JPH02206187A - 半導体レーザ駆動回路 - Google Patents
半導体レーザ駆動回路Info
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- JPH02206187A JPH02206187A JP1026911A JP2691189A JPH02206187A JP H02206187 A JPH02206187 A JP H02206187A JP 1026911 A JP1026911 A JP 1026911A JP 2691189 A JP2691189 A JP 2691189A JP H02206187 A JPH02206187 A JP H02206187A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は半導体レーザの光を絞った微小スポットを用い
て光デイスク上に情報を記録したり、あるいは記録した
光デイスク上の情報を消去・再生する光デイスク装置の
なかで、特に半導体レーザ駆動口、路に関するものであ
る。
て光デイスク上に情報を記録したり、あるいは記録した
光デイスク上の情報を消去・再生する光デイスク装置の
なかで、特に半導体レーザ駆動口、路に関するものであ
る。
従来の技術
第３図に従来の半導体レーザの駆動回路及び異常検出回
路のブロック図を示す。１は半導体レーザで、その光出
力を２のピンダイオードが受は光出力に応じたピン電流
Ｉｐを発生する。３のピン電流Ｉｐは４の電流・電圧変
換器で５のモニター電圧ＶＭに変換される。７は差動ア
ンプでモニター電圧ＶＮと光出力を設定する６の基準電
圧ＶＰＬとの差をとって、９の駆動電圧Ｖ、を出力する
。８はアナログスイッチで１０のアンドゲートの出力が
”ＨＩＧＨ”の時に開いて、７の差動アンプを働かせる
。アンドゲート１０の出力が”ＬＯＷ”の時はアナログ
スイッチは閉じて、７の差動アンプの負入力はグランド
になり出力ｖｌｌは正の電源電圧になり、半導体レーザ
１の電流が流れない。アンドゲート１０の入力は、１つ
は１１の発光命令ＬＤＯＮで、もう１つは異常検出する
フリップフロップ（以降ＦＦと呼ぶ）１８の出力である
。発光命令ＬＤＯＮは半導体レーザ１を発光させる時に
”ＨＩＧＨ”になる。ＦＦ１８は半導体レーザ１の光出
力が正常の時は”ＨＩＧＨ”で異常の時に”ＬＯＷ”に
なる。１２は半導体レーザ１に流す電流を与える電流源
のトランジスタで、駆動電圧Ｖ、によって電流を制御し
ている。１３は負荷抵抗ＲＬｌ １４は半導体レーザ１
に流れる駆動電流ＩＬである。１５は電源電圧Ｖｃｃで
ある。以降の説明ではＶｃｃは具体的に＋１２ボルト、
ＲＬは３０オームとする。１６は駆動電圧ＶＤと１７の
スライス電圧Ｖ ｓ Ｌとを比較する比較器である。ス
ライス電圧Ｖ８【は半導体レーザ１の光出力が定格を越
える付近の駆動電流ＩＬに対応して設定する。比較器１
６の出力はＦＦ１８に入り、ラッチされる。
路のブロック図を示す。１は半導体レーザで、その光出
力を２のピンダイオードが受は光出力に応じたピン電流
Ｉｐを発生する。３のピン電流Ｉｐは４の電流・電圧変
換器で５のモニター電圧ＶＭに変換される。７は差動ア
ンプでモニター電圧ＶＮと光出力を設定する６の基準電
圧ＶＰＬとの差をとって、９の駆動電圧Ｖ、を出力する
。８はアナログスイッチで１０のアンドゲートの出力が
