JPH02226035A - Method of locating fault point of optical fiber and apparatus therefor - Google Patents
Method of locating fault point of optical fiber and apparatus thereforInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光ファイバの障害点を光学的に探索する光ファ
イバ障害点探索方法と、これを用いた装置 (OTDR
:0pt1cal Time Dosaln R
eflectoseter)に関する。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to an optical fiber failure point searching method for optically searching for a failure point in an optical fiber, and an apparatus using the same (OTDR).
:0pt1cal Time Dosaln R
(eflectoseter).
光ファイバアナライザと呼ばれる光ファイバ障害点探索
装置は、被測定光ファイバに測定用のパルス光を入射し
、レーリー散乱光(後方散乱光)あるいはフレネル反射
光等に起因する戻り光強度の時間的変化を検出し、これ
によって障害点を検出するようになっている。このよう
な0TDRの時間分解能は測定パルス光の時間幅(パル
ス幅)、光検出器の応答速度、検出したアナログ信号を
ディジタル信号に変換するA/D変換器のサンプリング
時間等により制限されるが、これらの中で最も重要なも
のは光検出器の応答速度である。そこで、従来から光検
出器として、応答速度の速いアバランシェフォトダイオ
ード(A、 P D )等が用いられている。An optical fiber fault detection device called an optical fiber analyzer inputs pulsed light for measurement into the optical fiber under test and detects temporal changes in the intensity of the returned light caused by Rayleigh scattered light (backscattered light) or Fresnel reflected light. This is used to detect failure points. The time resolution of such 0TDR is limited by the time width (pulse width) of the measurement pulse light, the response speed of the photodetector, the sampling time of the A/D converter that converts the detected analog signal into a digital signal, etc. , the most important of these is the response speed of the photodetector. Therefore, avalanche photodiodes (A, P D ) and the like, which have a fast response speed, have been used as photodetectors.
一方、被測定光ファイバに障害があると障害点で強いフ
レネル反射光を生じ、これが戻り光として光検出器に入
射されることになる。このため、光検出器や後段の増幅
器の応答波形にいわゆる「すそひき」が生じ、障害点の
より後方域(特に直後)の光ファイバ部分で観測不能域
が現れていた。そこで、この欠点を除去するため、従来
から光偏向器を用いたマスク機能を付加することがなさ
れている。On the other hand, if there is a fault in the optical fiber to be measured, strong Fresnel reflected light will be generated at the fault point, and this will be incident on the photodetector as return light. As a result, so-called ``striping'' occurred in the response waveforms of the photodetector and the downstream amplifier, and an unobservable region appeared in the optical fiber section further behind the failure point (particularly immediately after it). Therefore, in order to eliminate this drawback, a masking function using an optical deflector has been conventionally added.
しかしながら、従来のようにAPDを光検出器に用いる
ものでは、APDの応答速度は最高で100psec程
度であるため、時間分解能はこれ以上にすることができ
ず、従って被測定光ファイバにおける距離分解能も、5
(至)程度より高くすることができなかった。また、光
偏向器で「すそひき」の除去を行なおうとしても、光偏
向器自体の応答速度やドライブ回路の帯域などの制限の
ため、上記の観測不能域は30cII+程度以下とする
ことができなかった。However, in conventional devices that use APD as a photodetector, the response speed of APD is about 100 psec at maximum, so the time resolution cannot be increased beyond this, and therefore the distance resolution in the optical fiber under test cannot be increased. , 5
It was not possible to raise the level higher than (to) degree. Furthermore, even if an optical deflector is used to remove the "striping", due to limitations such as the response speed of the optical deflector itself and the bandwidth of the drive circuit, the above unobservable region cannot be kept below approximately 30cII+. could not.
そこで本発明は、戻り光強度の時間分解能を向上させる
ことにより障害点の距離分解能を改善することができ、
しかも障害点直後の観n1不能域を生じなくすることが
可能な光ファイバ障害点探索方法と、これを用いた装置
を提供することを目的とする。Therefore, the present invention can improve the distance resolution of the failure point by improving the time resolution of the returned light intensity,
Moreover, it is an object of the present invention to provide an optical fiber failure point searching method that can prevent the occurrence of an unviewable area immediately after the failure point, and a device using the same.
