JPH02225638A - フレキシブルプリント用銅合金圧延箔 - Google Patents
フレキシブルプリント用銅合金圧延箔Info
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- JPH02225638A JPH02225638A JP4561089A JP4561089A JPH02225638A JP H02225638 A JPH02225638 A JP H02225638A JP 4561089 A JP4561089 A JP 4561089A JP 4561089 A JP4561089 A JP 4561089A JP H02225638 A JPH02225638 A JP H02225638A
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Landscapes
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- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、フレキシブルプリント用鋼合金圧延箔に係り
、詳細には、たとえば、プリント回路、テープキャリヤ
などの配線回路に使用されるフレキシブルプリント用銅
合金圧延箔に関するものである。さらに詳しくは、極微
細加工性、Snめっき被覆時の耐ウィスカ性、耐熱性お
よび導電性に優れるフレキシブルプリント用銅合金圧延
箔に関するものである。
、詳細には、たとえば、プリント回路、テープキャリヤ
などの配線回路に使用されるフレキシブルプリント用銅
合金圧延箔に関するものである。さらに詳しくは、極微
細加工性、Snめっき被覆時の耐ウィスカ性、耐熱性お
よび導電性に優れるフレキシブルプリント用銅合金圧延
箔に関するものである。
[従来の技術]
プリント回路などの電気回路には5〜40μlの厚さの
銅箔が多用されている。このような銅箔には電解鋼箔と
圧延銅箔がある。
銅箔が多用されている。このような銅箔には電解鋼箔と
圧延銅箔がある。
プリント回路基板には、ガラスエポキシ、紙フエノール
などの基板上に銅箔をクラッドした後、レジストエツチ
ング法により所望の回路パターンに形成した基板のほか
に、ポリイミドなどのフィルムに銅箔を張り合せできる
フレキシブル回路基板もある。これらの一部はテープキ
ャリヤ、TAB (Tape Automated B
onding )リードとして半導体チップの実装に使
用されている。フレキシブル回路基板にはフレキシビリ
ティの点で優る圧延箔が使用される。
などの基板上に銅箔をクラッドした後、レジストエツチ
ング法により所望の回路パターンに形成した基板のほか
に、ポリイミドなどのフィルムに銅箔を張り合せできる
フレキシブル回路基板もある。これらの一部はテープキ
ャリヤ、TAB (Tape Automated B
onding )リードとして半導体チップの実装に使
用されている。フレキシブル回路基板にはフレキシビリ
ティの点で優る圧延箔が使用される。
近年、電気機器の小型化と高密度化と多機能化にともな
って、プリント回路基板の高密度が強く求められており
、このため小型チップ部品を高密度実装ができる表面実
装方式が次第に採用され始めた。
って、プリント回路基板の高密度が強く求められており
、このため小型チップ部品を高密度実装ができる表面実
装方式が次第に採用され始めた。
テープキャリヤやTABのリードは、最近では、ピッチ
間距離が80g厘以下にも近接するようになってきてい
る。
間距離が80g厘以下にも近接するようになってきてい
る。
[発明が解決しようとする課題]
圧延箔としては通常タフピッチ鋼および無酸素鋼が使用
されているが、いずれもリードとして使用する場合、電
子デバイスと接合する部分は厚さ5μ膳のNi下地めっ
きを形成し、さらに、その上に厚さ1μ露の^Uめつぎ
を形成している。
されているが、いずれもリードとして使用する場合、電
子デバイスと接合する部分は厚さ5μ膳のNi下地めっ
きを形成し、さらに、その上に厚さ1μ露の^Uめつぎ
を形成している。
配線のリード間ピッチが80μ−と狭い接続部分には上
記の旧下地めっきとAuめっき被覆が常識とされていた
。
記の旧下地めっきとAuめっき被覆が常識とされていた
。
旧下地めっき上にAuめっきを行ったものは信頼性の高
いものではあるが、高価なものであるため、それに代る
安価なSnめっきが試みられている。しかし、Snめフ