”ＨＩＧＨ”の時に開いて、７の差動アンプを働かせる
。アンドゲート１０の出力が”ＬＯＷ”の時はアナログ
スイッチは閉じて、７の差動アンプの負入力はグランド
になり出力ｖｌｌは正の電源電圧になり、半導体レーザ
１の電流が流れない。アンドゲート１０の入力は、１つ
は１１の発光命令ＬＤＯＮで、もう１つは異常検出する
フリップフロップ（以降ＦＦと呼ぶ）１８の出力である
。発光命令ＬＤＯＮは半導体レーザ１を発光させる時に
”ＨＩＧＨ”になる。ＦＦ１８は半導体レーザ１の光出
力が正常の時は”ＨＩＧＨ”で異常の時に”ＬＯＷ”に
なる。１２は半導体レーザ１に流す電流を与える電流源
のトランジスタで、駆動電圧Ｖ、によって電流を制御し
ている。１３は負荷抵抗ＲＬｌ １４は半導体レーザ１
に流れる駆動電流ＩＬである。１５は電源電圧Ｖｃｃで
ある。以降の説明ではＶｃｃは具体的に＋１２ボルト、
ＲＬは３０オームとする。１６は駆動電圧ＶＤと１７の
スライス電圧Ｖ ｓ Ｌとを比較する比較器である。ス
ライス電圧Ｖ８【は半導体レーザ１の光出力が定格を越
える付近の駆動電流ＩＬに対応して設定する。比較器１
６の出力はＦＦ１８に入り、ラッチされる。
第４図を用いて従来例の動作を説明する。まず（ａ）の
半導体レーザの発光命令ＬＤＯＮが’ＨＩＧＨ”になる
と（Ｃ）のアンドゲート１０の出力が”ＨＩＧＨ”にな
り、差動アンプ７が動作する。
半導体レーザの発光命令ＬＤＯＮが’ＨＩＧＨ”になる
と（Ｃ）のアンドゲート１０の出力が”ＨＩＧＨ”にな
り、差動アンプ７が動作する。
すると、差動アンプ７の出力である（ｅ）の駆動電圧Ｖ
ｏが電源電圧１２ボルトから９ボルトに下がり、半導体
レーザ１に駆動電流ＩＬが流れ、（ｆ）のように光出力
がＯ（ｍＷ）からＰｐＬ（ｍＷ）に設定される。この時
の駆動電流ＩＬはトランジスタ１２のペースエミッタ間
電圧を０．８ボルトとすれば、（１２−９−０，８）／
３０＝８０ｍＡである。
ｏが電源電圧１２ボルトから９ボルトに下がり、半導体
レーザ１に駆動電流ＩＬが流れ、（ｆ）のように光出力
がＯ（ｍＷ）からＰｐＬ（ｍＷ）に設定される。この時
の駆動電流ＩＬはトランジスタ１２のペースエミッタ間
電圧を０．８ボルトとすれば、（１２−９−０，８）／
３０＝８０ｍＡである。
（ｂ）のＦＦ出力は比較器１Ｂの出力が”ＨＩＧＨ”か
ら”ＬＯＷ”に変化しない限り”ＨＩＧＨ”になってい
る。
ら”ＬＯＷ”に変化しない限り”ＨＩＧＨ”になってい
る。
ここで、比較器１６のスライス電圧Ｖ Ｓ Ｌは、半導
体レーザ１の駆動電流工、を２２０ｍＡとして検出する
ものとすれば、Ｖ８Ｌ＝１２−３０＊２２０ｍＡ−０．
６＝６ボルトに設定する。今、回路に異常が発生して半
導体レーザの駆動電流ＩＬが増加すると、それにつれて
（ｅ）の駆動電圧ｖＩｌが下がる。
体レーザ１の駆動電流工、を２２０ｍＡとして検出する
ものとすれば、Ｖ８Ｌ＝１２−３０＊２２０ｍＡ−０．
６＝６ボルトに設定する。今、回路に異常が発生して半
導体レーザの駆動電流ＩＬが増加すると、それにつれて
（ｅ）の駆動電圧ｖＩｌが下がる。
正常動作時に９ボルトあったｖｌｌがスライス電圧Ｖ＄
Ｌ＝６ボルトと等しくなると、比較器１６が動作して（
ｄ）の比較器出力が”ＨＩＧ）Ｉ”から”ＬＯＷ”に落
ちる。比較器１６の出力をＦＦ１８がラッチして（ｂ）
のＦＦ出力がＨＩＧＨ”から”ＬＯＷ”になる。ＦＦ１
８の出力は１つはアントゲ−） １０、もう１つはシス
テムのほうに導かれる。
