JPH02203285A - 電力ケーブル試験装置 - Google Patents
電力ケーブル試験装置Info
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- JPH02203285A JPH02203285A JP2077789A JP2077789A JPH02203285A JP H02203285 A JPH02203285 A JP H02203285A JP 2077789 A JP2077789 A JP 2077789A JP 2077789 A JP2077789 A JP 2077789A JP H02203285 A JPH02203285 A JP H02203285A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、電力ケーブルの性能評価として重要な耐電圧
特性、部分放電特性、ｊａｎδなどの測定に使用される
試験装置に関するものであるゆ〔従来技術〕 従来から電力ケーブルの開発試験あるいは出荷試験には
耐電圧試験、内部部分放電試験、ｔａｎδ渕定が実施さ
れている。特に架橋ポリエチレン絶縁ケーブル等の固体
絶縁ケーブルでは、絶縁体内部の欠陥（ボイド、異物等
）、絶縁体−半導電層界面の欠陥（突起、剥離等）の有
無を検査するための内部部分放電試験、主として絶縁体
、半導電層の使用材料の性質を反映するｔａｎ ６測定
は重要な試験項目である。もちろん油浸追録（○Ｆ）ケ
ーブルや管路気中ケーブルにおいても、油やＳＦ＆ガス
等の主絶縁部分のみならず、接続部、絶縁支持物等の複
合絶縁部分における欠陥の有無を検査する上でもこれら
の試験は重要である。
特性、部分放電特性、ｊａｎδなどの測定に使用される
試験装置に関するものであるゆ〔従来技術〕 従来から電力ケーブルの開発試験あるいは出荷試験には
耐電圧試験、内部部分放電試験、ｔａｎδ渕定が実施さ
れている。特に架橋ポリエチレン絶縁ケーブル等の固体
絶縁ケーブルでは、絶縁体内部の欠陥（ボイド、異物等
）、絶縁体−半導電層界面の欠陥（突起、剥離等）の有
無を検査するための内部部分放電試験、主として絶縁体
、半導電層の使用材料の性質を反映するｔａｎ ６測定
は重要な試験項目である。もちろん油浸追録（○Ｆ）ケ
ーブルや管路気中ケーブルにおいても、油やＳＦ＆ガス
等の主絶縁部分のみならず、接続部、絶縁支持物等の複
合絶縁部分における欠陥の有無を検査する上でもこれら
の試験は重要である。
従来、内部部分放電試験を実施する手法の一つとして、
ケーブルの電圧印加端と試験用変圧器との間にブロッキ
ングコイルと呼ばれるインダクタンスを挿入し、標準コ
ンデンサからの信号と供試ケーブルからのパルス性の信
号とを比較するという方法がある。この場合のプロワキ
ングコイルは、外部結線部や試験用変圧器等の気中側で
発生する放電ノイズを抑制するために設置される。また
気中からの放電（コロナ）は、ｔａｎδ測定時にも外部
雑音となり測定誤差を生じさせるため、プロンキングコ
イルによる対策はこの場合にも有効である。一方、標準
コンデンサはケーブルの試験前に系内に内部部分放電が
発生していないことを確かめるために設置されており、
標準コンデンサからの信号と供試ケーブルからの信号を
比較すると、雑音と部分放電信号を識別でき、供試ケー
ブルからの部分放電信号を明確に把握することが可能と
なる。
ケーブルの電圧印加端と試験用変圧器との間にブロッキ
ングコイルと呼ばれるインダクタンスを挿入し、標準コ
ンデンサからの信号と供試ケーブルからのパルス性の信
号とを比較するという方法がある。この場合のプロワキ
ングコイルは、外部結線部や試験用変圧器等の気中側で
発生する放電ノイズを抑制するために設置される。また
気中からの放電（コロナ）は、ｔａｎδ測定時にも外部
雑音となり測定誤差を生じさせるため、プロンキングコ
イルによる対策はこの場合にも有効である。一方、標準
コンデンサはケーブルの試験前に系内に内部部分放電が
発生していないことを確かめるために設置されており、
標準コンデンサからの信号と供試ケーブルからの信号を
比較すると、雑音と部分放電信号を識別でき、供試ケー
ブルからの部分放電信号を明確に把握することが可能と
なる。
このブロッキングコイルおよび標準コンデンサは、ケー
ブルの電圧印加端と試験用変圧器との間に設置したガス
