JPH0222565A - 信号測定装置及び方法 - Google Patents

信号測定装置及び方法

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JPH0222565A
JPH0222565A JP1086695A JP8669589A JPH0222565A JP H0222565 A JPH0222565 A JP H0222565A JP 1086695 A JP1086695 A JP 1086695A JP 8669589 A JP8669589 A JP 8669589A JP H0222565 A JPH0222565 A JP H0222565A
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  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] 本発明は電子テスト機器に関し、とくに高周波(RF)
及びマイクロ波システムとその関連部品のテスト中、信
号を測定するための電子機器に関する。より詳細には本
発明は内部又は外部信号源のいずれかによって印加され
る掃引関数刺激に応じてテストされるRF及びマイクロ
波システムとその関連部品の種々の特性を測定するため
の電子テスト機器を構成するために、ユーザーがテスト
シーケンスを確定することを助けるための方法と装置と
に関する。
[発明の技術的背景及びその問題点] 伝統的にベクトル・ネットワーク・アナライザのような
多くの信号測定システムは研究及び開発技術者向けの製
品であると認識されてきた。しかし、メーカーはR,F
及びマイクロ波システムとその関連部品のテストに関す
る低コストでしかも製品テストの要請にみあうだけの性
能を備えた合理的な解決策を発見する必要性に直面して
いる。システム又は部品メーカーの製品テストの基準に
合致するようにとくに設計された安価なベクトル・ネッ
トワーク・アナライザはほとんどなく、あっても極くわ
ずかである。
更にテスト機器がより複雑になるにつれてテスト機器を
簡便に制御することに対する需要は高まってきている。
多くのベクトル・ネットワーク・アナライザの場合、R
F源と受信機とデイスプレィが存在する。これらの製品
はシステム又は部品の測定を異なる周波数、電力、及び
速度で行うように構成することができる。これらのベク
トル・ネットワーク・アナライザは異なる大刀を有する
異なるチャネルを測定でき、又、結果を多様な様式でデ
イスプレィすることができる。
これまで反復的測定を簡単化するため多くの異なる企て
が試みされてきた。(A S P、すなわちオート・シ
ーケンス・プログラミン外自動シーケンス・プログラミ
ング、ヒユーレット・パラカード・カンバー −ツバー
ツ#5920−2915)HP4194A、ASPプロ
グラミング・ガイド及びアンリッ・コーポレーション及
びアトパンテスト・コーポレーションのベーシックに開
示されている。)これらの実施例はプログラミング言語
を含み、測定のセットアツプ中にユーザーが自分の機器
を制御することはできない。
実施形態がより複雑になり、テストへの要求基準がより
徹底したものになるにつれて、ユーザーのインタフェー
スを簡易にし、同時にテスト時間を最短にすることの両
立がますます重要である。
テスト機器が複雑になるとユーザーのトレーニングも多
く必要になり、テスト・プロセス中のステップ数が増す
ごとに人間による誤りの可能性も増大する。生産型が十
分高い場合は多くのテスト機器は完全に自動化されてテ
ストの簡易化と迅速化が図られる。しかし、自動化すれ
ばテスト時間は短縮されるが、コンピュータを最初に購
入し、顧する。従って生産テスト用の組込み(buil
t−in)自動化の必要性がある。
[発明の目的] 本発明は、ユーザーによる所望のテストシーケンスの確
立を容易にするためのユーザー・インタフェースを提供
することを目的とする。
[発明の概要コ 本発明の一実施例はRF及びマイクロ波システムとその
関連部品の性能を特性化するための信号測定システムの
セットアツプ中に、ユーザーによるテストシーケンスの