Ｌ＝６ボルトと等しくなると、比較器１６が動作して（
ｄ）の比較器出力が”ＨＩＧ）Ｉ”から”ＬＯＷ”に落
ちる。比較器１６の出力をＦＦ１８がラッチして（ｂ）
のＦＦ出力がＨＩＧＨ”から”ＬＯＷ”になる。ＦＦ１
８の出力は１つはアントゲ−） １０、もう１つはシス
テムのほうに導かれる。
（ｂ）のＦＦ出力が”ＬＯＷｌ′になると（ｃ）のＡＮ
Ｄ出力が”ＬＯＷ”になり、差動アンプ７の出力である
駆動電圧Ｖｎが電源電圧になって半導体レーザに駆動電
流ＩＬが流れなくなり半導体レーザ１の発光が停止する
。ＦＦ１８のシステムへの出力は、システムに異常を知
らせて、発光命令ＬＤＯＮをアクティブ状態の”ＨＩＧ
Ｈ”からノンアクティブの”ＬＯＷ”に落とす。以上の
ように、半導体レーザ１の駆動電圧Ｖｎが比較器１Ｂに
設定した固定のスライス電圧Ｖ ８ Ｌ以下になったの
を検出して、半導体レーザ１の発光を停止している。
Ｄ出力が”ＬＯＷ”になり、差動アンプ７の出力である
駆動電圧Ｖｎが電源電圧になって半導体レーザに駆動電
流ＩＬが流れなくなり半導体レーザ１の発光が停止する
。ＦＦ１８のシステムへの出力は、システムに異常を知
らせて、発光命令ＬＤＯＮをアクティブ状態の”ＨＩＧ
Ｈ”からノンアクティブの”ＬＯＷ”に落とす。以上の
ように、半導体レーザ１の駆動電圧Ｖｎが比較器１Ｂに
設定した固定のスライス電圧Ｖ ８ Ｌ以下になったの
を検出して、半導体レーザ１の発光を停止している。
発明が解決しようとする課題
しかしながら上記のような構成では、比較器１６のスラ
イス電圧Ｖ Ｓ Ｌが固定であるため、半導体レーザ１
を取り替えたりすると駆動電流Ｉ’Ｌ及び駆動電圧ＶＤ
がレーザー毎に大きく異なり、確実な最大光出力の検出
が出来ないという問題点を有していた。第５図を用いて
この問題点を説明する。第５図にＬＤＩとＬＤ２の２つ
の半導体レーザの駆動電流Ｉと光出力Ｐの関係を示す。
イス電圧Ｖ Ｓ Ｌが固定であるため、半導体レーザ１
を取り替えたりすると駆動電流Ｉ’Ｌ及び駆動電圧ＶＤ
がレーザー毎に大きく異なり、確実な最大光出力の検出
が出来ないという問題点を有していた。第５図を用いて
この問題点を説明する。第５図にＬＤＩとＬＤ２の２つ
の半導体レーザの駆動電流Ｉと光出力Ｐの関係を示す。
光出力でＰＭＩＩｋは最大定格の光出力である。光出力
ＰＰＬは正常動作時の光出力である。半導体レーザＬＤ
Ｉにおいて、光出力ＰＰ１時の駆動電流をＩ ＩＮ
Ｐ ｎｏｘの時の駆動電流をＩ ＳＬＩとする。光出力
の異常を検知する比較器１６のスライス電圧ｖｓＬは、
駆動電流がｌ５ＬＩの時の駆動電圧ＶＤに設定されると
する。
ＰＰＬは正常動作時の光出力である。半導体レーザＬＤ
Ｉにおいて、光出力ＰＰ１時の駆動電流をＩ ＩＮ
Ｐ ｎｏｘの時の駆動電流をＩ ＳＬＩとする。光出力
の異常を検知する比較器１６のスライス電圧ｖｓＬは、
駆動電流がｌ５ＬＩの時の駆動電圧ＶＤに設定されると
する。
次に、半導体レーザＬＤ１と特性が異なる半導体レーザ
ＬＤ、２を駆動−した場合を考える。正常光出力ＰＰ１
時の駆動電流をＩＱＮ Ｐｒ＋’ｊ）１時の駆動電流
をｌ５Ｌ２とする。図から分かるように半導体レーザＬ
Ｄ２の正常時の駆動電流工２が、半導体レーザしＤｌの
最大定格出力時の駆動電流Ｉ ＳＬ＋よりも大きい。異
常を検出する比較器１６のスライス電圧Ｖ＄Ｌは半導体
レーザＬＤＩの駆動電流ｌ５ＬＩに対応しているため、
