JPH02220838A - 積層体、並びに該積層体を用いた被研磨部材の保持材及び研磨布 - Google Patents
積層体、並びに該積層体を用いた被研磨部材の保持材及び研磨布Info
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- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 71
- 238000005498 polishing Methods 0.000 title claims abstract description 66
- 239000004744 fabric Substances 0.000 title claims abstract description 28
- 239000006260 foam Substances 0.000 claims abstract description 73
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 72
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 47
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 39
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 claims abstract description 35
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims abstract description 33
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 23
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 125
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 claims description 19
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 claims description 14
- BZHJMEDXRYGGRV-UHFFFAOYSA-N Vinyl chloride Chemical compound ClC=C BZHJMEDXRYGGRV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 238000005345 coagulation Methods 0.000 claims description 10
- 230000015271 coagulation Effects 0.000 claims description 10
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 claims description 9
- 229920002433 Vinyl chloride-vinyl acetate copolymer Polymers 0.000 claims description 4
- 229920001897 terpolymer Polymers 0.000 claims description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 7
- 238000005187 foaming Methods 0.000 abstract description 5
- 238000002156 mixing Methods 0.000 abstract description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract 3
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 62
- -1 polyoxyethylene Polymers 0.000 description 22
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 11
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 11
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 10
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 10
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 10
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 10
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 9
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 9
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 9
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 9
- 229920002803 thermoplastic polyurethane Polymers 0.000 description 9
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 8
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 8
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 4