確定を容易化するための方法と装置を提供する。本発明
はテストシーケンスの会話型プログラミングを提供する
。ルーチンはプログラムシーケンスを構成するステップ
のエントリー中に実時間で実行される。
本発明に基づくテスト順序付け(test seque
n−cing)によってニーず−はコンピュータなしで
、テストを自動化でき、又、付加的なコンピュータ・プ
ログラミングの熟練を必要としない。操作は携帯用計算
機をプログラムするのと同様である。
信号測定システムは、測定を行うのに通常利用されるキ
ーストロークを簡単に学習し、これは後に単一のキーを
押すことによって実行できる。各テストシーケンスは望
ましくは約200もの命令を備えることができる。信号
測定システムのテスト機ストが不合格ならばシーケンス
の調整を行え))、によって自動化、増補することがで
きる。
本発明の一実施例によって信号測定システムのソフトキ
ー・メニューが与えられる。この信号測定システムによ
ってユーザーは、セットアツプ・プロセスを通じてユー
ザーを歩道させるユーザ:・インタフェースを介して、
一組のデイスプレィされたソフトキー選択を行うように
指示される。
信号測定システムに含まれている信号処理ユニット (
若しくはアナライザ)は、ユーザーが所望のテストシー
ケンスを確定する際の案内と援助とをするためにファー
ムウェアにユーザー・インタフェースを組み入れている
のが望ましい。アナライザは、アナライザに備えられた
陰極線管(CRT)上でユーザーを案内するため、ソフ
トキー・メニューをデイスプレィするのが望ましい。こ
のことによって、テストされるデバイスの特性を測定す
るための信号測定システムが的確に容易に構成される。
本発明に基づく信号測定システムの一実施例によって、
RF及びマイクロ波周波数範囲のための、コンパクトな
、集積型の、低コストのベクトル・ネットワーク・アナ
ライザが提供される。これらのベクトル・ネットワーク
・アナライザは一般的な外観、操作の容易性(正面パネ
ル及びHP−TB)、及び生産性上の利点を共有してい
る。
[発明の実施例] 第1図は本発明の一実施例に基づ<RF又はマに番号1
0で示されている。その基本的な構成要素はベクトル・
ネットワーク・アナライザ12と信号源14(これは外
部信号源として示しであるが、内部信号源14′を組入
れることもできる)と受信機16である。信号源14と
受信機16とを含む信号測定システム10の全ての構成
要素は高レベルの測定精度を達成するために多くの特徴
を備えている。第1図は更にテスト中のデバイス(DU
T) 、例えば信号測定システム10に接続されたミサ
キ−をも図示している。
ベクトル・ネットワーク・アナライザ12は本質的に3
GHzの関ベクトル・ネットワーク・アナライザ、例え
ばカリフォルニア州、サンタ・ローザのヒユーレット・
パラカード社のネットワーク測定部門で購入できるH 
P 8753型ベクトル・ネットワーク・アナライザで
あることが好適である。
これはDUTをシミコレートするために使用される30
0K Hz乃至X3GHz又は3MHz乃至6GHzの
テスト信号を供給する。
テスト・セットアツプ中の信号源14と受信器16の電
気的特性は感度がよく、安定しており、反復性がなけれ
ばならない。更にそれらの帯域幅はDUTの帯域幅より
も広い必要がある。
Hz周波数分解能の合成信号を生成する信号源であるの
が望ましい。次に信号源14からの信号は、DUTに供
給される。
受信機16は、ベクトル・ネットワーク・アナライザ1
2内で処理するために変調信号を復調する。
次にDUTの伝送及び反射特性が、RF変調周波数の関
数又はRF電力又は距離の関数のいずれかとして、好適
にはベクトル・ネットワーク・アナライザ12に含まれ
る陰極線管(CRT)1B上にデイスプレィされる。
受信機16はダイナミック・レンジが100d B以上
である高安定の高分解能精密受信機である。この受信機
は広範囲のダイナミック・レンジに及ぶ測定を可能にし
、それにより信号測定システム10は300K Hz乃
至3GHzの測定範囲においてはOdBm乃至−100
dBmの感度で、又、3GH2乃至6 GHzO)測定
