JPH0221009B2 - - Google Patents
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- JPH0221009B2 JPH0221009B2 JP54076278A JP7627879A JPH0221009B2 JP H0221009 B2 JPH0221009 B2 JP H0221009B2 JP 54076278 A JP54076278 A JP 54076278A JP 7627879 A JP7627879 A JP 7627879A JP H0221009 B2 JPH0221009 B2 JP H0221009B2
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- transistor
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- current
- power supply
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 101100396994 Drosophila melanogaster Inos gene Proteins 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is DC
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/26—Current mirrors
- G05F3/262—Current mirrors using field-effect transistors only
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Control Of Electrical Variables (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、定電流回路特に、相補型MOS型ト
ランジスタを用いた定電流回路に関する。
ランジスタを用いた定電流回路に関する。
一般に複数の素子を一つの半導体基板上に集積
回路として形成し、更にそれらを時計や卓上計算
機に組み込み、乾電池等で動作させている。この
場合においては、その消費電力はできるだけ少な
くする方が、乾電池の動作時間を伸ばすことにな
り非常に好ましい。集積回路内部に定電流源を内
蔵した集積回路においても、その定電流回路自体
で消費される電流をできるだけ少なくすることが
望まれる。更に、乾電池を電源として用いた場合
には、時間の経過とともに乾電池の電圧は大きく
変動する。従つて、定電流回路としては、電源電
圧が変動した場合にも一定の電流値が得られるこ
とが望まれる。又、MOS型トランジスタの閾値
電圧のバラツキに対しても電流値が変動しないこ
とが望まれる。この閾値電圧は、その製造の違い
により大きく変化するのが常である。
回路として形成し、更にそれらを時計や卓上計算
機に組み込み、乾電池等で動作させている。この
場合においては、その消費電力はできるだけ少な
くする方が、乾電池の動作時間を伸ばすことにな
り非常に好ましい。集積回路内部に定電流源を内
蔵した集積回路においても、その定電流回路自体
で消費される電流をできるだけ少なくすることが
望まれる。更に、乾電池を電源として用いた場合
には、時間の経過とともに乾電池の電圧は大きく
変動する。従つて、定電流回路としては、電源電
圧が変動した場合にも一定の電流値が得られるこ
とが望まれる。又、MOS型トランジスタの閾値
電圧のバラツキに対しても電流値が変動しないこ
とが望まれる。この閾値電圧は、その製造の違い
により大きく変化するのが常である。
従来の定電流回路につき図面を参照して説明す
る。
る。
第1図の回路においては、電源電圧が一定の場
合には、一定の電流を供給する。即ち、電源電圧
が一定の場合には、PチヤンネルMOS型トラン
ジスタ1のドレイン端は定電流となり、Nチヤン
ネルMOS型トランジスタ2,3のミラー回路に
より、トランジスタ3には一定のドレイン電流が
流れ、負荷4に流れる電流も一定に保持される。
