JPH02203281A - Ｔｅｍセル - Google Patents
ＴｅｍセルInfo
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- JPH02203281A JPH02203281A JP2266389A JP2266389A JPH02203281A JP H02203281 A JPH02203281 A JP H02203281A JP 2266389 A JP2266389 A JP 2266389A JP 2266389 A JP2266389 A JP 2266389A JP H02203281 A JPH02203281 A JP H02203281A
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- Japan
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- conductor
- center
- outer conductor
- space
- center conductor
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- Pending
Links
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- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 abstract description 2
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Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ＴＥＭセルに係り、特に、電子機器等の耐ノ
イズ特性試験、電界強度校正試験、感度試験等を行うた
めに用いて好適なＴＥＭセルに関する。
イズ特性試験、電界強度校正試験、感度試験等を行うた
めに用いて好適なＴＥＭセルに関する。
ＴＥＭセルに関する従来技術として、米国ＮＢＳ （Ｎ
ａｔｉｏｎａｌ Ｂｕｒｅａｕ ｏｆ ５ｔａｎ
ｄａｒｄｓ）において、電界強度校正の目的で、既知の
ＴＥＭ波の電界を正確に発生させるための装置として開
発されたＴＥＭセル（Ｔｒａｎｓｖｅｒｓ Ｅｌｅｃ
ｔｒｏｍａｇｎｅｔｉｃＣｅｌｌ）が知られている。こ
の装置は、電界強度校正の目的だけでなく、電子装置、
電子部品、受信機等のＥＭＩを除去し得る能力、すなわ
ち、電磁気感受性または電磁気保護レベルおよび電磁妨
害排除能力の試験用として広範囲に使用されている。
ａｔｉｏｎａｌ Ｂｕｒｅａｕ ｏｆ ５ｔａｎ
ｄａｒｄｓ）において、電界強度校正の目的で、既知の
ＴＥＭ波の電界を正確に発生させるための装置として開
発されたＴＥＭセル（Ｔｒａｎｓｖｅｒｓ Ｅｌｅｃ
ｔｒｏｍａｇｎｅｔｉｃＣｅｌｌ）が知られている。こ
の装置は、電界強度校正の目的だけでなく、電子装置、
電子部品、受信機等のＥＭＩを除去し得る能力、すなわ
ち、電磁気感受性または電磁気保護レベルおよび電磁妨
害排除能力の試験用として広範囲に使用されている。
第５図は前述の従来技術によるＴＥＭセルの一例を示す
斜視図である。第５図において、１は高周波信号源、２
は同軸コネクタ、３は外部導体、４は中心導体、５は中
心導体支持棒、６は供試品収容界、７は入出力および電
源用端子、８は供試品、９は供試品用絶縁台、１０は同
軸負荷、１１はＴＥＭセルである。
斜視図である。第５図において、１は高周波信号源、２
は同軸コネクタ、３は外部導体、４は中心導体、５は中
心導体支持棒、６は供試品収容界、７は入出力および電
源用端子、８は供試品、９は供試品用絶縁台、１０は同
軸負荷、１１はＴＥＭセルである。
第５図に示す従来技術によるＴＥＭセル１１は、外部導
体３および中心導体４により構成される空間内に均一な
電磁界を発生させるもので、導体によって囲まれた略矩
形状断面を有する中央部とその両端が四角錐状となるよ
うに形成されたテーパ部とにより構成される外部導体３
と、外部導体３により形成される空間の中心部に絶縁体
である中心導体支持棒５により保持され、外部導体３と
絶縁された状態でその両端が外部導体３の四角錐状部の
頂点部まで延びている中心導体４とにより構成されてい
る。そして、ＴＥＭセル１１の両頂点部には、高周波信
号源１および同軸負荷１０が接続されている。
体３および中心導体４により構成される空間内に均一な