範囲ではOdBm乃至−95dBmの感度で動作するこ
とができる。受信機16は40dBの範囲にわたって+
/−0,05dB及び十/−0,3度の動的精度を備え
ている。信号源14と受信機16との3GHz乃至6G
Hzの帯域幅によって通常のテストには十分な余裕が得
られる。
信号測定システム10によって各種のテストを行うこと
ができる。本発明はそれらのテスト自体を指向するもの
ではないが、実行できる各種の測定を概括的に理解する
ことによって、本発明に基づきユーザーがテストシーケ
ンスを確定し得るための動作を理解する一部になるであ
ろう。
DUTは、前記信号測定システムIOを使用して特性化
することができる。RF及びマイクロ波デバイスの例は
増幅器、フィルタ及びケーブルである。RF測測定は帯
域幅、挿入損失/利得、位相、群遅延及び複素インピー
ダンスが含まれる。
電気的な測定は増幅器、フィルタ及びケーブルのような
RF部品又は完成品の送信機又は受信機上で行うことが
できる。代表的な測定には損失/利得対変調周波数又は
電力レベル、変調帯域幅、変調移相又は位相遅延、ひず
み(例えば直線位相からの群遅延又は偏移)、複素イン
ピーダンス(大きさ及び位相)、高調波ひずみ及び電気
長(不連続位置を含む)がある。
本発明に基づき、信号測定システム10にはユーザーが
テストシーケンスを確定して操作を容易にできる能力が
組入れである。信号測定システム10内のメモリに在る
ファームウェアは、コンピュータ・プログラム言語に不
慣れなユーザーが各種テスト用に信号測定システムを構
成できるようにする、テスト測定準備のデイスプレィを
生成する。
更に測定を書式化し、基準化し且つ作図するためのメニ
ューもある。
本発明に基づき、信号測定システムlOに含まれる信号
処理ユニット(すなわちベクトル・ネットワーク・アナ
ライザ12)はファームウェア中に一組の符号化された
ソフトキー・メニューを組入れており、このメニューに
よってユーザーはDUTでの所望のテストのためのテス
トシーケンスを確定することができる。テストシーケン
スの確定を可能にするコードが機器の本体ファームウェ
アの一部として埋め込まれている。従って本発明はユー
ザーが所望のテスト・プロトコルに関連する測定プロセ
スを準備しかつ実行し易くなるようなユーザー・インタ
フェースを提供するものである。
より詳細に考察すると、ベクトル・ネットワーク・アナ
ライザ12の読出し専用記憶装置(ROM)内には信号
測定システムlOの操作と利用が容易になるように組合
せて利用できるファームウェアテスト順序付はコードが
プログラムされる。これらのテスト順序付はコードによ
ってユーザーは容易かつ迅速に信号測定システム10の
テスト測定を準備することができる。この機構を今後「
テスト順序付け」と称する。
テスト順序付けは、ユーザーがDUTで迅速かつ容易に
所望のテストを行い、測定を行うことを援助する機器の
ユーザーのためのインタフェース機構である。テスト順
序付けは特定のテスト測定を行うためユーザーが信号測
定システムlOを構成し、かつ基本的な機器パラメタを
セットすることを案内する一連のソフトキー・メニュー
として実現される。
アナライザー2は電源がオンにされたとき、ソフト 次キー・メニューをデイスプレィする。ユーザーはソフ
トキーを押すことによってテスト順序付は手順の案内を
受ける。一連のテスト順序付けにおける各ステップ用の
ファームウェアによって一部のソフトキー・ラベル(ソ
フトキー・メニュー)がベクトル・ネットワーク・アナ
ライザー2のデイスプレィ上に表示される。ユーザーに
よって所望のテストシーケンスの各ステップが入力され
ると、そのステップはCRT 18にデイスプレィされ
る。
さらにデイスプレィされたステップはテスト順序付けに
基づいて測定されたデータに重ねて表示されることが好
適である。
テスト順序付は手順にはテスト機器の環境において種々
の用途を企画できる。ユーザーがこの自動化を利用する
例にはいくつかあり、ユーザーがプログラムを開発する
方法がいくつかある。
第1に研究及び開発の環境下では、一般に一人の人が利
用するベンチ上にベクトル・ネットワーり・アナライザ
