JPH02201253A - 放射線ct装置における走査方法 - Google Patents
放射線ct装置における走査方法Info
- Publication number
- JPH02201253A JPH02201253A JP1019623A JP1962389A JPH02201253A JP H02201253 A JPH02201253 A JP H02201253A JP 1019623 A JP1019623 A JP 1019623A JP 1962389 A JP1962389 A JP 1962389A JP H02201253 A JPH02201253 A JP H02201253A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- translation
- detector
- radiation source
- translation operation
- operations
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 51
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 42
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 10
- 230000002265 prevention Effects 0.000 abstract 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 210000003323 beak Anatomy 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、X線やT線等の放射線をファンビーム角をも
って曝射するようにした放射線CT装置において、特に
放射線源及び検出器を相対的に平行移動させるトランス
レート動作と被検体の周りに回転移動させるローテート
動作とを順次繰り返すことにより、被検体の断層画像を
再構成するのに好適な走査方法に関する。
って曝射するようにした放射線CT装置において、特に
放射線源及び検出器を相対的に平行移動させるトランス
レート動作と被検体の周りに回転移動させるローテート
動作とを順次繰り返すことにより、被検体の断層画像を
再構成するのに好適な走査方法に関する。
放射線CT装置の従来技術を第5図及び第6図に示す。
この従来技術はでは、第5図に示すように、放射線源と
してのX線源1と、検出器2と、トランスレート機構3
と、ローテート機構4とを有している。X線源lは回転
体5に設けられた移動枠6の上に設置され、第6図に示
すようにファンビーム角(5〜lO度ぐらい)αをもっ
て被検体100に曝射するようにしている。移動枠6は
回転体5に固定されたガイドレール7に搭載され、該ガ
イドレール7に沿って移動するようになっている。
してのX線源1と、検出器2と、トランスレート機構3
と、ローテート機構4とを有している。X線源lは回転
体5に設けられた移動枠6の上に設置され、第6図に示
すようにファンビーム角(5〜lO度ぐらい)αをもっ
て被検体100に曝射するようにしている。移動枠6は
回転体5に固定されたガイドレール7に搭載され、該ガ
イドレール7に沿って移動するようになっている。
検出器2は移動枠6において被検体100を挾むように
X線tA1と対向する位置に設置されており、その各検
出素子がX線ファンビーム角渉の幅方向に沿って等間隔
で配列され、X線ファンビーム角αの内、夫々対応する
角度のX線量を計測するようにしている。トランスレー
ト機構3は移動枠6に設けられたラック3aと、これを
移動させるピニオン3bと、該ピニオン3bを駆動する
モータとからなり、ピニオン3bの回転によってラック
3aと共に移動枠6が移動することにより、X線源1及
び検出器2を相対的に平行移動させ、かくしてトランス
レート動作を行なうようにしている。
X線tA1と対向する位置に設置されており、その各検
出素子がX線ファンビーム角渉の幅方向に沿って等間隔
で配列され、X線ファンビーム角αの内、夫々対応する
角度のX線量を計測するようにしている。トランスレー
ト機構3は移動枠6に設けられたラック3aと、これを
移動させるピニオン3bと、該ピニオン3bを駆動する
モータとからなり、ピニオン3bの回転によってラック
3aと共に移動枠6が移動することにより、X線源1及
び検出器2を相対的に平行移動させ、かくしてトランス
レート動作を行なうようにしている。
ローテート機構4は、ローテート用のモータ4aと、そ
の回転軸に取付けられたスプロケッ1−4bと、該スプ
ロケット4b及び回転体5間に巻装されたチェーン4c
とからなり、スプロケット4bの駆動によって回転体5
がX線ファンビーム角αと対応する角度で順次回転する
ことにより、X線源1及び検出器2を被検体100の周
りに回転させ、かくしてローテート動作を行なうように
している。
の回転軸に取付けられたスプロケッ1−4bと、該スプ
ロケット4b及び回転体5間に巻装されたチェーン4c
とからなり、スプロケット4bの駆動によって回転体5
がX線ファンビーム角αと対応する角度で順次回転する
ことにより、X線源1及び検出器2を被検体100の周
りに回転させ、かくしてローテート動作を行なうように
している。
そして、第6図に示すように、前記トランスレート機構
3によりX線源1及び検出器2を、被検体100の全領
