JPH02216629A - 光ヘッド装置 - Google Patents
光ヘッド装置Info
- Publication number
- JPH02216629A JPH02216629A JP1036824A JP3682489A JPH02216629A JP H02216629 A JPH02216629 A JP H02216629A JP 1036824 A JP1036824 A JP 1036824A JP 3682489 A JP3682489 A JP 3682489A JP H02216629 A JPH02216629 A JP H02216629A
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- JP
- Japan
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- photodetector
- light
- semiconductor laser
- optical head
- photodetectors
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は半導体レーザの光を絞った微小スポットを用い
て光ディスクの情報記録面に情報を記録したり、あるい
は記録した情報を消去・再生する光デイスク装置に用い
る光ヘッド装置に関するものである。
て光ディスクの情報記録面に情報を記録したり、あるい
は記録した情報を消去・再生する光デイスク装置に用い
る光ヘッド装置に関するものである。
従来の技術
従来、光デイスク装置に用いられている光ヘッド装置と
しては、例えば特開昭６２−９７１４１号公報に示され
ている。
しては、例えば特開昭６２−９７１４１号公報に示され
ている。
以下に、第２図を用いて従来の光ヘッド装置について説
明する。第２図において１は光を発生する半導体レーザ
であり、ｌａはその中にある半導体レーザの発光素子１
ａ及び第１の光検出器１ｂより構成されている。この第
１の光検出器１ｂは発光素子の光デイスク側と反対の方
間に発す右後光をモニターする。２はホログラム素子で
、光ディスク４からの反射光を回折拳分離する。３は集
光レンズであり、半導体レーザ１の光を光デイスク４上
で微小スポットに絞る。４は光ディスク、５は光ディス
ク４の情報記録面であり、半導体レーザ１の光の微小ス
ポットで情報が記録されたり、再生されたりする。６は
焦点であり、情報記録面５上の半導体レーザ１の光の微
小スポットの焦点を示す。７は半導体レーザ１から光デ
ィスク４に入射する入射光である。８は後光であり、半
導体レーザ１から光ディスク４と反対方向に向いて、第
１の光検出器１ｂでモニターされ、半導体し〜ザ１の光
出力の制御に用いられる。９及び１０は光ディスク４か
らの反射光であり、ホログラム素子２で回折Ｏ分離され
たものである。１１は２分割した第２の光検出器であり
、２つの光検出器１１ａ（！：ｌｌｂとから構成されて
反射光９を検出する。１２は同じく２分割した第２の光
検出器で、２つの光検出器１２ａと１２ｂとから構成さ
れて反射光１０を検出する。
明する。第２図において１は光を発生する半導体レーザ
であり、ｌａはその中にある半導体レーザの発光素子１
ａ及び第１の光検出器１ｂより構成されている。この第
１の光検出器１ｂは発光素子の光デイスク側と反対の方
間に発す右後光をモニターする。２はホログラム素子で
、光ディスク４からの反射光を回折拳分離する。３は集
光レンズであり、半導体レーザ１の光を光デイスク４上
で微小スポットに絞る。４は光ディスク、５は光ディス
ク４の情報記録面であり、半導体レーザ１の光の微小ス
ポットで情報が記録されたり、再生されたりする。６は
焦点であり、情報記録面５上の半導体レーザ１の光の微
小スポットの焦点を示す。７は半導体レーザ１から光デ
ィスク４に入射する入射光である。８は後光であり、半
導体レーザ１から光ディスク４と反対方向に向いて、第
１の光検出器１ｂでモニターされ、半導体し〜ザ１の光
出力の制御に用いられる。９及び１０は光ディスク４か
らの反射光であり、ホログラム素子２で回折Ｏ分離され
たものである。１１は２分割した第２の光検出器であり
