JPH02220146A - テストデータ生成システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的） （産業上の利用分野） 本発明は、プログラムの自動テストシステムに関し、特
にテストデータを自動的に生成するためのテストデータ
生成システムに関する。

（従来の技術） 通常、プログラムは複数のモジュールより構成され、各
モジュールが互いにデータや制御の授受を行うことによ
り、所定の機能を果たしている。

プログラムの開発に当たっては、そのプログラムを構成
しているモジュールのインターフェース、機能、および
構造等を記したプログラム設計書が作成される。

このようなプログラムに対してはテストを行う必要があ
るが、従来のテストではプログラムが所定の機能を果た
しているか否かを確認できるようなテストデータを人間
が作成していた。このため系統的なテストデータの作成
方法が存在しなかったので、しばしばテスト漏れの原因
となっていた。

また、テストを実施することによってエラーが検出でき
るか否かは、どのようなテストデータを作るかに完全に
依存しており、能力や経験のある人を除いて、あまり多
くのエラーを検出することはできなかった。

（発明が解決しようとする課題） このように従来のテストデータ生成方法では、効果的な
テストデータを作成するためには、テストデータ作成者
がプログラムの構造や機能を十分に理解していなければ
ならず、プログラム開発者以外の人がテストデータを作
成することは難しかった。

その結果、生産性の低下や開発作業の分業化を妨げると
いった問題があった。

また、技術をもった経験の豊富な人でも、エラーを検出
できるような効果的なテストデータを作成することは難
しく、プログラムを漏れなくテストすることはさらに困
難であった。

そのため、開発されるプログラムの品質はテストデータ
を作成する人間の技術に依存する割合が高く、テスト漏
れとなることが多い。

本発明の目的は、テストデータ作成者の技術に依存する
ことなく、系統的で、かつ一定の網羅性をもったテスト
データを、プログラムの設計書から直接自動的に生成す
るテストデータ生成システムを提供することである。

［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 前記目的を達成するために本発明は、テスト対象プログ
ラムを実行させるのに必要な変数およびプログラム設計
情報を記憶する記憶手段と、前記記憶手段から前記変数
および前記プログラム設計情報を検索するプログラム設
計情報検索手段と、前記変数を組合わせテストケースを
作成するテストケース作成手段と、前記テストケースに
従って前記変数と前記プログラム設計情報からテストデ
ータを選択するテストデータ選択手段と、各変数に選択
されたテストデータを割付けるテストデータ割付は手段
と、を具備することを特徴とする。

（作用） 本発明ではテスト対象プログラムを実行させるのに必要
な変数およびプログラム設計情報を記憶しておき、テス
トを行う場合にこの変数およびプログラム設計情報を検
索して、この変数を組合わせてテストケースを作成し、
このテストケースに従って変数とプログラム設計情報か
らテストデータを選択して、変数に選択されたテストデ
ータを割付けるものである。

（実施例） 以下、図面に基づいて本発明の実施例を詳細に説明する
。

第１図は本発明の一実施例に係るテストデータ生成シス
テムの構成を示すブロック図である。同図に示されるよ
うに、このテストデータ生成システムはテストデータベ
ース１、プログラム設計情報検索手段３、テストケース
作成手段５、テストデータ選択手段７、テストデータ割
付は手段９を有しており、端末装置１１に接続される。

テストデータベース１には第２図に示すようなプログラ
ム設計情報１３が記憶される。プログラム設計情報１３
はプログラムを構成するモジュールのモジュール設計情
報１５からなる。

モジュール設計情報１５は入出力変数間の関係情報１７
およびモジュールの入出力変数情報１９ａ％　１９ｂ、
・・・からなる。

関係情報１７は人出カ変数間の関係名、変数名の情報を
有している。

変数情報１９ａ、１９ｂ、・・・は変数名、変数の分類
、変数の種類、変数の型、変数の属性、領域情報２１ａ
・・・、表明記述、変数の大きさ等の情報を有している
。

変数の分類は、分類１と分類２の組み合せにより示され
る。

分類１ 変数がテスト対象プログラムに対して Ｏ引数として渡されるパラメータ型、 ○外部変数として渡されるる外部型、 ○入出力装置を介して渡される内部型 Ｏ関数等のリターン値として渡される リターン型、 のいずれかであるかを示す。

分類２ 変数がテスト対象プログラムに対して Ｏ人力型、 ０出力型、 Ｏ入出力型、 のいずれかであるかを示す。

変数の種類は、変数が、配列型、ポインタ型、鎧型のう
ちのいずれであるかを示す。

変数の型とは、変数が整数型、実数型、文字型、論理型
のうち、いずれの型であるかを示すものである。

変数の属性とは、変数が選択型であるか、生成型である
かを示す。

ここで選択型とは、領域の要素のいずれかを選択するこ
とを示す。例えば、変数Ｖａｒが集合型で、集合要素と
して（１，２，３１の領域をもつとき、その集合要素の
一つを変数の値として選択する。ここでは、変数Ｖａｒ
の値は例えば“１＃になる。