域に亘るように相対的に一方向に移動させてトランスレ
ート動作を行ない、そのとき、検出器2の各検出素子は
X線源lの移動中の各点においてX線ファンビーム角α
内の対応する夫々の角度のX線が被検体100を透過し
たデータを計測する。即ち、被検体100の全領域の各
点についてファンビーム角α内の各検出素子に対応した
方向のX線の透過データを計測する。
3によりX線源1及び検出器2を、被検体100の全領
域に亘るように相対的に一方向に移動させてトランスレ
ート動作を行ない、そのとき、検出器2の各検出素子は
X線源lの移動中の各点においてX線ファンビーム角α
内の対応する夫々の角度のX線が被検体100を透過し
たデータを計測する。即ち、被検体100の全領域の各
点についてファンビーム角α内の各検出素子に対応した
方向のX線の透過データを計測する。
次いで、前記ローテート機構4によりX線源1及び検出
器2を、ファンビーム角αに相当する角度だけ相対的に
回転させてローテート動作を行ない、そのとき、検出器
2の各検出素子はX線源1の回転中の各点において前述
と同様にX線の被検体100の透過データを計測する。
器2を、ファンビーム角αに相当する角度だけ相対的に
回転させてローテート動作を行ない、そのとき、検出器
2の各検出素子はX線源1の回転中の各点において前述
と同様にX線の被検体100の透過データを計測する。
その後、前記トランスレート機構3によりX線源1及び
検出器2を、最初のトランスレート動作と反対方向に移
動させて二回目のトランスレート動作を行なうことによ
りX線の透過データを計測し、かくして第7図に示すよ
うに、トランスレート動作及びローテート動作を順次複
数回繰り返して、被検体100の各点について360度
方向の透過データを計測することにより、被検体100
の断層画像を再構成し得るようにしている。
検出器2を、最初のトランスレート動作と反対方向に移
動させて二回目のトランスレート動作を行なうことによ
りX線の透過データを計測し、かくして第7図に示すよ
うに、トランスレート動作及びローテート動作を順次複
数回繰り返して、被検体100の各点について360度
方向の透過データを計測することにより、被検体100
の断層画像を再構成し得るようにしている。
ところで、一般に放射線CT装置では、検出器によって
計測される夫々の角度の密度が高い方が望まれ、このた
め、検出器の各検出素子を可及的に小さくし、かつ密接
するように多数設けることが好ましい。一方、各検出素
子の寸法が小さくなると、これらの各検出素子に入射す
る放射線量が減少するので、計測が困難となり、また各
検出素子が放射線ファンビームにおける夫々の角度のデ
ータを計測するので、所望角度以外の角度の放射線が入
射しないようにするため、各検出素子をタングステン等
のような放射線遮蔽部材としてのセプタで仕切っておく
必要がある。
計測される夫々の角度の密度が高い方が望まれ、このた
め、検出器の各検出素子を可及的に小さくし、かつ密接
するように多数設けることが好ましい。一方、各検出素
子の寸法が小さくなると、これらの各検出素子に入射す
る放射線量が減少するので、計測が困難となり、また各
検出素子が放射線ファンビームにおける夫々の角度のデ
ータを計測するので、所望角度以外の角度の放射線が入
射しないようにするため、各検出素子をタングステン等
のような放射線遮蔽部材としてのセプタで仕切っておく
必要がある。
上記に示す従来技術では、人体を対象とする医用X線C
T装置の場合、例・えばX線管電圧が120にV程度で
使用されるので、問題ないが、特に、人体に比べ放射線
吸収係数の高い物質、例えば鉄。
T装置の場合、例・えばX線管電圧が120にV程度で
使用されるので、問題ないが、特に、人体に比べ放射線
吸収係数の高い物質、例えば鉄。
銅等を対象とした産業用CT装置の場合には、数百KV
の高電圧のX線管を使用したり、高エネルギのT線を発
生するアイソトープを線源として用いたりすることがあ
るため、検出器の各検出素子を仕切るセプタの厚さを厚
くしなければならないので、各検出素子間の間隔が広く
なる。
の高電圧のX線管を使用したり、高エネルギのT線を発
生するアイソトープを線源として用いたりすることがあ
るため、検出器の各検出素子を仕切るセプタの厚さを厚
くしなければならないので、各検出素子間の間隔が広く
なる。
その結果、各検出素子間の間隔が広くなると、ファンビ
ーム角の中でその分計側されない角度の範囲が大きくな
り、それだけ計測角度が粗くなるので、画像を再構成し
た場合、放射状のノイズ、即ちストリークアーチファク
トと呼ばれるノイズが発生する問題がある。
ーム角の中でその分計側されない角度の範囲が大きくな
り、それだけ計測角度が粗くなるので、画像を再構成し
た場合、放射状のノイズ、即ちストリークアーチファク
トと呼ばれるノイズが発生する問題がある。
本発明の目的は、前記従来技術の問題点に鑑み、検出器
の各検出素子間の間隔が広くとも、ストリークアファク
トが発生するのを確実に防ぎ得る放射線CT装置におけ
る走査方法を提供することにある。
の各検出素子間の間隔が広くとも、ストリークアファク
トが発生するのを確実に防ぎ得る放射線CT装置におけ
る走査方法を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の走査方法においては、
(イ)ローテート動作に際し、放射線源及び検出器の双
方を一括的にに回数トランスレート動作させること、(
kは2以上の整数)、(ロ)該に回数のトランスレート