- WERYXYBDKMZEQL-UHFFFAOYSA-N butane-1,4-diol Chemical compound OCCCCO WERYXYBDKMZEQL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 description 4
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 4
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 4
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 4
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 4
- 229920001451 polypropylene glycol Polymers 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 239000011342 resin composition Substances 0.000 description 4
- 239000004970 Chain extender Substances 0.000 description 3
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 3
- DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N Propylene glycol Chemical compound CC(O)CO DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000002777 acetyl group Chemical group [H]C([H])([H])C(*)=O 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 125000004185 ester group Chemical group 0.000 description 3
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 3
- WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N hydroxyacetaldehyde Natural products OCC=O WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 3
- 239000012948 isocyanate Substances 0.000 description 3
- 150000002513 isocyanates Chemical class 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 3
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 3
- 229920005862 polyol Polymers 0.000 description 3
- 150000003077 polyols Chemical class 0.000 description 3
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 3
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 3
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 3
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 3
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 description 2
- XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N Vinyl acetate Chemical compound CC(=O)OC=C XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003082 abrasive agent Substances 0.000 description 2
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 230000001112 coagulating effect Effects 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 2
- 238000005238 degreasing Methods 0.000 description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 2
- 229920002689 polyvinyl acetate Polymers 0.000 description 2
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 2
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 2
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 2
- 229910021642 ultra pure water Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012498 ultrapure water Substances 0.000 description 2
- 150000003673 urethanes Chemical class 0.000 description 2