電磁界を発生させるもので、導体によって囲まれた略矩
形状断面を有する中央部とその両端が四角錐状となるよ
うに形成されたテーパ部とにより構成される外部導体３
と、外部導体３により形成される空間の中心部に絶縁体
である中心導体支持棒５により保持され、外部導体３と
絶縁された状態でその両端が外部導体３の四角錐状部の
頂点部まで延びている中心導体４とにより構成されてい
る。そして、ＴＥＭセル１１の両頂点部には、高周波信
号源１および同軸負荷１０が接続されている。
高周波信号源１と外部導体３および中心導体４とは、同
軸コネクタ２を介して接続されており、その際、同軸ケ
ーブルの外部導体と図示の外部導体３とが接続され、同
軸ケーブルの中心導体と図示の中心導体４とが接続され
る。また、他の頂点に接続される同軸負荷１０は、外部
導体３と中心導体４との間に接続される。
軸コネクタ２を介して接続されており、その際、同軸ケ
ーブルの外部導体と図示の外部導体３とが接続され、同
軸ケーブルの中心導体と図示の中心導体４とが接続され
る。また、他の頂点に接続される同軸負荷１０は、外部
導体３と中心導体４との間に接続される。
外部導体３の側面には、供試品収容＠６、人出力および
電源用端子７が設けられており、試験すべき供試品８は
、この供試品収容界６から外部導体３と中心導体４との
間に構成される試験空間内に、該試験空間内に設けられ
た供試品用絶縁台９上にセットされる。また、この供試
品８は、貫通コネクタで構成される入出力および電源用
端子７を介して、必要な信号の入出力と電源の供給を受
ける。
電源用端子７が設けられており、試験すべき供試品８は
、この供試品収容界６から外部導体３と中心導体４との
間に構成される試験空間内に、該試験空間内に設けられ
た供試品用絶縁台９上にセットされる。また、この供試
品８は、貫通コネクタで構成される入出力および電源用
端子７を介して、必要な信号の入出力と電源の供給を受
ける。
前述のように構成される従来技術において、高周波信号
源１から高周波信号が与えられれば、この高周波信号は
、外部導体３と中心導体４とによりこれらの間に構成さ
れる空間に均一な電磁界を発生させて伝播し、同軸負荷
１０に吸収される。
源１から高周波信号が与えられれば、この高周波信号は
、外部導体３と中心導体４とによりこれらの間に構成さ
れる空間に均一な電磁界を発生させて伝播し、同軸負荷
１０に吸収される。
従って、外部導体３と中心導体４との間に構成される試
験空間内にセットされる供試品８は、所定の任意の大き
さを持つ均一な電磁界に曝されることになり、この状態
で供試品８を動作させれば、供試品８に対する前述した
各種試験を行うことができる。
験空間内にセットされる供試品８は、所定の任意の大き
さを持つ均一な電磁界に曝されることになり、この状態
で供試品８を動作させれば、供試品８に対する前述した
各種試験を行うことができる。
前記従来技術は、電子機器等の耐ノイズ特性試験、電界
強度校正試験、感度試験等を行うために用いて橿めて有
効なものであるが、中心導体４が外部導体３の中心部に
位置しているため、供試品８をセットする試験空間が、
外部導体３により構成される空間の１／２しか無く、空
間の利用効率が悪いという問題点を有している。すなわ
ち、前記従来技術は、供試品８が小さい場合にも装置を
小型化することができず、また、供試品８が大きい場合
には装置自体が極めて大きなものとなってしまうという
問題点を有している。
強度校正試験、感度試験等を行うために用いて橿めて有
効なものであるが、中心導体４が外部導体３の中心部に
位置しているため、供試品８をセットする試験空間が、
外部導体３により構成される空間の１／２しか無く、空
間の利用効率が悪いという問題点を有している。すなわ
ち、前記従来技術は、供試品８が小さい場合にも装置を
小型化することができず、また、供試品８が大きい場合
には装置自体が極めて大きなものとなってしまうという
問題点を有している。
本発明の目的は、前記従来技術の問題点を解決し、小型
で使い勝手の良いＴＥＭセルを提供することにある。
で使い勝手の良いＴＥＭセルを提供することにある。
（課題を解決するための手段）
本発明によれば、前記目的は、前記従来技術において、
前記中心導体４を外部導体３により形成される空間の中
心部に位置させるのでは無く、中心導体４を外部導体３
により形成される空間内で、略台形に形成し、この台形
に形成された中心導体４の内側部と外部導体３とにより
囲まれる空間を試験空間とし、この空間に電磁界を発生
させ、この試験空間内に供試品をセットするようにする