本発明に係る光ファイバ障害点探索方法および装置は、
被測定光ファイバに測定パルス光を入射したときの戻り
光の強度の時間的変化から、被測定光ファイバの障害点
を探索するものに適用され、被測定光ファイバからの戻
り光を、ポンプ光としてのサンプリングパルス光との間
で和または差周波混合させることより、サンプリングし
て観測波形を求めることを特徴とする。The optical fiber fault point searching method and device according to the present invention include:
This method is used to search for fault points in an optical fiber under test based on temporal changes in the intensity of the return light when a measurement pulse light is input into the optical fiber under test. The feature is that the observed waveform is obtained by sampling by performing sum or difference frequency mixing with the sampling pulse light.
すなわち、本発明方法は、戻り光強度の時間的変化に比
べて十分に時間幅(パルス幅)が短く波長が異なるサン
プリングパルス光(ポンプ光)を、戻り光に結合させて
和または差周波混合による和または差周波光を生成させ
、測定パルス光の入射を繰り返しながらサンプリングパ
ルス光のタイミングを順次にシフトさせて和または差周
波光をサンプリングすることにより、戻り光強度の時間
的変化に相似の観11PJ波形を得ることを特徴とする
。That is, the method of the present invention combines sampling pulsed light (pump light) with a sufficiently short time width (pulse width) and different wavelengths compared to the temporal change in the intensity of the returned light, and performs sum or difference frequency mixing. By generating a sum or difference frequency light by repeating the incidence of the measurement pulse light and sequentially shifting the timing of the sampling pulse light to sample the sum or difference frequency light, it is possible to generate a sum or difference frequency light similar to the temporal change in the returned light intensity. It is characterized by obtaining 11 PJ waveforms.
また、本発明の装置は、上記のようなポンプ光としての
サンプリングパルス光を出射するサンプリングパルス光
源と、戻り光とサンプリングパルス光を結合させる光結
合手段と、結合された光を入射して和または差周波混合
による和または差周波光を生成する非線形光学素子と、
和または差周波光の強度を検出する光検出手段と、測定
パルス光が所定の時間間隔で出射され、かつサンプリン
グパルス光が測定パルス光の出射の繰り返しごとに順次
にタイミングをシフトして出射されるように上記2つの
光源を制御する光源制御手段と、サンプリングパルス光
の出射タイミングごとに光検出手段の検出出力をサンプ
リングすることにより、戻り光強度の時間的変化に相似
の観測波形を求める解析手段とを備えることを特徴とす
る。Further, the device of the present invention includes a sampling pulse light source that emits sampling pulse light as the pump light, an optical coupling means that couples the returned light and the sampling pulse light, and an optical coupling means that inputs the coupled light and sums it. or a nonlinear optical element that generates sum or difference frequency light by difference frequency mixing;
A light detection means for detecting the intensity of the sum or difference frequency light, a measurement pulse light is emitted at a predetermined time interval, and a sampling pulse light is emitted with the timing sequentially shifted each time the measurement pulse light is emitted repeatedly. An analysis to obtain an observed waveform similar to the temporal change in the intensity of the returned light by sampling the detection output of the light source control means that controls the above two light sources and the light detection means at each emission timing of the sampling pulse light. It is characterized by comprising means.
ここで、解析手段により求めた観測波形を表示する表示
手段を更に帰えるようにしてもよい。Here, a display means for displaying the observed waveform obtained by the analysis means may be provided.
本発明の光ファイバ障害点探索方法によれば、戻り光が
周波数の異なるサンプリングパルス光との間で和または
差周波混合されることにより、サンプリングパルス光の
時間幅およびタイミングでサンプリングされる。従って
、サンプリングパルス光のタイミングをシフトさせなが
ら和または差周波光成分を抽出し、これを合成すること
により、戻り強度の時間的変化に相似の観測波形を得る
ことができる。According to the optical fiber fault detection method of the present invention, the returned light is summed or difference frequency mixed with sampling pulse lights having different frequencies, thereby being sampled with the time width and timing of the sampling pulse lights. Therefore, by extracting the sum or difference frequency light components while shifting the timing of the sampling pulse light and combining them, it is possible to obtain an observed waveform similar to the temporal change in the return intensity.