- CDOUZKKFHVEKRI-UHFFFAOYSA-N 3-bromo-n-[(prop-2-enoylamino)methyl]propanamide Chemical compound BrCCC(=O)NCNC(=O)C=C CDOUZKKFHVEKRI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UPMLOUAZCHDJJD-UHFFFAOYSA-N 4,4'-Diphenylmethane Diisocyanate Chemical compound C1=CC(N=C=O)=CC=C1CC1=CC=C(N=C=O)C=C1 UPMLOUAZCHDJJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920003171 Poly (ethylene oxide) Polymers 0.000 description 1
- 239000004697 Polyetherimide Substances 0.000 description 1
- 239000004721 Polyphenylene oxide Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005411 Van der Waals force Methods 0.000 description 1
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 1
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 1
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 1
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 1
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 1
- 125000000129 anionic group Chemical group 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 125000001309 chloro group Chemical group Cl* 0.000 description 1
- HGAZMNJKRQFZKS-UHFFFAOYSA-N chloroethene;ethenyl acetate Chemical compound ClC=C.CC(=O)OC=C HGAZMNJKRQFZKS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003749 cleanliness Effects 0.000 description 1
- 239000008119 colloidal silica Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 1
- 238000007334 copolymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- HPNMFZURTQLUMO-UHFFFAOYSA-N diethylamine Chemical compound CCNCC HPNMFZURTQLUMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000005442 diisocyanate group Chemical group 0.000 description 1
- 235000019329 dioctyl sodium sulphosuccinate Nutrition 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000007518 final polishing process Methods 0.000 description 1
- 238000009472 formulation Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- IQPQWNKOIGAROB-UHFFFAOYSA-N isocyanate group Chemical group [N-]=C=O IQPQWNKOIGAROB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 239000011859 microparticle Substances 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004745 nonwoven fabric Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012858 packaging process Methods 0.000 description 1
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920006267 polyester film Polymers 0.000 description 1
- 229920000570 polyether Polymers 0.000 description 1
- 229920001601 polyetherimide Polymers 0.000 description 1
- 229920000921 polyethylene adipate Polymers 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000002250 progressing effect Effects 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 230000001568 sexual effect Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 1
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