また生成型とは、領域の要素に対する演算によって生成
することを示す。例えば、上記例題でその集合要素を文
字とみなし、その系列を作成し、作成したものを逆に数
字とみなすという演算によって変数の値を生成する。こ
こでは、変数Ｖａｒの値は例えば“１２３”になる。

領域情報２１ａは領域記述と代表値で構成される。

領域とは、変数の意味的に取り得る範囲（定義域）であ
り、領域記述とは集合型、関係型のいずれか示される。

例えば、集合型の領域記述では、“正数“や“負数“と
いった記述のほかに、上記例題で述べた集合要素を羅列
する記述がある。関係型の領域記述では、°変数Ｖａｒ
は３以上である（Ｖａｒ≧３）″等の記述がある。

表明記述とは、その変数がテスト対象プログラムにおい
て満たすべき条件（論理式）を示す。

変数の大きさとは、その変数のメモリ・サイズであり、
その大きさの単位はビット、バイト、ワードのいずれか
である。

次に、本実施例の動作を説明する。

端末装置１１からテストデータの生成が指示されると、
テストケース作成手段５はプログラム設計情報検索手段
３を駆動させ、そのテスト対象プログラムをテストする
のに必要な変数の型、分類、種類、属性、領域、大きさ
および変数間の関係を検索し、第３図に示すような入力
表数表を作成する。

次に、第３図に示す入力表数表および入力変数間の関係
に基づいて必要な入力変数の組合わせを与えるテストケ
ースを作成する。ここで言う入力変数間の関係とは、入
力変数間の関係の強さ等を示すものである。第４図はこ
のようなテストケースを示すものである。

次に、テストデータ選択手段７は、第４図に示すテスト
ケースに従って入力変数の型、大きさ、属性に基づいて
各入力変数の領域からテストデータを選択する。

第５図はこのテストデータの選択を示すものである。

（１）選択によるテストデータ生成のとき入力変数の領
域が集合型領域であるならば、集合における任、意の要
素を選択してテストデータとし、関係型領域であるなら
ば、関係を満たす任意の要素を選択してテストデータと
する。このとき、複数のテストデータを同時に選択する
配列型の場合には、その要素の配置に関して複数のテス
トデータが作成される。

（２）生成によるテストデータ作成のとき入力変数の領
域が集合型領域であるならば、集合要素を任意に連結し
てテストデータとし、関係型領域であるならば、関係を
満たす要素を任意に連結してテストデータとする。この
とき、複数のテストデータを同時に選択する配列型の場
合には、その要素の配置に関して複数のテストデータが
作成される。

次に、テストデータ割付は手段９が入力変数の種類に基
づ′いて、各入力変数にテストデータを割付はテストデ
ータを生成する。

かくして、本実施例によれば人間がテストデータを経験
や直観に基づいてテストデータを作成する場合に比べて
、テストデータを作成する人間のスキルにあまり依存せ
ず系統的なテストデータを生成できる。また、プログラ
ムの仕様書からテストデータを作成するので、プログラ
ムの詳細な内部構成を知らなくても効果的なテストデー
タを作成することができる。さらに、テストデータを作
成するには、テスト者にかなりの負荷を強いていたが、
このシステムを用いる゛ことによって機械的にテストデ
ータを作成することができるようになるので、作業工数
の大きな省力化になる。

したがって、このテストデータ生成システムを用いるこ
とによって、テスト者のテストデータ作成の手間を省き
、かつエラー検出可能性の高いテストデータを作成する
ことができる。したがって、効率的なテストを行うこと
ができ、またテスト工数を大幅に短縮することができる
。

［発明の効果］ 以上詳細に説明したように本発明によれば、テストデー
タ作成者の技術に依存することなく、系統的で、かつ一
定の網羅性をもったテストデータを、プログラムの設計
書から直接自動的に生成することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例に係るテストデータ生成シス
テムの構成を示すブロック図、第２図はテストデータベ
ース１に蓄積されているプログラム設計情報の内容を示
す図、第３図は入力変数を示す図、第４図はテストケー
スを示す図、第５図はテストデータの選択を示す図であ
る。 １・・・・・・・・・テストデータベース３・・・・・
・・・・プログラム設計情報検索手段５・・・・・・・
・・テストケース作成手段７・・・・・・・・・テスト
データ選択手段９・・・・・・・・・テストデータ割付
は手段出願人　　　　　　株式会社　東芝

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 テスト対象プログラムを実行させるのに必要な変数およ
   びプログラム設計情報を記憶する記憶手段と、 前記記憶手段から前記変数および前記プログラム設計情
   報を検索するプログラム設計情報検索手段と、 前記変数を組合わせテストケースを作成するテストケー
   ス作成手段と、 前記テストケースに従って前記変数と前記プログラム設
   計情報からテストデータを選択するテストデータ選択手
   段と、 各変数に選択されたテストデータを割付けるテストデー
   タ割付け手段と、 を具備することを特徴とするテストデータ生成システム
   。