JPH02206785A - 反射周波数測距計 - Google Patents
反射周波数測距計Info
- Publication number
- JPH02206785A JPH02206785A JP2786789A JP2786789A JPH02206785A JP H02206785 A JPH02206785 A JP H02206785A JP 2786789 A JP2786789 A JP 2786789A JP 2786789 A JP2786789 A JP 2786789A JP H02206785 A JPH02206785 A JP H02206785A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- optical pulse
- detector
- pulse generator
- distance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 26
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 210000004556 brain Anatomy 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光パルスを用いた精度の高い距離測定器に関す
る。更に詳しくは光パルスを発生させる光パルス発生器
（１）、該光パルスの測定対象物による反射光を検出す
る検出器（２）、該検出時に検出器（２）から発生する
検出パルスをカウントすると共に新たに光パルス発生器
（１）に光パルスの発生を指令し、系の計時測定を行な
う制御部（３）から成ることを特徴とする反射周波数測
距計に関する。
る。更に詳しくは光パルスを発生させる光パルス発生器
（１）、該光パルスの測定対象物による反射光を検出す
る検出器（２）、該検出時に検出器（２）から発生する
検出パルスをカウントすると共に新たに光パルス発生器
（１）に光パルスの発生を指令し、系の計時測定を行な
う制御部（３）から成ることを特徴とする反射周波数測
距計に関する。
従来から物と物との間の距離をはかるのに種々の方法が
用いられてきた。この中で最も精度が高くかつ応用範囲
の広い方法として電磁パルスの測定対象物からの反射時
間を計測して、それから距離を測定する方法や、移動物
体に鏡を取り付けて、物体の移動と共に生じる光の干渉
をカウントして距離を測定する方法あるいは三角測量と
同様に、物体の距離が変ると角度も変ることを利用した
り、物体の移動する軸に目盛（マグネット、光等）を打
っておいてこれをカウントする方法などがとられてきた
。
用いられてきた。この中で最も精度が高くかつ応用範囲
の広い方法として電磁パルスの測定対象物からの反射時
間を計測して、それから距離を測定する方法や、移動物
体に鏡を取り付けて、物体の移動と共に生じる光の干渉
をカウントして距離を測定する方法あるいは三角測量と
同様に、物体の距離が変ると角度も変ることを利用した
り、物体の移動する軸に目盛（マグネット、光等）を打
っておいてこれをカウントする方法などがとられてきた
。
しかしながら、技術の進歩に伴なって、更に高い精度が
要求される現在では、これらの方法では、要求される充
分な精度が得られないばかりか、光軸が固定されないと
測定出来ないとか物体の傾きに影響されるなど種々の欠
点が指摘されるようになってきた。
要求される現在では、これらの方法では、要求される充
分な精度が得られないばかりか、光軸が固定されないと
測定出来ないとか物体の傾きに影響されるなど種々の欠
点が指摘されるようになってきた。
本発明は前述したような従来方法の欠点を改善すべく鋭
意検討の結果完成するに至ったもので、次に図面により
本発明を例示するが本発明はこれにより何ら制限を受け
るものではない。
意検討の結果完成するに至ったもので、次に図面により
本発明を例示するが本発明はこれにより何ら制限を受け
るものではない。
本発明に係る測距計の構成とその原理は第１図に示す通
りである。
りである。
即ち、本発明に係る測距計（４）は光パルス発生器（１
）と検出器（２）と制御部（３Ｉから成る。制御部（３
）は本測距計（４）の頭脳部であり、系の全体を制御し
、系の計時測定全行なうための計時装置および後述する
検出パルスをカウントするパルスカウンター等がもうゆ
られる。
）と検出器（２）と制御部（３Ｉから成る。制御部（３
）は本測距計（４）の頭脳部であり、系の全体を制御し
、系の計時測定全行なうための計時装置および後述する
検出パルスをカウントするパルスカウンター等がもうゆ
られる。
まず、メインスイッチを入れ、あらかじめ定めた測定時
間をタイマーにセットした後、キイから測定開始の指示
を与えると、制御部（３）から光パルス発生器（１）に
光パルスの発生を指示する指示パルスを送る。
間をタイマーにセットした後、キイから測定開始の指示
を与えると、制御部（３）から光パルス発生器（１）に
光パルスの発生を指示する指示パルスを送る。
光パルス発生器（１１はこの指示にしたがって光パルス
を測定物（５）に向って発射する。該パルスは測定対象
物（５）によって反射され、これを検出器（２）で検出
する。この検出時に検出器（２）から検出パルスが発生
し、これは制御部（３）に伝達され、ここでカウントさ
れる。
を測定物（５）に向って発射する。該パルスは測定対象
物（５）によって反射され、これを検出器（２）で検出