また、本発明の装置によれば、超短光パルスを出力する
サンプリングパルス光源や、非線形光学素子や、あるい
は従来の0TDRで用いられている光検出手段などを組
み合せるだけで、上記の観i11波形を得ることができ
る。更に、CRTなどの表示手段を設ければ、観測波形
を画像上で表示することもできる。Furthermore, according to the device of the present invention, the above points i11 and 11 can be achieved simply by combining a sampling pulse light source that outputs ultrashort optical pulses, a nonlinear optical element, or a light detection means used in conventional 0TDR. Waveforms can be obtained. Furthermore, if a display means such as a CRT is provided, the observed waveform can be displayed on an image.
以下、添付図面を参照して本発明の詳細な説明する。 Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
第1図は本発明の実施例に係る光ファイバ障害点探索方
法を適用した装置の構成図であり、第2図は1回の測定
パルス光の出射についてのタイミング図であり、第3図
は複数回の測定パルス光を出射してサンプリングする様
子を示すタイミング図である。第1図に示す如く、例え
ば半導体レーザで構成されるn1定パルス光源1からの
測定パルス光P (波長λ1)は、第1の光結合器2を
介N
して被7711定光ファイバ3に入射される。測定パル
ス光PINは被測定光ファイバ3を伝播する過程でレー
リー散乱やフレネル反射により減衰し、図中に実線の、
パルス波形で示すようになる。一方、戻り光P は点
線のパルス波形で示すようになる。FIG. 1 is a configuration diagram of an apparatus to which an optical fiber fault detection method according to an embodiment of the present invention is applied, FIG. 2 is a timing diagram for emitting one measurement pulse light, and FIG. FIG. 3 is a timing diagram showing how measurement pulse light is emitted and sampled multiple times. As shown in FIG. 1, measurement pulse light P (wavelength λ1) from an n1 constant pulse light source 1 composed of, for example, a semiconductor laser is incident on a target 7711 constant optical fiber 3 via a first optical coupler 2. be done. The measurement pulse light PIN is attenuated by Rayleigh scattering and Fresnel reflection during the process of propagating through the optical fiber 3 to be measured, and the solid line in the figure
This will be shown as a pulse waveform. On the other hand, the return light P 2 becomes as shown by a pulse waveform indicated by a dotted line.
OUT
従って、第2図のタイミングチャートのように、同図(
a)の如き測定パルス光PINが被測定光ファイバ3に
入射されたときは、戻り光P の強UT
度Iλ1の時間的変化は同図(b)のようになる。OUT Therefore, as shown in the timing chart in Fig. 2,
When the measurement pulsed light PIN as shown in a) is incident on the optical fiber 3 to be measured, the temporal change in the intensity Iλ1 of the return light P is as shown in FIG. 2(b).
ここで、戻り光P の強度が急激に変化する点UT
は、被測定光ファイバ3の障害点や光コネクタ等による
接続点を示し、ゆるやかな変化はファイバ中のレーリー
散乱等を示している。Here, the point UT where the intensity of the returned light P 2 changes rapidly indicates a failure point of the optical fiber 3 to be measured or a connection point by an optical connector, and a gradual change indicates Rayleigh scattering in the fiber.
戻り光P は第1の光結合器2を介して第2UT
の光結合器4に入射され、ここでサンプリングパルス光
源5から出射されたポンプ光としてのサンプリングパル
ス光と合成(光結合)される。ここで、サンプリングパ
ルス光源5は例えば半導体レーザで構成されるが、出力
されるサンプリングパルス光の波長λ は戻り光P
の波長λ1と異2 OUT
なるものでなければならず、かつその時間幅(パルス幅
)は第2図(C)に示す如く、戻り光P の時間的変
化に比べて十分に短いものでなOUT
ければならない。The returned light P enters the optical coupler 4 of the second UT via the first optical coupler 2, where it is combined (optically coupled) with the sampling pulse light as the pump light emitted from the sampling pulse light source 5. . Here, the sampling pulse light source 5 is composed of, for example, a semiconductor laser, and the wavelength λ of the output sampling pulse light is the return light P
It must be different from the wavelength λ1 of 2 OUT , and its time width (pulse width) must be sufficiently short compared to the temporal change of the return light P as shown in Figure 2 (C). Must be OUT.
このような戻り光P とサンプリングパルスUT
光が第2の光結合器4で合成されて非線形光学素子6に
入射されると、和または差周波混合によって波長がλ3
の和または差周波光が生成される。When such return light P and sampling pulse UT light are combined by the second optical coupler 4 and input into the nonlinear optical element 6, the wavelength becomes λ3 due to sum or difference frequency mixing.