- 230000000576 supplementary effect Effects 0.000 description 1
- 229920006027 ternary co-polymer Polymers 0.000 description 1
- DVKJHBMWWAPEIU-UHFFFAOYSA-N toluene 2,4-diisocyanate Chemical compound CC1=CC=C(N=C=O)C=C1N=C=O DVKJHBMWWAPEIU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Abstract
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Description
置等の定盤に保持し、研磨加工するにあたって、その被
研磨部材の保持材に使用される積層体、並びに該積層体
を用いた被研磨部材の保持材及び研磨布に関するもので
ある。
増大し、LM、4M、さらには16Mへと進行中である
。
技術の確立が急務となっている。4Mbit DRAM
では、最少線幅が0.8μmとなり、微妙な塵埃、異物
粒子、不純物の存在がチップの不良を招く、不純物のコ
ンタミネーシぢンを防ぐために、スパークリーンルーム
や超純水も導入され、クリーンルームの清浄度でクラス
1、超純水の比抵抗が1Q16〜10”MΩ・Cm−’
のものが要求されている。
育成過程、および、ウェーハ化工程で混入される。シリ
コン結晶では、現在・電気的にイレブン・ナインの純度
が達成されており、B、P。
、Th等の不純物元素が完全に制御されている。
タイムを左右したり、格子欠陥を形成したりして、素子
の電気的性質に直接影響する。
グ工程が重要であり、人体離脱物、大の使用物、シリコ
ンのカケやチップスによる微小塵、使用器具や薬品から
持ち込まれたイオン性不純物、金属性不純物等に細心の
注意が必要といわれる。
ラッチが生じること、また、異物粒子の大きさと不良発
生の状況との関係は非常に複雑であり、非常に小さい異
物でも不良を発生させ得る。
具や薬品からの汚染物質は常に厳しく排除されていなけ
ればならない。
て研磨加工する場合には、ウェーハを研磨機の定盤に固
定し、そして、この定盤と対向して配設された定盤に研
磨布を取付け、画定盤を相対的に回転させると共に、両
者間に砥粒等を含む研磨液を供給することによって、ウ
ェーハ表面を研磨する。
材表面にウェーハを液体等で吸着保持させ、下定盤に研
磨布を装着して研磨する。この弾性保持材は、一般にウ
レタン樹脂組成物を湿式凝固法で処理して形成される。
で湿式凝固処理によってウレタン樹脂組成物を発泡させ
、担体上に発泡層を生成させる。これを乾燥し、多くの
場合発泡層の表面に形成されている比較的硬いスキン層
をハブして弾性保持材を得る。
はすぐに剥がれてしまうので、通常弾性保持材を強制的
に担体表面から剥がして別の補強フィルム等の剛性材料
に接着剤で貼付けられる。
物で製造されている。このような保持材から研磨時に発
生する異物が研磨上の障害を発生する。
持材には、黒色顔料が配合されてり、顔料中のカーボン
ブラックはウェーハ研磨工程中に薄い液層を介してウェ
ーハと接触することになる。
質に直接的な影響は与えないが、生じた微小粒子がウェ
ーハ表面のスクラッチの原因となったり、シリコン表面
とファン・デル・ワールス力で強固に結合し、パターン
(回路)作成時にパターン欠陥を生じる恐れがある。つ
まり、カーボンブラックのような汚染物質は、研磨工程
中に存在又は発生しないか除去されていることが、1〜
4Mチップの製造には必要である。
されているので、その用いた接着剤の塗布厚みの各部位
におけるばらつき等によって、弾性保持材の表面に凹凸
やうねりを生じる欠点があり、しかも弾性保持材自体の
厚みのばらつきや、平面性の欠如によってもウェーハの
研摩精度が悪くなるという欠点がある。しかも、弾性保
持材表面に凹凸やうねりが形成されているために、弾性
保持材表面とウェーハ端部との間に隙間ができ易く、そ
の結果その隙間から研磨液がウェーハの裏面(非研磨面
)側へ侵入することがあり、研磨剤がウェーハに付着乾
燥して洗浄が困難となる欠点がある。
ーハに対応すべく、ウェーハを汚染する恐れのあるカー
ボンブラックを全く含まずに、厚み精度の優れた半剛性
支持体に、直接に結合した発泡層を設け、上記発泡層の
表面はハブされ、上面が開放された垂直な多数の穴を持
ち、全体構造としても格段に厚み精度を向上させた積層
体であって、発泡層を担体から剥離して別の担体上に接
着し直す必要がなく、また製造が簡単な被研磨部材の保
持材及び研磨布等に使用することができる積層体を提供
することにある。
脱着が容易で、工程の自動化が可能となる上に、ウェー
ハの研磨精度を向上することができ、また研磨剤がウェ
ーハに付着するおそれがなくて品質を高めることができ
る被研磨部材の保持材を提供することにある。
り、支持体の厚み精度の高いものを用いれば、発泡体の
スキン層を高精度にハブ除去することにより、厚み精度
が大巾に向上した積層体を得ることができ、従来技術に
よる被研磨部材の保持材の如く、接着剤層の厚みムラを
加えることなく、高精度に厚みの均等な被研磨部材の保
持材および研磨布等として使用することができる積層体
を提供する。本発明は、研磨性に優れた研磨布を提供す
る。
ル重合体、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体、及び塩化
ビニル−酢酸ビニル−ビニルアルコール三元共重合体か
らなる群より選ばれる少なくとも一種のビニル重合体(
B)と、ジメチルボルムアミド(C)とを有する発泡層
組成物が、支持体上に直接に設けられて湿式凝固法によ
り発泡層が形成されており、そのことにより上記目的が
達成される。また、前記発泡層組成物には界面活性剤(
D)が配合されてもよい。
面に形成されたスキン層が、ハブされており、そのこと
により上記目的が達成される。
層の裏面には、離型紙が剥離可能に付着されていてもよ
(、また、該保持材は、前記発泡層の表面にテンプレー