この状態で半導体レーザＬＤ２を駆動した場合は正常動
作時でも比較器１６が働いてしまい、半導体レーザ１の
発光を停止することになる。
ＬＤ、２を駆動−した場合を考える。正常光出力ＰＰ１
時の駆動電流をＩＱＮ Ｐｒ＋’ｊ）１時の駆動電流
をｌ５Ｌ２とする。図から分かるように半導体レーザＬ
Ｄ２の正常時の駆動電流工２が、半導体レーザしＤｌの
最大定格出力時の駆動電流Ｉ ＳＬ＋よりも大きい。異
常を検出する比較器１６のスライス電圧Ｖ＄Ｌは半導体
レーザＬＤＩの駆動電流ｌ５ＬＩに対応しているため、
この状態で半導体レーザＬＤ２を駆動した場合は正常動
作時でも比較器１６が働いてしまい、半導体レーザ１の
発光を停止することになる。
逆に、比較器１６のスライス電圧Ｖ Ｓ Ｌを半導体レ
ーザＬＤ２の最大定格の光出力時の駆動電流■ＧＬ２に
対応して設定すると、半導体レーザＬＤＩの光出力が最
大定格の駆動電流Ｉ ＊ＬＩになってもまったく異常が
検出されない。比較器１６が異常を検出するのは、半導
体レーザＬＤＩの光出力が最大定格Ｐ ｎ＋ｘの数倍に
なった時であり、この時には半導体レーザＬＤＩは既に
破壊されており、異常検出の意味がない。
ーザＬＤ２の最大定格の光出力時の駆動電流■ＧＬ２に
対応して設定すると、半導体レーザＬＤＩの光出力が最
大定格の駆動電流Ｉ ＊ＬＩになってもまったく異常が
検出されない。比較器１６が異常を検出するのは、半導
体レーザＬＤＩの光出力が最大定格Ｐ ｎ＋ｘの数倍に
なった時であり、この時には半導体レーザＬＤＩは既に
破壊されており、異常検出の意味がない。
以上のように、光出力の異常を検出する比較器１６のス
ライス電圧Ｖ Ｓ Ｌが固定であると、半導体レーザ１
の駆動電流と光出力の特性が変わった時に、光出力の異
常を確実に検出できないという問題点を有していた。さ
らに最悪の場合は半導体レーザの破壊と共に光デイスク
上の大切な記録データを破壊してしまう。
ライス電圧Ｖ Ｓ Ｌが固定であると、半導体レーザ１
の駆動電流と光出力の特性が変わった時に、光出力の異
常を確実に検出できないという問題点を有していた。さ
らに最悪の場合は半導体レーザの破壊と共に光デイスク
上の大切な記録データを破壊してしまう。
また、半導体レーザが同一であったとしても温度や経時
変化により駆動電流は２倍はどに大きく変化するため、
最大定格の光出力時の駆動電流を固定のスライス電圧で
確実に検出することは困難である。
変化により駆動電流は２倍はどに大きく変化するため、
最大定格の光出力時の駆動電流を固定のスライス電圧で
確実に検出することは困難である。
本発明はかかる点に鑑み、半導体レーザの光出力が最大
定格を越える異常を確実に検出して、半導体レーザの発
光を停止し、半導体レーザの破壊及び光デイスク上の記
録データの破壊を防ぐ半導体レーザ駆動回路を提供する
ことを目的とする。
定格を越える異常を確実に検出して、半導体レーザの発
光を停止し、半導体レーザの破壊及び光デイスク上の記
録データの破壊を防ぐ半導体レーザ駆動回路を提供する
ことを目的とする。
課題を解決するための手段
本発明は、半導体レーザの光を受けて光出力に応じた電
流を発生する光受光器と、前記光受光器の電流をモニタ
ーして半導体レーザの光出力が所定の値になるよう前記
半導体レーザに電流を流す駆動段を制御する制御回路と
、前記駆動段の電圧あるいは電流と所定の比較電圧ある
いは電流とを比較する比較器と、前記所定の比較電圧あ