A sum or difference frequency light is generated.
ここで、非線形光学素子6は例えばLiNbO2などの
異方性結晶で形成されるが、この非線形光学素子6によ
る和または差周波混合で生成される光は、和周波混合光
(強度:Iλ 、振動数:ω −2π・C/λ3)につ
いて例示すれば、入射光の強度をIλ 、Iλ2とし、
振動数をω1一2π・C/λ 、ω −2π・C/λと
すると(Cは光速)、
■ λ 苫 ■ λ I λ
ω3−+1 +″)2
となる。Here, the nonlinear optical element 6 is formed of an anisotropic crystal such as LiNbO2, and the light generated by sum or difference frequency mixing by this nonlinear optical element 6 is sum frequency mixed light (intensity: Iλ, vibration To give an example of the number: ω −2π・C/λ3), let the intensities of the incident light be Iλ, Iλ2,
If the vibration frequency is ω1-2π・C/λ, ω−2π・C/λ (C is the speed of light), then it becomes λ I λ ω3−+1 +″)2.
従って、非線形光学素子6から出射された光を分光手段
7に入射して波長λ3の和または差周波光のみを抽出す
ると、光検出器8では第2図(d)にハツチングで示す
ような光強度が検出される。Therefore, when the light emitted from the nonlinear optical element 6 is incident on the spectroscopic means 7 and only the sum or difference frequency light of the wavelength λ3 is extracted, the photodetector 8 produces light as shown by hatching in FIG. 2(d). Intensity is detected.
この場合、光検出器8としてはAPDなどを用いること
ができるが、光が微弱なときは光電子増倍管(PMT)
を用いればよい。光検出器8の出力は増幅器9で増幅さ
れ、信号処理回路10に送られる。In this case, an APD or the like can be used as the photodetector 8, but if the light is weak, a photomultiplier tube (PMT) can be used.
You can use The output of the photodetector 8 is amplified by an amplifier 9 and sent to a signal processing circuit 10.
信号処理回路10は一定時間間隔でall定パルス光P
INが出力されるように811定パルス先源1を制御し
ながら、IIFj定パルス光PINの出力の繰り返しご
とに、順次にタイミングをシフトしてサンプリングパル
ス光が出力されるようにサンプリングパルス光源5を制
御する。第3図を参照してこれを説明すると、同図(J
l)のように測定パルス光P は一定時間間隔Tの時点
t 、t2.・・・・・・IN
1t7.・・・・・・でΔ
p1定パルス光源1から出射されルノで、戻り光P
の時間的変化は同図(b)のよ00丁
うに繰り返される。これに対し、サンプリングパルス光
は同図(C)のように、時点t +Δti。The signal processing circuit 10 outputs all constant pulsed light P at regular time intervals.
While controlling the 811 constant pulse source 1 so that the IIFj constant pulse light PIN is output, the sampling pulse light source 5 sequentially shifts the timing so that the sampling pulse light is output every time the IIFj constant pulse light PIN is output. control. This will be explained with reference to Figure 3 (J
As shown in 1), the measurement pulsed light P is transmitted at time points t, t2, . ...IN
1t7. ...and Δ
p1 Emitted from constant pulse light source 1 and returned light P
The temporal change of is repeated 00 times as shown in FIG. On the other hand, the sampling pulse light is at time t+Δti as shown in FIG.
t2+Δt2.・・・・・・、t7+Δt7.・・・・
・・で繰り返して出射される。t2+Δt2. ......, t7+Δt7.・・・・・・
...is emitted repeatedly.
ここで、Δt −Δ1 −Δt −Δt 2− ”’・
・1Δt −Δta”・・・・・・であるので、サンプ
リングパルス光は順次に一定時間だけタイミングをシフ
トして出射されていることがわかる。すると、非線形光
学素子6において時点t +Δt2.・・・・・・ t
+Δt 、・・・・・・で和または差周波混合が生じ
、第3図(d)にハツチングで示すような和または差周
波光が得られる。従って、同図(d)中に一点鎖線で示
すように、戻り光P の時間tlT
変化に相似の観測波形が得られる。この処理結果につい
ては記録や平均化処理がなされ、信号処理回路10から
表示装置11に送られ、画面上で観測波形が表示される
。Here, Δt −Δ1 −Δt −Δt 2− ”'・
・1Δt −Δta”... Therefore, it can be seen that the sampling pulse light is sequentially emitted with the timing shifted by a certain period of time.Then, in the nonlinear optical element 6, the timing t +Δt2...・・・・t
+Δt, . . . causes sum or difference frequency mixing, and sum or difference frequency light as shown by hatching in FIG. 3(d) is obtained. Therefore, as shown by the dashed line in the figure (d), an observed waveform similar to the time tlT change of the return light P is obtained. The processing results are recorded and averaged, and sent from the signal processing circuit 10 to the display device 11, where the observed waveform is displayed on the screen.