しかしながら、電源端子5,6に印加されている
電源電圧が変動した場合には、トランジスタ1の
ソース・ゲート間電圧も変動し、ドレイン電流が
変動する。このドレイン電流の変動は、トランジ
スタ2のドレイン側電位及びゲート電位の変動を
引きおこし、トランジスタ2,3には、それぞれ
のトランジスタの(チヤンネル幅)/(チヤンネ
ル長)によつて定まるデイメンジヨンSに比例し
た電流が流れることになるので、負荷4を流れる
電流もまた電源電圧と共に変動することになる。
更にトランジスタ素子製造工程における閾値電圧
のバラツキは避けることができず、一つの半導体
基板上に多数のトランジスタを集積化させた場合
においては、設定された電流値が個別の半導体基
板ごとに閾値電圧のバラツキに応じて変動すると
いう欠点がある。
合には、一定の電流を供給する。即ち、電源電圧
が一定の場合には、PチヤンネルMOS型トラン
ジスタ1のドレイン端は定電流となり、Nチヤン
ネルMOS型トランジスタ2,3のミラー回路に
より、トランジスタ3には一定のドレイン電流が
流れ、負荷4に流れる電流も一定に保持される。
しかしながら、電源端子5,6に印加されている
電源電圧が変動した場合には、トランジスタ1の
ソース・ゲート間電圧も変動し、ドレイン電流が
変動する。このドレイン電流の変動は、トランジ
スタ2のドレイン側電位及びゲート電位の変動を
引きおこし、トランジスタ2,3には、それぞれ
のトランジスタの(チヤンネル幅)/(チヤンネ
ル長)によつて定まるデイメンジヨンSに比例し
た電流が流れることになるので、負荷4を流れる
電流もまた電源電圧と共に変動することになる。
更にトランジスタ素子製造工程における閾値電圧
のバラツキは避けることができず、一つの半導体
基板上に多数のトランジスタを集積化させた場合
においては、設定された電流値が個別の半導体基
板ごとに閾値電圧のバラツキに応じて変動すると
いう欠点がある。
第2図の回路は、第1図のトランジスタ1とし
てデプレツシヨン型MOS型トランジスタを使用
した回路である。この回路においては、電源電圧
が変動した場合、トランジスタ1のソース・ゲー
ト間電圧は0のままであるのでドレイン電流の変
動はほとんどなく、トランジスタ3のドレイン電
流もほとんど変化しない。しかしながら、トラン
ジスタ1の製造時における閾値電圧の変動は、そ
のままトランジスタ特性の個別の変化となり、設
定電流値からの変動として表われてくる。更に、
通常の相補型のMOS型集積回路においては、エ
ンハンスメント型のトランジスタを使用している
ので、1素子のみをデプレツシヨン型のトランジ
スタにすることは、その1素子の製造のための製
造工程が特別に増加することになり、好ましくな
く、コストの増加をもまねくことになる。
てデプレツシヨン型MOS型トランジスタを使用
した回路である。この回路においては、電源電圧
が変動した場合、トランジスタ1のソース・ゲー
ト間電圧は0のままであるのでドレイン電流の変
動はほとんどなく、トランジスタ3のドレイン電
流もほとんど変化しない。しかしながら、トラン
ジスタ1の製造時における閾値電圧の変動は、そ
のままトランジスタ特性の個別の変化となり、設
定電流値からの変動として表われてくる。更に、
通常の相補型のMOS型集積回路においては、エ
ンハンスメント型のトランジスタを使用している
ので、1素子のみをデプレツシヨン型のトランジ
スタにすることは、その1素子の製造のための製
造工程が特別に増加することになり、好ましくな
く、コストの増加をもまねくことになる。
第3図は、第1及び第2図の回路におけるトラ
ンジスタ1を、抵抗7に置きかえた回路である。
従つて、トランジスタの閾値電圧の変動に対して
は、設定した電流値は変動しないが、電源電圧が
変化した場合には、抵抗7に流れる電流値は線型
に変化し、ミラー回路により、トランジスタ3及
び負荷4を流れる電流値もそれに応じて変化する
ことになる。
ンジスタ1を、抵抗7に置きかえた回路である。
従つて、トランジスタの閾値電圧の変動に対して
は、設定した電流値は変動しないが、電源電圧が
変化した場合には、抵抗7に流れる電流値は線型
に変化し、ミラー回路により、トランジスタ3及
び負荷4を流れる電流値もそれに応じて変化する