する。この検出時に検出器（２）から検出パルスが発生
し、これは制御部（３）に伝達され、ここでカウントさ
れる。
制御部（３）では検出パルスに基づいて、新たな光パル
スの発生指示パルスを光パルス発生器（１）Ｋ与えて、
この操作をあらかじめ定められた測定時間繰り返して行
なう。
スの発生指示パルスを光パルス発生器（１）Ｋ与えて、
この操作をあらかじめ定められた測定時間繰り返して行
なう。
光パルス発生器（１）および検出器（２）と、測定対象
物（５）との間の距離を１１光速をＣとすると、光パル
ス発臣器（１）から発射された光パルスが測定対象物（
４）に反射されて検出器（２）に到達して検出パルスを
発生するまでの時間（ｔｌはｔ＝互となる。検出器（２
）、制御部（３）および光パルス発生器（１）、即ち、
本発明に係る測距計（４）内の各操作に要する時間をΔ
ｔとすると、検出器（２）から発生する検出パルスの数
は、単位時間当り」−一三ｔ＋Δｔ ２Ｉ！ 個となる。
物（５）との間の距離を１１光速をＣとすると、光パル
ス発臣器（１）から発射された光パルスが測定対象物（
４）に反射されて検出器（２）に到達して検出パルスを
発生するまでの時間（ｔｌはｔ＝互となる。検出器（２
）、制御部（３）および光パルス発生器（１）、即ち、
本発明に係る測距計（４）内の各操作に要する時間をΔ
ｔとすると、検出器（２）から発生する検出パルスの数
は、単位時間当り」−一三ｔ＋Δｔ ２Ｉ！ 個となる。
この場合△ｔは使用する装置によって特定の値となるの
で、これは容易に補正できる。
で、これは容易に補正できる。
したがってあらかじめセットした測定時間に発生した検
出パルスのａを測定することにより所望の測定対象物（
５）までの距離を精度よく測定することができる。
出パルスのａを測定することにより所望の測定対象物（
５）までの距離を精度よく測定することができる。
この場合、検出パルス数の表示だけではなく、これから
所望の距離を演算する演算機構を内蔵しておき、これを
表示することが望ましい。
所望の距離を演算する演算機構を内蔵しておき、これを
表示することが望ましい。
制御部（３）全構成する計時測定および検出パルスのカ
ウントには従来使用、されるタイマー等の計時装置とパ
ルスカウンターが使用できる。又、検出器（２）には、
フォトマルチプライヤ−、アバランシェフォトダイオー
ド、ピンフォトダイオード等が適している。
ウントには従来使用、されるタイマー等の計時装置とパ
ルスカウンターが使用できる。又、検出器（２）には、
フォトマルチプライヤ−、アバランシェフォトダイオー
ド、ピンフォトダイオード等が適している。
更に光パルス発生器（１）としては、レーザーダイオー
ドとＬＥＤが最も適している。
ドとＬＥＤが最も適している。
このように本発明に係る測距計（４）は取り扱いが簡易
で従来装置のように光軸を固定する必要もなく、又測定
対象物の傾きにも何ら影響をうけることなくきわめて精
度よく距離を測定できる。
で従来装置のように光軸を固定する必要もなく、又測定
対象物の傾きにも何ら影響をうけることなくきわめて精
度よく距離を測定できる。
本発明に係る測距計を用いた場合の精度は、検出パルス
数が多いほど高いので、測定すべき距離と必要とされる
測定精度に応じて、測定時間を調整することが望ましい
。
数が多いほど高いので、測定すべき距離と必要とされる
測定精度に応じて、測定時間を調整することが望ましい
。
第１図′は本発明に係る測距計（４）の構成測定の原理
を示す概要図である。
を示す概要図である。
Claims (1)
- 光パルスを発生させる光パルス発生器（１）、該光パル
スの測定対象物による反射光を検出する検出器（２）、
該検出時に検出器（２）から発生する検出パルスをカウ
ントすると共に新たに光パルス発生器（１）に光パルス
の発生を指令し、系の計時測定を行なう制御部（３）か
ら成ることを特徴とする反射周波数測距計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2786789A JPH02206785A (ja) | 1989-02-07 | 1989-02-07 | 反射周波数測距計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2786789A JPH02206785A (ja) | 1989-02-07 | 1989-02-07 | 反射周波数測距計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02206785A true JPH02206785A (ja) | 1990-08-16 |
Family
ID=12232851
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2786789A Pending JPH02206785A (ja) | 1989-02-07 | 1989-02-07 | 反射周波数測距計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02206785A (ja) |
-
1989
- 1989-02-07 JP JP2786789A patent/JPH02206785A/ja active Pending
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