きの場合は短時間でのウィスカ発生による配線間の短絡
が生ずるという課題がある。一方、ウィスカ対策のため
Snめっきに代えはんだめっきが検討されている。しか
し、はんだめっきでははんだ密着性不良という不具合い
が生じるため、この考え方は実用化には至フていない。
いものではあるが、高価なものであるため、それに代る
安価なSnめっきが試みられている。しかし、Snめフ
きの場合は短時間でのウィスカ発生による配線間の短絡
が生ずるという課題がある。一方、ウィスカ対策のため
Snめっきに代えはんだめっきが検討されている。しか
し、はんだめっきでははんだ密着性不良という不具合い
が生じるため、この考え方は実用化には至フていない。
本発明は銅合金系圧延箔に係るもので、従来のCu圧延
箔の代りに、接合部およびその近傍のめっきを、Mlめ
っきと^Uめっきの2層めフきからSnめっきないしは
んだめっきに置ぎ代えることが可能となり、しかも、そ
のSnめっき層がウィスカを全く生じず、はんだ接合時
の280℃での加熱によっても母材が軟化せず、錫およ
びはんだの!jl殖も150℃×10σOHr保持後に
も起こらず、また、強度導電率も高い箔でありて、しか
も、 5μmの厚さで80μ■程度のピッチでレジスト
エツチングしても目標通りに非常にきれいにエツチング
できるフレキシブルプリント用銅合金圧延箔を提供する
ことを目的とする。
箔の代りに、接合部およびその近傍のめっきを、Mlめ
っきと^Uめっきの2層めフきからSnめっきないしは
んだめっきに置ぎ代えることが可能となり、しかも、そ
のSnめっき層がウィスカを全く生じず、はんだ接合時
の280℃での加熱によっても母材が軟化せず、錫およ
びはんだの!jl殖も150℃×10σOHr保持後に
も起こらず、また、強度導電率も高い箔でありて、しか
も、 5μmの厚さで80μ■程度のピッチでレジスト
エツチングしても目標通りに非常にきれいにエツチング
できるフレキシブルプリント用銅合金圧延箔を提供する
ことを目的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明のN1の要旨は%Fe:0.05〜0.201
(重it以下同じ) 、P:0.02〜0.201
、Zn:1.O〜5.0k(ただし、!、鴎は除く )
、10ppm以下のSを含有し、残部Cuと不純物と
からなることを特徴とするフレキシブルプリント用銅合
金箔に存在する。
(重it以下同じ) 、P:0.02〜0.201
、Zn:1.O〜5.0k(ただし、!、鴎は除く )
、10ppm以下のSを含有し、残部Cuと不純物と
からなることを特徴とするフレキシブルプリント用銅合
金箔に存在する。
本発明の第2の要旨は、Fa:0.05〜0.201
、 P:0.02〜0.201 、 Zn:1.0〜5
.0X (ただし、1.0′4は除く ) 、 10p
pm以下のSを含有し、不純物と酸素との合計が50p
pm以下、残部Cuかうなることを特徴とするフレキシ
ブルプリント用銅合金箔に存在する。
、 P:0.02〜0.201 、 Zn:1.0〜5
.0X (ただし、1.0′4は除く ) 、 10p
pm以下のSを含有し、不純物と酸素との合計が50p
pm以下、残部Cuかうなることを特徴とするフレキシ
ブルプリント用銅合金箔に存在する。
本発明の第3の要旨は、箔の厚さを40μm以下とした
ことを特徴とする請求項!または請求項2に記載のフレ
キシブルプリント用銅合金圧延箔に存在する。
ことを特徴とする請求項!または請求項2に記載のフレ
キシブルプリント用銅合金圧延箔に存在する。
[作 用]
本発明の含有元素の作用効果および限定理由を説明する
。
。
Znはt SRAM材のウィスカ発生を抑制し、Snめ
っ籾ないしはんだめっきの密着性を向上させ、導電率を
高める。そのためには、19gを超えてZnを含有させ
る必要がある。。
っ籾ないしはんだめっきの密着性を向上させ、導電率を
高める。そのためには、19gを超えてZnを含有させ
る必要がある。。
znを1零を超えて含有させると、密着性を悪くする金
属間化合物(Cu3Sn)相の生成を抑制でき、Cu、
Sn相の母材側に生ずるカーケンダールホイドの生成を
抑制でき、密着性が向上するものと考えられる。
属間化合物(Cu3Sn)相の生成を抑制でき、Cu、
Sn相の母材側に生ずるカーケンダールホイドの生成を
抑制でき、密着性が向上するものと考えられる。
また、Snめフぎ中へ微量のZnが拡散し、Snの内部
応力を緩和するため、ウィスカ成長を抑制していると思
われる。
応力を緩和するため、ウィスカ成長を抑制していると思