この観i11波形の時間分解能はサンプリングパルス光
のパルス幅を短くすることで向上でき、しかもこのよう
な超短光パルスを得ることはAPDなどの応答速度を向
上させることに比べて容易なので、距離分解能を大幅に
改善することが可能である。また、サンプリング法を採
用しているので、強い戻り光があったときの「すそひき
」による観測不能域が、観測波形上で生じないようにす
ることができる。The time resolution of this I11 waveform can be improved by shortening the pulse width of the sampling pulse light, and since it is easier to obtain such ultra-short optical pulses than to improve the response speed of APD, etc., the distance It is possible to significantly improve resolution. Furthermore, since a sampling method is employed, it is possible to prevent unobservable areas from occurring on the observed waveform due to "striping" when there is strong return light.
次に、上記の実施例を数値によって、より具体的に説明
する。Next, the above embodiment will be explained in more detail using numerical values.
まず、測定パルス光源1としては、通常の光通信に用い
られている波長(λl−1,3μm。First, the measurement pulse light source 1 has a wavelength (λl-1, 3 μm) used in normal optical communication.
1.55μm)の半導体レーザを用いることができる。A semiconductor laser with a diameter of 1.55 μm) can be used.
測定パルス光PINのパルス幅は通常は数1Or+se
c〜数μsec程度であるが、距離分解能を上げるため
には、パルス幅が30psec程度の超短パルス光とす
ることが望ましい。かかる超短パルス光は、半導体レー
ザをパルス幅100psec程度の駆動パルス電流で発
光させ、緩和振動の第1パルスを利用することにより容
易に得られる。The pulse width of the measurement pulse light PIN is usually several 1 Or+se
However, in order to improve the distance resolution, it is desirable to use ultra-short pulse light with a pulse width of about 30 psec. Such ultra-short pulsed light can be easily obtained by causing a semiconductor laser to emit light with a drive pulse current having a pulse width of about 100 psec and using the first pulse of relaxation oscillation.
ポンプ光としてのサンプリングパルス光を出力するサン
プリングパルス光源5についても、半導体レーザを用い
ることができるが、距離分解能を上げるためにはパルス
幅が30psec程度の超短パルス光を、API定パル
ス光P1−同様の手法により出力するのが望ましい。こ
こで、サンプリングパルス光の波長λ は測定パルス光
PINの波長λ と異なることが必要であり、例えばλ
2−850nmに設定される。従って、測定パルス光P
r−波長λ1を1.55μmとすると、和周波光の波長
λ3は549nm程度(可視光)となる。A semiconductor laser can also be used for the sampling pulse light source 5 that outputs sampling pulse light as pump light, but in order to increase the distance resolution, ultra-short pulse light with a pulse width of about 30 psec is used as the API constant pulse light P1. - It is desirable to output using a similar method. Here, the wavelength λ of the sampling pulse light must be different from the wavelength λ of the measurement pulse light PIN, for example, λ
The wavelength is set to 2-850 nm. Therefore, the measurement pulse light P
If the r-wavelength λ1 is 1.55 μm, the wavelength λ3 of the sum frequency light is about 549 nm (visible light).
第1の光結合器2および第2の光結合器4としては光方
向性結合器などを用いることができ、分光手段7として
は狭帯域の光学フィルタや分光器を用いることができる
。なお、本発明はポンプ光としてのサンプリングパルス
光で戻り光P のUT
時間的変化をサンプリングするものなので、光検出器8
、増幅器9、信号処理回路10中のA/D変換器等には
特に高速応答性は必要としない。非線形光学素子6にお
いて高い変換効率を得たいときは、導波路構造のものを
用いてもよい。An optical directional coupler or the like can be used as the first optical coupler 2 and the second optical coupler 4, and a narrow band optical filter or a spectrometer can be used as the spectroscopic means 7. In addition, since the present invention samples the UT temporal change of the return light P using the sampling pulse light as the pump light, the photodetector 8
, the amplifier 9, the A/D converter in the signal processing circuit 10, etc. do not require particularly high-speed response. When it is desired to obtain high conversion efficiency in the nonlinear optical element 6, a waveguide structure may be used.