絶縁試験用端末の一部として設置することができる。そ
の−例を図−２に示す。電源電圧調整機１１、試験用変
圧Ｂ１２によって発生した高電圧は、導体１３、気中終
端接続部１５、ガス中終端接続部１６、ブロッキングコ
イル１８、高圧導体２０、ガス中終端接続部２２等を介
して、供試電力ケーブル２６に印加される。高圧導体２
０の外周には同軸状に筒状電極３０が設置され、この両
者で標準コンデンサが構成されている。シールド１４、
エフ、１９．２１．２９は各々の箇所で部分放電を生じ
させないように局部的な電界集中を緩和させるためのも
のでア４．ｆｔ第２３．２５１．［護金具、２４ハｖ！
Ａ縁筒管、２７は電圧印加端側のガス絶縁試験容器、２
日は非電圧印加端側のガス絶縁試験容器である。試験容
器２７．２８内にはＳＦ＆ガス、チッ素ガス、混合ガス
等の絶縁性ガスが封入されている。
ブルの電圧印加端と試験用変圧器との間に設置したガス
絶縁試験用端末の一部として設置することができる。そ
の−例を図−２に示す。電源電圧調整機１１、試験用変
圧Ｂ１２によって発生した高電圧は、導体１３、気中終
端接続部１５、ガス中終端接続部１６、ブロッキングコ
イル１８、高圧導体２０、ガス中終端接続部２２等を介
して、供試電力ケーブル２６に印加される。高圧導体２
０の外周には同軸状に筒状電極３０が設置され、この両
者で標準コンデンサが構成されている。シールド１４、
エフ、１９．２１．２９は各々の箇所で部分放電を生じ
させないように局部的な電界集中を緩和させるためのも
のでア４．ｆｔ第２３．２５１．［護金具、２４ハｖ！
Ａ縁筒管、２７は電圧印加端側のガス絶縁試験容器、２
日は非電圧印加端側のガス絶縁試験容器である。試験容
器２７．２８内にはＳＦ＆ガス、チッ素ガス、混合ガス
等の絶縁性ガスが封入されている。
標準コンデンサの筒状電極３０は絶縁ブツシュ３１を通
して試験容器２７外の検出インピーダンス３２に接続さ
れている。また供試ケーブル２６のシースは絶縁筒管２
４によってガス絶縁試験容器２７と絶縁され、検出イン
ピーダンス３３に接続されている。
して試験容器２７外の検出インピーダンス３２に接続さ
れている。また供試ケーブル２６のシースは絶縁筒管２
４によってガス絶縁試験容器２７と絶縁され、検出イン
ピーダンス３３に接続されている。
このような構成において、供試ケーブル２６および標準
コンデンサから発せられた部分放電信号は、それぞれ検
出インピーダンス３２．３３によって検出され、部分放
電測定器３４により増幅、波形処理等がなされてオシロ
スコープ等により観測される。
コンデンサから発せられた部分放電信号は、それぞれ検
出インピーダンス３２．３３によって検出され、部分放
電測定器３４により増幅、波形処理等がなされてオシロ
スコープ等により観測される。
ところで標準コンデンサは、前にも述べたとおり、ケー
ブルより発生したパルスが雑音か信号（部分放電パルス
）かを比較したり、信号を外部に取り出したりするため
に使用されるが、その静電容量を利用して電圧検出器と
して使用することも可能である。それには、検出インピ
ーダンス２３として静電容量の大きなコンデンサを使用
し、そのコンデンサの両端に発生する電圧を測定してや
ればよい。つまり高圧導体２０と筒状電極３０からなる
標準コンデンサと、検出インピーダンス２３を構成する
コンデンサとで高電圧を分圧し、電圧測定を行うわけで
ある。
ブルより発生したパルスが雑音か信号（部分放電パルス
）かを比較したり、信号を外部に取り出したりするため
に使用されるが、その静電容量を利用して電圧検出器と
して使用することも可能である。それには、検出インピ
ーダンス２３として静電容量の大きなコンデンサを使用
し、そのコンデンサの両端に発生する電圧を測定してや
ればよい。つまり高圧導体２０と筒状電極３０からなる
標準コンデンサと、検出インピーダンス２３を構成する
コンデンサとで高電圧を分圧し、電圧測定を行うわけで
ある。
また標準コンデンサは、誘電損失がないため、ｔａｎδ
測定時の標準コンデンサとして使うことも可能である。
測定時の標準コンデンサとして使うことも可能である。
この場合は、検出インピーダンス３２．３３に流れる電
流の位相差を測定することにより、供試ケーブルのｔａ
ｎδを測定することになる。
流の位相差を測定することにより、供試ケーブルのｔａ
ｎδを測定することになる。
（課題〕
内部部分数！試験やｔａｎｄ測定を行う場合、前述のよ
