている。
次に、この第1図に示す光クイアバ式分布形温度センサ
の動作について説明する。
の動作について説明する。
計n1装置10内のパルス光源2から出射された光(波
長λO)は、光ファイバ21、光分岐器31を介し、セ
ンサ用光ファイバ20に導かれ、該光フアイバ内で後方
散乱光を励起する。励起された後方散乱光の一部は計測
装置10側に戻り、光分岐器31.32を介して、上記
2つの0TDR計潤回路30a、30rに導かれる。即
ち、光分岐3i32で二分されて光ファイバ23aに導
かれたものは、アンチストークス光用0TDR計aμm
回路30aに入り、他方、光ファイバ23rに導かれた
ものは、レーリー散乱光用0 ’T” D R計測回路
30rに入る。
長λO)は、光ファイバ21、光分岐器31を介し、セ
ンサ用光ファイバ20に導かれ、該光フアイバ内で後方
散乱光を励起する。励起された後方散乱光の一部は計測
装置10側に戻り、光分岐器31.32を介して、上記
2つの0TDR計潤回路30a、30rに導かれる。即
ち、光分岐3i32で二分されて光ファイバ23aに導
かれたものは、アンチストークス光用0TDR計aμm
回路30aに入り、他方、光ファイバ23rに導かれた
ものは、レーリー散乱光用0 ’T” D R計測回路
30rに入る。
両0TDR計測回路30a、3Orにおいて、後方散乱
光は、まずフィルタ4a、4rで、それぞれの中心波長
λa、λ「における波長領域の光に変換され、受光器5
a、5rに入る。受光器5a、5r”e電気情報に変換
された信号は、次に平均化処理回路6a、6rに入力さ
れてSN比が改首される。その情報は、温度分布演算回
路7に入力され、センサ用光ファイバ20の温度分布が
求められる。
光は、まずフィルタ4a、4rで、それぞれの中心波長
λa、λ「における波長領域の光に変換され、受光器5
a、5rに入る。受光器5a、5r”e電気情報に変換
された信号は、次に平均化処理回路6a、6rに入力さ
れてSN比が改首される。その情報は、温度分布演算回
路7に入力され、センサ用光ファイバ20の温度分布が
求められる。
次に、温度分布演算回路7での演算処理法の考え方につ
いて述べる。
いて述べる。
0 ’I” D R1tl−測回路30a、30rで得
られた光強度は見掛上の値であるので、アンチストーク
ス光及びレーリー光の光強度に対応した光強度の時間関
数をそれぞれ■“a(t) 、I ’r(t)とする。
られた光強度は見掛上の値であるので、アンチストーク
ス光及びレーリー光の光強度に対応した光強度の時間関
数をそれぞれ■“a(t) 、I ’r(t)とする。
ここで、見掛上の光強度としたのは、第2図に示したよ
うに、ラマン散乱光が発生する波長領域5060にもレ
ーリー散乱光成分が含まれているなめである。これら求
められた見掛上の光強度1 ’a(t) 、I ’rm
を演算回路7に入力し、真の散乱光強度を求める。
うに、ラマン散乱光が発生する波長領域5060にもレ
ーリー散乱光成分が含まれているなめである。これら求
められた見掛上の光強度1 ’a(t) 、I ’rm
を演算回路7に入力し、真の散乱光強度を求める。
先ず、第2図の如くレーリー散乱光が発生する波長領域
40にもラマン散乱光成分が含まれているが、後者は前
者に比べ無視できるほど小さいので、 T r(t)−I ’r(t) ・・・(4)但し
、I r(t) ;レーリー散乱光強度となる。
40にもラマン散乱光成分が含まれているが、後者は前
者に比べ無視できるほど小さいので、 T r(t)−I ’r(t) ・・・(4)但し
、I r(t) ;レーリー散乱光強度となる。
また、アンチスト−クス散乱光か発生する波長領域50
で波長を固定すると、アンチストークス散乱光とレーリ
ー散乱光の光強度比は一定であるので、 Ia(t)=I’a(t)−CIXI’r(t) −
(5)但し、I a(t) ;アンチストークス光強度
C3;比例定数 この様にして得られたI a(t)は真のラマン散乱光
成分であり、上記(1)、 (3)式を用いることによ
り、温度関数fanが次式で求まる。
で波長を固定すると、アンチストークス散乱光とレーリ
ー散乱光の光強度比は一定であるので、 Ia(t)=I’a(t)−CIXI’r(t) −
(5)但し、I a(t) ;アンチストークス光強度
C3;比例定数 この様にして得られたI a(t)は真のラマン散乱光
成分であり、上記(1)、 (3)式を用いることによ
り、温度関数fanが次式で求まる。
f am= (I ’a(t) −C、X I ’r(
t) )x 1 / I ’r(t)
−(6)この温度間数f a(T)は選定された光ファ
イバに対して予め校正値を得ることができるため、逆に
散乱光+ft報から温度関数fa(T)が求められると
、センサ用光ファイバの温度が高精度で計測される。
