JPH02201742A - 光学式ピックアップ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は円板状記録媒体に光学的に各種情報を記録再生
する光学式ピックアップに関するものである。

〔従来の技術〕

従来、この種の装置は第５図に示す構成を備えている。

半導体レーザ２１を出射した光束はコリメートレンズ２
２により平行光とされたあと、前方に配置された偏光ビ
ームスプリッタ２３に入射する。このとき、前記ビーム
スプリッタ２３はコリメートレンズ２２出射後の光束が
Ｐ偏光で入射するよう配置されているので上記ビームス
プリッタ２３に入射した光束は１００％透過し全反射ミ
ラー２４により反射され、λ／４板２５を透過したあと
、円偏光となり対物レンズ２６により円板状記録媒体２
７上に集光される。

次に、円板状記録媒体２７によって反射された光束は再
び前記対物レンズ２６を透過しλ／４板２５を透過し、
半導体レーザ２１出射後の光束となす方位角が９０°と
なる直線偏光となり全反射ミラー２４により反射され再
び偏光ビームスプリッタ２３に入射する。このとき、こ
の光束は上記スプリッタ２３に対してＳ偏光で入射する
ためその誘電体多層膜をコートした接合面により反射さ
れ、平凸レンズ２８が接合されたビームスプリッタ２９
に入射し集光されながら５０％が透過しその前方に配置
された受光素子３０により捕えられトラッキング制御お
よび高周波信号（以下ＲＦ倍信号検出を行なう。また、
前記ビームスフリツタ２９に入射した残り５０％の光量
はその誘電体多層膜をコートした接合面により平凸レン
ズ２８の光軸と直交する方向に反射し、その前方にある
ナイフ３１により光軸に直交する面内において、さらに
５０％が遮光され、受光素子３２により捕えられ差動出
力によりフォーカス制御を行なっている。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来の構成装置ではフォーカス制御をナイフエ
ッヂ法を用いビームスプリッタ２９から平凸レンズ２８
の光軸に直交する方向に出射した光束をナイフ３１によ
りその光軸に直交する面内において５０％の光量の遮光
を行ない、２分割以上の受光素子３２でその分割線がナ
イフ３１のエッヂと平行になるように捕え差動出力によ
り制御を行なっているが、外部からの衝撃等により受光
素子３２の差動出力にオフセットが生じた場合にはフォ
ーカス制御が不能になるばかりでなくフォーカス検出機
能を回復するためには、再度受光素子３２を調整しなけ
ればならない。

〔課題を解決するための手段〕

上記問題点を解決するため、本発明は偏光分割手段を用
いて、ナイフェツジ法による２系列のフォーカス検出系
の採用を可能にし、２つのナイフェツジを互いに直交す
る方向に設置している。

〔実施例〕

次に第１図、第２図、第３図および第４図を参照して本
発明の一実施例を説明する。半導体レーザ１を出射した
光束はコリメートレンズ２により平行光とされたあと、
前方に配置された偏光ビームスプリッタ３に入射する。

このとき、上記スプリッタ３はコリメートレンズ２出射
後の光束がＰ偏光で入射するよう配置されているのでそ
のスフリッタ３に入射した光束は１００％透過し全反射
ミラー４により反射され、λ／４板５を透過後円偏光と
なり対物レンズ６により円板状記録媒体７上に集光され
る。

次に、円板状記録媒体７によって反射された光束は再び
前記対物レンズ６を透過しλ／４板５を透過し、半導体
レーザ１出射後の光束となす方位角が９０°となる直線
偏光となり全反射ミラー４により反射され再び偏光ビー
ムスプリッタ３に入射するため、その誘電体多層膜をコ
ートした接合面により反射され、平凸レンズ８が接合さ
れたビームスプリッタ９に入射し収光されながら５０％
が透過しその前方に配置された受光素子１０により捕え
られ、トラッキング制御およびＲＦ信号検出を行なう。