がある。彼又は彼女は常に実施する数組の簡単な測定と
、場合によっては必要となる、より複雑ないくつかの測
定を扱うことができる。後者のためにユーザーは一般に
RASICプログラム言語(テスト機器内に常駐又はコ
ンピュータに常駐)を利用し、これを開発し、手直しく
デバッグ)し利用できるようにするには一週間又は2週
間も費やしてしまうであろう。それらの簡単な用途のた
めに、コンピュータをアクセスし、プログラムを準備し
且つプログラム言語を学習し、特殊なテスト機器の簡略
記憶記号を学習することはコスト上無理であろう。本発
明に基づくテスト順序付けはこれらの条件下で劇的に生
産性を向上する。何故ならば必要な知識はテスト機器の
利用方法だけだからである。
製造の環境下では時として複雑なテスト又は大量のデー
タ・ロギングが必要となる。これらの目的には一般に外
部コンピュータが使用される。更に高速を要する場合も
ある。このような場合には、テスト機器内で高速度で実
行可能であって別個に開発できる BASICプログラ
ム言語が有効である。
しかし多くの製造上の用途では高速度の又は複雑なテス
トは必要ではない。はとんどの場合、必要であるのは最
小限の習熟度の人員によって高度に反復できる(月雇日
にせよ金曜日にせよ)テストである。このことは外部コ
ンピュータ又はBASICプログラム言語テスト機器に
よって解決できるが、その場合はそれらのプログラムを
開発する専門家が必要であり、これも大きな間接費とな
る。本発明に基づくテスト順序付けによって技術者又は
技師は一度測定を実施するだけでテスト・プロトコルを
作成することができる。その後、製造上はDOSE!Q
UBNCB  (順序付けを行え)”ボタンを押すだけ
でよい。これは小量の部品を主張し、これらの部品用に
特別のテストを開発するにはコストがかかり過ぎる生産
分野にも有効である。
テスト順序付はソフトキーが押されると、アナライザ1
2はアナライザのROM内に記憶されたテスト順序付は
ルーチンを呼出すことによってテスト順序付けをモード
に入る。テスト順序付けによってユーザーはコンピュー
タなしでテストを自動化でき、付加的なプログラミング
の習熟は必要ではない。操作は携帯用計算機のプログラ
ミングと同様である。アナライザ12は測定を実施する
ために一般に利用されるキーストロークを学習するだけ
であり、これは後に単一のキーを押すことによって実行
できる。それぞれのテスト順序には約200もの命令が
含まれる。アナライザ12のテスト機構の全てはいくつ
かの基本意志決定能力、すなり”13、(IFLIt’
llT T8ST FAILS、Do SE!QtlB
NCE! TUNFりによって自動化、増補することが
できる。第2図は本発明の一実施例に基づくテスト順序
付は方法の流れ図である。
テスト順序付けの作成は読出し専用記憶装置にプログラ
ムされ、−群のソフトキー及びディスプ58QUENC
B  (シーケンスを修正)″及び“DO5BQU−I
ENCE”の各モードである。
逮 淀常動作中、テスト順序付けは利用されないが、後に実
行されるようにメモリ内に存在することができる。
テスト順序付けの修正/作成(MODIFY/crea
tion)には3つの段階が含まれる。すなわち、1、
 “MODIFY 5IEQUENCB”をオンニする
2、所望の測定を実施する。
3、“DONB MODIFY(修正済み)′°に入る
そこで順序付けは記憶され、測定の全部をシーケンス名
を押すだけで実行できる。
修正モードではキーストロークは全て記録され、デイス
プレィに表示される。(第2図及び第3図参照)選択さ
れたソフトキー機能に表示された名前はシーケンスリス
トで利用される。これらのキーは、テストシーケンスに
わたって、順方向又は逆方向に移動する“RPC”又は
“ARROW″′キニが用いられない限り、入力された
順に加えられる。
ユーザーは単に機能を入力することによってテストシー
ケンスのどこにでもこの機能を挿入できる。
ステップは“BへCKSPAC[E″°°キーすこと(
こよって削除することができる。このモード中、通常の
測定デイスプレィ及びソフトキーが表示され、入力され
た全ての機能はテスト順序付けがオンされない場合と同