るいは電流を可変する可変手段と、前記比較器の出力に
応じて前記半導体レーザの駆動を停止する停止手段とを
備えた半導体レーザ駆動回路である。
流を発生する光受光器と、前記光受光器の電流をモニタ
ーして半導体レーザの光出力が所定の値になるよう前記
半導体レーザに電流を流す駆動段を制御する制御回路と
、前記駆動段の電圧あるいは電流と所定の比較電圧ある
いは電流とを比較する比較器と、前記所定の比較電圧あ
るいは電流を可変する可変手段と、前記比較器の出力に
応じて前記半導体レーザの駆動を停止する停止手段とを
備えた半導体レーザ駆動回路である。
作用
本発明は前記した構成により、半導体レーザの駆動電流
と光出力の関係に応じて、駆動段の電圧あるいは電流を
検出する比較器の比較電圧あるいは電流を常に光出力が
最大定格近辺になる駆動電流に対応するよう可変するこ
とにより、半導体レーザの光出力が最大定格近辺になっ
たことを確実に検出し、半導体レーザの発光を停止して
、半導体レーザの破壊及び光デイスク上の記録データの
破壊を防ぐ。
と光出力の関係に応じて、駆動段の電圧あるいは電流を
検出する比較器の比較電圧あるいは電流を常に光出力が
最大定格近辺になる駆動電流に対応するよう可変するこ
とにより、半導体レーザの光出力が最大定格近辺になっ
たことを確実に検出し、半導体レーザの発光を停止して
、半導体レーザの破壊及び光デイスク上の記録データの
破壊を防ぐ。
実施例
第１図は本発明の実施例における半導体レーザ駆動回路
のブロック図を示す。簡単のため、先に説明した従来例
の第３図に追加した部分を説明する。２０はＡＤ変換器
でアナログ信号であるモニター電圧ＶＮをＡＤ変換して
２１のディジタル信号Ｖ＾１に変換する。２２はＣＰＵ
で半導体レーザ駆動回路の全般的な制御を行なう。Ｖ＾
Ｄは半導体レーザ１の光出力を設定するためＣＰＵ２２
に取り込まれる。２３はＣＰＵ２２からの光出力を設定
するディジタルのデータを保持するラッチである。
のブロック図を示す。簡単のため、先に説明した従来例
の第３図に追加した部分を説明する。２０はＡＤ変換器
でアナログ信号であるモニター電圧ＶＮをＡＤ変換して
２１のディジタル信号Ｖ＾１に変換する。２２はＣＰＵ
で半導体レーザ駆動回路の全般的な制御を行なう。Ｖ＾
Ｄは半導体レーザ１の光出力を設定するためＣＰＵ２２
に取り込まれる。２３はＣＰＵ２２からの光出力を設定
するディジタルのデータを保持するラッチである。
２４のＤＡＩはラッチ２３の出力をアナログ電圧ｖ１１
に変換するＤＡ変換器である。アナログ電圧ＶＤはトラ
ンジスタ１２を駆動する駆動電圧で、半導体レーザ１に
流す駆動電流ＩＬを設定する。２５はＣＰＵ２２からの
比較器１６の基準となる所定の比較電圧（以下、スライ
ス電圧と記す）Ｖｓｃを設定するディジタルのデータを
保持するラッチである。２６のＤＡ２はラッチ２５の出
力をアナログ電圧Ｖ Ｓ Ｌに変換するＤＡ変換器であ
る。比較器１６の出力は、２２のＣＰＵに入り、光出力
の異常を検出したら、ＣＰＵが半導体レーザ１の発光を
停止するよう働く。
に変換するＤＡ変換器である。アナログ電圧ＶＤはトラ
ンジスタ１２を駆動する駆動電圧で、半導体レーザ１に
流す駆動電流ＩＬを設定する。２５はＣＰＵ２２からの
比較器１６の基準となる所定の比較電圧（以下、スライ
ス電圧と記す）Ｖｓｃを設定するディジタルのデータを
保持するラッチである。２６のＤＡ２はラッチ２５の出