うに、ブロンキングコイルや標準コンデンサを使用する
方法は確かに効果的である。しかし標準コンデンサ自体
が放電を起こしていては何にもならない。標準コンデン
サは供試ケーブルと直接接続されているため、標準コン
デンサ内での放電による雑音は、ブロッキングコイルで
は阻止することができず、すべて測定系に侵入してしま
うからである。特に前述のような筒状電極を用いる場合
は、その両端部の形状を放電が生じないような形にする
ことが重要である。そのためには両端部に大きな曲率を
持たせる必要があり、かつ表面の仕上げ程度もかなり滑
らかにする必要がある。
うに、ブロンキングコイルや標準コンデンサを使用する
方法は確かに効果的である。しかし標準コンデンサ自体
が放電を起こしていては何にもならない。標準コンデン
サは供試ケーブルと直接接続されているため、標準コン
デンサ内での放電による雑音は、ブロッキングコイルで
は阻止することができず、すべて測定系に侵入してしま
うからである。特に前述のような筒状電極を用いる場合
は、その両端部の形状を放電が生じないような形にする
ことが重要である。そのためには両端部に大きな曲率を
持たせる必要があり、かつ表面の仕上げ程度もかなり滑
らかにする必要がある。
したがって筒状電極はかなりコストの高いものとなる。
また筒状電極の両端部の形状を上記のようにしたとして
も、その両端部の静電容量の影響のため測定値に誤差が
生じやすい、これは、静電容量が電極両端部と試験容器
との位置関係および形状によって決まるためであり、静
電容量を設計どおりに仕上げるのは極めて困難である。
も、その両端部の静電容量の影響のため測定値に誤差が
生じやすい、これは、静電容量が電極両端部と試験容器
との位置関係および形状によって決まるためであり、静
電容量を設計どおりに仕上げるのは極めて困難である。
この影響を大きく受けるのは特に電圧測定のときである
。
。
またｔａｎδ測定時にも同様の問題がある。すなわち電
圧印加時には筒状電極両端部から、その部分の浮遊容量
に起因した微小電流が流れ込んだり、電極と接地の電位
差に起因した微小電流が流れ込んだりするが、ｔａｎδ
測定時にはこの微小電流も一緒に測定してしまうため誤
差が大きくなる傾向がある。特に架橋ポリエチレン絶縁
ケーブルは、ｔａｎδの値が小さいため、上記の誤差は
無視できないことが多い。
圧印加時には筒状電極両端部から、その部分の浮遊容量
に起因した微小電流が流れ込んだり、電極と接地の電位
差に起因した微小電流が流れ込んだりするが、ｔａｎδ
測定時にはこの微小電流も一緒に測定してしまうため誤
差が大きくなる傾向がある。特に架橋ポリエチレン絶縁
ケーブルは、ｔａｎδの値が小さいため、上記の誤差は
無視できないことが多い。
本発明は、上記のような課題を解決するため、ガス絶縁
試験容器内で、供試ケーブルより電圧印加側に、電気的
雑音を除去するためのブロッキングコイルを設けた電力
ケーブル試験装置において、上記ブロッキングコイルよ
り供試ケーブル側または供試ケーブルの非電圧印加端側
の導体と同軸状に静電容量型筒状電極を設け、この筒状
電極をその両端付近に設けた絶縁スリットを介して軸線
方向に電気的に三分割し、かつ各電極部分にはそれぞれ
ガス絶縁試験容器外に延びるリード線を接続して、ガス
絶縁試験容器外で各電極部分の接地、短絡を行えるよう
にしたことを特徴とするものである。
試験容器内で、供試ケーブルより電圧印加側に、電気的
雑音を除去するためのブロッキングコイルを設けた電力
ケーブル試験装置において、上記ブロッキングコイルよ
り供試ケーブル側または供試ケーブルの非電圧印加端側
の導体と同軸状に静電容量型筒状電極を設け、この筒状
電極をその両端付近に設けた絶縁スリットを介して軸線
方向に電気的に三分割し、かつ各電極部分にはそれぞれ
ガス絶縁試験容器外に延びるリード線を接続して、ガス
絶縁試験容器外で各電極部分の接地、短絡を行えるよう
にしたことを特徴とするものである。
上記の静電容量型筒状電極は、ｔａｎδによる損失を極
力小さくするため、その内部の導体とガスで絶縁されて
いることが望ましい。またその設置位置は、供試ケーブ
ルとブロッキングコイルの間のガス絶縁試験容器の内部
が望ましいが、供試ケーブルの非電圧印加端側（供試ケ
ーブルを複数本直列接続した場合はその接続箇所を含む
）に設けることもできる。
力小さくするため、その内部の導体とガスで絶縁されて