t) )x 1 / I ’r(t)
−(6)この温度間数f a(T)は選定された光ファ
イバに対して予め校正値を得ることができるため、逆に
散乱光+ft報から温度関数fa(T)が求められると
、センサ用光ファイバの温度が高精度で計測される。
上記例はラマン散乱光情報として、アンチストークス光
を用いたものであるが、ストークス光を用いても、同様
にして、センサ用光ファイバの温度を計測できる。この
とき温度関数fa(T)は以下のようになる。
を用いたものであるが、ストークス光を用いても、同様
にして、センサ用光ファイバの温度を計測できる。この
とき温度関数fa(T)は以下のようになる。
f sm= (1’Nt) −C、x I ’r(t)
)X 1 / I ’r(t) ・・・
(7)また、ラマン散乱光が発生する点までの距離を1
−1光フアイバ中の光速をCo、光パルス入射後戻って
くるまでの時間をtとすると、次の(8)式から距11
iLが求まる。
)X 1 / I ’r(t) ・・・
(7)また、ラマン散乱光が発生する点までの距離を1
−1光フアイバ中の光速をCo、光パルス入射後戻って
くるまでの時間をtとすると、次の(8)式から距11
iLが求まる。
L=COX t/2 −(8)このように
して、センサ用光ファイバ20に沿った線状温度分布測
定が行える。
して、センサ用光ファイバ20に沿った線状温度分布測
定が行える。
なお、比例定数C+、Cxは、センサ用光ファイバ20
が短尺の場合は一定として取扱えるが、長尺の場合には
各波長によって、距離減衰特性が異なるのでこの補正を
行う必要がある。この補圧は対象波長に対する光ファイ
バの距離減衰特性と入射パルス光の波長分布から容易に
行えるものである。
が短尺の場合は一定として取扱えるが、長尺の場合には
各波長によって、距離減衰特性が異なるのでこの補正を
行う必要がある。この補圧は対象波長に対する光ファイ
バの距離減衰特性と入射パルス光の波長分布から容易に
行えるものである。
第1図では波長分離手段として分岐器を用いたが、分波
器や方向性結合器あるいはこれらの組合わせを用いても
良い、また、分岐器を用いる場合にはラマン散乱光とレ
ーリー散乱光の分岐比を、それぞれの光強度の逆数比と
しても良い(例えば、光強度比が100;1の場合には
分岐比を1 ; 100とする)。
器や方向性結合器あるいはこれらの組合わせを用いても
良い、また、分岐器を用いる場合にはラマン散乱光とレ
ーリー散乱光の分岐比を、それぞれの光強度の逆数比と
しても良い(例えば、光強度比が100;1の場合には
分岐比を1 ; 100とする)。
第3図は、本発明の光ファイバ式分布形温度センサの他
の実施例である。
の実施例である。
この実施例では、0TDR計測回路として、第4図のア
ンチストークス光用OT D Rtf測回路30a、ス
トークス散乱光用0TDR計測回路30sに加えて、更
に、レーリー散乱光用0TDR計測回路30rを有して
いる。また、光分岐器31.32を光分波器9に変え、
後方散乱光の分離を容易にしており、これに伴って、0
’T” D R計測回路30a、30s、30rから
は光学フィルタ4a、4s、4rが省略されている。
ンチストークス光用OT D Rtf測回路30a、ス
トークス散乱光用0TDR計測回路30sに加えて、更
に、レーリー散乱光用0TDR計測回路30rを有して
いる。また、光分岐器31.32を光分波器9に変え、
後方散乱光の分離を容易にしており、これに伴って、0
’T” D R計測回路30a、30s、30rから
は光学フィルタ4a、4s、4rが省略されている。
次に、第3図の光ファイバ式分布形温度センサの動作に
ついて説明する。
ついて説明する。
J1泗装置10内のパルス光源2から出射された光(波
長λ0)は光ファイバ21、充分波器9を介してセンサ
用光ファイバ20に導かれ、該光フアイバ内で後方散乱
光を励起する。励起された後方散乱光の一部は計測装置
10側に戻り、光分波器9、光ファイバ23a、23s
、23rを介して、0TDR計測回路30a、30s、
30rに導かれる。
長λ0)は光ファイバ21、充分波器9を介してセンサ
用光ファイバ20に導かれ、該光フアイバ内で後方散乱
光を励起する。励起された後方散乱光の一部は計測装置
10側に戻り、光分波器9、光ファイバ23a、23s
、23rを介して、0TDR計測回路30a、30s、
30rに導かれる。
光分波器って3分波出力された後方散乱光のうち、光フ
ァイバ23aに導かれたものは、中心波長λaにおける
波長領域の光であり、光を電気信号に変換する受光器5
a及び平均化処理回路6aで構成されるアンチストーク
ス光用0TDR計測回n 30 aに入り、この光強度
から見掛上のアンチストークス光強度の時間関数I ’
a(t)が求められる。同様にして、ストーク光用0T