トを設けたテンプレートアセンブリー七して構成するこ
とも、また、テンプレートのリセス(貫通孔)内で遊動
的にウェーハを保持するインサートとして使用すること
もできる。
たスキン層が、ハブされており、そのことにより上記目
的が達成される。前記支持体の裏面には、粘着剤層が形
成され、該粘着剤層の裏面には離型紙が剥離可能に付着
されていてもよく、そのことにより、研磨機の定盤面に
貼着して、研磨液を共存させ、ウェーハ表面を研磨する
こともできる。
厚み精度も優れたものとなり、ウェーハ研磨の工程にお
いて、精度及び均一性を高め、繰返し連続使用時のばら
つきも極度に小さくできることになる。
ーテル系ウレタン樹脂、ポリエステル系ウレタン樹脂、
ポリエステルエーテル系ウレタン樹脂のいずれのものも
使用することができる。各ウレタン樹脂の製造に使用さ
れるポリオール成分としては、例えばポリオキシエチレ
ングリコール、ポリオキシプロピレングリコール、ポリ
オキシテトラメチレングリコール、ポリエチレンアジペ
ート、ポリプロピレンアジペート、ポリオキシテトラメ
チレンアジペート等をあげることができ、またイソシア
ネート成分としては、例えば4.4′−ジフェニルメタ
ンジイソシアネート、2.4−トリレンジイソシアネー
ト等があげられる。鎖伸張剤成分としては、エチレング
リコール、1,4−ブタンジオール、プロピレングリコ
ール等があげられる。さらに、重合停止剤としては、エ
タノール等のアルコール類及びジエチルアミン等のアミ
ン類があげられる。また反応時の溶媒としては、例えば
ジメチルホルムアミドがあげられる。
ら通常の重合反応によって得られる。すなわち、前記ポ
リオール成分と前記イソシアネート成分とを反応させ、
両末端がイソシアネート基である反応物を得、次いでジ
メチルホルムアミドを加えて反応物を溶解させる。次い
で、鎖伸長剤、重合停止剤を溶かしたジメチルホルムア
ミド溶液を、撹拌下に先の該反応物に加えて反応させ、
ウレタン重合体のジメチルホルムアミド溶液を得る。
ル、イソシアネート成分として、4,4゛ジフエニルメ
タンジイソシアネート、鎖伸長剤として、1,4−ブタ
ンジオール、重合停止剤としてエタノール、溶媒として
ジメチルホルムアミドを用いて重合したウレタン重合体
のジメチルホルムアミド溶液が本発明の積層体を製造す
る場合特に好適である。
げられる。
重合体; 「クリスボン1367J又は[クリスボン1
387J (いずれも大日本インキ化学工業株商品名
) ■エステル系ウレタン重合体; 「クリスボン8966
。
コール共重合体主鎖のエーテル系ウレタン重合体;[レ
ザミン8500J (大日精化工業■商品名) 本願発明で使用するウレタン重合体(A)、ビニル重合
体(B)、ジメチルホルムアミド(C)、界面活性材(
D)及び工程中の凝固液等の中には、金属性、イオン性
不純物が混入していないことが必要である。
化ビニル−酢酸ビニル共重合体、及び塩化ビニル−酢酸
ビニル−ビニルアルコール三元共重合体からなる群より
選ばれる少なくとも一種が使用される。従って、上記か
ら選ばれる一種、あるいはそれらの混合物を使用するこ
とができる。
られる。
neco Chemicals社商品名) ■塩化ビニルー酢酸ビニル共重合;「デンカビニル#1
0100O:+ (PVC/、PVAC=70/30
(重量組成比):電気化学工業■商品名) ■塩化ビニルー酢酸ビニルーポリビニルアルコール三元
共重合体: 「デンカビニール#1000GKT J(
PVC/、 PVAC/、 PVA=91/3/6(重
量組成比):電気化学工業■商品名)等 上記各商品の組成重量%を表1に示す。
ビニルアプレコール 上記C成分のジメチルホルムアミドは溶媒として使用さ
れるものであり、その添加量は発泡層組成物の粘度、発
泡性等に応じて適宜変更してもよい。また、他の溶剤が
添加されてもよい。
性剤等の分散安定剤及び湿式凝固助剤が添加されていて
もよい。使用できる界面活性剤としては、例えば、次の
性質を有する界面活性剤が好ましい。
活性剤を1.0重量部以上加えた混合物を支持体上に塗
工した後、35℃水中に浸漬凝固させた時、浸漬開始か
ら10分経過後に、塗工面に300g/cdの圧力でφ
10nm径の圧子を接触させ、次いで引離した時、圧子
の押跡が塗工面に残らないような界面活性剤が望ましい
。
れる。
オン系、ジオクチルスルホコハク酸ソーダ)■グリスボ
ンアシスタ−5D−11(大日本インキ化学工業■製商
品名) 本発明で使用される発泡層組成物の各成分の含有量は、
発泡層組成物の固形分中において以下の範、囲が好まし
い。すなわち、ポリウレタン重合体は55〜98重量%
が好ましく、さらに好ましくは60〜80重量%である
。ビニル重合体は2〜45重量%が好ましく、さらに好
ましくは10〜40重量%である。溶媒であるジメチル
ホルムアミドは、発泡層組成物の粘性及びそれに基づく
塗工性に応じて適宜設定することができる。
のであり、その発泡層組成物中における含有量は0.0
1〜6.0重量%が好ましく、さらに好ましくは1.0
〜5.0重量%である。
ルイミド、ポリウレタン等の樹脂のフィルム、シート、
プレートを使用するのがよく、表面が平滑で、使用目的
に応じた補強強度をもつものが選択して使用される。使
用に先立って、支持体の発泡層組成物を塗工する側は、
メチルエチルケトル等の溶剤でその表面を脱脂するのが
好ましい。支持体としては、研磨液に対する化学的耐性
および耐水性を持ち、均質で厚み精度のすぐれたものを
選ぶことが重要であり、好適には「ルミラー188UM
TJ (東し■商品名)があげられる。
調製するのが好ましい。
ホルムアミド(C)とを混合してビニル重合体のジメチ
ルホルムアミド溶液を調製し、次にこの溶液とウレタン
重合体(A)のジメチルホルムアミド溶液とを混合して
発泡層組成物を調製する方法であり、他の方法は上記ビ
ニル重合体(B)と、ジメチルホルムアミド(C)とを
混合してビニル重合体のジメチルホルムアミド溶液を調
製し、次にこの溶液とウレタン重合体(A)及び界面活
性剤(D)のジメチルホルムアミド溶液とを混合して発
泡層組成物を調製する方法である。
混合機、混練機を使用することができる。
坦な支持体の一方の表面に塗工する。また、その発泡層