力をアナログ電圧Ｖ Ｓ Ｌに変換するＤＡ変換器であ
る。比較器１６の出力は、２２のＣＰＵに入り、光出力
の異常を検出したら、ＣＰＵが半導体レーザ１の発光を
停止するよう働く。
以上のように構成された本実施例の半導体レーザ駆動回
路について、第２図を用いてその動作を説明する。第２
図は本実施例で駆動する半導体レーザの駆動電流と光出
力の関係を示す。
路について、第２図を用いてその動作を説明する。第２
図は本実施例で駆動する半導体レーザの駆動電流と光出
力の関係を示す。
本実施例の回路では、半導体レーザの光出力に対する駆
動電流の傾きから２つのテスト電流Ｉｎ＋とＩｎ２と、
ピン電流により測定したその時の光出力ＰＭＩとＰｌ＋
２とをＣＰＵに取り込むことで計算する。具体的には、
テスト電流Ｉｎ＋を駆動電流として駆動段に出力する。
動電流の傾きから２つのテスト電流Ｉｎ＋とＩｎ２と、
ピン電流により測定したその時の光出力ＰＭＩとＰｌ＋
２とをＣＰＵに取り込むことで計算する。具体的には、
テスト電流Ｉｎ＋を駆動電流として駆動段に出力する。
この時の光出力Ｐｎ＋をピン電流により測定し、ＡＤ変
換してＣＰＵに取り込む。次にテスト電流Ｉｉ２を駆動
電流として駆動段に出力する。この時の光出力Ｐｎｐを
ピン電流により測定し、ＡＤ変換してＣＰＵ２２に取り
込む。
換してＣＰＵに取り込む。次にテスト電流Ｉｉ２を駆動
電流として駆動段に出力する。この時の光出力Ｐｎｐを
ピン電流により測定し、ＡＤ変換してＣＰＵ２２に取り
込む。
以上のデータから、半導体レーザ１の駆動電流に対する
光出力の傾きＳＬＰが ＳＬＰ＝（ｐＨ２−ＰＭＩ） ／ （Ｉｌ＋２− ＩＮ
Ｉ）としてＣＰＵ２２で計算される。
光出力の傾きＳＬＰが ＳＬＰ＝（ｐＨ２−ＰＭＩ） ／ （Ｉｌ＋２− ＩＮ
Ｉ）としてＣＰＵ２２で計算される。
傾きＳＬＰが得られた後、正常動作時の光出力ＰＰＬの
駆動電流ＩＰＬが ＝１１− ＩＰＬ＝ＩＭｌ！＋ （Ｐｐｔ ｐＨ２） ／ＳＬＰ
としてＣＰＵ２２で計算して求まる。駆動電流ＩＰＬに
対応する駆動電圧ＶｎのデータがＣＰＵ２２からラッチ
２３に出力される。
駆動電流ＩＰＬが ＝１１− ＩＰＬ＝ＩＭｌ！＋ （Ｐｐｔ ｐＨ２） ／ＳＬＰ
としてＣＰＵ２２で計算して求まる。駆動電流ＩＰＬに
対応する駆動電圧ＶｎのデータがＣＰＵ２２からラッチ
２３に出力される。
次に、最大定格の光出力ＰＩＩＩＩＸの時の駆動電流Ｉ
れが同様に計算される。
れが同様に計算される。
Ｉ ＄Ｌ＝ Ｉ Ｎ２＋ （ＰｎＯｘ ｐＨ２） ／
Ｓ Ｌ Ｐ駆動電流ＩＳＬに対応する比較器１６のス
ライス電圧Ｖ ＠ＬのデータがＣＰＵ２２から２５のう
・ソチに出力される。
Ｓ Ｌ Ｐ駆動電流ＩＳＬに対応する比較器１６のス
ライス電圧Ｖ ＠ＬのデータがＣＰＵ２２から２５のう
・ソチに出力される。
以上のように本実施例によれば、半導体レーザ１の光出
力と駆動電流との傾きＳＬＰを測定し、半導体レーザ１
の光出力が最大定格Ｐｒ＋ｏｘになる駆動電流１１１Ｌ
を計算して、比較器１６のスライス電圧Ｖ Ｓ Ｌを設
定することにより、半導体レーザ１の光出力が最大定格
を越えたことを確実に検出して、半導体レーザ１の発光
を停止し、半導体レーザ１の破壊及び光デイスク上の記
録データの破壊を防ぐことができる。
力と駆動電流との傾きＳＬＰを測定し、半導体レーザ１
の光出力が最大定格Ｐｒ＋ｏｘになる駆動電流１１１Ｌ