DR計測回路30s及びレーリー散乱光用0TDR計測
装置30rから、それぞれに対応した見掛上の光強度の
時間関数1 ’5(t) 、 I ’r(t)が求め
られる。
ァイバ23aに導かれたものは、中心波長λaにおける
波長領域の光であり、光を電気信号に変換する受光器5
a及び平均化処理回路6aで構成されるアンチストーク
ス光用0TDR計測回n 30 aに入り、この光強度
から見掛上のアンチストークス光強度の時間関数I ’
a(t)が求められる。同様にして、ストーク光用0T
DR計測回路30s及びレーリー散乱光用0TDR計測
装置30rから、それぞれに対応した見掛上の光強度の
時間関数1 ’5(t) 、 I ’r(t)が求め
られる。
これら求められた見掛上の光強度I ’a(t)1 ’
5(t) 、 I ’r(t)を演算回路7に入力し
、真の散乱光強度を求める。
5(t) 、 I ’r(t)を演算回路7に入力し
、真の散乱光強度を求める。
先ず、レーリー散乱光強度1 r(t)は、」1記(4
)式と同じくラマン散乱光成分を無視して、I r(t
)= I ’r(t) ・・・(9)とな
る。
)式と同じくラマン散乱光成分を無視して、I r(t
)= I ’r(t) ・・・(9)とな
る。
また、ラマン散乱光が発生ずる波長領域5060で波長
を固定すると、ラマン散乱光とレーリー散乱光の光強度
比は一定であるので、Ta(t)=I’a(t)−C,
XI’r(t) −(10)I 5(t)= I ’
5(t)−C2x I ’r(t) ・・・(11)
但し、I a(t) ;アンチストークス光強度I 5
(t) ;ストークス光強度 ct 、 C2;比例定数 この様にして得られなI ff(t)及びI 5(t)
は真のラマン散乱光成分であり、I a(t)/ I
5(t)が純粋に温度の関数となるので、 (1’a(t) C+ x I ’r(t) )x
1/ (1’5(t) −C,x I ’r(t) )
の演算を行うことにより、高精度の温度計i1!lJか
できる。
を固定すると、ラマン散乱光とレーリー散乱光の光強度
比は一定であるので、Ta(t)=I’a(t)−C,
XI’r(t) −(10)I 5(t)= I ’
5(t)−C2x I ’r(t) ・・・(11)
但し、I a(t) ;アンチストークス光強度I 5
(t) ;ストークス光強度 ct 、 C2;比例定数 この様にして得られなI ff(t)及びI 5(t)
は真のラマン散乱光成分であり、I a(t)/ I
5(t)が純粋に温度の関数となるので、 (1’a(t) C+ x I ’r(t) )x
1/ (1’5(t) −C,x I ’r(t) )
の演算を行うことにより、高精度の温度計i1!lJか
できる。
また、ラマン散乱光が発生する点までの距離しは、上記
(8)式より求まる。
(8)式より求まる。
このようにして、第3図の場合にも、センサ用光ファイ
バ20に治った線状温度分布測定が行える。
バ20に治った線状温度分布測定が行える。
なお、第3図では波長分^を手段として分岐器を用いた
が、第1図で示したように、分岐器とフィルタの組合わ
せを用いてらよく、また、そのように分岐器を用いる場
合にはラマン散乱光とレーリー散乱光の分岐比を、それ
ぞれの光強度の逆数比としても良い。
が、第1図で示したように、分岐器とフィルタの組合わ
せを用いてらよく、また、そのように分岐器を用いる場
合にはラマン散乱光とレーリー散乱光の分岐比を、それ
ぞれの光強度の逆数比としても良い。
[発明の効果]
以上述べたように、本発明によれば、以下の顕著な効果
を奏することができる。
を奏することができる。
(1)入射パルス光が完全な単色光(単一の波長を有す
る光)でなくても、ラマン散乱光を分Mでき、センサの
温度を高精度で測定できる。
る光)でなくても、ラマン散乱光を分Mでき、センサの
温度を高精度で測定できる。
(2)レーリー散乱光も計測しているため、この・in
報から、光フアイバー損失の時間変化ら把握でき、セン
サ用光ファイバの異常等を認識できる。
報から、光フアイバー損失の時間変化ら把握でき、セン
サ用光ファイバの異常等を認識できる。
第1図は本発明による光ファイバ式分布形温度センサの
構成例を示す図、第2図は光フアイバセンサ内で発生す
る後方散乱光の波長分布概念図、第3図は本発明による
光ファイバ式分布形温度センサの曲の構成例を示す図、
第4図は既に提案されている光フアイバ式分布温度セン
サの構成例を示す図である。 図中、1はトリガ回路、2はパルス光源、4s、4a、
4rは光学フィルタ、5s、5a。 5rは受光器、6s、6a、6rは平均化処理回路、7
は温度分布演算回路、9は光分波器、10は計測装置、
20はセンサ用光ファイバ21.22.23s、23a
、23rは光ファイバ、31.32は光分岐器、30s