いることが望ましい。またその設置位置は、供試ケーブ
ルとブロッキングコイルの間のガス絶縁試験容器の内部
が望ましいが、供試ケーブルの非電圧印加端側（供試ケ
ーブルを複数本直列接続した場合はその接続箇所を含む
）に設けることもできる。
部分放電試験の際には、この筒状を橿は、供試ケーブル
からの信号を雑音と比較、区別するための標準コンデン
サ（カップリングコンデンサともいう）として使用され
る。このときは、両端の電極部分を接地に落とし、中央
の電極部分のみを測定系に接続することにより、両端部
での雑音は接地系に流れてしまい、中央電極部分の信号
のみが測定されることになる。従って両端部の曲率や表
面仕上げ等にそれほど気をつかう必要もなくなる。
からの信号を雑音と比較、区別するための標準コンデン
サ（カップリングコンデンサともいう）として使用され
る。このときは、両端の電極部分を接地に落とし、中央
の電極部分のみを測定系に接続することにより、両端部
での雑音は接地系に流れてしまい、中央電極部分の信号
のみが測定されることになる。従って両端部の曲率や表
面仕上げ等にそれほど気をつかう必要もなくなる。
電圧測定の際も同様の使い方をすることにより同様の効
果が得られる。中央電極部分はストレートであるので静
電容量を設計どおりに仕上げることができ、精度のよい
測定が可能となる。
果が得られる。中央電極部分はストレートであるので静
電容量を設計どおりに仕上げることができ、精度のよい
測定が可能となる。
さらにｔａｎδ測定の際には、両端の電極部分をｔａｎ
δ測定器のガード端子に、中央の電極部分を測定端子に
接続することにより高精度の測定が可能となる。その理
由は、ガードの電極と測定部の電極の電位を同じにし、
測定時に両端電極部分からの漏れ電流が測定部に流れ込
まないようにできるからである。この測定では中央電極
部分は無損失の標準コンデンサとして使用される。
δ測定器のガード端子に、中央の電極部分を測定端子に
接続することにより高精度の測定が可能となる。その理
由は、ガードの電極と測定部の電極の電位を同じにし、
測定時に両端電極部分からの漏れ電流が測定部に流れ込
まないようにできるからである。この測定では中央電極
部分は無損失の標準コンデンサとして使用される。
以上の対策はかなり有効である。しかし、それぞれの測
定精度は、測定インピーダンスや測定リードから侵入す
る外部雑音の影響を受けることも多い。この影響をカッ
トするには、それぞれの電流、電圧検出を光センサで行
い、その検出信号を光ファイバで伝送するようにすると
よい。このような信号検出、伝送方式と前記の電極構造
とを併用することにより、トータルとしての測定精度、
信転性をさらに高めることが可能となる。
定精度は、測定インピーダンスや測定リードから侵入す
る外部雑音の影響を受けることも多い。この影響をカッ
トするには、それぞれの電流、電圧検出を光センサで行
い、その検出信号を光ファイバで伝送するようにすると
よい。このような信号検出、伝送方式と前記の電極構造
とを併用することにより、トータルとしての測定精度、
信転性をさらに高めることが可能となる。
またｔａｎδは、筒状電極から接地に流れるｉｔ流と、
供試ケーブルから接地に流れる電流をそれぞれ検出し、
その位相差を検出することによっても測定できるが、こ
の場合も前記の電極構造と光センサによる電流検出、光
ファイバによる信号伝送を併用するとよい。
供試ケーブルから接地に流れる電流をそれぞれ検出し、
その位相差を検出することによっても測定できるが、こ
の場合も前記の電極構造と光センサによる電流検出、光
ファイバによる信号伝送を併用するとよい。
以下、本発明の一実施例を図−１を参照して詳細に説明
する。
する。
図−１において図−２と同一部分には同一符号が付しで
ある。図−１では本発明に関係する、試験装置の要部の
みを示したが、その他の構成は図−２と同様である。
ある。図−１では本発明に関係する、試験装置の要部の
みを示したが、その他の構成は図−２と同様である。
この試験装置では、ブロッキングコイルと供試ケーブル
の間の高圧導体２０の外周に同軸状に静電容量型筒状電
極３０が設けられ、この筒状電極３０はその両端付近に
設けられた絶縁スリット４１を介して中央電極部分３０
ａと両端電極部分３０ｂ・３０ｃに三分割されている。
の間の高圧導体２０の外周に同軸状に静電容量型筒状電