を計算して、比較器１６のスライス電圧Ｖ Ｓ Ｌを設
定することにより、半導体レーザ１の光出力が最大定格
を越えたことを確実に検出して、半導体レーザ１の発光
を停止し、半導体レーザ１の破壊及び光デイスク上の記
録データの破壊を防ぐことができる。
なお、実施例において比較器１６のスライス電圧Ｖ Ｓ
Ｌを設定するタイミングは明記しなかったが、これは
光デスク装置の電源立ち上げ時、あるいはある所定の周
期毎に設定すればよい。また光デイスク装置が記録ある
いは消去動作に入る時、光出力の設定を行なうので、そ
の際に比較器１６のスライス電圧ＶＳＬの設定を行なっ
ても良い。
Ｌを設定するタイミングは明記しなかったが、これは
光デスク装置の電源立ち上げ時、あるいはある所定の周
期毎に設定すればよい。また光デイスク装置が記録ある
いは消去動作に入る時、光出力の設定を行なうので、そ
の際に比較器１６のスライス電圧ＶＳＬの設定を行なっ
ても良い。
さらに、駆動電圧のかわりに駆動電流を検出し、この検
出した電流と基準となる所定の比較電流とを比較器によ
り比較する構成としてもよいことはいうまでもない。
出した電流と基準となる所定の比較電流とを比較器によ
り比較する構成としてもよいことはいうまでもない。
発明の詳細
な説明したように、本発明によれば、半導体レーザの駆
動電流と光出力の関係に応じて、駆動段の電圧あるいは
電流を検出する比較器の比較電圧あるいは電流を光出力
が最大定格近辺になる駆動電流に対応するよう可変する
可変手段を設は不ことにより、半導体レーザの光出力が
最大定格になったことを確実に検出し、半導体レーザの
発光を停止して、半導体レーザの破壊及び光デイスク上
の記録データの破壊を防ぐことがでと、そめ実用的効果
は大きい。
動電流と光出力の関係に応じて、駆動段の電圧あるいは
電流を検出する比較器の比較電圧あるいは電流を光出力
が最大定格近辺になる駆動電流に対応するよう可変する
可変手段を設は不ことにより、半導体レーザの光出力が
最大定格になったことを確実に検出し、半導体レーザの
発光を停止して、半導体レーザの破壊及び光デイスク上
の記録データの破壊を防ぐことがでと、そめ実用的効果
は大きい。
第１図は本発明における実施例の半導体レーザ駆動回路
のブロック図、第２図は同実施例の半導体レーザーの駆
動電流と光出力の関係を示す曲線図、第３図は従来例の
半導体レーザ駆動回路のブロック図、第４図は同従来例
の動作波形図、第５図は同従来例の問題点を説明するた
めの半導体レーザーの駆動電流と光出力の関係を示す曲
線図である。 １・・・半導体レーザ、 ２・・・ピンダイオード、
４・・・電流電圧変換器、 １２・・・トランジスタ
、１６・・・比較器、 ２０・・・ＡＤ変換器、
２２・・・ＣＰＵ、 ２３・・・ラッチ、 ２４
・・・ＤＡ変換器、２５・・・ラッチ、 ２６・・・
ＤＡ変換器。
のブロック図、第２図は同実施例の半導体レーザーの駆
動電流と光出力の関係を示す曲線図、第３図は従来例の
半導体レーザ駆動回路のブロック図、第４図は同従来例
の動作波形図、第５図は同従来例の問題点を説明するた
めの半導体レーザーの駆動電流と光出力の関係を示す曲
線図である。 １・・・半導体レーザ、 ２・・・ピンダイオード、
４・・・電流電圧変換器、 １２・・・トランジスタ
、１６・・・比較器、 ２０・・・ＡＤ変換器、
２２・・・ＣＰＵ、 ２３・・・ラッチ、 ２４
・・・ＤＡ変換器、２５・・・ラッチ、 ２６・・・