組成物を塗工する前に、支持体の表面を脱脂処理を施す
のが好ましい。脱脂処理はメチルエチルケトン等の溶剤
で行うことができる。
コータ等により上記発泡層組成物を塗工するのが好まし
い0発泡層組成物の厚みは限定するものではないが、例
えば100μ111〜1000μmとするのが好ましい
。
任意の方法が採用されてよく、例えば、以下に示す常法
に基づいて行うことができる。すなわち、発泡層組成物
が塗工された支持体を、所定温度の水中に浸漬した後、
次に所定温度の湯中に一定時間浸漬する。この浸漬中に
、発泡層組成物に含まれる溶剤は水の浸透によって置換
することにより発泡層組成物は脱溶剤され、発泡層組成
物が低発泡し、弾性ある発泡層が支持体上に形成される
0次に、水中からこのものを取り出し、所定温度及び所
定時間熱風乾燥し、次いで室内に放置して積層体が得ら
れる。
れており、この積層体は次の工程を経て第1図に示す被
研磨部材の保持材を製造することができる。
発泡層1は、その表面にスキン層なる硬い皮膜層が形成
されているので、このスキン層をハブ(ハブィング)に
より除去する。ハブ加工は、通常発泡層1の表面から約
100及至150μ糟行うのが好ましい。この時、ハブ
された発泡層lの表面部は平面状に切断されるために、
上面が開放する穴部1aが多数形成される。また、本発
明によれば、上記したように、接着剤等を用いることな
く、発泡層lは直接支持体2上に固着されるために、ハ
ブ処理後の発泡層lの厚みは均一であり、また発泡層1
の表面状態は均一で、表面の凹凸も格段に小さいのであ
る。また、本発明によれば、湿式凝固工程により、支持
体2上に直接発泡層1が一体的に設けられているために
、ハブ加工時に除去できる発泡層1の除去代を多くとる
ことができ、全体として従来よりも薄い発泡層1を得る
ことができる。従来の、接着材等を用いた貼合わせ工程
による方法では、担体から発泡層を剥がす際に発泡層が
破断されるのでその防止のため、所定以上の物理的強度
を付与する必要から、ハブ加工時の発泡層の除去代を多
(とれず、発泡層の厚みをある厚さ以上に薄くできなか
った。本発明では前述のように発泡層1を薄膜にできる
ので、ウェーハの保持材又は研磨布のいずれで使用した
場合にも、ウェーハ研磨時の発泡層1の絶対変形量が著
しく小さくなり、研磨されるウェーハの研磨精度及び均
一性を高めることができるのである。特に、上記したよ
うに発泡層組成物に界面活性剤を配合することにより、
上記穴部1aの直径をさらに均一に揃えることができる
。
研磨部材の保持材Aが得られる。
体2の裏面に粘着剤層3を設け、この粘着剤層3の粘着
面に離型紙4を剥離可能に付着するのが好ましい。粘着
剤層3は、両面粘着テープを支持体2裏面に貼付けるこ
とにより設けるのが好適である。このようにすれば、粘
着剤層3から離型紙4を剥離して該粘着剤層3を定盤に
貼付けることにより、被研磨部材の保持材Aを定盤に簡
単に取付けることができる。
ハ、ガラス、金属等をはじめ、あらゆる被研磨部材の保
持材に適用することができる。特に、本発明の被研磨部
材の保持材をウェーハ研磨のために使用する場合には、
上記ハブ面には平板に開口部を設けて成るテンプレート
を設けることが好ましい。ハブ面上にウェーハを水等で
吸着させて研磨に供する時、テンプレートの開口部内に
ウェーハを配置することにより、ウェーハが回転や遠心
力で移動、飛散しないようにすることができる。テンプ
レートの型式やサイズには各種のものがあり、目的に応
じて適宜変更することができる。テンプレートには、ガ
ラス入りエポキシ樹脂、硬質ウレタン樹脂、硬質塩化ビ
ニル樹脂、フェノール樹脂製のシート又はプレートを使
用することができる。テンプレートの一例として、直径
230値の円板に、直径103 mmの円形状の開口部
を3個設けたものなどが使用され、この形状や寸法等は
任意に研磨機の定盤に合わせて設定することができる。
層組成物を調製することにより、支持体上に形成される
発泡層と支持体との結合力を高めることができる。すな
わち、ウレタン重合体は接着剤として用いられているよ
うに、極性の強いウレタン基を持った凝集力の強い高分
子である。
レートも同様に、極性の強いエステル基を有しており、
この支持体と発泡層中の一ヒ記ウレタン重合体とはファ
ン・デル・ワールスカや水素結合よって結合する要素を
互いに有している。しかし、強固な結合力を得るために
は、両者の結合に寄与する極性基の数を増大させ、かつ
極性基が互いに力を及ぼす範囲内に接近させる必要があ
る。
ン重合体の中にハードセグメントと呼ばれる結晶領域を
形成する。ウレタン重合体だけのジメチルホルムアミド
溶液をポリエチレンテレフタートの支持体上に塗布した
場合には、ウレタン基同士の凝集が強過ぎるために、こ
のウレタン溶液で生成される発泡層には、支持体のポリ
エチレンテレフタートに対して有効に作用するウレタン
基の数が少なく、結合力としては弱いものにしかならな
い。
力を緩和させる成分を添加することにより、支持体に対
して有効に作用するウレタン基の数を増加させ、両者間
の強固な結合力が得られるようにしたものである。つま
り、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル−酢
酸ビニル−ビニルアルコール三基共重合体中のアセチル
基やヒドロキシル基がウレタン基との間でファン・デル
・ワールスカや水素結合によって結びつけられ、一方ア
セチル基やヒドロキシル基は長い塩化ビニル鎖につなが
っており、この塩化ビニル鎖がウレタン基間の凝集を抑
える働きをすると考えられる。
ており、ウレタン基と相互作用を及ぼし、結びつく可能
性をもっていて、塩化ビニル重合体だけが存在する場合
でも、同様にウレタン基の凝集力を緩和させる効果があ
ると考えられる。
エステル基に対し有効に作用し、発泡層と支持体との間
に強固な結合力が生まれるものと推察される。また、発
泡層組成物中にアセチル基や水酸基(ポリビニルアルコ
ールからの寄与)が共存すると、これらは、ウレタン基
やポリエチレンテレフタレートのエステル基と相互作用
するので、発泡層とポリエチレンテレフタレートフィル
ムとの結合に対し補助的効果を与え、さらに結合力が増