、２つの光検出器１１ａ（！：ｌｌｂとから構成されて
反射光９を検出する。１２は同じく２分割した第２の光
検出器で、２つの光検出器１２ａと１２ｂとから構成さ
れて反射光１０を検出する。
第３図は、第２の光検出器１１及び１２の出力からフォ
ーカス誤差信号がどのように作″られるかを示した図で
ある。同図において、第２の光倖出器１１の２つの光検
出器１１ａ及びｆｌｂの出力は差動アンプ１３により差
動がとられ、１４の差動出力Ｖ１となる（Ｖ１＝１１ａ
の出力−１１ｂの出力）。同様に第２の光検出器１２の
２つの光検出器Ｌ２ａ及び１２ｂの出力は差動アンプ１
５により差動がとられ、１６の差動出力ｖ２となる（Ｖ
２＝１２ａの出力−１２ｂの出力）。差動出力Ｖ１とＶ
２とはさらに差動アンプ１７で差動がとられ、１日のフ
ォーカス誤差信号ＦＥになる。
ーカス誤差信号がどのように作″られるかを示した図で
ある。同図において、第２の光倖出器１１の２つの光検
出器１１ａ及びｆｌｂの出力は差動アンプ１３により差
動がとられ、１４の差動出力Ｖ１となる（Ｖ１＝１１ａ
の出力−１１ｂの出力）。同様に第２の光検出器１２の
２つの光検出器Ｌ２ａ及び１２ｂの出力は差動アンプ１
５により差動がとられ、１６の差動出力ｖ２となる（Ｖ
２＝１２ａの出力−１２ｂの出力）。差動出力Ｖ１とＶ
２とはさらに差動アンプ１７で差動がとられ、１日のフ
ォーカス誤差信号ＦＥになる。
以上のように構成された光ヘッドについて、以下その動
作について説明する。ここではフォーカス誤差信号につ
いて説明し、トラッキング誤差信号については省略する
。
作について説明する。ここではフォーカス誤差信号につ
いて説明し、トラッキング誤差信号については省略する
。
まず半導体レーザ１からの入射光７が光ディスク４の情
報記録面に焦点を結ぶように集光レンズ３の位置を制御
する必要がある。これはフォーカス制御と呼ばれ、光デ
ィスク４からの反射光をホログラム素子２により２つの
反射光９，１０に回折・分離して、それらの差信号より
１８のフォーカス誤差信号ＦＥを発生する。具体的には
ジャストフォーカスの時には第２の光検出器１１の２分
割線の真中に反射光９が入り、その差信号出力Ｖ１＝１
１ａ−１１ｂはゼロになる。また第２の光検出器１１の
２分割線の真中に反射光９が入り、その差信号出力Ｖ２
＝１２ａ−１２ｂはゼロニする。２つの差信号■１とｖ
２の差信号であるフォーカス誤差信号ＦＥはゼロになる
。
報記録面に焦点を結ぶように集光レンズ３の位置を制御
する必要がある。これはフォーカス制御と呼ばれ、光デ
ィスク４からの反射光をホログラム素子２により２つの
反射光９，１０に回折・分離して、それらの差信号より
１８のフォーカス誤差信号ＦＥを発生する。具体的には
ジャストフォーカスの時には第２の光検出器１１の２分
割線の真中に反射光９が入り、その差信号出力Ｖ１＝１
１ａ−１１ｂはゼロになる。また第２の光検出器１１の
２分割線の真中に反射光９が入り、その差信号出力Ｖ２
＝１２ａ−１２ｂはゼロニする。２つの差信号■１とｖ
２の差信号であるフォーカス誤差信号ＦＥはゼロになる
。
次にフォーカスがずれた場合は、光ディスク４からの反
射光が光検出器１１．１２の２分割線の真中に入らず、
どちらかに片寄る。例えば反射光の片寄りで、光検出器
ｆｌａと１２ｂに光が入り、光検出器１１ｂと１２ａに
光が入らない。このためそれらの差信号であるフォーカ
ス誤差信号ＦＥがある値を持つ。回路側ではこのフォー
カス誤差信号ＦＥがゼロになるようにフォーカス制御を
かける。
射光が光検出器１１．１２の２分割線の真中に入らず、
どちらかに片寄る。例えば反射光の片寄りで、光検出器
ｆｌａと１２ｂに光が入り、光検出器１１ｂと１２ａに
光が入らない。このためそれらの差信号であるフォーカ
ス誤差信号ＦＥがある値を持つ。回路側ではこのフォー
カス誤差信号ＦＥがゼロになるようにフォーカス制御を
かける。
また第２の光検出器１１と１２の出力はその和をとって
、光ディスク４の情報を読み取るのに利用される。
、光ディスク４の情報を読み取るのに利用される。
一方、半導体レーザ１の光出力は、温度や経時変化によ
り大きく変動することがあり、光デイスク装置の記録や
再生等の信頼性に影響する。このため光出力を一定に保