ことになる。
更に第4図は、これらを改良した定電流回路で
あるが、下記に説明するように、この回路におい
ても電源電圧の変動に対し、電流値を常に一定に
保持することは困難である。図の回路は、電源端
子間に直列に接続されたPチヤンネルMOS型ト
ランジスタ8及びNチヤンネルMOS型トランジ
スタ9と、これらトランジスタのゲートを共通に
接続したPチヤンネルMOS型トランジスタ10
及びNチヤンネルMOS型トランジスタ11及び、
これらと直列に接続された抵抗12とからなり、
トランジスタ9,11と共にミラー回路を構成す
るNチヤンネルMOS型トランジスタ13には設
定された定電流が流れ、負荷14にも定電流が流
れる。ここで、トランジスタ8,9,10,1
1,13のデイメンジヨンSを、それぞれSP1,
SN1,SP2,SN2,SN3とし、回路が平衡に達し
たときのトランジスタ8,10,13のドレイン
電流を、それぞれI1,I2,I3とする。そして、回
路の平衡点からの変動分に対するループゲインを
求める。平衡点における電流値は以下の様にな
る。
あるが、下記に説明するように、この回路におい
ても電源電圧の変動に対し、電流値を常に一定に
保持することは困難である。図の回路は、電源端
子間に直列に接続されたPチヤンネルMOS型ト
ランジスタ8及びNチヤンネルMOS型トランジ
スタ9と、これらトランジスタのゲートを共通に
接続したPチヤンネルMOS型トランジスタ10
及びNチヤンネルMOS型トランジスタ11及び、
これらと直列に接続された抵抗12とからなり、
トランジスタ9,11と共にミラー回路を構成す
るNチヤンネルMOS型トランジスタ13には設
定された定電流が流れ、負荷14にも定電流が流
れる。ここで、トランジスタ8,9,10,1
1,13のデイメンジヨンSを、それぞれSP1,
SN1,SP2,SN2,SN3とし、回路が平衡に達し
たときのトランジスタ8,10,13のドレイン
電流を、それぞれI1,I2,I3とする。そして、回
路の平衡点からの変動分に対するループゲインを
求める。平衡点における電流値は以下の様にな
る。
I1=Imo(SN1)eKV1
I2=Imo(SN2)eK(V1-I2R)
Imo;定数
e;自然対数の底
K;定数
V1;トランジスタ9のドレイン電圧
R;抵抗12の値
又、トランジスタ8,10はミラー回路を構成
しているので、I1とI2との間には、 I2=(SP2)/(SP1)・I1 I2=1/K・R・loge((SN2) /(SN1)・(SP1)/SP2)) なる関係がある。
しているので、I1とI2との間には、 I2=(SP2)/(SP1)・I1 I2=1/K・R・loge((SN2) /(SN1)・(SP1)/SP2)) なる関係がある。
トランジスタ8,9の接続点の電圧が外乱等に
より平衡点の電圧V1からΔV1増加した時、トラ
ンジスタ8,9を流れる電流値の平衡点における
電流値I1からの変動分をそれぞれΔI′1,ΔI1とし
てΔI′1/ΔI1を電流に対する閉回路のループゲイ
ンとして求める。このときトランジスタ10,1
1を流れる電流値のI2からの変動分をΔI2として、
それぞれを求める。
より平衡点の電圧V1からΔV1増加した時、トラ
ンジスタ8,9を流れる電流値の平衡点における
電流値I1からの変動分をそれぞれΔI′1,ΔI1とし
てΔI′1/ΔI1を電流に対する閉回路のループゲイ
ンとして求める。このときトランジスタ10,1
1を流れる電流値のI2からの変動分をΔI2として、
それぞれを求める。
ΔI1=Ino(SN1)eK(V1+〓V1)−I1
一次近似をすると、
ΔI1≒I1・KΔV1
ΔI2=Ino(SN2)eK(V1+〓V1-I2R-〓I2R)−I2≒I2K
(ΔV1−ΔI2R) 従つて ΔI2=KΔV1I2/(1+KI2R) ΔI′1=(SP1)/(SP2)・ΔI2 ΔI′1/ΔI1=(SP1)/(SP2)(KΔVI2/1+KI
2R)1/I1KΔV1=1/1+loge(SN2/SN1・SP1/SP2
) となり、SN2/SN1・SP1/SP2>1のとき、
ΔI′1/ΔI1<1となり、ノイズは、ループを一周
する間に減衰するが、原理的には0にすることは
できない。尚、ここでInoは定数である。