加するものと考えられる。また、上記では支持体として
ポリエチレンテレフタレートについて説明したが、上記
した他の支持体についても同様な機構によって支持体と
発泡層との結合力が向上するものと推察される。
用いて、ウェーハを研磨する場合を説明する。
の一方の定盤に粘着させる。この保持材の表面には発泡
層が設けられ、発泡層の表面にはハブ層が形成され、ハ
ブ層の表面に上記したテンプレートが積層されている。
に、半導体ウェーハを研磨加工する場合、−次研磨加工
(場合によっては二次研磨加工をすることがある)及び
仕上げ研磨加工に大別される。−次研磨加工(あるいは
二次研磨加工)では、研磨によるウェーハの除去代を多
くとらざるを得す、研磨に用いられる研磨布は、例えば
不織布にウレタン樹脂を含浸して湿式凝固することによ
り発泡させて得られる比較的表層の硬い樹脂高密度のも
の等が使用される。仕上研磨加工では研磨によるウェー
ハの除去代は前者よりも少く、研磨布としては前者より
も表層の比較的柔らかなものがよく、本発明の研磨布は
この目的には好適であって全体としての厚みの均一性が
優れているため、特に、仕上研磨加工用として好適であ
る。この場合も裏面側の粘着剤層によって簡単に研磨布
を取りつけることができる。そして、上記保持材のハブ
層表面に、ウェーハを吸着させる。
けられているので、水等を介してウェーハをハブ層表面
に押圧することにより、簡単に吸着させることができる
。次に、研磨布とウェーハ間に研磨液を供給して画定盤
を相対的に回転させることによりウェーハ表面を研磨す
ることができる。
したようにハブ層の表面状態が均一であって、その厚み
のばらつきが少なく、しかも表面の凹凸やうねり等が非
常に小さいので、上記ウェーハ表面の仕上がり研磨精度
を向上することができる。
る。
(を気化学工業■商品名)10重量部を、50〜70’
Cに加熱したジメチルホルムアミド100重量部に投入
し、約2時間撹拌して溶解させ、ビニル重合体溶液を得
た。
ンキ化学工業■商品名)100重量部と上記ビニル重合
体とを混合し、攪拌して均一な発泡層組成物を得た。
方の面をメチルエチルケトンで脱脂処理し、メチルエチ
ルケトンが完全に蒸発した後、ポリエチレンテレフタレ
ートフィルムの上面にナイフコータによって上記で得ら
れた発泡層組成物を塗工した。厚みは約500 μ鵠と
した。
層組成物が塗工された積層物を、水温35°Cの水中に
約60分間浸漬し、次に50°Cの湯中に約24時間浸
漬した。この処理によって、発泡層組成物中のジメチル
ホルムアミドは水の浸透により水と置換され、発泡層組
成物は発泡し、弾性ある発泡層が形成された0次いで、
このものを水中から取り出して80°Cで4時間熱風乾
燥し、その後20°C・65%RHの雰囲気下で24時
間放置した。
チレンテレフタレートフィルムと強固に結合しており、
この発泡層をフィルムから剥がすことはできなかった。
いるので、このスキン層をハブ(ハブィング)により除
去した。ハブは発泡層の表面から約100及至150μ
−行った。ハブされた表面(ハブ面)には上方が開放す
る多数の穴部が現れた。
両面粘着テープを貼付けて粘着剤層を形成し、この粘着
剤層の裏面側に離型紙を付着させた。
胴の円形状の開口部が3個設けられたプレートを用いた
。
層との剥離力を試験し、また厚みを測定した。
切出して試験片を作成し、この試験片の長手側端部の約
10mm部分をメチルエチルケトンに1〜2秒浸漬した
後取出し、発泡層とポリエチレンテレフタレートフィル
ムを手で約10−15M剥がして剥離試験時のつかみし
ろを作った。
所製商品名)を使用し、上記試験片の発泡層とフィルム
のつかみしろを固定して、これらを相対的に100閣/
winの速度で離れる方向へ引っ張り、180゜剥離試
験を行った。
破壊とは、発泡層が支持体に固く密着していたために上
記剥離試験において発泡層が破断したことを意味する。
中での浸漬凝固中に自然に発泡層が支持体から剥がれた
ことを意味する。
2.5C11以上の剥離強さ又は材料破壊を生じたもの
を良(0) 、350 g/2.5 ctn程度の剥離
強さを有するものを(Δ)、それ以外を否(×)とした
。
なるように静置し、次に、デジタルリニアゲージrlD
B−112M J (■三豊製商品名)を使用し、1
00g/ dの荷重が負荷されるように圧子を該支持体
と接触させ、接触後、60秒経過した時の数値を厚みの
測定値とした。厚みの測定点は支持体の縦横に50mm
間隔となるようにし、総計121点とした。
る比較例1で得られたものの2種類とした。比較例1で
得られるサンプルは、比較例1で用いたウレタン溶液を
離型材上に塗工し、次いで上記実施例1と同様に湿式凝
固させて発泡層を形成し、この発泡層のスキン層表層を
ハブィングにより除去し、次いで該発泡層を離型材から
剥がした後、ポリエチレンテレフタレートフィルム上に
接着剤で貼合せたものである。これらの測定結果を表2
に示した。
の平均値であり、厚みの範囲は、厚み最大値−厚み最小
値を示している。変動係数は、100×厚みの標準偏差
/厚みの平均値を示している。
の平均値 上記表2の結果から、本実施例で得られた保持材は、発
泡層の厚みが均一であり、ハブ層表面の凹凸も極めて小
さいことがわかる。
支持体としてポリエチレンテレフタレートシート又はポ
リエチレンテレフタレートシートを用いた他は、実施例
1と同様にして被研磨部材の保持材を得た。
。その結果を表3に示した。
、実施例1と同様にして被研磨部材の保持材を得た。得
られた保持材の剥離強さを実施例1と同様に測定し、そ
の結果を表3に示した。
と同様にして被研磨部材の保持材を得た。
。その結果を表3に示した。
チルホルムアミド100重量部に配合して均一に混合し
、ウレタン溶液を得た。
体上に塗工して被研磨部材の保持材を得た。
を測定した。その結果を表3に示した。
enneco Chemicals 社商品名)10
重量部を用い、同様の操作を行い、被研磨部材の保持材
を得た。
の結果を表4に示した。
変えた他は、実施例9と同様にして被研磨部材の保持材
を得た。この保持材について、実施例1と同様にして剥
離力を測定した。その結果を表4に示した。
せた以外は、実施例9と同様にして被研磨部材の保持材