つために、半導体レーザ１の後光８を第１の光検出器１
ｂでモニターして制御をかけている。
り大きく変動することがあり、光デイスク装置の記録や
再生等の信頼性に影響する。このため光出力を一定に保
つために、半導体レーザ１の後光８を第１の光検出器１
ｂでモニターして制御をかけている。
発明が解決しようとする課題
しかしながら上記のような構成では、第１の光検出器１
ｂと、第２の光検出器１１．１２とが別々に構成されて
いるため、光ヘッドの組み立てＯ調整が複雑になること
、また温度や経時変化により機械的な固定がずれ、各々
の光検出器の相対位置が動くことにより信頼性が低下す
ること、及びいくつもの光検出器を用いるためコストを
下げることが困難である等の課題を有していた。
ｂと、第２の光検出器１１．１２とが別々に構成されて
いるため、光ヘッドの組み立てＯ調整が複雑になること
、また温度や経時変化により機械的な固定がずれ、各々
の光検出器の相対位置が動くことにより信頼性が低下す
ること、及びいくつもの光検出器を用いるためコストを
下げることが困難である等の課題を有していた。
本発明はかかる点に鑑み、各々の光ヘッドの組立や調整
を軍票とし、温度や経時変化による影響も無くして信頼
性を向上させ、またコストを低減本発明は、半導体レー
ザと情報記録面との間にあって、情報記録面からの反射
光により回折光を作り、半導体レーザの光の情報記録面
に対するフォーカス誤差あるいはトラッキング誤差に対
応する回折光の変化を発生するホログラム素子と、半導
体レーザの情報記録面に発する光と反対方向に発する光
をモニターする第１の光検出器と、前記第１の光検出器
を構成する半導体基板と同じ半導体基板上に回折光の変
化を検出する第２の光検出器を一体的に構成した光ヘッ
ドである。
を軍票とし、温度や経時変化による影響も無くして信頼
性を向上させ、またコストを低減本発明は、半導体レー
ザと情報記録面との間にあって、情報記録面からの反射
光により回折光を作り、半導体レーザの光の情報記録面
に対するフォーカス誤差あるいはトラッキング誤差に対
応する回折光の変化を発生するホログラム素子と、半導
体レーザの情報記録面に発する光と反対方向に発する光
をモニターする第１の光検出器と、前記第１の光検出器
を構成する半導体基板と同じ半導体基板上に回折光の変
化を検出する第２の光検出器を一体的に構成した光ヘッ
ドである。
作用
本発明は前記した構成により、半導体レーザの後光をモ
ニターする第１の光検出器を構成する同じ半導体基板上
に、フォーカス誤差あるいはトラッキング誤差に対応す
る回折光の変化を検出する第２の光検出器を構成するこ
とで、第１と第２の光検出器を一体化し、光ヘッドの信
頼性を向上させ、コストを低減させる。
ニターする第１の光検出器を構成する同じ半導体基板上
に、フォーカス誤差あるいはトラッキング誤差に対応す
る回折光の変化を検出する第２の光検出器を構成するこ
とで、第１と第２の光検出器を一体化し、光ヘッドの信
頼性を向上させ、コストを低減させる。
実施例
第１図は本発明の一実施例における光ヘッド装置を示す
概念図である。先に説明した従来例の第２図で変更した
部分を説明する。
概念図である。先に説明した従来例の第２図で変更した
部分を説明する。
１は半導体レーザで、発光素子１ａと、後光８をモニタ
ーする第１の光検出器１ｂの他に、光ディスク４からの
反射光９．１０を検出する第２の光検出器１１．１２も
内蔵している。第１の光検出器１ｂと第２の光検出器１
１．１２が一体化され、同じ半導体基板上に作製されて
いる。
ーする第１の光検出器１ｂの他に、光ディスク４からの
反射光９．１０を検出する第２の光検出器１１．１２も
内蔵している。第１の光検出器１ｂと第２の光検出器１
１．１２が一体化され、同じ半導体基板上に作製されて
いる。
以上のように構成された光ヘッドについて、以下その動
作を説明する。以下の説明でフォーカス誤差信号ＦＥの
発生回路は従来例の第３図と全く同様である。
作を説明する。以下の説明でフォーカス誤差信号ＦＥの
発生回路は従来例の第３図と全く同様である。
ホログラム素子２は、第１の光検出器１ｂの受光平面近
傍において、フォーカス誤差信号あるいはトラッキング
誤差信号の検出が出来るように、反射光を回折・分離す