動作中、1回目のトランスレート動作を、放射線源及び
検出器の双方が所定位置のままで実行させること、(ハ
)2回目乃至に回目までの各回のトランスレート動作時
、放射線源及び検出器の何れか一方のみが各回に応じず
つ順次ずれた位置で実行させること(Pは検出器の各検
出素子間のピッチ)、(ニ)以下、k回数のトランスレ
ート動作と、ローテート動作とを、k回数のトランスレ
ート動作がN回繰り返されるまで順次繰り返し実行す゛
ること(但し、放射線源を有する。
方を一括的にに回数トランスレート動作させること、(
kは2以上の整数)、(ロ)該に回数のトランスレート
動作中、1回目のトランスレート動作を、放射線源及び
検出器の双方が所定位置のままで実行させること、(ハ
)2回目乃至に回目までの各回のトランスレート動作時
、放射線源及び検出器の何れか一方のみが各回に応じず
つ順次ずれた位置で実行させること(Pは検出器の各検
出素子間のピッチ)、(ニ)以下、k回数のトランスレ
ート動作と、ローテート動作とを、k回数のトランスレ
ート動作がN回繰り返されるまで順次繰り返し実行す゛
ること(但し、放射線源を有する。
本発明方法では、前述の如く、(イ)ローテート動作に
際し、放射線源及び検出器の双方を一括的にに回数トラ
ンスレート動作させ、(ロ)該に回数のトランスレート
動作中、1回目のトランスレート動作を、放射線源及び
検出器の双方が所定位置のままで実行させ、(ハ)2回
目乃至に回目までの各回のトランスレート動作を、放射
線源と検出器との何れか一方のみが各回に応じP/にず
つ順次ずれた位置で実行させ、(ニ)以下、k回数のト
ランスレート動作と、ローテート動作とを、k回数のト
ランスレート動作がN回繰り返されるまで順次繰り返し
実行するようにしたので、k回数のトランスレート動作
により、各回のトランスレート動作時に計測できない検
出素子間の方向からの放射線を確実に計測でき、それだ
け計測角度の密度をあげることができる。
際し、放射線源及び検出器の双方を一括的にに回数トラ
ンスレート動作させ、(ロ)該に回数のトランスレート
動作中、1回目のトランスレート動作を、放射線源及び
検出器の双方が所定位置のままで実行させ、(ハ)2回
目乃至に回目までの各回のトランスレート動作を、放射
線源と検出器との何れか一方のみが各回に応じP/にず
つ順次ずれた位置で実行させ、(ニ)以下、k回数のト
ランスレート動作と、ローテート動作とを、k回数のト
ランスレート動作がN回繰り返されるまで順次繰り返し
実行するようにしたので、k回数のトランスレート動作
により、各回のトランスレート動作時に計測できない検
出素子間の方向からの放射線を確実に計測でき、それだ
け計測角度の密度をあげることができる。
その結果、各検出素子間の間隔が広がっても、計測角度
が粗くなることがなく、計測角度の密度を上げるので、
画像を再構成した場合、ストリークアーチファクトのよ
うなノイズが発生するのを防ぎ得る。
が粗くなることがなく、計測角度の密度を上げるので、
画像を再構成した場合、ストリークアーチファクトのよ
うなノイズが発生するのを防ぎ得る。
〔実施例]
以下、本発明方法の実施例を第1図乃至第4図により説
明する。第1図は本発明方法の第1の実施例を示す説明
用のタイムチャート、第2図は検出器の説明図、第3図
は本発明方法を適用したX線CT装置を示している。
明する。第1図は本発明方法の第1の実施例を示す説明
用のタイムチャート、第2図は検出器の説明図、第3図
は本発明方法を適用したX線CT装置を示している。
本発明方法の第1の実施例は、X線源l及び検出器2の
双方をトランスレート機構3により一括的に複数回、例
えば2回トランスレート動作するようにしている。
双方をトランスレート機構3により一括的に複数回、例
えば2回トランスレート動作するようにしている。
2回トランスレート動作させるトランスレート機構3は
第1図及び第3図に示すように、ピニオン3aの駆動に
よってXfi源1.検出器2を右方向に移動させて1回
目のトランスレート動作TIを実行し、その後、ピニオ
ン3aを逆転駆動し、両者1.2を左方向に移動させて
2回目のトランスレート動作T2を実行する。
第1図及び第3図に示すように、ピニオン3aの駆動に
よってXfi源1.検出器2を右方向に移動させて1回
目のトランスレート動作TIを実行し、その後、ピニオ
ン3aを逆転駆動し、両者1.2を左方向に移動させて
2回目のトランスレート動作T2を実行する。
また、1回目のトランスレート動作TI時には、第2図
に示すように検出器2を所定位置のままにしておき、2
回目のトランスレート動作T2時には後述する微調整移
動機構により、同図(b)に示すように検出器2のみを
、その検出素子2I〜2n間のピッチPの半分だけずら
すようにしている。
に示すように検出器2を所定位置のままにしておき、2
回目のトランスレート動作T2時には後述する微調整移
動機構により、同図(b)に示すように検出器2のみを
、その検出素子2I〜2n間のピッチPの半分だけずら
すようにしている。
前記微調整移動機構は、第3図に示すように、検出器2
と一体に設けられたアンプ部8に形成されたラック9a
と、該ラック9aと噛合するピニオン9bと、該ピニオ
ン9bを駆動するモータ(図示せず)とからなっている
。そして、前記トランスレート機構3によって2回目の
トランスレート動作T2をするとき、換言すれば、1回
目のトランスレート動作T2をしたとき、ピニオン9b
を駆動してアンプ部8のラック9aが移動することによ