を得た。この保持材について実施例1と同様にして剥離
力を測定した。その結果を表4に示した。
した他は、実施例1と同様にして被研磨部材の保持材を
製造した。得られた保持材の剥離力を実施例1と同様に
して測定した。その結果を表5に示した。
にも良好な剥離力が得られることが確認された。
れた本発明積層体のポリエステル面に両面粘着剤層、離
型紙をこの順に積層してなる研磨布A(第1図)として
の評価をおこなった。本発明で得られた該研磨パッドを
半導体ウェーハ研磨機の20″サイズの下定盤に気泡を
巻き込まない様に貼着し、4”サイズの半導体シリコン
ウェーハの仕上研磨をおこなった。研磨は100g/c
iの圧力をかけて研磨液として、コロイダルシリカ希釈
液を流量が30077分となるように通流しつつ、研磨
布を10o r、p、mにて回転させて1サイクル5分
間の研磨を繰返し、10サイクルおこなった。研磨され
たシリコンウェーハを洗浄および乾燥後にその表面品位
を観察した。該表面品位の評価は暗室にてウェーハ表面
に光を投射し、その表面のヘイズ(微小な表面不規則性
の集合部で光が散乱される状態を肉眼で判断する。(J
EIDA−26−1974;日本電子工業振興協会「シ
リコン鏡面ウェーハの外観検査に関する標準仕様」に準
拠))の程度や傷の観察をおこなった。その結果、当該
研磨布を使って仕上研磨されたシリコンウェー八を観察
したところ、光散乱のない、つまりくもりのない、ヘイ
ズ程度良好なものが85%発生した。これは、従来のス
ェード調研暦布に比し、当該研磨布の平面精度が向上し
たこと、微孔のサイズ、分布の均一性が向上し、研磨液
の保持、放出ムラが少なくなったことに起因すると考え
られる。尚、従来のスェード調研磨布を使用して同様に
行った結果はヘイズ程度良好なもの70%の発生率であ
った。また、ウェーハ表面の傷を観察したところ、傷の
発生はなく、研磨布として使用できた。
接に接触するウレタン発泡体層中のカーボンブラックを
完全に排除したために、従来品のようにウェーハを汚染
することがなく、ウェーハの品質を著しく高めることが
できる。本発明品によって半導体の高集積度化に対応す
るウェーハを生産することができる。
的に形成されていて、発泡層が支持体から剥離すること
がないために、従来のようにその発泡層を剥離して他の
担体上に接着させる必要がない。従って、発泡層を補強
する手間、工程が著しく減少され、製造効率を向上する
ことができる。
着材の塗布むら等によってハブ層に凹凸やうねりを生じ
ることがないので、研磨仕上り精度を向上することがで
きる。しかも、従来のように研磨剤がウェーハに付着す
るおそれがなくて品質を高めることができる。さらに、
従来では発泡層を担体表面から剥離していたために、発
泡層がその剥離の際に破断するのを防止するためには所
定以上の厚みを有する必要があったが、本発明の保持材
では、生成する発泡層を支持体表面から剥がすことがな
いので薄い発泡層を利用することが可能である。また、
発泡層組成物に界面活性剤を加えることにより、上記効
果に加えて発泡層の穴径が均一となり、ウェーハの装着
時の吸着性に優れている。
凹凸やうねりを生しることがないので、研磨仕上り精度
を向上することができ、また薄い発泡層の研磨布を作成
することもできる。
布の断面図である。
4・・・離型紙。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、ウレタン重合体(A)と、塩化ビニル重合体、塩化
ビニル−酢酸ビニル共重合体、及び塩化ビニル−酢酸ビ
ニル−ビニルアルコール三元共重合体からなる群より選
ばれる少なくとも一種のビニル重合体(B)と、ジメチ
ルホルムアミド(C)とを有する発泡層組成物が、支持
体上に直接に設けられて湿式凝固法により発泡層が形成
されている積層体。 2、前記発泡層組成物には、界面活性剤(D)が配合さ
れている請求項1記載の積層体。 3、請求項1又は2記載の積層体の発泡層表面に形成さ
れたスキン層が、ハブされている被研磨部材の保持材。 4、前記支持体の裏面には、粘着剤層が形成され、該粘
着剤層の裏面には離型紙が剥離可能に付着されている請
求項3記載の被研磨部材の保持材。 5、前記発泡層の表面には、テンプレートが設けられて
いる請求項3又は4記載の被研磨部材の保持材。 6、請求項1又は2記載の積層体の発泡層表面に形成さ
れたスキン層が、ハブされている研磨布。 7、前記支持体の裏面には、粘着剤層が形成され、該粘
着剤層の裏面には離型紙が剥離可能に付着されている請
求項6記載の研磨布。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4285689A JPH02220838A (ja) | 1989-02-22 | 1989-02-22 | 積層体、並びに該積層体を用いた被研磨部材の保持材及び研磨布 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4285689A JPH02220838A (ja) | 1989-02-22 | 1989-02-22 | 積層体、並びに該積層体を用いた被研磨部材の保持材及び研磨布 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02220838A true JPH02220838A (ja) | 1990-09-04 |
| JPH0547392B2 JPH0547392B2 (ja) | 1993-07-16 |
Family
ID=12647665
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4285689A Granted JPH02220838A (ja) | 1989-02-22 | 1989-02-22 | 積層体、並びに該積層体を用いた被研磨部材の保持材及び研磨布 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02220838A (ja) |
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