われる。
しかし、Znが5零を超えると耐ウィスカ性には問題は
ないが、導電率がl1OkIAC5未満となったり、黄
銅独特の応力腐食割れを生じやすい性質を保有してくる
という短所が表れてくるので、znは5零以下とする。
ないが、導電率がl1OkIAC5未満となったり、黄
銅独特の応力腐食割れを生じやすい性質を保有してくる
という短所が表れてくるので、znは5零以下とする。
次にSの含有量の上限を定めた理由について記述する。
従来の銅合金においては、銅合金中ではSは多くはCu
Sとして存在し、 MnあるいはMgが不鈍物として含
有されていると、MnSとして存在する。いずれも、粒
赤中に届在し、そのためにエツチング時の不具合が生じ
ることを知見した。従来の銅合金においては、特に、5
〜40μl厚さの箔となるとレジストエツチングする場
合にエツチング液をはじいたりして、エツチングむらな
どの不具合いを生じていた0本発明者は、その原因の探
究を行った。その結果、その原因はSに存在することを
知見した。したがって、不具合の発生を防ぐためには、
Sを完全に除去することが望ましいが、原料・炉材、被
覆木炭、燃料などからの混入は避は難く、IDppm以
下と定めた。
Sとして存在し、 MnあるいはMgが不鈍物として含
有されていると、MnSとして存在する。いずれも、粒
赤中に届在し、そのためにエツチング時の不具合が生じ
ることを知見した。従来の銅合金においては、特に、5
〜40μl厚さの箔となるとレジストエツチングする場
合にエツチング液をはじいたりして、エツチングむらな
どの不具合いを生じていた0本発明者は、その原因の探
究を行った。その結果、その原因はSに存在することを
知見した。したがって、不具合の発生を防ぐためには、
Sを完全に除去することが望ましいが、原料・炉材、被
覆木炭、燃料などからの混入は避は難く、IDppm以
下と定めた。
また、酸素と不純物とについても、不純物が酸化物の状
態で存在すると、5〜40μ腫の厚さの箔では、上記の
Sと同様、エツチング時の微細加工を阻害することが分
かり、50ppm以下と定めた。
態で存在すると、5〜40μ腫の厚さの箔では、上記の
Sと同様、エツチング時の微細加工を阻害することが分
かり、50ppm以下と定めた。
S、酸素および不純物は、厚さが0.1 am以上の板
・条では、表面に現れても、それらの化合物の大きさ・
数・量は僅かであり、通常混入する量を制限する必要は
ないが、厚さ5〜40μ■の箔になると、圧延時のピン
ホールの発生、圧延切れ、さらには、前述のレジストの
接着不良、エツチング不良などが生じること紮木発明者
は知見し、前述の上限に定める。
・条では、表面に現れても、それらの化合物の大きさ・
数・量は僅かであり、通常混入する量を制限する必要は
ないが、厚さ5〜40μ■の箔になると、圧延時のピン
ホールの発生、圧延切れ、さらには、前述のレジストの
接着不良、エツチング不良などが生じること紮木発明者
は知見し、前述の上限に定める。
FeはPと燐化鉄を形成し、強度の向上とはんだ付は温
度条件での軟化を防止するための必須の元素である。し
かし、0.05零未満ではP(含有量0.02〜0.G
5零)の一部と化合して、燐化鉄を形成しても、強度向
上の効果は期待で鮒ない、また、Fa含有量が0.15
1を超えると、燐化鉄を形成し得ない固溶Faが増加し
、導電率を低下させるように作用する。よって、Faの
含有量は[1,05〜Q、15零とする。
度条件での軟化を防止するための必須の元素である。し
かし、0.05零未満ではP(含有量0.02〜0.G
5零)の一部と化合して、燐化鉄を形成しても、強度向
上の効果は期待で鮒ない、また、Fa含有量が0.15
1を超えると、燐化鉄を形成し得ない固溶Faが増加し
、導電率を低下させるように作用する。よって、Faの
含有量は[1,05〜Q、15零とする。
PはFeと燐化鉄を形成して強度の向上、軟化温度の向
上に寄与する元素であるが、含有量が0.02を末溝で
は強度向上等に寄与できる程ではなく、含有量がo、o
sxを超えると燐化鉄を形成し得ない固溶Pが増加し、
導電率を低下させるようになる。よって、P含有量は0
.02〜0.05にとする。
上に寄与する元素であるが、含有量が0.02を末溝で
は強度向上等に寄与できる程ではなく、含有量がo、o
sxを超えると燐化鉄を形成し得ない固溶Pが増加し、
導電率を低下させるようになる。よって、P含有量は0
.02〜0.05にとする。
以下、本発明を実施例によって説明する。
第1表に示す各種合金を黒鉛ツボで溶解して、金型鋳造