(ΔV1−ΔI2R) 従つて ΔI2=KΔV1I2/(1+KI2R) ΔI′1=(SP1)/(SP2)・ΔI2 ΔI′1/ΔI1=(SP1)/(SP2)(KΔVI2/1+KI
2R)1/I1KΔV1=1/1+loge(SN2/SN1・SP1/SP2
) となり、SN2/SN1・SP1/SP2>1のとき、
ΔI′1/ΔI1<1となり、ノイズは、ループを一周
する間に減衰するが、原理的には0にすることは
できない。尚、ここでInoは定数である。
以上説明するように、従来の回路においては、
いずれも、安定な定電流を供給することはできな
かつた。
いずれも、安定な定電流を供給することはできな
かつた。
本発明は、上記従来の回路におけるような欠点
を解消した定電流回路を供給することを目的とす
る。
を解消した定電流回路を供給することを目的とす
る。
本発明の他の目的は、電源電圧の変動にも依存
せず、一定の電流を得ることができる定電流回路
を供給することである。
せず、一定の電流を得ることができる定電流回路
を供給することである。
本発明の他の目的は、通常のエンハンスメント
型トランジスタ素子と抵抗とだけから構成するこ
とができる定電流回路を供給することを目的とす
る 本発明の他の目的は、通常の相補型MOS集積
回路製造技術のみで製造でき、特別な工程を経ず
に、安定な定電流回路を供給することである。
型トランジスタ素子と抵抗とだけから構成するこ
とができる定電流回路を供給することを目的とす
る 本発明の他の目的は、通常の相補型MOS集積
回路製造技術のみで製造でき、特別な工程を経ず
に、安定な定電流回路を供給することである。
本発明を図面を参照して説明する。
第5図は、本発明の一実施例である。正及び負
の電圧を供給する端子15,16間に、Pチヤン
ネルMOS型トランジスタ17,抵抗R118,N
チヤンネルMOS型トランジスタ19が直列に接
続されている。このトランジスタ19のゲートは
抵抗18とトランジスタ17のドレイン端との接
続点に接続されている。更に電源端子15,16
間には、PチヤンネルMOS型トランジスタ20
及びNチヤンネルMOS型トランジスタ21が直
列に接続されている。トランジスタ20はトラン
ジスタ17とゲートを共通にすることによりミラ
ー回路を構成し、トランジスタ21のゲートは、
抵抗18とトランジスタ19の接続点に接続され
ている。又、負荷R222及びNチヤンネルMOS
型トランジスタ23が同様に、電源端子15,1
6間に直列に接続されている。トランジスタ23
のゲートは、トランジスタ21と同様抵抗18と
トランジスタ19との接続点に接続されミラー回
路を構成している。本図の回路は、トランジスタ
19,21及びトランジスタ17,20抵抗18
から成る定電流回路の電流を、トランジスタ2
1,23から成るミラー回路により、負荷22に
定電流を流す回路である。
の電圧を供給する端子15,16間に、Pチヤン
ネルMOS型トランジスタ17,抵抗R118,N
チヤンネルMOS型トランジスタ19が直列に接
続されている。このトランジスタ19のゲートは
抵抗18とトランジスタ17のドレイン端との接
続点に接続されている。更に電源端子15,16
間には、PチヤンネルMOS型トランジスタ20
及びNチヤンネルMOS型トランジスタ21が直
列に接続されている。トランジスタ20はトラン
ジスタ17とゲートを共通にすることによりミラ
ー回路を構成し、トランジスタ21のゲートは、
抵抗18とトランジスタ19の接続点に接続され
ている。又、負荷R222及びNチヤンネルMOS
型トランジスタ23が同様に、電源端子15,1
6間に直列に接続されている。トランジスタ23
のゲートは、トランジスタ21と同様抵抗18と
トランジスタ19との接続点に接続されミラー回
路を構成している。本図の回路は、トランジスタ
19,21及びトランジスタ17,20抵抗18
から成る定電流回路の電流を、トランジスタ2
1,23から成るミラー回路により、負荷22に
定電流を流す回路である。
本図において電源電圧の変動がない場合のトラ
ンジスタ17,20のドレイン電流をそれぞれ
I1,I2とすると、トランジスタ23には、トラン
ジスタ21とのミラー回路によりトランジスタの
デイメンジヨンに比例したドレイン電流I3が流