る。このため第１の光検出器１ｂと一体化した第２の光
検出器１１．１２のそれぞれの差信号１１ａ−１１ｂ、
１２ａ−１２ｂの差信号をとることでフォーカス誤差信
号ＦＥを取り出せる。具体的にはジャストフォーカスの
時には第２の光検出器１１の２分割線の真中に反射光９
が入り、その差信号出力Ｖ１＝１１ａ−１１ｂはゼロに
なる。また第２の光検出器１１の２分割線の真中に反射
光９が入り、その差信号出力Ｖ２＝１２ａ−１２ｂはゼ
ロになる。２つの差信号ｖ１とｖ２の差信号であるフォ
ーカス誤差信号ＦＥはゼロになる。
傍において、フォーカス誤差信号あるいはトラッキング
誤差信号の検出が出来るように、反射光を回折・分離す
る。このため第１の光検出器１ｂと一体化した第２の光
検出器１１．１２のそれぞれの差信号１１ａ−１１ｂ、
１２ａ−１２ｂの差信号をとることでフォーカス誤差信
号ＦＥを取り出せる。具体的にはジャストフォーカスの
時には第２の光検出器１１の２分割線の真中に反射光９
が入り、その差信号出力Ｖ１＝１１ａ−１１ｂはゼロに
なる。また第２の光検出器１１の２分割線の真中に反射
光９が入り、その差信号出力Ｖ２＝１２ａ−１２ｂはゼ
ロになる。２つの差信号ｖ１とｖ２の差信号であるフォ
ーカス誤差信号ＦＥはゼロになる。
次にフォーカスがずれた場合は、光ディスク４からの反
射光が光検出器１１．１２の２分割線の真中に入らず、
どちらかに片寄る。このためそれらの差信号であるフォ
ーカス誤差信号ＦＥがある値を持つ。回路側ではこのフ
ォーカス誤差信号ＦＥがゼロになるようにしてフォーカ
ス制御をかける。
射光が光検出器１１．１２の２分割線の真中に入らず、
どちらかに片寄る。このためそれらの差信号であるフォ
ーカス誤差信号ＦＥがある値を持つ。回路側ではこのフ
ォーカス誤差信号ＦＥがゼロになるようにしてフォーカ
ス制御をかける。
以上のように本実施例によれば、ホログラム素子を用い
て光ディスクからの反射光を回折・分離させ、半導体レ
ーザの後光をモニターする第１の光検出器を構成する同
じ半導体基板上に、フォーカス誤差あるいはトラッキン
グ誤差に対応する回折光の変化を検出する第２の光検出
器を構成することで、第１と第２の光検出器を一体化し
、光ヘッドの信頼性を向上させ、コストを低減させるこ
とができる。
て光ディスクからの反射光を回折・分離させ、半導体レ
ーザの後光をモニターする第１の光検出器を構成する同
じ半導体基板上に、フォーカス誤差あるいはトラッキン
グ誤差に対応する回折光の変化を検出する第２の光検出
器を構成することで、第１と第２の光検出器を一体化し
、光ヘッドの信頼性を向上させ、コストを低減させるこ
とができる。
なお本実施例においてフォーカス誤差信号の検出はナイ
フェツジ法を用いたが、これはホログラム素子の回折パ
ターンを変えて、スポットサイズ検出でも良いし、非点
収差法でも構わない。
フェツジ法を用いたが、これはホログラム素子の回折パ
ターンを変えて、スポットサイズ検出でも良いし、非点
収差法でも構わない。
発明の詳細
な説明したように、本発明によれば、ホログラム素子を
用いて光ディスクからの反射光を回折・分離させ、半導
体レーザの後光をモニターする第１の光検出器を構成す
る同じ半導体基板上に、フォーカス誤差あるいはトラッ
キング誤差に対応する回折光の変化を検出する第２の光
検出器を一体的に構成することで、光ヘッドの信頼性を
向上させると共に、コストを低減させることができ、そ
の実用的効果は大きい。
用いて光ディスクからの反射光を回折・分離させ、半導
体レーザの後光をモニターする第１の光検出器を構成す
る同じ半導体基板上に、フォーカス誤差あるいはトラッ
キング誤差に対応する回折光の変化を検出する第２の光
検出器を一体的に構成することで、光ヘッドの信頼性を
向上させると共に、コストを低減させることができ、そ
の実用的効果は大きい。
第１図は本発明における一実施例の光ヘッド装置の概念
図、第２図は従来の光ヘッド装置の概念図、第３図はフ
ォーカス誤差信号の発生回路図である。 １・・・半導体レーザ、 １ａ・・・第１の光検出器
、２・・・ホログラム素子、 ３・・・集光レンズ、
４・・・光ディスク、 ７・・・入射光、 ８・・
・後光、９・・・反射光、 １０・・・反射光、
１１・・・第２の光検出器、 １２・・・第２の光検