前記ビームスプリッタ９に入射した残り５０％の光量は
、その誘電体多層膜をコートした接合面により平凸レン
ズ８の光軸と直交する方向に反射しサバール板１４に入
射する。このときこのサバール板１４は２つの複屈折体
のそれぞれの光学軸１６が互いに逆向きに接合してあり
かつ光学軸１６に対して斜めに入射するよう配置されて
いるので、第１の複屈折体に入射した光束は互いに直交
する２つの偏光となり、常光線に相当する光束はそのま
ま進行するが、異常光線に相当する光束はスネルの法則
に従わずに進行しそれぞれ第２の複屈折体に入射するが
光学軸１６が第１の複屈折体とは逆向きに配置しである
ため、第１の複屈折体で異常光線であった光束は常光線
となり、常光線であった光は異常光線となり斜めに進行
するので結果として、全く平行な２つの集光された光束
としてサバール板１４より出射する。

次に、サバール板１４より出射した２つの光束の１方は
平凸レンズ８の光軸と垂直な方向に、他方は平行な方向
にて第３図に示すようなナイフ１１によりその光軸に直
交する面内においてそれぞれ５０％ずつ遮光される。こ
のときナイフｌｌａは第２図に示すように予め平凸レン
ズ８の光軸に垂直な方向５０％遮光可能とするＶ型状の
溝が設けられた筐体１５に落し込まれるためナイフｌｌ
ａの調整は平凸レンズ８の光軸に平行な方向のみ行なえ
ばよい。

ナイフｌｌａにより遮光されなかったそれぞれ２つの光
束は前方の受光素子１２ａおよび１２ｂによりそれぞれ
受光されるが第４図に示すように前記受光素子１２ａは
ナイフｌｌａの平凸レンズ８の光軸に平行な方向に遮光
するエッヂと、前記受光素子１２ｂは平凸レンズ８の光
軸に垂直な方向に遮光するエッヂとにそれぞれその分割
線が一致するよう配置されてホルダ１３によって一体と
なって保持されているため、それぞれの差動出力により
２つのフォーカス検出系が形成される。この結果、外部
からの衝撃等により、例えば、前記ホルダ１３が平凸レ
ンズ８の光軸と垂直な方向に動いて受光素子１２ａでオ
フセットを生じても受光素子１２ｂでオフセットは発生
せず、逆にホルダ１３が平凸レンズ８の光軸の平行な方
向に動いて受光素子１２ｂでオフセットを生じても受光
素子１２ａではオフセットは発生しない。したがって、
どちらか一方のフォーカス検出系でオフセットが生じた
としても検出系を他方で行なうことにより正確な検出が
可能となる。

〔発明の効果〕

以上述べたように、本発明によれば、２つのフォーカス
検出系において、それぞれの受光素子の分割線の方向が
直交するように配置されたホルダを有することにより、
外部からの衝撃等によってどちらか一方のフォーカス検
出系にオフセットが発生しても他方のフォーカス検出系
によって代替することにより正確な検出ができるという
効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す図、第２図は本発明の
一実施例に用いる筐体の形状を説明するための図、第３
図は本発明の一実施例に用いるナイフの形状を説明する
ための図、第４図は本発明の一実施例に用いる受光素子
のホルダを説明するための図および第５図は従来の装置
を説明するための図である。 １・・・・・・半導体レーザ、２・・・・・・コリメー
トレンズ、３・・・・・・偏光ビームスプリッタ、４・
・・・・・全反射ミラー　訃・・・・・λ／４板、６・
・・・・・対物レンズ、７・・・・・・円板状記録媒体
、８・・・・・・平凸レンズ、９・・・・・・ビームス
プリッタ、１０．１２ａ、１２ｂ・・・・・・受光素子
、１１．ｌｌａ・・・・・・ナイフ、１３・・・・・・
ホルダ、１４・・・・・・サバール板、１５・・・・・
・筐体、１６・・・・・・光学軸。 代理人　弁理士　　内　原　　　晋 Ａノ 序 薗 ＄４渕

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）円板状記録媒体に各種情報を光学的に記録再生ま
   たは再生のみを行なう光学式情報記録装置に用いられ前
   記円板状記録媒体上における光スポットのピントずれを
   ナイフエッジ法により検出するための光学式ピックアッ
   プにおいて、前記ピントずれを検出するための光束を偏
   光分割により２つの光束に分割する手段と、これらの分
   割された光束をそれぞれ互いに直交する方向のナイフエ
   ッジを用いてナイフエッジ法により受光素子で検出する
   手段とを有することを特徴とする光学式ピックアップ。
2. （２）前記偏光分割は複屈折性結晶を用いたサバール板
   により行われることを特徴とする請求項（１）記載の光
   学式ピックアップ。