様に行動する。(”ARROW”キー“RPC”キー及
びBACに5PAC[!”キーを除く。)このモードを
出るには、ユーザーはソフトキー″DONB MODi
FY’を押す。
実行モードに入るには、ユーザーは“圓SEQローBN
CE”ソフトキーを押し、次に所望のテスト順序を選択
する。入力された一連のキーストロークは、テストシー
ケンスが完了するまでユーザーの介入なしで実行される
テスト順序付けには更に、テストシーケンスを複製し、
これらを削除し、プリンタ上に印刷しく文書化のため)
、タイトル付けを行い、かつこれらを外部ディスクに記
憶又はロードする能力も含まれている。テストシーケン
スは更に、外部制御装置に送られ、又は外部制御装置か
らテスト機器へと送られることもできる。テストシーケ
ンスはリミットテスト又はループカウンタの状態に応じ
て別のシーケンス、又はシーケンスへの分岐(ブランチ
)を実行することもできる。テスト順序付はファームウ
ェアの「擬似コード」の簡単な機能:コマンド・プロセ
スヘシーケンスリスト項目を送ること。
(送りは”Do  5EQUENCE”キーが押された
時、あるいは、ユーザーがシーケンスを修正し、シーケ
ンスを通して前、あるいは後ヘステラ1oop: re
ad 5equence fif。
GOTo  1oop; END;  (d o S e q u )テストIr
l’l序付け MOD[FY IN SE酊− DE LE TE − TEP ND 任意の機能がカーソルの後に挿入 される。
BACにSrがカーソルのある行を削 除する。
ARROWキー、あるいはRPCを使用する。MtRO
Wuρはカーソルのある機能を行い、リストを上に移動
す る。ARROW do vnはリストを下に移動するの
みである。
シーケンス・メニューの Do NE MODrFYを押す。
UN START − E YS TOP シーケンス・メニ、ゴーの DO SE QU E)l CEを押す。
LOCA L以外の正面パネルキーのすべてはシーケン
スが終るまでロッ クされる。
シーケンスの実行を止めるために LOCA Lを押す。
PAUSE−−時停止したシーケンスを再開するために
シーケンス・メニューの C0NTINtTE 5EQtJENCE l’l’t
〔シーケンス6のみが、測定器の電源がオフされ第2A
図ニ示すように、”MODIFY 5BQUENCB”
ソフトキーが押されると、番号100で示されるように
、ユーザが、所望の測定に関連した一連のステップを選
択できるようになることによって、テスト順序付はモー
ドが開始される。アナライザ12は番号102で示され
るようにテストシーケンス・リスト内にコマンドを挿入
し、又はそこからコマンドを削除する。ユーザーがテス
トシーケンスを完了すると、ユーザーはDONB MO
DIFY”ソフトキーを押し、アナライザ12は第2A
図に番号104で示されているようにテストシーケンス
を記憶する。
ユーザーが直接OUT (テスト中のデバイス)を測定
しよう止する場合は、第2B図の番号106に示されて
いるように、ユーザーはDOSEΩUBNCB’ソフト
キーを押す。次にアナライザ12は第2B図の番号10
8で示されるように測定を行う。
簡単なテストシーケンスの例を以下に示す。
S EQ il B N CB A M P T B 
S T (増幅器テストのシーケンス)Start o
f 5equence  (シーケンスの開始)REC
ALL3       (3を呼び戻す)HARMON
Ic OFF    (高調波をオフ)DATA−ME
MORY    (データをメモリへ)OAT^/MB
M      (データ/メモリ)SBCONOLIM
IT TEST ON(第2リミツトテストをオン) IF  LIMIT  TE!ST  PASS  T
HEN  Do  3BQUENCB  2(リミット
テストが合格ならばシーケンス2を実施) IF LIMIT TEST FAIL TIIBN 
OO5BQLIBNCB 3(リミットテストが不合格
ならばシーケンス:3を実施) このテストシーケンスは準備を再現し、第2高調波をd
Bcの単位で測定し、テストリミットをバスした場合は