れ、負荷22に定電流が供給される。電源電圧の
変動により生じた電流I1,I2の変動の影響につい
て以下考察する。トランジスタ17,19,2
0,21,23のデイメンジヨン、即ち(チヤン
ネル巾)/(チヤンネル長)をそれぞれS17,
S19,S20,S21,S23とする。回路が平衡に達した
ときの電流値を上記のI1,I2,I3とすると、トラ
ンジスタ17,20によつて形成されるミラー回
路により、I1,I2には I1=(S17/S20)I2 なる関係が成り立つ。一方、トランジスタ19の
ゲート電圧は、I1なる電流を流すべくV1なる電圧
となり、トランジスタ21のゲート電圧V2は、
抵抗R1の効果により、V2=V1−I1・R1なる電位
となり、そのときトランジスタ21によつてI2な
る電流が流れることになる。又、トランジスタ2
1のゲートにV2なる電圧がかかつた場合にトラ
ンジスタ21に流れる電流値をI′2とするとI′2=
(S21/S19)・I1=(S21/S19)・(S17/S20)・I2と
な
り、(I2/I′2)=(S19/S21)・(S20/S17)となる
。
従つて抵抗R1によるトランジスタ21のゲート
電位のV1からの減少による電流の減少率が、
(S19/S21)・(S20/S17)に等しくなるような電
流値で回路は平衡する。この考案から理解される
ように、本回路が定電流回路として動作するため
には、(S21/S19)・(S17/S20)が1よりも大き
いという条件が必要である。又、負荷22に流れ
る電流I3は、トランジスタ21,23によつて形
成されるミラー回路により、I3=(S23/S21)・I2
なる電流値となる。
ンジスタ17,20のドレイン電流をそれぞれ
I1,I2とすると、トランジスタ23には、トラン
ジスタ21とのミラー回路によりトランジスタの
デイメンジヨンに比例したドレイン電流I3が流
れ、負荷22に定電流が供給される。電源電圧の
変動により生じた電流I1,I2の変動の影響につい
て以下考察する。トランジスタ17,19,2
0,21,23のデイメンジヨン、即ち(チヤン
ネル巾)/(チヤンネル長)をそれぞれS17,
S19,S20,S21,S23とする。回路が平衡に達した
ときの電流値を上記のI1,I2,I3とすると、トラ
ンジスタ17,20によつて形成されるミラー回
路により、I1,I2には I1=(S17/S20)I2 なる関係が成り立つ。一方、トランジスタ19の
ゲート電圧は、I1なる電流を流すべくV1なる電圧
となり、トランジスタ21のゲート電圧V2は、
抵抗R1の効果により、V2=V1−I1・R1なる電位
となり、そのときトランジスタ21によつてI2な
る電流が流れることになる。又、トランジスタ2
1のゲートにV2なる電圧がかかつた場合にトラ
ンジスタ21に流れる電流値をI′2とするとI′2=
(S21/S19)・I1=(S21/S19)・(S17/S20)・I2と
な
り、(I2/I′2)=(S19/S21)・(S20/S17)となる
。
従つて抵抗R1によるトランジスタ21のゲート
電位のV1からの減少による電流の減少率が、
(S19/S21)・(S20/S17)に等しくなるような電
流値で回路は平衡する。この考案から理解される
ように、本回路が定電流回路として動作するため
には、(S21/S19)・(S17/S20)が1よりも大き
いという条件が必要である。又、負荷22に流れ
る電流I3は、トランジスタ21,23によつて形
成されるミラー回路により、I3=(S23/S21)・I2
なる電流値となる。
本回路に用いられる各トランジスタの動作領域
は、基本的には電流―電圧特性のテーリング領域
である。この領域、即ちゲート電圧に対して指数
関数的にドレイン電流が増加する領域を使用する
ことにより安定な定電流回路を得るのである。よ
つて、以下、各トランジスタの動作領域をテーリ
ング領域に限定して説明する。MOS型トランジ
スタのテーリング領域における電流―電圧特性の
近似式は、トランジスタのデイメンジヨン、(チ
ヤンネル巾)/(チヤンネル長)をSとすると、
ドレイン電流IDは、 ID=I00・S・eK(VG-Vth) VG;ゲート電圧 e;自然対数の底 Vth;閾値電圧 I00,K;定数 と表わされる。I0=I00e-KVGとおくと、 ID=I0・S・eKVG とドレイン電流は、ゲート電圧の指数関数で表わ