はストークス光用0TDR計測回路、30aはアンチス
トークス光用0TDR計測回路、30rはレーリ光用0
TDR計測回路を示す。
構成例を示す図、第2図は光フアイバセンサ内で発生す
る後方散乱光の波長分布概念図、第3図は本発明による
光ファイバ式分布形温度センサの曲の構成例を示す図、
第4図は既に提案されている光フアイバ式分布温度セン
サの構成例を示す図である。 図中、1はトリガ回路、2はパルス光源、4s、4a、
4rは光学フィルタ、5s、5a。 5rは受光器、6s、6a、6rは平均化処理回路、7
は温度分布演算回路、9は光分波器、10は計測装置、
20はセンサ用光ファイバ21.22.23s、23a
、23rは光ファイバ、31.32は光分岐器、30s
はストークス光用0TDR計測回路、30aはアンチス
トークス光用0TDR計測回路、30rはレーリ光用0
TDR計測回路を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、計測系内の光源からセンサ用光ファイバに光パルス
を入射させ、該ファイバで発生する後方散乱光を該計測
系に導くと共に、これら後方散乱光の中からレーリー散
乱光の中心波長域及びラマン散乱光のストークス光若し
くはアンチストークス光の中心波長域の光を分離する手
段と、該分離されたストークス光若しくはアンチストー
クス光の中心波長域を対象波長域として固定して、前記
分離されたストークス光若しくはアンチストークス光の
光強度から前記分離されたレーリー散乱光の対象波長域
での換算光強度を差し引いて真のラマン散乱光成分を求
め、求めた真のラマン散乱光成分と前記レーリー散乱光
の光強度との比からセンサ用光ファイバの温度を求める
演算手段とを設けたことを特徴とする光ファイバ式分布
形温度センサ。 2、計測系内の光源からセンサ用光ファイバに光パルス
を入射させ、該ファイバで発生する後方散乱光を該計測
系に導くと共に、これら後方散乱光の中からレーリー散
乱光の中心波長域並びにラマン散乱光のストークス光及
びアンチストークス光の中心波長域の光を分離する手段
と、該分離されたストークス光の中心波長域及びアンチ
ストークス光の中心波長域をそれぞれ対象波長域として
固定して、前記分離されたストークス光及びアンチスト
ークス光の光強度からそれぞれ前記分離されたレーリー
散乱光の対象波長域での換算光強度を差し引いて、真の
ラマン散乱光成分としてのストークス光及びアンチスト
ークス光の光強度を求め、求めた真のラマン散乱光成分
としてのストークス光の光強度とアンチストークス光の
光強度との比からセンサ用光ファイバの温度を求める演
算手段とを設けたことを特徴とする光ファイバ式分布形
温度センサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1019991A JPH02201129A (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | 光ファイバ式分布形温度センサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1019991A JPH02201129A (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | 光ファイバ式分布形温度センサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02201129A true JPH02201129A (ja) | 1990-08-09 |
Family
ID=12014636
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1019991A Pending JPH02201129A (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | 光ファイバ式分布形温度センサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02201129A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02223833A (ja) * | 1989-02-27 | 1990-09-06 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光ファイバ後方散乱光測定装置 |
| JPH05157635A (ja) * | 1991-12-03 | 1993-06-25 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 光ファイバ式温度分布測定装置 |