データの作図を行う。へ7ト1し・キットワーク・アナ
ライザ12の1つの実施形態を“H域ステップ及びイン
パルス応答を計算する。更にこれによって、ユーザーは
データの上に時間ゲートを置くことができ、これを後に
アナライザ12が直接、周波数領域データに適用する。
前記変換は更に連続波(CW)時間領域データをベース
・バンド解析用に周波数領域のデータに変換することテ
スト順序付けによって単一のキー・ストロークで利用で
きる全ての機能を自動的に実行可能である。テストシー
ケンスは正面パネルから入力し、外部ディスクから読出
し、又は、外部制御器からHB−IBを介してダウンロ
ードすることができる。
テスト順序付けによってユーザーはリミットテスト、高
調波測定及びマーカ機器のような一連の機構とif/1
hen決定能力と組合せて、単一のキーストロークによ
って実行できるテストにすることができる。テストシー
ケンスの作成は正面パネルを用いて手動的に測定するこ
とと実質的に同様である。ユーザーが一旦順序付はモー
ドに入ると、ユーザーがなすべきことは所望の測定を行
なうことだけである。アナライザは、必要なキーストロ
ークを記録し、それらのキーストロークを単一のキース
トロークによって呼出し且つ反復できる場所に記憶する
。テストシーケンスは内部レジスタ又は外部ディスクに
記憶することができる。テスト順序付けによって更にユ
ーザーは、より長期にわたる入念なテストを実施する際
に、複数のシーケンスを継続して、効率を高め、テスト
時間を節減することができる。更にテスト順、序付けに
よってユーザーはHP−IB出力記号列を、信号発生器
、電源またはリレー・アクチュエータのような自動制御
の外部装置に伝送することができる。
第3図は本発明に基づいてユーザーに掲示されるスクリ
ーンを示している。第3TI!Jはベクトル・ネットワ
ーク・アナライザによって発生されるテスト順序付けの
CRTデイスプレィを実際に示している。
テスト順序付けの主要な利点は使用し易いこと型 及び測定と順序の構成が会話数で行なわれることにある
。MODUY SE!口11E!NCB”キーが押され
ると、テスト機器は全ての将来のキーストロークを記録
し始める。この記録は実際の測定と共にディスブはテス
ト順序が期待どうりに進行しているか否かのフィードバ
ックを即座に得られる。ユーザーはテスト・プロトコル
をメモしたり、打けんする必要がなく、又、テストシー
ケンスに入った後で大幅に手直しする必要なない。ユー
ザーは命令を打けんしていないので参照χ書を見たり、
機能略名をメモしたりする必要がない。ユーザーは通常
のテスト機器の機能を実行しているだけである。最後に
、ユーザーはテスト機器の利用できる全ての組込み機能
を利用しているので、動作しなかったり、構文上の問題
があったりする何ものかが入り込む余地はない。
スト機器を自動化する方法はいくつかある。その1つは
機器の前に人を座らせボタンを押させる方法である。(
手動的自動化)もう1つは、人にボタンの押し方を指示
するテスト手順である。更に極端な方法は外部コンピュ
ータに有効にボタンを押させる方法であする。本発明に
基づくテスト順序付けは後に述べた2つのアプローチの
中間に位置するものである。これは経験ある人がボタン
を押し、その後でより経験の少ない人が、コンピュータ
が作業を行っているかのようにテスト機器を操作できる
という構成によって達成される。これを達成するには“
キーシーケンス・プログラミングの形成が必要である。
キーシーケンス・プログラミングでは、ユーザーは一旦
一連のキーストロークを実行し、その後は単一のボタン
を押すだけで前記一連のキーストロークを反復すること
ができる。
キーシーケンス・プログラミングには2つの公知のタイ
プのものがある。1つは同一の最終結果、すなわちプロ
グラムを入力する簡単な方法を指向するプログラマブル
計算機のようなコンピュータ準拠型である。もう1つは
ASP及びBASICプログラミングと同様のものであ
り、全機構の(fullfeatured)のBASI
C類似プログラミング言語をテスト機器に搭載すること
を企てる。本発明に基づくテスト順序は中間的な第3の