り、第2図(b)に示す如く、各検出素子21〜2nを
、それらの1/2Pの間隔で右方向にずらし、これによ
り同図(C)に示す如く、1回目のトランスレート動作
T1時における各検出素子21〜2.相互間の方向から
のX線の透過データを計測し得るようにしている。その
ため、°谷検出素子2.〜21.は第2図(a)、■)
に示すように、各検出素子間のピッチPの半分の幅寸法
P/2で構成され、かつ微調整移動機構9によって移動
(ずれ)しても、当然のことながら、ファンビーム角α
の範囲内に収まるように設定されている。
と一体に設けられたアンプ部8に形成されたラック9a
と、該ラック9aと噛合するピニオン9bと、該ピニオ
ン9bを駆動するモータ(図示せず)とからなっている
。そして、前記トランスレート機構3によって2回目の
トランスレート動作T2をするとき、換言すれば、1回
目のトランスレート動作T2をしたとき、ピニオン9b
を駆動してアンプ部8のラック9aが移動することによ
り、第2図(b)に示す如く、各検出素子21〜2nを
、それらの1/2Pの間隔で右方向にずらし、これによ
り同図(C)に示す如く、1回目のトランスレート動作
T1時における各検出素子21〜2.相互間の方向から
のX線の透過データを計測し得るようにしている。その
ため、°谷検出素子2.〜21.は第2図(a)、■)
に示すように、各検出素子間のピッチPの半分の幅寸法
P/2で構成され、かつ微調整移動機構9によって移動
(ずれ)しても、当然のことながら、ファンビーム角α
の範囲内に収まるように設定されている。
前述の如くして2回のトランスレート動作TI。
T2の実行後、微調整移動機構9によって検出器2の各
検出素子21〜27を元の所定位置に戻し、次イテロー
テート機構4によりファンビーム角αに対応する角度を
もってX線源1.検出器2を1回ローテート動作Rさせ
る。
検出素子21〜27を元の所定位置に戻し、次イテロー
テート機構4によりファンビーム角αに対応する角度を
もってX線源1.検出器2を1回ローテート動作Rさせ
る。
そして、2回のトランスレート動作T1と1回のローテ
ート動作とを、2回のトランスレート動作が180°の
角度位置までN回繰り返されるよう順次繰り返し実行す
るようにしている。
ート動作とを、2回のトランスレート動作が180°の
角度位置までN回繰り返されるよう順次繰り返し実行す
るようにしている。
定している。
第3図において、微調整移動機構9以外は第5図と同一
符号を付しているので、説明を省略する。
符号を付しているので、説明を省略する。
実施例の走査方法は、上記の如き構成よりなるので、次
にその動作を述べる。
にその動作を述べる。
まず、X!IIA源I及び検出器2の双方を所定位置の
ままで1回目のトランスレート動作を右方向に実行し、
次いで検出器2のみがその検出素子21〜2fi間のP
/2ずらした位置で、2回目のトランスレート動作を左
方向に実行する。
ままで1回目のトランスレート動作を右方向に実行し、
次いで検出器2のみがその検出素子21〜2fi間のP
/2ずらした位置で、2回目のトランスレート動作を左
方向に実行する。
しかる後、ローテート機構4により前記X線源l及び検
出器2の双方を、ファンビーム角αと対応する角度で回
転移動させてローテート動作を実行する。なお、ローテ
ート機構4による回転移動に際しては、微調整移動機構
9が逆転駆動することによって検出器2の各検出素子2
.〜2..を元の位置に戻してお(。
出器2の双方を、ファンビーム角αと対応する角度で回
転移動させてローテート動作を実行する。なお、ローテ
ート機構4による回転移動に際しては、微調整移動機構
9が逆転駆動することによって検出器2の各検出素子2
.〜2..を元の位置に戻してお(。
以下、前記2回のトランスレート動作とローテート動作
とを被検体100の周りに順次繰り返し、被検体100
の全領域の各点について3600方向のX線の透過デー
タを計測することにより断層画像を再構成する。
とを被検体100の周りに順次繰り返し、被検体100
の全領域の各点について3600方向のX線の透過デー
タを計測することにより断層画像を再構成する。
従って、■トランスレート動作の復移動時、検出器2を
微調整移動機構9によって各検出素子21〜2fi間の
ピッチの半分の距離ずらし、往移動時に計測できなかっ
た検出素子2+−2−間の方向からのX線の透過データ
を計測するので、従来のようにX線源1及び検出器2の
双方を単に移動させてトランスレート動作を行なうもの
に比較すると、それだけトランスレート動作時間が長く
かかるものの、X線の計測角度の密度を上げることがで
きる。
微調整移動機構9によって各検出素子21〜2fi間の
ピッチの半分の距離ずらし、往移動時に計測できなかっ
た検出素子2+−2−間の方向からのX線の透過データ
を計測するので、従来のようにX線源1及び検出器2の
双方を単に移動させてトランスレート動作を行なうもの
に比較すると、それだけトランスレート動作時間が長く
かかるものの、X線の計測角度の密度を上げることがで
きる。
その結果、従来のように高電圧や高エネルギの放射線等
の放射線源の使用によって各検出素子間の間隔が広がっ
ても、計測角度が粗くなることがなく、計測角度の密度
を上げることができるので、画像を再構成した場合、ス
トリークアーチファクトのようなノイズが発生するのを
防ぎ得る。
の放射線源の使用によって各検出素子間の間隔が広がっ
ても、計測角度が粗くなることがなく、計測角度の密度
を上げることができるので、画像を再構成した場合、ス