以上、詳細に説明した通り本発明の光ファイバ障害点探
索方法によれば、戻り光強度が周波数の異なるサンプリ
ングパルス光との間で和または差周波混合されることに
より、サンプリングパルス光の時間幅およびタイミング
でサンプリングされる。従って、サンプリングパルス光
のタイミングをシフトさせながら和または差周波光を抽
出し、これを合成することにより、戻り強度の時間的変
化に相似の観測波形を得ることができる。As explained above in detail, according to the optical fiber fault detection method of the present invention, the return light intensity is summed or difference frequency mixed with sampling pulse lights having different frequencies, thereby increasing the time width of the sampling pulse light. and sampled at the timing. Therefore, by extracting the sum or difference frequency light while shifting the timing of the sampling pulse light and combining them, it is possible to obtain an observed waveform similar to the temporal change in the return intensity.
また、本発明の装置によれば、超短光パルスを出力する
サンプリングパルス光源や、非線形光学素子や、通常の
高速光検出器などを組み合せるだけで、上記の観測波形
を得ることができる。更に、CRTなどの表示手段を設
ければ、観測波形を画像上で表示することもできる。Further, according to the apparatus of the present invention, the above observed waveform can be obtained simply by combining a sampling pulse light source that outputs ultrashort optical pulses, a nonlinear optical element, a normal high-speed photodetector, and the like. Furthermore, if a display means such as a CRT is provided, the observed waveform can be displayed on an image.
本発明は、サンプリング法を採用することにより、戻り
光強度の時間分解能を向上させて障害点の距離分解能を
大幅に改善し、しかも障害点直後の観測不能域を実質的
に生じなくしているので、精度の高い障害点探索を実現
することができる。By adopting a sampling method, the present invention improves the time resolution of the returned light intensity and greatly improves the distance resolution of the fault point, and also substantially eliminates the unobservable area immediately after the fault point. , it is possible to realize highly accurate failure point search.
第1図は本発明の実施例に係る光ファイバ障害点探索方
法を適用した装置の構成図、第2図は実施例の作用を1
回の戻り光について示すタイミング図、第3図は実施例
における戻り光のサンプリングを示すタイミング図であ
る。
1・・・n1定パルス光源、2・・・第1の光結合器、
3・・・被測定光ファイバ、4・・・第2の光結合器、
5・・・サンプリングパルス光源、6・・・非線形光学
素子、7・・・分光手段、8・・・光検出器、9・・・
増幅器、10・・・信号処理回路、11・・・表示装置
、PHJ・・・測定パルス光、P ・・・戻り光P0
UT
特許出願人 浜松ホトニクス株式会社代理人弁理士
長谷用 芳 樹手続補正書FIG. 1 is a block diagram of a device to which an optical fiber fault detection method according to an embodiment of the present invention is applied, and FIG. 2 shows the operation of the embodiment.
FIG. 3 is a timing diagram showing the sampling of the returned light in the embodiment. 1... n1 constant pulse light source, 2... first optical coupler,
3... Optical fiber to be measured, 4... Second optical coupler,
5... Sampling pulse light source, 6... Nonlinear optical element, 7... Spectroscopic means, 8... Photodetector, 9...