した。鋳塊を機誠加工により表裏面を各2.5mm面削
して50s+a+t X 70mmw X 20(1+
u+Ilとし、900℃の温度で厚さ10mmまで熱間
圧延し、aOO℃以上の温度から水冷し、スケール除去
後厚さ0.2mmまで冷間圧延し、ついで500℃×I
H「の中間焼鈍を行った1次に、入念に酸洗し、ざらに
冷間圧延を繰り返し、厚さ35μ層の箔を製作し、ピン
ホール、圧延切れを観察した。
した。鋳塊を機誠加工により表裏面を各2.5mm面削
して50s+a+t X 70mmw X 20(1+
u+Ilとし、900℃の温度で厚さ10mmまで熱間
圧延し、aOO℃以上の温度から水冷し、スケール除去
後厚さ0.2mmまで冷間圧延し、ついで500℃×I
H「の中間焼鈍を行った1次に、入念に酸洗し、ざらに
冷間圧延を繰り返し、厚さ35μ層の箔を製作し、ピン
ホール、圧延切れを観察した。
また、同様の手順によって、厚さ5μmと65μ鴎の箔
とを作製した。
とを作製した。
(エツチング性)
これらの箔について、幅100μm、間隔80μ曽、長
さ20μ−で50本のレジストを焼きつけ、塩化第2鉄
溶液40零でケミカルミーリングして、50木のリード
を製作その健全性を調査した。
さ20μ−で50本のレジストを焼きつけ、塩化第2鉄
溶液40零でケミカルミーリングして、50木のリード
を製作その健全性を調査した。
(ウィスカの発生程度)
アルカリ中で電界脱脂後硫酸洛中で電流密度3A/da
’によフて厚さ 1.5μ墓のSnめっきを行い、エポ
キシ樹脂系の接着材でSnめっきと反対側面を0.2m
鳳銅合金板で貼りつけ、曲げによって約4kg/l1m
2の圧縮応力を加え、室温で1年間放置後、ウィスカの
発生の有無を調査した。
’によフて厚さ 1.5μ墓のSnめっきを行い、エポ
キシ樹脂系の接着材でSnめっきと反対側面を0.2m
鳳銅合金板で貼りつけ、曲げによって約4kg/l1m
2の圧縮応力を加え、室温で1年間放置後、ウィスカの
発生の有無を調査した。
(軟化特性、導電率)
軟化特性については、木炭で被覆下で電気炉中でIHr
保持し、引張強度の6割の値を維持する温度を求めた。
保持し、引張強度の6割の値を維持する温度を求めた。
導電率は、JISHO5Q5に基づいた。
以上の試験結果をまとめて第1表に示した。
Znを1〜5零含む合金は、表面にSnめっきが行われ
ても、ウィスカが生ずることもなく、また、Sおよび酸
素とその他の不純物とを規制することによって厚さ 5
〜40μlの箔においてもレジストエツチング後の不良
率が2零以下と良好となった。
ても、ウィスカが生ずることもなく、また、Sおよび酸
素とその他の不純物とを規制することによって厚さ 5
〜40μlの箔においてもレジストエツチング後の不良
率が2零以下と良好となった。
特に、他の合金箔では、 5〜40μ塵と厚みが薄くな
ると、エツチング性の低下が著しいが、本発明の合金で
はほとんど低下しない。
ると、エツチング性の低下が著しいが、本発明の合金で
はほとんど低下しない。
また、はんだ付けなどの加熱によっても、1)1rの加
熱によっても、軟化温度2H℃以上を示している。なお
、表中には従来合金としてタフピッチ鋼(No、8)を
併記した。
熱によっても、軟化温度2H℃以上を示している。なお
、表中には従来合金としてタフピッチ鋼(No、8)を
併記した。
[発明の効果]
本発明によれば、従来のNiと^Uとのめっきの代わり
に、Snめっきを行っても、ウィスカ性を全く生ずるこ
ともない。
に、Snめっきを行っても、ウィスカ性を全く生ずるこ
ともない。
また、極微細加工後の歩留も向上する。
さらに、従来材より格段に優れる引張強度を有している
。
。
このように、本発明は、フレキシブルプリント用銅合金
箔として優れた特性を有しており、電子機器の小型化高
密度実装化、多機能化のための材料として優れた特性を
有している。
箔として優れた特性を有しており、電子機器の小型化高
密度実装化、多機能化のための材料として優れた特性を
有している。
Claims (3)
- (1)Fe:0.05〜0.20%(重量%以下同じ)
、P:0.02〜0.05%、Zn:1.0〜5.0%
(ただし、1.0%は除く)、10ppm以下のSを含
有し、残部Cuと不純物とからなることを特徴とするフ
レキシブルプリント用銅合金箔。 - (2)Fe:0.05〜0.20%、P:0.02〜0
.05%、Zn:1.0〜5.0%(ただし、1.0%
は除く),10ppm以下のSを含有し、不純物と酸素
との合計が50ppm以下、残部Cuからなることを特