トリークアーチファクトのようなノイズが発生するのを
防ぎ得る。
また、計測角度の密度を上げることができるので、X線
源1及び検出器2の双方が、トランスレフト動作とロー
テート動作を繰り返すことによって被検体100の周り
に180°回転すれば、X線源1と検出器2との双方が
さらに180’から360″′の角度方向で計測した場
合と同方向の計測線上のデータとなることから、180
°を越える角度の計測データが不要となり、それだけ前
記双方1,2の走査時間を短縮することができる。
源1及び検出器2の双方が、トランスレフト動作とロー
テート動作を繰り返すことによって被検体100の周り
に180°回転すれば、X線源1と検出器2との双方が
さらに180’から360″′の角度方向で計測した場
合と同方向の計測線上のデータとなることから、180
°を越える角度の計測データが不要となり、それだけ前
記双方1,2の走査時間を短縮することができる。
なお図示実施例では、微調整移動機構9が検出器2の各
検出素子2.〜27を1トランスレ一ト動作の復動時に
1/2ピツチずらすようにした例を示したが、例えば、
各検出素子を1トランスレ一ト動作の往移動時にずらし
ても、前述と同様の効果を得ることができるのは勿論の
こと、各検出素子をそのままの位置とし、X線源である
放射線源を微調整移動機構によってずらすようにしても
同様の効果を得ることができる。
検出素子2.〜27を1トランスレ一ト動作の復動時に
1/2ピツチずらすようにした例を示したが、例えば、
各検出素子を1トランスレ一ト動作の往移動時にずらし
ても、前述と同様の効果を得ることができるのは勿論の
こと、各検出素子をそのままの位置とし、X線源である
放射線源を微調整移動機構によってずらすようにしても
同様の効果を得ることができる。
またローテート動作に際し、放射線源及び検出器の双方
を一括的に3回トランスレート動作させ、3回のトラン
スレート動作中、1回目のトランスレート動作を、放射
線源及び検出器の双方が所定位置のままで実行させ、2
回目乃至3回目までの各回のトランスレート動作を、放
射線源と検出器との何れか一方のみが各回に応じP/3
ずつ順次ずれた位置で実行させ(Pは検出器の各検出素
子間のピッチ)、以下、3回の一括的なトランスレート
動作と、ローテート動作とを、3回の一括的なトランス
レート動作がN回繰り返されるまで順次繰り返し実行す
るしても、同様の効果を得ることができ、トランスレー
ト動作の一括的な回数が増えれば、それだけ検出器素子
間の角度方向のより精緻なデータを計測することが可能
となる。
を一括的に3回トランスレート動作させ、3回のトラン
スレート動作中、1回目のトランスレート動作を、放射
線源及び検出器の双方が所定位置のままで実行させ、2
回目乃至3回目までの各回のトランスレート動作を、放
射線源と検出器との何れか一方のみが各回に応じP/3
ずつ順次ずれた位置で実行させ(Pは検出器の各検出素
子間のピッチ)、以下、3回の一括的なトランスレート
動作と、ローテート動作とを、3回の一括的なトランス
レート動作がN回繰り返されるまで順次繰り返し実行す
るしても、同様の効果を得ることができ、トランスレー
ト動作の一括的な回数が増えれば、それだけ検出器素子
間の角度方向のより精緻なデータを計測することが可能
となる。
第4図は本発明方法の他の実施例を示す説明図である。
この場合は、(イ)放射線源ファンビーム角α=360
°/2Nとして設定する一方、1回目乃至N回目までの
トランスレート動作を一括的にm回数に設定するととも
に、N+1回目乃至2回目までの各トランスレート動作
を一括的にに−m回数に設定しておき、(但し、N、に
、mは整数で、k)mとする)、 (ロ)前記m回数のトランスレート動作のうち、1回目
のトランスレート動作を、放射線源及び検出器の双方が
所定位置のままで実行させ、(ハ)2回目乃至m回目ま
での各回のトランスレート動作時、放射線源と検出器と
の何れか一方のみが各回に応じP/にずつ順次ずれたま
まで実行させ(Pは検出器の各検出素子間のピッチ、k
はmより大きい整数)、 (ニ)以下、m回数のトランスレート動作と、口−テー
ト動作とを、m回数のトランスレート動作がN回数繰り
返しされるまで順次繰り返し実行し、(ホ)m回数のト
ランスレート動作をN回数実行した後、N+1回目乃至
2N回目までの各トランスレート動作をk −m回数実
行させ、(へ)該に−m回数のトランスレート動作のう
ち、1回目のトランスレート動作を、放射線源と検出器
との前記一方のみが所定位置からP / k X mず
れた位置で実行させるとともに、 (ト)2回目以降のトランスレート動作を、放射線源と
検出器との前記一方のみが各回に応じさらにP/にずつ
順次ずれた位置で実行させ、(チ)以下、k−m回数の
トランスレート動作とローテート動作とを、k−m回数
のトランスレート動作が2N回繰り返されるまで順次繰
り返し実行するようにしている。
°/2Nとして設定する一方、1回目乃至N回目までの
トランスレート動作を一括的にm回数に設定するととも
に、N+1回目乃至2回目までの各トランスレート動作
を一括的にに−m回数に設定しておき、(但し、N、に
、mは整数で、k)mとする)、 (ロ)前記m回数のトランスレート動作のうち、1回目
のトランスレート動作を、放射線源及び検出器の双方が
所定位置のままで実行させ、(ハ)2回目乃至m回目ま
での各回のトランスレート動作時、放射線源と検出器と
の何れか一方のみが各回に応じP/にずつ順次ずれたま