極３０が設けられ、この筒状電極３０はその両端付近に
設けられた絶縁スリット４１を介して中央電極部分３０
ａと両端電極部分３０ｂ・３０ｃに三分割されている。
絶縁スリット４１は、四フッ化エチレン樹脂製のボルト
４２で電極部分３０ａと３０ｂ１３０ａと３０ｃを隙間
をあけて連結することにより形成されている。中央電極
部分３０ａはＶ＠縁支持体４３によりガス絶縁試験容器
２７に支持されている。
４２で電極部分３０ａと３０ｂ１３０ａと３０ｃを隙間
をあけて連結することにより形成されている。中央電極
部分３０ａはＶ＠縁支持体４３によりガス絶縁試験容器
２７に支持されている。
なお耐サージ性の点からは上記ポルト４２を使用せずに
、各電極部分をガスで絶縁する構造とすることが好まし
い。その場合は両端電極部分３０ｂ・３０ｃも絶縁支持
体によりガス絶縁試験容器２７に支持させるようにすれ
ばよい。
、各電極部分をガスで絶縁する構造とすることが好まし
い。その場合は両端電極部分３０ｂ・３０ｃも絶縁支持
体によりガス絶縁試験容器２７に支持させるようにすれ
ばよい。
各電極部分３０ａ〜３０ｃにはそれぞれリード線４４ａ
〜４４ｃが接続され、これらのリード線４４ａ〜４４Ｃ
は気密性の絶縁ブツシュ３１を通してガス絶縁試験容器
２７外のハウジング４５内に導出されている。
〜４４ｃが接続され、これらのリード線４４ａ〜４４Ｃ
は気密性の絶縁ブツシュ３１を通してガス絶縁試験容器
２７外のハウジング４５内に導出されている。
リード線４４ａ〜４４ｃの端部は、このハウジング４５
内で、検出インピーダンス３２に接続したり、接地に落
としたり、相互に短絡したりできるようになっている。
内で、検出インピーダンス３２に接続したり、接地に落
としたり、相互に短絡したりできるようになっている。
ハウジング４５は電気的なシールド機能をもたせるため
金属製である。
金属製である。
検出インピーダンス３２には、この実施例の場合、光セ
ンサが用いられており、その検出信号は光ファイバ４６
により伝送されるようになっている。光ファイバ４６に
より伝送された検出信号はＯ／Ｅ変換器４７により電気
信号に変換され、増幅器４８により増幅されて、表示装
置４９に表示されるようになりでいる。光センサを使用
しない場合は、光ファイバ４６の代わりに電線が使用さ
れ、Ｏ／Ｅ変換器４７が省略される。
ンサが用いられており、その検出信号は光ファイバ４６
により伝送されるようになっている。光ファイバ４６に
より伝送された検出信号はＯ／Ｅ変換器４７により電気
信号に変換され、増幅器４８により増幅されて、表示装
置４９に表示されるようになりでいる。光センサを使用
しない場合は、光ファイバ４６の代わりに電線が使用さ
れ、Ｏ／Ｅ変換器４７が省略される。
検出インピーダンス３２は測定項目によって取り替えら
れる０部分放電測定の場合には、抵抗とコンデンサの並
列回路を使用することができる。電界測定の場合には、
分圧用のコンデンサと水晶ベースの光電界センサを使用
することができる。またｔａｎδ測定の場合には、中央
のリード線４４ａを単にブリッジ式の測定器につなぐ方
法もあるが、実際の測定では、電流により発生する磁界
をファラデー効果により検知する光電流センサを使用し
、好結果を得た。この場合、両端のリード線４０ｂ・４
０ｃは接地に落とすか、測定器のガード端子に接続され
る。
れる０部分放電測定の場合には、抵抗とコンデンサの並
列回路を使用することができる。電界測定の場合には、
分圧用のコンデンサと水晶ベースの光電界センサを使用
することができる。またｔａｎδ測定の場合には、中央
のリード線４４ａを単にブリッジ式の測定器につなぐ方
法もあるが、実際の測定では、電流により発生する磁界
をファラデー効果により検知する光電流センサを使用し
、好結果を得た。この場合、両端のリード線４０ｂ・４
０ｃは接地に落とすか、測定器のガード端子に接続され
る。
以上説明したように本発明によれば、三分割した筒状電
極を使用することにより試験装置内部で発生する雑音を
比較的低コストで効率よく低減することができ、測定精
度が向上すると共に、内部部分放電試験、耐電圧試験、
ｔａｎδ測定等の一連の試験を検出インピーダンスを換
えるだけで容易に行うことができる。
極を使用することにより試験装置内部で発生する雑音を
比較的低コストで効率よく低減することができ、測定精
度が向上すると共に、内部部分放電試験、耐電圧試験、