ことにより達成される。
前記中心導体４を外部導体３により形成される空間の中
心部に位置させるのでは無く、中心導体４を外部導体３
により形成される空間内で、略台形に形成し、この台形
に形成された中心導体４の内側部と外部導体３とにより
囲まれる空間を試験空間とし、この空間に電磁界を発生
させ、この試験空間内に供試品をセットするようにする
ことにより達成される。
中心導体を略台形に形成し、外部導体により形成される
空間内に配置することにより、台形に形成された中心導
体の内側部と外部導体とにより囲まれる試験空間を大き
くすることができ、従来技術と同一の大きさの装置であ
れば、より大型の供試品の試験を行うことが可能となり
、また、従来技術と同一の大きさの供試品の試験を行・
うのであれば、装置全体を小型に構成することができる
。
空間内に配置することにより、台形に形成された中心導
体の内側部と外部導体とにより囲まれる試験空間を大き
くすることができ、従来技術と同一の大きさの装置であ
れば、より大型の供試品の試験を行うことが可能となり
、また、従来技術と同一の大きさの供試品の試験を行・
うのであれば、装置全体を小型に構成することができる
。
以下、本発明によるＴＥＭセルの実施例を図面により詳
細に説明する。
細に説明する。
第１図は本発明の一実施例の構成を示す斜視図、第２図
（ａ）は正面図、第２図（ｂ）は側面図、第３図（ａ）
〜（ｄ）は電磁界発生状況を説明する図である。第１図
、第２図における図の符号は第４図の場合と同一である
。
（ａ）は正面図、第２図（ｂ）は側面図、第３図（ａ）
〜（ｄ）は電磁界発生状況を説明する図である。第１図
、第２図における図の符号は第４図の場合と同一である
。
第１図、第２図に示す本発明の一実施例において、外部
導体３の構成、外部導体３と中心導体４とを高周波信号
源１に接続する構成及び外部導体３と中心導体４とを同
軸負荷１０に接続する構成は、第４図により説明した従
来技術の場合と同様である。そして、本発明による中心
導体４は、外部導体３に囲まれて構成される空間内で、
上方に略台形を成すように形成され、この台形の上底部
が外部導体３の中央部の上部に位置するように、外部導
体３に囲まれて構成される空間内に配置されている。こ
の中心導体４は、外部導体３の側面及び上面との間に備
えられる絶縁体による中心導体支持棒５により支持され
ている。なお、外部導体３の上面との間に備えられる絶
縁体による中心導体支持棒５は、外部導体３の下面との
間に備えられるようにして、中心導体４を支持してもよ
く、また、これらの外部導体３及び中心導体４は、例え
ば、アルミ、銅等により構成されればよい。
導体３の構成、外部導体３と中心導体４とを高周波信号
源１に接続する構成及び外部導体３と中心導体４とを同
軸負荷１０に接続する構成は、第４図により説明した従
来技術の場合と同様である。そして、本発明による中心
導体４は、外部導体３に囲まれて構成される空間内で、
上方に略台形を成すように形成され、この台形の上底部
が外部導体３の中央部の上部に位置するように、外部導
体３に囲まれて構成される空間内に配置されている。こ
の中心導体４は、外部導体３の側面及び上面との間に備
えられる絶縁体による中心導体支持棒５により支持され
ている。なお、外部導体３の上面との間に備えられる絶
縁体による中心導体支持棒５は、外部導体３の下面との
間に備えられるようにして、中心導体４を支持してもよ
く、また、これらの外部導体３及び中心導体４は、例え
ば、アルミ、銅等により構成されればよい。
このような本発明の一実施例は、台形に形成される中心
導体４の下方と外部導体３の下面及び側面とによって大
きな試験空間を形成することが可能となり、この空間に
電磁界を発生させ、供試品８をセットすることにより、
供試品８の耐ノイズ特性試験、電界強度校正試験、感度
試験等を行うことができる。
導体４の下方と外部導体３の下面及び側面とによって大
きな試験空間を形成することが可能となり、この空間に
電磁界を発生させ、供試品８をセットすることにより、
供試品８の耐ノイズ特性試験、電界強度校正試験、感度
試験等を行うことができる。
次に、前述のように構成される本発明の実施例において
、高周波信号源１から信号を人力した場合に、供試品８
をセットする試験空間内の電磁界の分布状況を第３図に
より説明する。
、高周波信号源１から信号を人力した場合に、供試品８
をセットする試験空間内の電磁界の分布状況を第３図に
より説明する。
第３図（ａ）は、本発明の実施例における外部導体３の
中央部における断面寸法を１９Ｏｎ＋ｎ＋ｘ１９０１１