される。既に述べたように、I1とI2には I1=(S17/S20)・I2 ……(1) なる関係がある。一方トランジスタ19,21の
電流電圧特性から、 I1=I0・S19・eKV1 I2=I0・S21・eKV2 ……(2) ……(3) となり、R1の効果として、 V2=V1−I1・R1 ……(4) となり、平衡状態においては、上記(1)〜(4)式か
ら、 I1=(1/K・R1)・ln(S21/S19・S17/S20) I1=(1/K・R1)・ln(S21/S19・S17/S20) I2=(S20/S17)・(1/K・R1)・ln(S21/S19・S1
7/S20) I1=(1/K・R1)・ln(S21/S19・S17/S20) I2=(S20/S17)・(1/K・R1)・ln(S21/S19・S1
7/S20) I3=(S23/S21)・(S20/S17)・(1/K・R1)ln(
S21/S19・S17/S20) 従つて、この回路を流れる電流は、電源電圧に
も、MOS型トランジスタの閾値電圧にも依存せ
ずに、トランジスタのデイメンジヨンの比、抵抗
R、及びトランジスタの特性定数K(テーリング
領域の傾きに対応)のみによつて決定されること
となる。
は、基本的には電流―電圧特性のテーリング領域
である。この領域、即ちゲート電圧に対して指数
関数的にドレイン電流が増加する領域を使用する
ことにより安定な定電流回路を得るのである。よ
つて、以下、各トランジスタの動作領域をテーリ
ング領域に限定して説明する。MOS型トランジ
スタのテーリング領域における電流―電圧特性の
近似式は、トランジスタのデイメンジヨン、(チ
ヤンネル巾)/(チヤンネル長)をSとすると、
ドレイン電流IDは、 ID=I00・S・eK(VG-Vth) VG;ゲート電圧 e;自然対数の底 Vth;閾値電圧 I00,K;定数 と表わされる。I0=I00e-KVGとおくと、 ID=I0・S・eKVG とドレイン電流は、ゲート電圧の指数関数で表わ
される。既に述べたように、I1とI2には I1=(S17/S20)・I2 ……(1) なる関係がある。一方トランジスタ19,21の
電流電圧特性から、 I1=I0・S19・eKV1 I2=I0・S21・eKV2 ……(2) ……(3) となり、R1の効果として、 V2=V1−I1・R1 ……(4) となり、平衡状態においては、上記(1)〜(4)式か
ら、 I1=(1/K・R1)・ln(S21/S19・S17/S20) I1=(1/K・R1)・ln(S21/S19・S17/S20) I2=(S20/S17)・(1/K・R1)・ln(S21/S19・S1
7/S20) I1=(1/K・R1)・ln(S21/S19・S17/S20) I2=(S20/S17)・(1/K・R1)・ln(S21/S19・S1
7/S20) I3=(S23/S21)・(S20/S17)・(1/K・R1)ln(
S21/S19・S17/S20) 従つて、この回路を流れる電流は、電源電圧に
も、MOS型トランジスタの閾値電圧にも依存せ
ずに、トランジスタのデイメンジヨンの比、抵抗
R、及びトランジスタの特性定数K(テーリング
領域の傾きに対応)のみによつて決定されること
となる。
更に電源電圧の変動等により、ノイズなどが本
回路に入力された場合の変動率を計算してみる。
トランジスタ17と抵抗18との接続点の電位の
平衡点V1からの変動分をΔV1とする。第4図に
おいて求めた方法と同様な方法で計算すると、 ΔI1=InoS19eK(V1+〓V1)−I1 ≒I1KΔV1 V2+ΔV2=V1+ΔV1−R1・(I1+ΔI1) =V2+ΔV1−R1・ΔI1 ΔI2=Ino・S21・eK(V2+〓V1-R1
回路に入力された場合の変動率を計算してみる。
トランジスタ17と抵抗18との接続点の電位の
平衡点V1からの変動分をΔV1とする。第4図に
おいて求めた方法と同様な方法で計算すると、 ΔI1=InoS19eK(V1+〓V1)−I1 ≒I1KΔV1 V2+ΔV2=V1+ΔV1−R1・(I1+ΔI1) =V2+ΔV1−R1・ΔI1 ΔI2=Ino・S21・eK(V2+〓V1-R1