| EP0636868A1 (en) * | 1993-07-22 | 1995-02-01 | York Limited | Optical time domain reflectometry |
| US6817759B2 (en) * | 2001-11-30 | 2004-11-16 | National Chiao Tung University | Method of enhancing spatial resolution for distributed temperature measurement |
| JPWO2008035784A1 (ja) * | 2006-09-22 | 2010-01-28 | 株式会社ジェイ・パワーシステムズ | 光ファイバ温度分布測定装置、光ファイバ温度分布測定方法および光ファイバ温度分布測定システム |
| WO2013020286A1 (zh) * | 2011-08-10 | 2013-02-14 | 中国计量学院 | 混沌激光相关全分布式光纤拉曼与瑞利光子传感器 |
| JP2016183938A (ja) * | 2015-03-26 | 2016-10-20 | 住友電気工業株式会社 | 光ファイバ温度分布測定装置 |
| CN110307920A (zh) * | 2019-06-12 | 2019-10-08 | 太原理工大学 | 基于噪声调制的光纤温度、应力传感系统及测量方法 |
-
1989
- 1989-01-30 JP JP1019991A patent/JPH02201129A/ja active Pending
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02223833A (ja) * | 1989-02-27 | 1990-09-06 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光ファイバ後方散乱光測定装置 |
| JPH05157635A (ja) * | 1991-12-03 | 1993-06-25 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 光ファイバ式温度分布測定装置 |
| EP0636868A1 (en) * | 1993-07-22 | 1995-02-01 | York Limited | Optical time domain reflectometry |
| US5592282A (en) * | 1993-07-22 | 1997-01-07 | York Limited | Suppression of stimulated scattering in optical time domain reflectometry |
| EP1338877A3 (en) * | 1993-07-22 | 2003-09-03 | York Limited | Optical time domain reflectometry |
| EP1338876A3 (en) * | 1993-07-22 | 2003-09-03 | York Limited | Optical time domain reflectometry |
| EP1345020A1 (en) * | 1993-07-22 | 2003-09-17 | York Limited | Optical time domain reflectometry |
| US6817759B2 (en) * | 2001-11-30 | 2004-11-16 | National Chiao Tung University | Method of enhancing spatial resolution for distributed temperature measurement |
| JPWO2008035784A1 (ja) * | 2006-09-22 | 2010-01-28 | 株式会社ジェイ・パワーシステムズ | 光ファイバ温度分布測定装置、光ファイバ温度分布測定方法および光ファイバ温度分布測定システム |
| WO2013020286A1 (zh) * | 2011-08-10 | 2013-02-14 | 中国计量学院 | 混沌激光相关全分布式光纤拉曼与瑞利光子传感器 |
| JP2016183938A (ja) * | 2015-03-26 | 2016-10-20 | 住友電気工業株式会社 | 光ファイバ温度分布測定装置 |
| CN110307920A (zh) * | 2019-06-12 | 2019-10-08 | 太原理工大学 | 基于噪声调制的光纤温度、应力传感系统及测量方法 |
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