Amplifier, 10... Signal processing circuit, 11... Display device, PHJ... Measurement pulse light, P... Return light P0 UT Patent applicant Hamamatsu Photonics Co., Ltd. Agent Patent attorney
Yoshiki Hase Procedural Amendment Form
Claims (1)
戻り光の強度の時間的変化から、前記被測定光ファイバ
の障害点を探索する光ファイバ障害点探索方法において
、 前記戻り光強度の時間的変化に比べて十分に時間幅が短
く波長が異なるサンプリングパルス光を、当該戻り光に
結合させて和または差周波混合による和または差周波光
を生成させ、前記測定パルス光の入射を所定時間間隔で
繰り返しながら前記サンプリングパルス光のタイミング
を順次にシフトさせて前記和または差周波光をサンプリ
ングすることにより、前記戻り光強度の時間的変化に相
似の観測波形を得ることを特徴とする光ファイバ障害点
探索方法。 2、被測定光ファイバに測定パルス光源からの測定パル
ス光を入射したときの戻り光の強度の時間的変化から、
前記被測定光ファイバの障害点を探索する光ファイバ障
害点探索装置において、前記戻り光強度の時間的変化に
比べて十分に時間幅が短く、波長が異なるサンプリング
パルス光を出射するサンプリングパルス光源と、 前記戻り光と前記サンプリングパルス光を結合させる光
結合手段と、 前記光結合手段からの光を入射して和または差周波混合
による和または差周波光を生成する非線形光学素子と、 前記和または差周波光の強度を検出する光検出手段と、 前記測定パルス光が所定の時間間隔で出射され、かつサ
ンプリングパルス光が前記測定パルス光の出射の繰り返
しごとに順次にタイミングをシフトして出射されるよう
に前記測定パルス光源およびサンプリングパルス光源を
制御する光源制御手段と、 前記サンプリングパルス光の出射タイミングごとに前記
光検出手段の検出出力をサンプリングすることにより、
前記戻り光強度の時間的変化に相似の観測波形を求める
解析手段とを備えることを特徴とする光ファイバ障害点
探索装置。 3、前記解析手段により求めた前記観測波形を表示する
表示手段を更に備える請求項2記載の光ファイバ障害点
探索装置。 4、前記非線形光学手段と前記光検出手段の間に和また
は差周波光を抽出する分光手段を更に備える請求項2ま
たは3記載の光ファイバ障害点探索装置。[Scope of Claims] 1. An optical fiber fault point searching method for searching for a fault point in the optical fiber to be measured based on the temporal change in the intensity of the returned light when the measurement pulse light is input to the optical fiber to be measured, Sampling pulsed light having a sufficiently short time width and different wavelengths compared to the temporal change in the returned light intensity is combined with the returned light to generate sum or difference frequency light by sum or difference frequency mixing, and the measurement pulse By sequentially shifting the timing of the sampling pulse light while repeating the incidence of light at predetermined time intervals and sampling the sum or difference frequency light, an observed waveform similar to the temporal change in the intensity of the returned light is obtained. An optical fiber fault point search method characterized by: 2. From the temporal change in the intensity of the returned light when the measurement pulse light from the measurement pulse light source is incident on the optical fiber to be measured,
The optical fiber fault point search device for searching for a fault point in the optical fiber under test includes a sampling pulse light source that emits sampling pulse light having a sufficiently short time width and a different wavelength compared to the temporal change in the return light intensity; , an optical coupling means that couples the returned light and the sampling pulse light; a nonlinear optical element that receives the light from the optical coupling means and generates sum or difference frequency light by sum or difference frequency mixing; a light detection means for detecting the intensity of the difference frequency light, the measurement pulse light is emitted at predetermined time intervals, and the sampling pulse light is emitted with the timing sequentially shifted each time the measurement pulse light is emitted repeatedly. a light source control means for controlling the measurement pulse light source and the sampling pulse light source so as to control the measurement pulse light source and the sampling pulse light source, and sampling the detection output of the light detection means at each emission timing of the sampling pulse light,
An optical fiber failure point searching device comprising: an analysis means for obtaining an observed waveform similar to the temporal change in the intensity of the returned light. 3. The optical fiber fault point searching device according to claim 2, further comprising display means for displaying the observed waveform obtained by the analysis means. 4. The optical fiber failure point searching device according to claim 2 or 3, further comprising spectroscopic means for extracting sum or difference frequency light between the nonlinear optical means and the light detection means.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1046156A JPH0814522B2 (en) | 1989-02-27 | 1989-02-27 | Optical fiber fault point search method and apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1046156A JPH0814522B2 (en) | 1989-02-27 | 1989-02-27 | Optical fiber fault point search method and apparatus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02226035A true JPH02226035A (en) | 1990-09-07 |
| JPH0814522B2 JPH0814522B2 (en) | 1996-02-14 |
Family
ID=12739134
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1046156A Expired - Fee Related JPH0814522B2 (en) | 1989-02-27 | 1989-02-27 | Optical fiber fault point search method and apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0814522B2 (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016053566A (en) * | 2014-09-03 | 2016-04-14 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Measuring system |
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-
1989
- 1989-02-27 JP JP1046156A patent/JPH0814522B2/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0814522B2 (en) | 1996-02-14 |
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