種類のキーシーケンス・プログラミングを提案している
このテスト順序付けは BASJ[ニブログラミング言
語の全機構と柔軟性をテスト機器に導入しようと企てる
ものではなく、一連のキーストロークを極めて簡単に入
力できるようにするものである。テスト順序付けと、別
の種類の牛−シーケンス・プログラミングとの以下の比
較によって本発明を理解する一助となるであろう。
これらのアプローチ間の相異点を説明するために、いく
つかの例を開示する。計算機と信号測定システム10を
比較すると、編集及び手直しサイクルは例示のごとく機
能する。ASP又はBへSICプログラミングとテスト
順序付けとの比較に関しては、測定は後に述べる。
計算機の場合ニ プログラム・モードに切換える。(デイスプレィは行番
号の表示に切換わる。) “45.2”、“BNTIER(入力)” (一連のコ
ード又は実数字がデイスプレィに出現する。)“REC
ALLO2” (呼び戻しを示すコードが出現する。) X  (乗算を示すコードが出現する。)“5TOR[
!57” (許容されていないので何らか別のことを意
味するコードが出現する。)“R/S” (プログラム
に停止を告げる。)実行モードに切換える。(デイスプ
レィは通常の表示を行なう。) さて、プログラムを実行するため、ユーザーはプログラ
ムの開始場所をアクセスし、“R/S″キーを押す。プ
ログラムが実行され、結果が現われ、期待されたもので
はないが回答がデイスプレィされる。従って、ユーザー
はプログラムに入り、各プログラム・ステップを示すた
めに“SST”を反復的に押し、キーを押していない時
は暫定的な回答がデイスプレィに現われる。それによっ
てユーザーは“5TORB57”が不可能であり、構文
の誤りであることに気付く。
信号測定システムIOの場合: 信号測定システム10は汎用計算機ではないので同様の
側で示すのは困難である。しかし−船釣な測定は次のよ
うなものであろう。
“MODIFY 5EOUBNCE”を押す。(テスト
順序付けの1ページの記述説明がデイスプレィされる。
)修正されるべきシーケンスを押す。(シーケンスの見
出しと重って通常のデイスプレィが現われる。) “MBASURB A/R″を押す。(“A/R”はテ
ストシーケンス・リスト内のデイスプレィ・スクリーン
に表示され、1チヤネルの入力の他のチャネルの入力に
対する比率であるA/Rがトレースにて測定される。) =DATA INTOMEMORY”を押す。(rDa
ta int。
Memory (データをメモリーに)」が現われ、デ
ータ・トレースがメモリに記憶される。)“OAT^/
MEMORY”を押す。(rDATA/ MEMORY
 (データ/メモリ)」が現われ、トシ・−スはデータ
/メモリになる。) “DONE MODIFY ’″を押す。(入力された
ばかりのテストシーケンス・リストは消えるが、デイス
プレィは依然として、データ/メモリと共にA/R測定
A/Rである。) さて、“DOS[!QUENC[!”を押してプログラ
ムを実行する。プログラムは実行され、終了する。信号
測定システム10には利用できる機能しか入力できない
ので構文の問題はなく、従って不正な行が入力されるこ
とはあり得ない。更にデイスプレィ・ソ スクリーン上に現われるコマンドは押されたベットキー
(又はハードキー)上のコマンドと全く同一である。学
習すべきプログラム言語はない。最後に、構文の誤りの
余地がないといっても行は人ユーザーは、通常のデイス
プレィによって、ユーザーが所望の測定をしていない旨
を認識することができる。
BASICプログラムの場合: “EDIT(編集)”プログラム・キーを打つ。
(通常測定デイスプレィが空白になり行番号が現われる
。) “A/R”を打けんする。(又はある種のテストa器の
場合は“A/R”キーを押す。)(A/R用コマンド、
例えば“measur (測定)”が現われる。) “X1=DI”を打けんする。(これがデイスプレィに
現われるものである。これはデータを何らかの変数Xに
入れることを意味すばる。)“disp= x 1 *
 y 1 / 5J’″を打けんする。(これがデイス
プレィに現われる。これはXとyの可変アレイにおける