ｔａｎδ測定等の一連の試験を検出インピーダンスを換
えるだけで容易に行うことができる。
図−１は本発明の一実施例に係る電力ケーブル試験装置
の要部の断面図、図−２は従来の電力ケーブル試験装置
の全体構成を示す概念図である。 １２：試験用変圧器、１８ニブロツキングコイル、２０
：高圧導体、２６：供試型カケープル、２７・２８：ガ
ス絶縁試験容器、３０：静電容量型筒状電極、３０ａ：
中央電極部分、３０ｂ・３０ｃ：両側電極部分、３２：
＠出インピーダンス、４１＝絶縁スリツト、４４ａ −
４４ｂ −＋ｔ４ｃ ：リード線、４５：ハウジング、
４６：光ファイバ、４７：Ｏ／Ｅ変換器、４８：増幅器
、４９：表示装置。 手続ネ甫正書（自発） 平成元年 ３月７
の要部の断面図、図−２は従来の電力ケーブル試験装置
の全体構成を示す概念図である。 １２：試験用変圧器、１８ニブロツキングコイル、２０
：高圧導体、２６：供試型カケープル、２７・２８：ガ
ス絶縁試験容器、３０：静電容量型筒状電極、３０ａ：
中央電極部分、３０ｂ・３０ｃ：両側電極部分、３２：
＠出インピーダンス、４１＝絶縁スリツト、４４ａ −
４４ｂ −＋ｔ４ｃ ：リード線、４５：ハウジング、
４６：光ファイバ、４７：Ｏ／Ｅ変換器、４８：増幅器
、４９：表示装置。 手続ネ甫正書（自発） 平成元年 ３月７
Claims (1)
- １、ガス絶縁試験容器内で、供試ケーブルより電圧印加
側に、電気的雑音を除去するためのブロッキングコイル
を設けた電力ケーブル試験装置において、上記ブロッキ
ングコイルより供試ケーブル側または供試ケーブルの非
電圧印加端側の導体と同軸状に静電容量型筒状電極が設
けられ、この筒状電極はその両端付近に設けられた絶縁
スリットを介して軸線方向に電気的に三分割されており
、かつ各電極部分にはそれぞれガス絶縁試験容器外に延
びるリード線が接続され、ガス絶縁試験容器外で各電極
部分の接地、短絡が行えるようになっていることを特徴
とする電力ケーブル試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2077789A JP2628738B2 (ja) | 1989-02-01 | 1989-02-01 | 電力ケーブル試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2077789A JP2628738B2 (ja) | 1989-02-01 | 1989-02-01 | 電力ケーブル試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02203285A true JPH02203285A (ja) | 1990-08-13 |
| JP2628738B2 JP2628738B2 (ja) | 1997-07-09 |
Family
ID=12036578
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2077789A Expired - Fee Related JP2628738B2 (ja) | 1989-02-01 | 1989-02-01 | 電力ケーブル試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2628738B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002530681A (ja) * | 1998-11-23 | 2002-09-17 | イー． オートン、ハリー | 地下ケーブルにおける絶縁性低下を診断するための方法 |
-
1989
- 1989-02-01 JP JP2077789A patent/JP2628738B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002530681A (ja) * | 1998-11-23 | 2002-09-17 | イー． オートン、ハリー | 地下ケーブルにおける絶縁性低下を診断するための方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2628738B2 (ja) | 1997-07-09 |
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