まで実行させ(Pは検出器の各検出素子間のピッチ、k
はmより大きい整数)、 (ニ)以下、m回数のトランスレート動作と、口−テー
ト動作とを、m回数のトランスレート動作がN回数繰り
返しされるまで順次繰り返し実行し、(ホ)m回数のト
ランスレート動作をN回数実行した後、N+1回目乃至
2N回目までの各トランスレート動作をk −m回数実
行させ、(へ)該に−m回数のトランスレート動作のう
ち、1回目のトランスレート動作を、放射線源と検出器
との前記一方のみが所定位置からP / k X mず
れた位置で実行させるとともに、 (ト)2回目以降のトランスレート動作を、放射線源と
検出器との前記一方のみが各回に応じさらにP/にずつ
順次ずれた位置で実行させ、(チ)以下、k−m回数の
トランスレート動作とローテート動作とを、k−m回数
のトランスレート動作が2N回繰り返されるまで順次繰
り返し実行するようにしている。
具体的に述べると、m=1、k=2とした場合、1回目
からN回目の角度までは、即ち180°までは従来例と
同様にトランスレート動作とローテート動作とを1回ず
つ繰り返して行ない、N+1から2N回までのローテー
ト動作時、微調整移動機構9によって検出器2の各検出
素子21〜2nを1/2ピツチずらすことにより計測す
るようにしている。
からN回目の角度までは、即ち180°までは従来例と
同様にトランスレート動作とローテート動作とを1回ず
つ繰り返して行ない、N+1から2N回までのローテー
ト動作時、微調整移動機構9によって検出器2の各検出
素子21〜2nを1/2ピツチずらすことにより計測す
るようにしている。
この実施例によれば、1回目からN回目までの角度に対
し、1/2ピツチに相当する微小角度だけずれた方向の
角度データを逆方向から計測するので、従来のように同
一計測線上のデータを二度測定することとなるのに比べ
ると、同じ測定回数であっても、2倍の角度密度でデー
タを計測することができ、それだけ計測角度の密度を確
実に上げることができる。
し、1/2ピツチに相当する微小角度だけずれた方向の
角度データを逆方向から計測するので、従来のように同
一計測線上のデータを二度測定することとなるのに比べ
ると、同じ測定回数であっても、2倍の角度密度でデー
タを計測することができ、それだけ計測角度の密度を確
実に上げることができる。
この場合は、特にX線源1から各検出素子21〜2oに
到達するまでにX線ビームの広がり方が異なることにな
り、またX線7mlから照射されるX線が、被検体(物
)によっては同一計測線上でも各検出素子2.〜2nへ
の入射方向によって若干のデータの相違が生じることに
より、同一計測線上のデータに微小な差異が生じ、その
ため、X線源1及び検出器2の双方を被検体の周りに移
動させ、360°方向からのデータを計測することによ
り再構成画像の画質を向上させるものに適応している。
到達するまでにX線ビームの広がり方が異なることにな
り、またX線7mlから照射されるX線が、被検体(物
)によっては同一計測線上でも各検出素子2.〜2nへ
の入射方向によって若干のデータの相違が生じることに
より、同一計測線上のデータに微小な差異が生じ、その
ため、X線源1及び検出器2の双方を被検体の周りに移
動させ、360°方向からのデータを計測することによ
り再構成画像の画質を向上させるものに適応している。
以上述べたように、本発明は、請求項1によれば、トラ
ンスレート動作の移動時に計測できない検出素子間の方
向からの放射線の透過データを計測でき、それだけ計測
角度の密度を確実に上げることができる結果、ストリー
クアーチファクトのようなノイズが発生するのを防ぎ得
る。
ンスレート動作の移動時に計測できない検出素子間の方
向からの放射線の透過データを計測でき、それだけ計測
角度の密度を確実に上げることができる結果、ストリー
クアーチファクトのようなノイズが発生するのを防ぎ得
る。
また請求項2によれば、上述と同様の効果を得ることが
できるのに加え、放射線吸収分布の不均一な被検体の場
合には特に有益となる効果がある。
できるのに加え、放射線吸収分布の不均一な被検体の場
合には特に有益となる効果がある。
第1図は本発明方法の第1の実施例を示す説明用タイム
チャート、第2図(a)はトランスレート動作の往動時
における検出器の位置を示す説明図、同図Φ)は同じく
復動時における検出器の位置を示す説明図、同図(C)
はトランスレート動作における往動時と復動時の検出器
位置を示す説明図、第3は本発明方法の他の実施例を示
す説明図、第5図は従来のX線CT装置の一構成例を示
す概略図、第6図は走査方法を示す説明図、第7図は従
来のトランスレート動作とローテート動作とのタイムチ
ャートである。 1・・・X線源、2・・・検出器、21〜2□・・・検
出素子、3・・・トランスレート機構、4・・・ローテ
ート機構、9・・・微調整移動機構、P・・・検出素子
間のピッチ。 特許出願人 株式会社日立メディコ 代理人 弁理士 秋 本 正 実外1名 第 図 NIK=+80゜ 第 図(a) 1゛X線派 2挟呂界 2〜2n゛潰巴f、−) P:h挟払素子間のピッチ
第 図 ソ 第 図 第 図(b) 21〜2n:紗を赤子 P:ふ腋島嘴Cシ14のビテヶ 第 図
チャート、第2図(a)はトランスレート動作の往動時
における検出器の位置を示す説明図、同図Φ)は同じく
復動時における検出器の位置を示す説明図、同図(C)
はトランスレート動作における往動時と復動時の検出器
位置を示す説明図、第3は本発明方法の他の実施例を示