データに関し数学的演算を行なう。) “END”を打けんする。(この文字はデイスプレィ・
スクリーン上に現われる。) “圓NBEDIT(編集済み)”ボタンを押す。(通常
の測定用デイスプレィが現われる。)さて、プログラム
を実行するため、ユーザーはRUNプログラム・キーを
見つけてそれを押す。
結果は依然トLテ”5YNTAX [ERRORON 
LINE! 30(行30上の構文の誤り)”である。
次にユーザーは上記の一連のコマンドを反復する。ユー
ザーは“EDIT”を入力し、30行目を探し、その行
を再タイプして訂正する。次にユーザーは編集モードを
出て再度プログラムを実行する。
このプログラムとテスト順序付けとの相異は、計算機の
例に関して述べた相異と同類である。ユーザーはテスト
シーケンスに入るために通常の測定用デイスプレィを(
ひいては測定を)離れる必要がなく、ユーザーには構文
の問題が生じる余地がない。′ 信号測定システムlOは、2つのチャネル上での大きと
、位相又は群遅延を含めてデバイス上で直接的に簡単な
測定を行なう。ユーザーは更にマーノ」\ カー探索及び最大値と最後値の読出しを行なうことがで
きる。テスト順序付けによってこれらの機構のいずれを
も順につなげることができる。
信号測定システム10はユーザーが実際の測定を行なう
間に、一連のキーストロークとしてプログラムを作成で
きるアプローチを組入れている。そのため、テスト段階
の順序付けの知識又は習練のない人でもテスト順序を作
成しかつ実行することができる。そこで、テスト順序は
測定を反復するために利用でき、又は訓練されていない
ユーザーによって誤りをおかすことを気にせずに利用で
きる。
これまでの記述は主として説明目的でなされたものであ
る。各様の実施例を開示してきたが、当業者には、本発
明の精神と範囲から逸脱することなく、前述していない
他の多くの変更と修正が可能であることが明らかであろ
う。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明を用いることにより、ユー
ザーはテストシーケンスの確立を容易に、正確に、効率
良く行うことができる。
【図面の簡単な説明】 定システムのブロック図、第2A図及び第2B図は本発
明の一実施例によるテストシーケンス方法定の間に、画
面に生ずる表示を示す図である。 10:信号測定システム 12:ベクトル・ネットワーク・アナライザ14.14
′二信号源 16: 受信機

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ソフトキー・メニューによって、測定の選択、及
    びテストするデバイスの接続を含む一連のテストステッ
    プを選択させて、単一の測定プロセスとして実行するた
    めに1つのテストシーケンスとして結合する段階と、 前記選択されたテストシーケンスによって データを測定する段階と、 前記測定されたデータを表示する段階と、 前記テストシーケンスの各ステップが入力 されるにしたがって、前記表示されたデータに重なるよ
    うに、前記テストシーケンスの各ステップを表示する段
    階と、 を備えて成る信号測定方法。
  2. (2)測定プロセスを含むセットアップ中に、記憶した
    後に呼び戻し、実行するためのテストシーケンスを確定
    させるための表示手段と、選択されたソフトキーに応答
    して、一組の テキスト的選択を表示してユーザーインタフェースを介
    して前記テストシーケンスをキーインさせるための手段
    と、 を備えて成る信号測定装置。
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EP0336656A2 (en) 1989-10-11
EP0336656B1 (en) 1994-11-02
JP2975376B2 (ja) 1999-11-10
DE68919107D1 (de) 1994-12-08
DE68919107T2 (de) 1995-03-09
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