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 第1及び第2電源端子と、 前記第1電源にソースが接続された第1導電型
の第1MOS型トランジスタと、 この第1トランジスタのドレインに一端が接続
された抵抗と、 この抵抗の他端にドレインが接続され、前記第
1トランジスタのドレインにゲートが接続され、
前記第2電源にソースが接続された第2導電型の
第2MOS型トランジスタと、 前記第1電源にソースが接続され、前記第1ト
ランジスタのゲートにドレイン及びゲートが接続
された第1導電型の第3MOS型トランジスタと、 この第3トランジスタのドレインにドレインが
接続され、前記第2トランジスタのドレインにゲ
ートが接続され、前記第2電源にソースが接続さ
れた第2導電型の第4MOS型トランジスタと、 前記第3及び第4トランジスタが構成する直列
回路とミラー回路を構成する第5MOS型トランジ
スタと、 この第5トランジスタと直列に接続された負荷
とを有し、 前記第1乃至第4トランジスタのデイメンジヨ
ンをそれぞれS1,S2,S3,S4としたとき、 S4/S2・S1/S3>1 なる関係を有し、 前記第2及び第4トランジスタがそれぞれの電
流―電圧特性上テーリング領域で動作する定電流
回路。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7627879A JPS562017A (en) | 1979-06-19 | 1979-06-19 | Constant electric current circuit |
| US06/158,521 US4327321A (en) | 1979-06-19 | 1980-06-11 | Constant current circuit |
| EP80103322A EP0021289B1 (en) | 1979-06-19 | 1980-06-13 | Constant current circuit |
| DE8080103322T DE3069787D1 (en) | 1979-06-19 | 1980-06-13 | Constant current circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7627879A JPS562017A (en) | 1979-06-19 | 1979-06-19 | Constant electric current circuit |
Publications (2)
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|---|---|
| JPS562017A JPS562017A (en) | 1981-01-10 |
| JPH0221009B2 true JPH0221009B2 (ja) | 1990-05-11 |
Family
ID=13600798
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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Country Status (4)
| Country | Link |
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| US (1) | US4327321A (ja) |
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| JP (1) | JPS562017A (ja) |
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-
1980
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- 1980-06-13 DE DE8080103322T patent/DE3069787D1/de not_active Expired
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