１ｉとし、幅１５０ｎ＋ｓｚの中心導体４を外部導体３
により構成される空間内に、中心導体４の台形の頂部が
外部導体３の底部から１５０ｍｎ＋となるように配置し
、これにより形成された試験空間内の電磁界測定点を示
すものであり、第３図（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）は、それ
ぞれ、高周波信号［１からの信号が、１００ＭＨｚ、５
００ＭＨｚ、１００１００Ｏである場合の前記測定点に
おける電磁界強度の相対値を示している。
中央部における断面寸法を１９Ｏｎ＋ｎ＋ｘ１９０１１
１ｉとし、幅１５０ｎ＋ｓｚの中心導体４を外部導体３
により構成される空間内に、中心導体４の台形の頂部が
外部導体３の底部から１５０ｍｎ＋となるように配置し
、これにより形成された試験空間内の電磁界測定点を示
すものであり、第３図（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）は、それ
ぞれ、高周波信号［１からの信号が、１００ＭＨｚ、５
００ＭＨｚ、１００１００Ｏである場合の前記測定点に
おける電磁界強度の相対値を示している。
この第３図（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）の測定結果かられか
るように、本発明の実施例によれば、供試品８をセット
する試験空間内における、電磁界強度分布を均一にする
ことができ、供試品８に対する再現性の高い、精密な各
種試験を行うことができる。
るように、本発明の実施例によれば、供試品８をセット
する試験空間内における、電磁界強度分布を均一にする
ことができ、供試品８に対する再現性の高い、精密な各
種試験を行うことができる。
第４図は本発明の他の実施例の構成を示す側面図である
。第４図において、１２は電波吸収体であり、他の符号
は、第１図の場合と同一である。
。第４図において、１２は電波吸収体であり、他の符号
は、第１図の場合と同一である。
この本発明の他の実施例は、前述した電磁界強度分布を
さらに均一にすることができるものであり、外部導体３
の底部の両側の少なくとも一方、すなわち、外部導体３
の略矩形状断面を有する部分と四角錐状に形成される部
分との結合部近傍の少なくとも一方に電波吸収体１２を
設けて構成されている。この電波吸収体１２は、例えば
、カーボン系電波吸収体等により板状に形成されたもの
であり、その高さ及び幅は、入力される信号の周波数、
強度等により適宜選定されるが、高さ寸法は、外部導体
３の底部から中心導体４の台形上底部名の高さより小さ
い寸法に設定される。
さらに均一にすることができるものであり、外部導体３
の底部の両側の少なくとも一方、すなわち、外部導体３
の略矩形状断面を有する部分と四角錐状に形成される部
分との結合部近傍の少なくとも一方に電波吸収体１２を
設けて構成されている。この電波吸収体１２は、例えば
、カーボン系電波吸収体等により板状に形成されたもの
であり、その高さ及び幅は、入力される信号の周波数、
強度等により適宜選定されるが、高さ寸法は、外部導体
３の底部から中心導体４の台形上底部名の高さより小さ
い寸法に設定される。
このような本発明の他の実施例によれば、第１図、第２
図により説明した本発明の前述の実施例による効果に加
え、さらに、供試品８をセットする試験空間内における
、電磁界強度分布をより一層均−にすることができ、供
試品８に対する極めて再現性の高い、精密な各種試験を
行うことができる。
図により説明した本発明の前述の実施例による効果に加
え、さらに、供試品８をセットする試験空間内における
、電磁界強度分布をより一層均−にすることができ、供
試品８に対する極めて再現性の高い、精密な各種試験を
行うことができる。
以上説明したように、本発明によれば、小型で有効空間
の大きなＴＥＭセルを提供することができ、電子機器等
の耐ノイズ特性試験、電界強度校正試験、感度試験等を
、高い再現性をもって精密に行うことができる。
の大きなＴＥＭセルを提供することができ、電子機器等
の耐ノイズ特性試験、電界強度校正試験、感度試験等を
、高い再現性をもって精密に行うことができる。
第１図は本発明の一実施例の構成を示す斜視図、第２図
（ａ）は正面図、第２図（ｂ）は側面図、第３図（ａ）
〜（ｄ）は電磁界発生状況を説明する図、第４図は本発
明の他の実施例の構成を示す側面図、第５図は従来技術
によるＴＥＭセルの構成を示す斜視図である。 １・・・・・・高周波信号源、２・・・・・・同軸コネ