徴とするフレキシブルプリント用銅合金箔。 - (3)箔の厚さを40μm以下としたことを特徴とする
請求項1または請求項2に記載のフレキシブルプリント
用銅合金圧延箔。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1045610A JP2531777B2 (ja) | 1989-02-27 | 1989-02-27 | フレキシブルプリント用銅合金圧延箔 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1045610A JP2531777B2 (ja) | 1989-02-27 | 1989-02-27 | フレキシブルプリント用銅合金圧延箔 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02225638A true JPH02225638A (ja) | 1990-09-07 |
| JP2531777B2 JP2531777B2 (ja) | 1996-09-04 |
Family
ID=12724139
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1045610A Expired - Fee Related JP2531777B2 (ja) | 1989-02-27 | 1989-02-27 | フレキシブルプリント用銅合金圧延箔 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2531777B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1630239A1 (en) | 2004-08-30 | 2006-03-01 | Dowa Mining Co., Ltd. | Copper alloy and method of manufacturing the same |
| JPWO2013153771A1 (ja) * | 2012-04-13 | 2015-12-17 | 日本発條株式会社 | 銅ベース回路基板 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63133402A (ja) * | 1986-11-21 | 1988-06-06 | 古河電気工業株式会社 | 電気回路用箔 |
| JPS63310935A (ja) * | 1987-06-11 | 1988-12-19 | Kobe Steel Ltd | 耐マイグレ−ション性の優れた高導電性銅合金 |
| JPS6411931A (en) * | 1987-07-03 | 1989-01-17 | Furukawa Electric Co Ltd | Copper alloy for flexible print |
| JPS6412539A (en) * | 1987-07-07 | 1989-01-17 | Nippon Mining Co | Manufacture of film carrier |
| JPS6456842A (en) * | 1987-08-27 | 1989-03-03 | Nippon Mining Co | Copper alloy foil for flexible circuit board |
-
1989
- 1989-02-27 JP JP1045610A patent/JP2531777B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| EP1630239A1 (en) | 2004-08-30 | 2006-03-01 | Dowa Mining Co., Ltd. | Copper alloy and method of manufacturing the same |
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| JPWO2013153771A1 (ja) * | 2012-04-13 | 2015-12-17 | 日本発條株式会社 | 銅ベース回路基板 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2531777B2 (ja) | 1996-09-04 |
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