す説明図、第5図は従来のX線CT装置の一構成例を示
す概略図、第6図は走査方法を示す説明図、第7図は従
来のトランスレート動作とローテート動作とのタイムチ
ャートである。 1・・・X線源、2・・・検出器、21〜2□・・・検
出素子、3・・・トランスレート機構、4・・・ローテ
ート機構、9・・・微調整移動機構、P・・・検出素子
間のピッチ。 特許出願人 株式会社日立メディコ 代理人 弁理士 秋 本 正 実外1名 第 図 NIK=+80゜ 第 図(a) 1゛X線派 2挟呂界 2〜2n゛潰巴f、−) P:h挟払素子間のピッチ
第 図 ソ 第 図 第 図(b) 21〜2n:紗を赤子 P:ふ腋島嘴Cシ14のビテヶ 第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、ファンビーム放射線源及び検出器を相対的に平行移
動させるトランスレート動作と、前記放射線源及び検出
器をファンビーム角で回転移動させるローテート動作と
を順次繰り返し、被検体の周囲における放射線源の透過
データを計測するT−R型の放射線CT装置における走
査方法において、 (イ)ローテート動作に際し、放射線源及び検出器の双
方を一括的にk回数トランスレート動作させ(kは2以
上の整数)、 (ロ)該k回数のトランスレート動作中、1回目のトラ
ンスレート動作を、放射線源及び検出器の双方が所定位
置のままで実行させ、 (ハ)2回目乃至k回目までの各回のトランスレート動
作時、放射線源及び検出の何れか一方のみが各回に応じ
P/kずつ順次ずれた位置で実行させ(Pは検出器の各
検出素子間のピッチ)、 (ニ)以下、k回数のトランスレート動作と、ローテー
ト動作とを、k回数のトランスレート動作がN回繰り返
されるまで順次繰り返し実行する(但し、放射線源ファ
ンビーム角 α=180°/N(Nは整数)) ことを特徴とする放射線源CT装置における走査方法。 2、ファンビーム放射線源及び検出器を相対的に平行移
動させるトランスレート動作と、前記放射線源及び検出
器をファンビーム角で回転移動させるローテート動作と
を順次繰り返し、被検体の周囲における放射線源の透過
データを計測するT−R型の放射線CT装置における走
査方法において、 (イ)放射線源ファンビーム角α=360°/2Nとし
て設定する一方、1回目乃至N回目までの各トランスレ
ート動作を一括的にm回数に設定すると共に、N+1回
目乃至2N回目までの各トランスレート動作を一括的に
k−m回数に設定しておき、(但し、N、k、mは整数
で、k>mとする) (ロ)前記m回数のトランスレート動作のうち、1回目
のトランスレート動作を、放射線源及び検出器の双方が
所定位置まで実行させ、 (ハ)2回目乃至m回目迄の各回のトランスレート動作
時、放射線源及び検出器の何れか一方のみが各回に応じ
P/kずつ順次ずれたままで実行させ(Pは検出器の各
検出素子間のピッチ、kはmより大きい整数)、 (ニ)以下、m回数のトランスレート動作と、ローテー
ト動作とを、m回数のトランスレート動作がN回数繰り
返されるまで順次繰り返し実行し、 (ホ)m回数のトランスレート動作をN回数実行した後
、N+1回目乃至2N回目までの各トランスレート動作
をk−m回数実行させ、 (ヘ)該k−m回数のトランスレート動作のうち、1回
目のトランスレート動作を、放射線源及び検出器の前記
一方のみが所定の位置から (P/k)×mずれた位置で実行させると共に、(ト)
2回目以降のトランスレート動作を、放射線源及び検出
器の前記一方のみが各回に応じさらにP/kずつ順次ず
れた位置で実行させ、(チ)以下、k−m回数のトラン
スレート動作とローテート動作とを、k−m回数のトラ
ンスレート動作が2N回繰り返されるまで順次繰り返し
実行すること を特徴とする放射線CT装置における走査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1019623A JPH02201253A (ja) | 1989-01-31 | 1989-01-31 | 放射線ct装置における走査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1019623A JPH02201253A (ja) | 1989-01-31 | 1989-01-31 | 放射線ct装置における走査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02201253A true JPH02201253A (ja) | 1990-08-09 |
Family
ID=12004319
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1019623A Pending JPH02201253A (ja) | 1989-01-31 | 1989-01-31 | 放射線ct装置における走査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02201253A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4209376A1 (de) * | 1992-03-23 | 1993-09-30 | Siemens Ag | Flächerstrahl-Computertomograph |
| JP2007105068A (ja) * | 2005-10-11 | 2007-04-26 | National Univ Corp Shizuoka Univ | X線ct装置 |