クタ、３・・・・・・外部導体、４・・・・・・中心導
体、５・・・・・・中心導体支持棒、６・・・・・・供
試品収容扉、７・・・・・・入出力および電源用端子、
８・・・・・・供試品、９・・・・・・供試品用絶縁台
、１０・・・・・・同軸負荷、１１・・・・・・ＴＥＭ
セル、１２・・・・・・電波吸収体。 代理人 弁理士 弐 顕次部（外１名）第 図 ｒｏノ （ｂ） （ｂ） （煽５９゛ニ
（ａ）は正面図、第２図（ｂ）は側面図、第３図（ａ）
〜（ｄ）は電磁界発生状況を説明する図、第４図は本発
明の他の実施例の構成を示す側面図、第５図は従来技術
によるＴＥＭセルの構成を示す斜視図である。 １・・・・・・高周波信号源、２・・・・・・同軸コネ
クタ、３・・・・・・外部導体、４・・・・・・中心導
体、５・・・・・・中心導体支持棒、６・・・・・・供
試品収容扉、７・・・・・・入出力および電源用端子、
８・・・・・・供試品、９・・・・・・供試品用絶縁台
、１０・・・・・・同軸負荷、１１・・・・・・ＴＥＭ
セル、１２・・・・・・電波吸収体。 代理人 弁理士 弐 顕次部（外１名）第 図 ｒｏノ （ｂ） （ｂ） （煽５９゛ニ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、導体によつて囲まれ、その中央部が略矩形状断面を
有し、その両端が四角錐状となるようにテーパ部をもつ
て形成された外部導体と、該外部導体により形成される
空間内に配置される中心導体とを備えて構成されるＴＥ
Ｍセルにおいて、前記中心導体は、その中央部が略台形
に形成され、この台形の上底部が前記外部導体の中央部
の上部に位置することを特徴とするＴＥＭセル。 ２、前記外部導体の中央部とテーパ部との境界近傍の少
なくとも一方に、外部導体の底部より上方に延びる電波
吸収体を備えることを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載のＴＥＭセル。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2266389A JPH02203281A (ja) | 1989-02-02 | 1989-02-02 | Ｔｅｍセル |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2266389A JPH02203281A (ja) | 1989-02-02 | 1989-02-02 | Ｔｅｍセル |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02203281A true JPH02203281A (ja) | 1990-08-13 |
Family
ID=12089091
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2266389A Pending JPH02203281A (ja) | 1989-02-02 | 1989-02-02 | Ｔｅｍセル |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02203281A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62284271A (ja) * | 1986-05-20 | 1987-12-10 | ベ−・ベ−・ツエ−・アクチエンゲゼルシヤフト・ブラウン・ボヴエリ・ウント・コンパニイ | ピラミツド状に拡大するｔｅｍ導波管を有する、電子機器の電磁障害検査装置 |
| JPS642171B2 (ja) * | 1983-08-31 | 1989-01-13 | Nippon Kokan Kk |
-
1989
- 1989-02-02 JP JP2266389A patent/JPH02203281A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS642171B2 (ja) * | 1983-08-31 | 1989-01-13 | Nippon Kokan Kk | |
| JPS62284271A (ja) * | 1986-05-20 | 1987-12-10 | ベ−・ベ−・ツエ−・アクチエンゲゼルシヤフト・ブラウン・ボヴエリ・ウント・コンパニイ | ピラミツド状に拡大するｔｅｍ導波管を有する、電子機器の電磁障害検査装置 |
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