ＤＡ変換器。
Claims (3)
- （１）半導体レーザの光を受けて光出力に応じた電流を
発生する光受光器と、前記光受光器の電流をモニターし
て前記半導体レーザの光出力が所定の値になるよう前記
半導体レーザに電流を流す駆動段を制御する制御回路と
、前記駆動段の電圧あるいは電流と所定の比較電圧ある
いは電流とを比較する比較器と、前記所定の比較電圧あ
るいは電流を可変する可変手段と、前記比較器の出力に
応じて前記半導体レーザの駆動を停止する停止手段とを
備えたことを特徴とする半導体レーザ駆動回路。 - （２）所定の比較電圧あるいは電流は、半導体レーザの
光出力が最大定格近辺になる時の駆動電流に対応させた
ことを特徴とする請求項１記載の半導体レーザ駆動回路
。 - （３）可変手段は、半導体レーザの駆動電流に対する光
出力の傾きを測定して、測定した傾きから所望の光出力
の駆動電流を計算・設定する回路により、光出力の最大
定格近辺の駆動電流から所定の比較電圧あるいは電流を
計算して出力し、比較器の入力とすることを特徴とする
請求項１記載の半導体レーザ駆動回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1026911A JPH02206187A (ja) | 1989-02-06 | 1989-02-06 | 半導体レーザ駆動回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1026911A JPH02206187A (ja) | 1989-02-06 | 1989-02-06 | 半導体レーザ駆動回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02206187A true JPH02206187A (ja) | 1990-08-15 |
Family
ID=12206400
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1026911A Pending JPH02206187A (ja) | 1989-02-06 | 1989-02-06 | 半導体レーザ駆動回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02206187A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008545224A (ja) * | 2005-07-07 | 2008-12-11 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 光記録ドライブの最大の利用可能な書込み電力の予測 |
-
1989
- 1989-02-06 JP JP1026911A patent/JPH02206187A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008545224A (ja) * | 2005-07-07 | 2008-12-11 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 光記録ドライブの最大の利用可能な書込み電力の予測 |
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