| JP2013164352A (ja) * | 2012-02-10 | 2013-08-22 | Central Research Institute Of Electric Power Industry | 移動物の可視化方法及び可視化装置 |
-
1989
- 1989-01-31 JP JP1019623A patent/JPH02201253A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4209376A1 (de) * | 1992-03-23 | 1993-09-30 | Siemens Ag | Flächerstrahl-Computertomograph |
| JP2007105068A (ja) * | 2005-10-11 | 2007-04-26 | National Univ Corp Shizuoka Univ | X線ct装置 |
| JP2013164352A (ja) * | 2012-02-10 | 2013-08-22 | Central Research Institute Of Electric Power Industry | 移動物の可視化方法及び可視化装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3946234A (en) | Apparatus for examining bodies by means of penetrating radiation | |
| CN100525708C (zh) | X射线ct装置 | |
| EP0113879B1 (en) | Computerized tomographic apparatus utilizing a radiation source | |
| US7561659B2 (en) | Method for reconstructing a local high resolution X-ray CT image and apparatus for reconstructing a local high resolution X-ray CT image | |
| US4303830A (en) | Tomographic apparatus for producing transverse layer images of a radiography subject | |
| DE4436688A1 (de) | Computertomograph | |
| US4101768A (en) | Apparatus for computerized tomography having improved anti-scatter collimators | |
| US4817119A (en) | Method and apparatus for computerized tomographic scanning with plural intersecting sets of parallel radiation beams | |
| GB1598058A (en) | Apparatus for tomography using penetrating radiation | |
| US6343110B1 (en) | Methods and apparatus for submillimeter CT slices with increased coverage | |
| DE2831311C2 (de) | Vorrichtung zur Ermittlung innerer Körperstrukturen mittels Streustrahlung | |
| US4028554A (en) | Radiology | |
| US6980681B1 (en) | Methods and apparatus for helical reconstruction for multislice CT scan | |
| GB1577615A (en) | Radiography | |
| JPH02201253A (ja) | 放射線ct装置における走査方法 | |
| DE3913302C2 (de) | Computertomographiesystem | |
| US4048505A (en) | Radiography | |
| JPS6154411B2 (ja) | ||
| DE2551584A1 (de) | Roentgen-schichtgeraet zur herstellung von transversal-schichtbildern | |
| US4066906A (en) | Scanning radiographic apparatus | |
| DE8703190U1 (de) | Computertomograph | |
| US4160911A (en) | Fan beam CT apparatus the interbeam angle of which varies with position across the fan | |
| JPH02201254A (ja) | 放射線ct装置における走査方法 | |
| US4118629A (en) | Radiology | |
| US7046758B1 (en) | X-ray CT apparatus |