出器、１３．１５゜１７・・・差動アンプ、 １８・・・フォーカス誤差信号 ＦＥ。
図、第２図は従来の光ヘッド装置の概念図、第３図はフ
ォーカス誤差信号の発生回路図である。 １・・・半導体レーザ、 １ａ・・・第１の光検出器
、２・・・ホログラム素子、 ３・・・集光レンズ、
４・・・光ディスク、 ７・・・入射光、 ８・・
・後光、９・・・反射光、 １０・・・反射光、
１１・・・第２の光検出器、 １２・・・第２の光検
出器、１３．１５゜１７・・・差動アンプ、 １８・・・フォーカス誤差信号 ＦＥ。
Claims (1)
- （１）半導体レーザの光を情報記録面に入射し、その情
報記録面からの反射光をホログラム素子により回折・分
離して光検出器に導き、情報の再生あるいは記録を行な
う光ヘッド装置において、半導体レーザの情報記録面に
発する光と反対方向に発する光をモニターする第１の光
検出器と、前記第１の光検出器を構成する半導体基板と
同じ半導体基板上に前記回折光の変化を検出する少なく
とも２つの第２の光検出器とを一体的に構成したことを
特徴とする光ヘッド装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1036824A JP2507023B2 (ja) | 1989-02-15 | 1989-02-15 | 光ヘッド装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1036824A JP2507023B2 (ja) | 1989-02-15 | 1989-02-15 | 光ヘッド装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02216629A true JPH02216629A (ja) | 1990-08-29 |
| JP2507023B2 JP2507023B2 (ja) | 1996-06-12 |
Family
ID=12480502
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1036824A Expired - Fee Related JP2507023B2 (ja) | 1989-02-15 | 1989-02-15 | 光ヘッド装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2507023B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08153336A (ja) * | 1994-11-29 | 1996-06-11 | Nec Corp | 光ヘッド装置 |
| US5995476A (en) * | 1996-12-06 | 1999-11-30 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical pick-up apparatus |
-
1989
- 1989-02-15 JP JP1036824A patent/JP2507023B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08153336A (ja) * | 1994-11-29 | 1996-06-11 | Nec Corp | 光ヘッド装置 |
| US5995476A (en) * | 1996-12-06 | 1999-11-30 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical pick-up apparatus |
| USRE38886E1 (en) * | 1996-12-06 | 2005-11-22 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical pick-up apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2507023B2 (ja) | 1996-06-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |