JPH02235537A - Automatic scraping device - Google Patents

Automatic scraping device

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JPH02235537A
JPH02235537A JP5312889A JP5312889A JPH02235537A JP H02235537 A JPH02235537 A JP H02235537A JP 5312889 A JP5312889 A JP 5312889A JP 5312889 A JP5312889 A JP 5312889A JP H02235537 A JPH02235537 A JP H02235537A
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JP
Japan
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flaw
wire
tool
signal
flaws
Prior art date
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Pending
Application number
JP5312889A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Eiichiro Chikamatsu
近松 栄一郎
Hitoshi Ishida
均 石田
Takatoshi Tomaru
都丸 敬寿
Hiromichi Ideguchi
井手口 寛路
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HARA DENSHI SOKKI KK
Daido Steel Co Ltd
Eddio Corp
Original Assignee
HARA DENSHI SOKKI KK
Daido Steel Co Ltd
Eddio Corp
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Publication date
Application filed by HARA DENSHI SOKKI KK, Daido Steel Co Ltd, Eddio Corp filed Critical HARA DENSHI SOKKI KK
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Abstract

PURPOSE:To perform the cutting for scraping by setting it to the necessary minimum by outputting a signal corresponding to a position, depth and length of a flaw, and driving a tool in accordance therewith. CONSTITUTION:A surface flaw of a running wire rod 1 is detected, information related to a flaw detected by a flaw detecting mechanism 4 is outputted as a signal, the signal from the flaw detecting mechanism 4 is received and a scraping mechanism 6 is controlled by a control mechanism 5, and the scraping mechanism 6 rotates a tool 63 in the periphery of the wire rod 1 and positions it on the flaw, moves it forward and backward in the radial direction and allows it to cut only the flaw part. In that case, by an automatic wire rod scraping device constituted so that a signal corresponding to a position, depth and length of the flaw of the wire rod 1 is outputted, and the tool 63 is driven thereby, cutting and elimination of the surface flaw of the wire rod 1 brought to expansion and contraction can be performed by cutting the part of the necessary minimum. Accordingly, it does not occur that a degree of reduction is greatly different as to each part of the wire rod 1, and it is disconnected due to necking, and uniform wire drawing can be executed extending over the overall length.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention] 【産業上の利用分野】[Industrial application field]

本発明は、線材を伸線加工するときに、線材表面の疵を
自動的に除去する装置の改良に関する。
The present invention relates to an improvement in an apparatus that automatically removes flaws on the surface of a wire when the wire is drawn.

【従来の技術】[Conventional technology]

たとえばベアリング用ボールの製造のために工具鋼の線
材を冷間で伸線するに当っては、線材の表面にある疵を
切削除去しなければならない。 この作業を自動的に行なう装置が種々開発ざれ、実用ざ
れている。 在来の自動疵取装置は、一般に工具を線材の疵のある位
置において回転させ、全周にわたり切削を行なう方式を
とっていたから、疵が深いときは線材に大きなくびれが
生じて断線の原因となるほか、歩留りが低下して高価な
材料を加工する場合にはコスト高を招く。 従って、疵
の除去のための切削は、必要な限度で行なうことが望ま
しい。 発明者らの一人は、他の共同研究者とともに、この要望
にこたえる自動疵取装置を開発して、すでに開示した(
実開昭63−41418号)。 その装置は、第1図に示ずように、走行する線材(1)
の表面疵を検出し、検出した疵に関する情報を電気信号
として出力する探傷殿構(4)、工具を線材の周囲に回
転させて疵の上に位置させ、半径方向に進退させること
によって疵の部分だけを切削する疵取機構(6)、およ
び上記探傷機構からの信号を受けて疵取機構を制御する
制郭機構(5)から本質的に成っている。 第1図にお
いて、(2)は線材をコイルから繰り出すためのペイオ
フスタンドであり、(3)は、伸線ダイス(D1,D2
,D3)で伸線ざれた線材を再びコイルに巻き取るため
のティクアップスタンドである。 疵取機構の構造は、第2図に示すように、線材(1)に
対して油圧により進退して切削する工具(63)と支持
ロールの組を、矢印の方向に回転可能に設けたものでお
る。 上記の装置にあいては、疵の位置に関ずる信号をパルス
で出力し、それにより疵取機構のステッピングモータを
回転させて工具の位置を定めるとともに、ステッピング
モータの回転量を読み取るエンコーダをもそなえ、上記
パルス信号に従って忠実に回転したか否かを、閉ループ
を形成して確認することにより動作の確実をはかってい
る。 [発明が解決しようとする課題1 本発明の目的は、上記したざきの本案の装置をさらに改
良し、疵取りのための切削を必要最少限に止めて実施す
ることのできる自動疵取装置を提供することにある。 [課題を解決するための手段】 本発明の自動疵取装置は、第1図に示したような、線材
の伸線加工に当ってその表面の疵を自動的に除去する装
置であって、走行する線材の表面疵を検出し、検出した
疵に関する情報を信号として出力する探傷機構(4)、
工具を線材の周囲に回転させて疵の上に位置させ、半径
方向に進退させることによって疵の部分だけを切削する
、第2図に示したような疵取機構(6);および上記探
傷機構からの信号を受けて疵取機構を制御する制′a機
構(5)から本質的に成る自動疵取装置において、疵の
位置、深さおよび長さに対応した信号を出力し、それに
従って工具を駆動するように構成したことを特徴とする
。 疵の検出には、回転探@機、たとえば単数または複
数の回転プローブを用いた渦流探傷機や、交流漏洩磁束
探傷機の類を使用すればよい。 ダイスD1は通常の伸線ダイスまたは若干低い減面率の
伸線ダイスであり、D2はスキンパスダイスであり、D
3は疵取により変形した部分の真円度を回復するために
通す仕上げダイスである。 このように、探傷機構と疵取機崩との間に伸線ダイスを
そなえた場合は、減面に伴う疵の長さの増加、疵位置の
変化および線材走行速度の増大を演算し、探傷機構から
の信号を加工して疵取機構に送る機能を制御機構に与え
る。 第1図の主要部、すなわち探傷機構(4)、制御機構(
5)および疵取機構(6)の部分について、代表的な構
成例の詳細を示せば、第3図のようになる。 第3図に
おいて、探傷機構(4)は、プローブ(43》の回転を
制御する回転制御器(41)、回転探傷機(42)およ
びそこからの出力を処理して疵信号(SK)として制御
機構に与えるための信号処理器(44)からなる。 疵取機構(6)は、切削工具(63)、それを駆動する
工具駆動機(62)、および制御機構からの制御信号に
従って工具駆動機を制御する駆動制御器(61)からな
る。 制御機構(5)は、第3図では、制御部(51)および
設定表示部(52)からなることだけ示したが、詳細を
説明すれば第4図のようになる。 制御部(51)には、信@処理装置(44)からの疵信
号(SK)、回転探傷Ill(42)の1回転ごとに、
たとえば近接スイッチなどから発生する回転周期信号(
SY)、および測長用オンラインパルスジエネレータ(
7)からの測長パルス信号(PG)が入力される。 疵信号(SK)は、たとえば4個のセンサブローブの発
する微弱な信号を、増幅、フィルターS/N比向上など
の処理を行なって、それぞれのチャンネルで(この場合
4本のチャンネルで)入ってくる。 それぞれの疵信号
は、ピークホールド回路(51’l)、アナログ・デジ
タル変換器(A/D>をへて、バスライン(513)に
出力ざれる。 回転周期信号(SY)は、マルチプライア(514)に
入力され、そこで線材外側の円周を区分する適当な数た
とえば32に分割ざれて、円周分割タイミングパルスが
そこから発生する。 それによって、疵信号がプローブ
の回転円周上の、換言すれば線材外周上のどの位置のも
のでおるかを確認するための基準が与えられる。 一方、測長オンラインパルスジエネレータ(7)からの
測長パルス信号(PG)は、たとえば1Mの長さを測定
するごとに1パルスとして与えられ、デバイダ(515
)によって、たとえば5分割される。 従ってその場合
は、線材の艮ざ方向に5簡をひとつの単位として取汲い
、疵の評価を行なう。 マルチプライア(514)eよびデバイダ(515)の
出力は、インターフェース(I/O)を通してバスライ
ン(513)に共有ざれる。 演算は、マイクロプロセッサMPLIたとえば6800
0により、メモリの助けを借りて行なう。 メモリは、起動用および演算式を書き込んでおくROM
と、入力されたデータを演算しメモリ空間上に作表する
RAMとからなる。 疵取機構を制御するための演算結
果は、インターフェース■/0を通して、信@SAおよ
びSBとして出力される。 疵取機構を機能させるための初期条件設定値の入力と表
示は、第4図でI/Oを通してバスライン(513)に
接続ざれたに設定表示部(52)において行なう。 設
定表示部(52)は、ディスプレイ(521)およびプ
リセット(522)からなる。 ディスプレイ(521)の具体例は、第5図に示した、
円周上に配列した複数の表示手段たとえばLEDと、疵
の深さと長さとの組み合わせで評価した4種のグレード
の疵の検出回数を表示するカウンタと、パラメータ設定
値を表示する画面、たとえばCRTをそなえたものであ
る。 上記のLEDは、線材の外周を区分した数に対応
した数、この場合は32個を並べる。 LEDサークル
の最上部のものは伸線ざれる線材断面の上端を、右横端
のものは線材の出口側からみた断面の右端をそれぞれあ
らわし、回転探傷機のセンサブローブが線材の周囲を回
転して表面の疵を検出ずるたびに、その疵位置に対応し
た位置にめるLEDがフラッシュする。 第5図のパラメータ設定値として設定した線材外径は、
副長パルスジエネレータ(7)の位置における値、つま
り伸線前の値で必って、ダイス(D1およびD2)を通
過することにより外径が小さくなるとともに線材の長さ
が伸長するから、探傷機構(4)で検出した疵の線材上
の位置と疵取機構(6)で疵取りをすべき位置とは異な
ってくる。 厳密にいえば、第1図における回転探傷様
のセンサブローブの中心と疵取工具の線材接触位置との
間隔Lを、測長パルスジエネレータ(7)で測長した値
に対して補正しなければならない。 被加工線材の外径をD、疵取機構に入る線材の外径をd
とするとき、各線径ごとのd/D=Kの値に対応するL
の補正値をあらかじめ算出し、その表をROMに入れて
おくことによって、線材外径Dを入力すればK値を読み
出してL値補正を自動的に行なうことができる。 第5図のパラメータ設定値のひとつ「疵分離定数」とは
、自動疵取を行なうときの線材外側の円周上の各区分間
の分解能を意味する。 回転探傷機のセンサブローブは
、たとえば4個使用した場合は、第6図に示すように線
材(1)の周囲を回転し、その軌跡は第7図Aに鎖線で
示したようになる。 線材(1)の表面に疵(11)が
あると、その上を通過したセンサブローブ(43)から
第7図Aに実線で示した信号が出力ざれる。 この信号
は、前記したようにS/N比向上のため、第7図Bのよ
うにフィルターを通り、第7図Cのように反転されたの
ち(これが前記のピークホールド511に入力ざれる単
極撮幅アナログ波形である)、A/D変換を受ける。 
このとき、一対の疵信号が微分ざれて複数の減衰振動波
形にざれ、S/S比の向上とひきかえにセンサプローブ
軌跡円周上の長さに換算した疵信号占有長さ(tW)が
増大して、二以上の疵信号の間の分解能が低下する。 実操業においては、疵取機構の機械的応答追従性も問題
であり、線材外周上に並列して疵が存在するときは深い
疵の除去を優先し、浅い疵は疵取り対象から外さなけれ
ばならない。 深い疵にごく近接して並行に浅い疵が存
在する場合は、前者を除去するために疵取工具が線材に
接触したとき、刃先が線材外周において占める有効切削
幅の中に後者が含まれていれば、同時に切削除去するこ
とが可能である。 これらの条件を考慮に入れて、疵分
離定数を設定する。
For example, when cold drawing a tool steel wire to manufacture bearing balls, it is necessary to cut out and remove flaws on the surface of the wire. Various devices for automatically performing this work have been developed and put into practical use. Conventional automatic flaw removal equipment generally rotates the tool at the location of the flaw in the wire rod and cuts the entire circumference, so when the flaw is deep, a large constriction occurs in the wire rod, causing wire breakage. In addition, yields are lowered and costs increase when processing expensive materials. Therefore, it is desirable to perform cutting to remove flaws to the extent necessary. One of the inventors, along with other co-researchers, has developed an automatic flaw removal device that meets this need, and has already disclosed it (
Utility Model No. 63-41418). The device consists of a running wire (1) as shown in Figure 1.
The flaw detection system (4) detects surface flaws on the wire and outputs information about the detected flaws as an electrical signal. It essentially consists of a flaw removal mechanism (6) that cuts only the part, and a contouring mechanism (5) that controls the flaw removal mechanism in response to signals from the flaw detection mechanism. In Fig. 1, (2) is a payoff stand for paying out the wire from the coil, and (3) is the wire drawing die (D1, D2).
, D3) is a pick-up stand for winding the drawn wire into a coil again. As shown in Fig. 2, the structure of the flaw removing mechanism includes a set of a tool (63) that advances and retreats to cut the wire rod (1) using hydraulic pressure and a support roll, which are rotatable in the direction of the arrow. I'll go. The above device outputs a signal related to the position of the flaw in the form of pulses, which rotates the stepping motor of the flaw removing mechanism to determine the position of the tool, and also includes an encoder that reads the amount of rotation of the stepping motor. In addition, reliable operation is ensured by forming a closed loop to confirm whether or not the rotation has been performed faithfully in accordance with the pulse signal. [Problem to be Solved by the Invention 1] The object of the present invention is to further improve the above-mentioned device of the present invention, and to provide an automatic flaw removing device that can perform flaw removal by minimizing cutting to the necessary minimum. It's about doing. [Means for Solving the Problems] The automatic flaw removing apparatus of the present invention is an apparatus for automatically removing flaws on the surface of a wire rod during wire drawing processing, as shown in FIG. a flaw detection mechanism (4) that detects surface flaws on the running wire and outputs information regarding the detected flaws as a signal;
A flaw removal mechanism (6) as shown in FIG. 2, which cuts only the flaw portion by rotating the tool around the wire rod, positioning it above the flaw, and moving it forward and backward in the radial direction; and the above-mentioned flaw detection mechanism. In an automatic flaw removing device, which essentially consists of a control mechanism (5) that controls the flaw removing mechanism in response to signals from the It is characterized by being configured to drive. To detect flaws, a rotary detector such as an eddy current flaw detector using one or more rotating probes or an AC leakage magnetic flux flaw detector may be used. Die D1 is a normal wire drawing die or a wire drawing die with a slightly lower area reduction rate, D2 is a skin pass die, and D
3 is a finishing die that is used to restore the roundness of a portion that has been deformed by removing defects. In this way, when a wire drawing die is provided between the flaw detection mechanism and the flaw removal machine break, the flaw detection can be performed by calculating the increase in flaw length due to area reduction, change in flaw position, and increase in wire running speed. The control mechanism is given the function of processing the signal from the mechanism and sending it to the flaw removal mechanism. The main parts in Figure 1, namely the flaw detection mechanism (4) and the control mechanism (
5) and the flaw removing mechanism (6), the details of a typical example of the structure are shown in FIG. 3. In Fig. 3, the flaw detection mechanism (4) includes a rotation controller (41) that controls the rotation of the probe (43), a rotary flaw detector (42), and the output from there is processed and controlled as a flaw signal (SK). The flaw removing mechanism (6) includes a signal processor (44) for feeding the signal to the mechanism.The flaw removing mechanism (6) includes a cutting tool (63), a tool drive machine (62) that drives the tool, and a tool drive machine according to control signals from the control mechanism. The control mechanism (5) is only shown as consisting of a control section (51) and a setting display section (52) in FIG. The control unit (51) receives a flaw signal (SK) from the signal @ processing device (44), and receives the flaw signal (SK) from the signal @ processing device (44) every rotation of the rotary flaw detection Ill (42).
For example, a rotation period signal generated from a proximity switch (
SY), and online pulse generator for length measurement (
The length measurement pulse signal (PG) from 7) is input. The defect signal (SK) is generated by processing the weak signals emitted by, for example, four sensor probes, amplifying them, improving the filter S/N ratio, etc., and then inputting them into each channel (in this case, four channels). come. Each flaw signal passes through a peak hold circuit (51'l), an analog-to-digital converter (A/D), and is output to a bus line (513). 514), where the outer circumference of the wire is divided into a suitable number, for example 32, and a circumference division timing pulse is generated therefrom.Thereby, the flaw signal is input to the outer circumference of the probe. In other words, a reference is given to confirm the position on the outer circumference of the wire.On the other hand, the length measurement pulse signal (PG) from the length measurement online pulse generator (7) is, for example, 1M long. It is given as one pulse every time the height is measured, and the divider (515
), it is divided into 5 parts, for example. Therefore, in that case, evaluate the flaws by taking five strips as one unit in the cutting direction of the wire. The outputs of the multiplier (514)e and the divider (515) are shared to the bus line (513) through an interface (I/O). The calculation is performed using a microprocessor MPLI such as 6800
0 with the help of memory. The memory is ROM for startup and for writing arithmetic expressions.
and a RAM that calculates input data and tabulates it on a memory space. The calculation results for controlling the defect removing mechanism are outputted as signals @SA and SB through the interface ①/0. Inputting and displaying initial condition setting values for functioning the scratch removal mechanism is performed in a setting display section (52) connected to the bus line (513) through the I/O in FIG. 4. The setting display section (52) consists of a display (521) and a preset (522). A specific example of the display (521) is shown in FIG.
A plurality of display means arranged on the circumference, such as LEDs, a counter that displays the number of detections of four grades of flaws evaluated based on combinations of flaw depth and length, and a screen that displays parameter settings, such as CRT. It is equipped with the following. The number of the above LEDs corresponds to the number of sections on the outer periphery of the wire, in this case 32 LEDs are arranged. The one at the top of the LED circle represents the upper end of the cross section of the wire being drawn, and the one at the right side represents the right end of the cross section as seen from the exit side of the wire.The sensor probe of the rotary flaw detector rotates around the wire. Each time a flaw is detected on the surface, an LED flashes at a position corresponding to the flaw position. The wire outer diameter set as the parameter setting value in Fig. 5 is
The value at the position of the sub-length pulse generator (7), that is, the value before wire drawing, is necessary for flaw detection because the outer diameter decreases and the length of the wire increases by passing through the dies (D1 and D2). The position of the flaw detected by the mechanism (4) on the wire rod is different from the position where the flaw should be removed by the flaw removal mechanism (6). Strictly speaking, the distance L between the center of the rotary flaw detection type sensor probe in Figure 1 and the wire contact position of the flaw removal tool must be corrected to the value measured by the length measurement pulse generator (7). Must be. The outer diameter of the wire to be processed is D, and the outer diameter of the wire that enters the flaw removal mechanism is d.
When, L corresponding to the value of d/D=K for each wire diameter
By calculating the correction value in advance and storing the table in the ROM, it is possible to read the K value and automatically correct the L value by inputting the wire outer diameter D. "Flaw separation constant", one of the parameter setting values in FIG. 5, means the resolution between each section on the outer circumference of the wire when performing automatic flaw removal. For example, when four sensor probes of a rotary flaw detector are used, they rotate around the wire (1) as shown in FIG. 6, and their trajectory becomes as shown by the chain line in FIG. 7A. If there is a flaw (11) on the surface of the wire (1), the signal shown by the solid line in FIG. 7A is output from the sensor probe (43) passing over the flaw. As mentioned above, in order to improve the S/N ratio, this signal passes through a filter as shown in FIG. 7B, and is inverted as shown in FIG. 7C. ), which undergoes A/D conversion.
At this time, the pair of flaw signals are differentiated and split into multiple damped vibration waveforms, and in exchange for improving the S/S ratio, the flaw signal occupation length (tW), which is converted to the length on the sensor probe trajectory circumference, increases. As a result, the resolution between two or more flaw signals is reduced. In actual operation, the mechanical response followability of the flaw removal mechanism is also an issue, and when flaws exist in parallel on the outer circumference of the wire, priority is given to removing deep flaws, and shallow flaws must be excluded from the flaw removal target. It won't happen. If there is a shallow flaw in parallel with a deep flaw, when the flaw removal tool comes into contact with the wire to remove the former, the latter is included in the effective cutting width that the cutting edge occupies on the outer circumference of the wire. If so, it is possible to cut and remove them at the same time. The flaw separation constant is set taking these conditions into consideration.

【作 用】[For use]

以下、フローチャートを参照しつつ、本発明のソフト面
を説明する。 制御機構におけるメインルーチンは、第8図に示すよう
に、1 1 0msec割込み」、「32分割割込み」
およびr5s++割込み」の3種であって、これらは、
第9図に示すように機能する。 すなわち、「パラメー
タ設定」において、 「線材外径」を入力することにより、前記したように減
面率に応じたL値の補正の演算が行なわれる。 「疵分離定数」を入力することによって、線材外側の円
周上の疵の判定および後記するピークテーブル書き込゜
みが制御ざれる。 「深い(浅い)疵閾値レベル」を入力することによって
、深い(浅い)疵信号振幅の弁別限界が設定ざれる。 伸線作業は、コイルオンライン(線材検出および伸線機
オン)一回転探傷機定常回転チェックー疵取機構オンー
の順でスタートする。 定常状態においては、割込みルーチン群を実行し、探傷
ループにより疵表示を行なう。 その内容は、前記した
LEDフラッシュによる疵位置のリアルタイム表示に加
えて、疵の累計を積算表示すること、・および設定条件
の違いをMPUが検知してエラーメッセージとして表示
することである。 「10TrLSeC割込み」は、線材の長さ方向におけ
る疵情報を定期的に整理統合するための作業で、疵取機
構の機械的応答性が見掛け上は影響ないとした場合、伸
線速度が150m/分であれば、線材長さ方向には25
#がひとつの単位となる。 すなわち分解能25mということになる。 ”IOmsec割込みで制御機5溝から疵取機構に与え
られる指示は、第10図に示すように、疵取工具の線材
の周囲での回転の方向および角度、疵の有無および深さ
にもとづく切削深さ、ならびに切削の直前および直俊に
おける曲加工および俊加工であって、これらは5履割込
みでタイミングをはかつて伝達ざれる。 それとともに
、設定ずみの線材外径の値から、L値補正にもとづいて
切削タイミングを適正にするための信号遅延用シフトレ
ジスタ長の演算および読込みを行ない、次の割込みのた
めのタイミング調整を行なってリターンする。 32分割割込みは、第11図のフローで行ない、線材の
円周方向にあける疵データを周期的に整理、統合する。  すでに述べたように、32分割割込みのタイミングは
、回転探傷機の回転数が変動して回転周期信号(SY)
の周期に変化があっても、SYを32分割するようなパ
ルスを発生させて行なう。 このルーチンの主な機能には、上記の円周方向の疵デー
タ整理に加えて、線材の速度の変化を監視することが含
まれる。 すなわち、線材の長さ5酎の移動と32分割
の一周完了とが一致するか否かをしらへ、不一致の場合
は前回の一周のデータと比較するとともに、次回と比較
して補間を行ない、伸線速度が初期設定値より低下した
場合は、円周データオーバーのメッセージを表示する。 円周上の疵データを読み込んで、リターンする。 データ読み込みの例を示せば、第1表の「円周上疵デー
タテーブル」のとありでおり、これを具象化したモデル
が第17図である。 第17図の円筒は矢印の方向に回
転し、その1回転が回転探@機の1回転に相当する。 
表示方向の区分が順次にコラム1,2.3・・・どなっ
ていて、円筒が1回転するごとにコラム2に蓄えられて
いたデータがコラム3に移動し、コラム3のデータは仙
の作表枠に移される。 このようにして蓄えたデータは
累計され、第2表の「円周上疵データ累計テーブル」が
できる。 この累計値から疵の(深さ)×(長さ)の情
報を得て、疵取機溝への制御信号を出す。 第2表の具
象化モデルが、第18図である。 r5m割込み」は、第12図のフローを実行するもので
必って、円周上疵データ累計から円周上最大疵の検出、
疵の深さと円周アドレスの決定、切削すべき疵長さの判
定、あよび疵取工具を適切なタイミングで作動させるた
めのシフトレジスタ信号遅延を行なう。 元疵マツブの
作成は、線材の長さ方向5mIrIごとの、かつ円周を
32分割したアドレスごとに、疵のデータを書き込んで
行なう。 円周データの累計は、上記したとおりでおる。 第12図において、「円周最大疵検出」のザブルーチン
は、第13図のフローに従う。 最大疵の判定は、ピー
クテーブルを作成して行なう。 円周上のどのアドレスで大きな疵があるかを判定して記
憶し、第5表に示す第一のピークテーブルをつくるとと
もに、中位の疵について判定して、第6表に示す第二の
ピークテーブルをつくる。 第5表のピーク位置と第6表のピーク位置とが疵分離定
数以内であれば第一のピークテーブルのピークで代表さ
せ、疵分離定数を超えるへだたりがあれば、別に記憶す
る。 このようにして得た円周アドレスと長さ方向アド
レスの組み合わせで疵ピーク位置を定め、第3表に示す
ような疵ピーク位置マップテーブルを作成する。 「疵深さ・円周アドレス決定」のサブルーチンは、第1
4図のフローをもつ。 この作業は、まず第5図の設定
パラメータを読み、疵ピーク位置マップ(第3表)と比
較して、第4表に示す元疵実データテーブルに書き込む
。 第4表のコラム8のアドレスは、たとえば1024
、すなわち5X 1 024=5 1 20 (m)の
長さにわたって線材の疵の分布に関する情報を蓄積し、
5125sに至ったときアドレスを1に更新するように
設計する。 「疵長さ判定」のサブルーチンは、第15図のフローに
従い、疵の深さと長さとを組み合わせて判定する。 判
定は、疵ピーク位置マップテーブル(第3表)、元疵実
データテーブルを照合しながら、パラメータとして設定
した深い(浅い)疵選別の閾値レベルと比較することに
より行なう。 このようにして判定した疵の深さと長さの結果にもとづ
き、疵取機構を線材移動速度と同調ざせて作動ざぜるた
めに出す疵取信号の遅延を行なう、「シフトレジスタ処
理」のサブルーチンを、第16図のフローで実施する。 制Ia機構の制御部(51)から疵取機構の駆動制御器
(61)に送られる指令、それと逆方向のアンサ(アク
ノレツジ)のタイミングを、第19図のチャート上段に
示す。 同図の下段は、上段の指令が疵取工具(63)
を動かして線材の疵を切削する状況を示す。 線材(1
)の疵(11)に対して、破線で示した部分を切削する
ことによってこれを除去する。 このとき、前加工のため切削開始(工具の前進開始)の
指令信号の立上りを5〜10TrLSeC、深い疵の場
合は10〜12msec早くなるよう、遅延時間を短縮
させる。 この時間の調節により、疵の深い浅いに応じ
て切削開始の時期を適切に定めるわけである。 後加工は、切削工具の後退に要する時間を利用して行な
う。 円周上疵データ テーブル *疵信号振幅のA/D変換値 ピークテーブル1 円周上疵データ累計 テーブル ピークテーブル2 [発明の効果1 本発明の線材白動疵取菰置により、伸線ざれる線材の表
面疵の切削除去を、必要最少限の部分の切削によって実
施できる。 従って、減面の度合が線材の各部によって
大きく異なったり、くびれのため断線したりすることは
なく、全長にわたって均一な伸線が行なえる。 材料の
歩留りは限界まで高められ、とくに高価な高合金工具鋼
などの加工においては、コスト抑制に19立つ。
Hereinafter, the software aspects of the present invention will be explained with reference to flowcharts. The main routine in the control mechanism is as shown in Fig. 8.
and r5s++ interrupt", and these are:
It functions as shown in FIG. That is, by inputting the "wire rod outer diameter" in the "parameter setting", the correction calculation of the L value according to the area reduction rate is performed as described above. By inputting the "flaw separation constant", determination of flaws on the outer circumference of the wire and writing of a peak table to be described later can be controlled. By inputting the "deep (shallow) flaw threshold level", the discrimination limit of the deep (shallow) flaw signal amplitude is set. The wire drawing work starts in the following order: coil online (wire rod detection and wire drawing machine turned on), one-turn flaw detector steady rotation check, flaw removal mechanism turned on. In a steady state, a group of interrupt routines are executed and flaws are displayed by a flaw detection loop. The contents include, in addition to the real-time display of the flaw position using the LED flash described above, the cumulative display of the cumulative total of flaws, and the MPU detecting differences in setting conditions and displaying them as error messages. The "10TrLSeC interrupt" is an operation to periodically organize and integrate flaw information in the length direction of the wire. Assuming that the mechanical responsiveness of the flaw removal mechanism has no apparent effect, the wire drawing speed is 150 m/min. 25 minutes in the wire length direction
# is one unit. In other words, the resolution is 25 m. ”As shown in Figure 10, the instructions given to the flaw removal mechanism from the control machine groove 5 at the IOmsec interrupt are based on the direction and angle of rotation of the flaw removal tool around the wire, the presence or absence of flaws, and the depth of the flaw. Depth, curved machining and quick machining immediately before cutting and straight machining, the timing of which is transmitted at the 5th cut.At the same time, the L value correction is performed from the set wire rod outer diameter value. Based on this, the length of the shift register for signal delay is calculated and read in order to make the cutting timing appropriate, the timing is adjusted for the next interrupt, and the process returns.The 32-divided interrupt is performed according to the flow shown in Fig. 11, Data on flaws created in the circumferential direction of the wire rod is periodically organized and integrated.As mentioned above, the timing of the 32-division interrupt is determined by the rotation period signal (SY) as the rotation speed of the rotary flaw detector fluctuates.
Even if there is a change in the cycle of SY, pulses are generated to divide SY into 32. The main functions of this routine include, in addition to the circumferential flaw data reduction described above, monitoring changes in wire speed. That is, it is determined whether the movement of the wire rod length 5 and the completion of one round of 32 divisions match, and if they do not match, it is compared with the data of the previous round, and interpolation is performed by comparing it with the next time. If the wire drawing speed falls below the initial setting value, a message indicating circumference data over is displayed. Read the flaw data on the circumference and return. An example of data reading is shown in the "Circumferential Flaw Data Table" in Table 1, and a model embodying this is shown in FIG. 17. The cylinder in Fig. 17 rotates in the direction of the arrow, and one rotation corresponds to one rotation of the rotary probe.
The display direction is divided sequentially into columns 1, 2, 3, etc., and each time the cylinder rotates, the data stored in column 2 moves to column 3, and the data in column 3 moves to column 3. Moved to tabulation frame. The data stored in this way is accumulated to create the "circumferential flaw data accumulation table" shown in Table 2. Information about (depth) x (length) of the flaw is obtained from this cumulative value, and a control signal is issued to the flaw removal machine groove. The concrete model of Table 2 is shown in FIG. 18. r5m interrupt" executes the flow shown in Fig. 12, and it is necessary to detect the maximum circumferential flaw from the cumulative circumferential flaw data,
Determines the depth and circumference address of the flaw, determines the length of the flaw to be cut, and delays shift register signals to operate the flaw removal tool at the appropriate timing. The original flaw map is created by writing flaw data every 5 mIrI in the length direction of the wire and for each address obtained by dividing the circumference into 32. The cumulative total of circumference data is as described above. In FIG. 12, the subroutine for "maximum circumferential flaw detection" follows the flow shown in FIG. 13. The largest flaw is determined by creating a peak table. The address on the circumference where there is a large flaw is determined and memorized to create the first peak table shown in Table 5, and the second peak table shown in Table 6 is determined by determining the address on the circumference where there is a large flaw. Create a peak table. If the peak positions in Table 5 and the peak positions in Table 6 are within the flaw separation constant, they are represented by the peaks in the first peak table, and if there is a gap that exceeds the flaw separation constant, it is stored separately. The flaw peak position is determined by the combination of the circumferential address and the longitudinal address thus obtained, and a flaw peak position map table as shown in Table 3 is created. The subroutine “determination of flaw depth/circumference address” is the first
It has the flow shown in Figure 4. In this work, first, the setting parameters shown in FIG. 5 are read, compared with the flaw peak position map (Table 3), and written into the original flaw actual data table shown in Table 4. For example, the address in column 8 of Table 4 is 1024
, that is, information on the distribution of flaws in the wire is accumulated over a length of 5X 1 024 = 5 1 20 (m),
The address is designed to be updated to 1 when it reaches 5125s. The "determination of flaw length" subroutine determines the depth and length of the flaw in combination according to the flow shown in FIG. The determination is made by comparing the flaw peak position map table (Table 3) and the original flaw actual data table with a threshold level for deep (shallow) flaw selection set as a parameter. Based on the results of the depth and length of the flaw determined in this way, a subroutine of "shift register processing" is executed to delay the flaw removal signal that is issued in order to synchronize the flaw removal mechanism with the wire movement speed. , carried out according to the flow shown in Fig. 16. The timing of the command sent from the control unit (51) of the control Ia mechanism to the drive controller (61) of the flaw removal mechanism and the answer (acknowledgement) in the opposite direction are shown in the upper part of the chart in FIG. In the lower part of the same figure, the command in the upper part is the flaw removal tool (63).
This figure shows how to cut out flaws in a wire by moving the . Wire rod (1
) The flaw (11) is removed by cutting the part indicated by the broken line. At this time, the delay time is shortened so that the rise of the command signal for starting cutting (starting forward movement of the tool) for pre-machining is 5 to 10 TrLSeC, or 10 to 12 msec in the case of deep scratches. By adjusting this time, the time to start cutting can be determined appropriately depending on how deep or shallow the flaw is. Post-processing is performed using the time required for the cutting tool to retreat. Circumferential flaw data table *A/D conversion value peak table of flaw signal amplitude Peak table 1 Circumferential flaw data cumulative table Peak table 2 [Effect of the invention 1 The wire rod white movement flaw removal arrangement of the present invention eliminates wire drawing. Surface flaws on the wire can be removed by cutting the minimum necessary portion. Therefore, the degree of area reduction varies greatly depending on each part of the wire, and the wire does not break due to constrictions, and the wire can be drawn uniformly over the entire length. The material yield has been increased to the limit, and costs have been reduced, especially when machining expensive high-alloy tool steel.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明の自動疵取装置について全体の溝成を
示す概念図である。 第2図は、第1図の装置の疵取殿構の構造を示す、線材
出口方向からみた側面図である第3図は、第1図におけ
る主要な機構について、それらの構成を示すブロック図
である。 第4図は、第2図に示した主要な機溝のうちの制御機構
の詳細を示すブロック図でおる。 第5図は、制御機構の設定表示部の具体例を示す図であ
る。 第6図は、回転探傷機のセンサブローブが被加工線材の
周囲を回転する状況を示す斜視図である。 第7図A−Cは、疵信号の線材外側円周上における分解
能が低下する現象を説明するものであって、Aは線材断
面の一部とその周囲を回転するセンサブローブの軌跡に
出力信号波形を重ねて示した図であり、Bはフィルター
後の波形、Cは反転後の波形をそれぞれ示す図である。 第8図ないし第12図は、本発明において制御機構を動
かすソフトウエアを説明するフローチャートであって、
第8図はメインルーチンの3種の割込みを示し、第9図
はメインルーチンの機能を示す。 第10図は10ms
ec割込みのフロー、第11図は32分割割込みのフロ
ー、そして第12図は5m割込みのフローを、それぞれ
示す。 第13図ないし第16図は、いずれも第12図の5m割
込みのサブルーチンであって、第13図は円周上最大疵
検出、第14図は疵深ざ・円周上アドレス決定、第15
図は疵長さ判定、第16図はシフトレジスタ迅埋のフロ
ーをそれぞれ示す。 第17図および第18図は、ともに線材の円周上のアド
レスを示すものであって、第17図は第1表の円周疵デ
ータテーブルの、第18図は第2表の円周疵データ累計
テーブルの、それぞれ具象化モデルである。 第19図は、制tei構から疵取殿構に与えられる制御
信号のタイミングチャートで必って、疵取り切削の状況
をこれに対比して示してある。 1・・・被加工線材     2・・・ベイオフスタン
ド3・・・テイクアツプスタンド 4・・・探傷機構 41・・・回転制御器   42・・・回転探傷機43
・・・センサプローブ 44・・・信号処理器5・・・
制御機構 51・・・制御部     52・・・設定表示部6・
・・疵取機構 61・・・駆動装置    62・・・工具駆動器63
・−・切削工具 7・・・測長パルスジエネレータ D,D.D3・・・伸線ダイス SK・・・疵信号      SY・・・回転周期信号
PG・・・測長パルス信@   SA,SB・・・制御
信号特許出願人   原電子測器株式会社 同     大同特殊鋼株式会社 代理人  弁理士  須 賀 総 夫 @1!!1 第4図 第3図 第6図 第7図 第10図 第8図 第9図 第11図 第14図 第16図 第15図 第17図 第18図
FIG. 1 is a conceptual diagram showing the overall groove structure of the automatic flaw removing apparatus of the present invention. Fig. 2 is a side view showing the structure of the flaw removal chamber of the device shown in Fig. 1, seen from the wire exit direction. Fig. 3 is a block diagram showing the configuration of the main mechanisms in Fig. 1. It is. FIG. 4 is a block diagram showing details of the control mechanism of the main machine grooves shown in FIG. 2. FIG. 5 is a diagram showing a specific example of the setting display section of the control mechanism. FIG. 6 is a perspective view showing a situation in which the sensor probe of the rotary flaw detector rotates around the wire to be processed. Figures 7A to 7C illustrate the phenomenon in which the resolution of the flaw signal on the outer circumference of the wire is reduced, and A shows the output signal on a part of the cross section of the wire and the locus of the sensor probe rotating around it. It is a diagram showing waveforms superimposed, B is a diagram showing a waveform after filtering, and C is a diagram showing a waveform after inversion. 8 to 12 are flowcharts illustrating the software that operates the control mechanism in the present invention,
FIG. 8 shows three types of interrupts in the main routine, and FIG. 9 shows the functions of the main routine. Figure 10 is 10ms
FIG. 11 shows the flow of the ec interrupt, FIG. 11 shows the flow of the 32-divided interrupt, and FIG. 12 shows the flow of the 5m interrupt. 13 to 16 are all subroutines of the 5m interrupt in FIG. 12, in which FIG. 13 detects the maximum circumferential flaw, FIG. 14 determines the flaw depth and circumferential address, and 15
The figure shows the flow of determining the flaw length, and FIG. 16 shows the flow of quickly filling the shift register. Fig. 17 and Fig. 18 both show the addresses on the circumference of the wire, Fig. 17 shows the circumferential flaw data table in Table 1, and Fig. 18 shows the circumferential flaw data table in Table 2. Each is a concrete model of the data cumulative table. FIG. 19 is a timing chart of control signals given from the control mechanism to the defect removal mechanism, and shows the situation of defect removal cutting in comparison. 1... Wire rod to be processed 2... Bay-off stand 3... Take-up stand 4... Flaw detection mechanism 41... Rotation controller 42... Rotary flaw detector 43
...Sensor probe 44...Signal processor 5...
Control mechanism 51...control section 52...setting display section 6.
... Scratch removal mechanism 61 ... Drive device 62 ... Tool drive device 63
・-・Cutting tool 7... Length measurement pulse generator D, D. D3... Wire drawing die SK... Flaw signal SY... Rotation period signal PG... Length measurement pulse signal @ SA, SB... Control signal Patent applicant Hara Denshi Sokki Co., Ltd. Daido Special Steel Agent Co., Ltd. Patent Attorney Souo Suga @1! ! 1 Figure 4 Figure 3 Figure 6 Figure 7 Figure 10 Figure 8 Figure 9 Figure 11 Figure 14 Figure 16 Figure 15 Figure 17 Figure 18

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)線材の伸線加工に当つてその表面の疵を自動的に
除去する装置であって、走行する線材の表面疵を検出し
、検出した疵に関する情報を信号として出力する探傷機
構、工具を線材の周囲に回転させて疵の上に位置させ、
半径方向に進退させることによつて疵の部分だけを切削
する疵取機構、および上記探傷機構からの信号を受けて
疵取機構を制御する制御機構から本質的に成る自動疵取
装置において、疵の位置、深さおよび長さに対応した信
号を出力し、それに従って工具を駆動するように構成し
たことを特徴とする自動疵取装置。
(1) A device that automatically removes surface flaws during the wire drawing process, and a flaw detection mechanism and tool that detects surface flaws on the running wire and outputs information regarding the detected flaws as a signal. Rotate it around the wire and position it over the flaw,
In an automatic flaw removing device, which essentially consists of a flaw removing mechanism that cuts only the flawed portion by advancing and retreating in the radial direction, and a control mechanism that controls the flaw removing mechanism in response to signals from the flaw detection mechanism, An automatic flaw removing device characterized in that it is configured to output a signal corresponding to the position, depth and length of the tool and drive a tool accordingly.
(2)探傷機構と疵取機構との間に伸線ダイスをそなえ
、減面に伴う疵の長さの増加、疵位置の変化および線材
走行速度の増大を演算し、探傷機構からの信号を加工し
て疵取機構に送る機能を制御機構に与えた請求項1の自
動疵取装置。
(2) A wire drawing die is provided between the flaw detection mechanism and the flaw removal mechanism, and it calculates the increase in flaw length due to area reduction, change in flaw position, and increase in wire running speed, and receives signals from the flaw detection mechanism. 2. The automatic flaw removing apparatus according to claim 1, wherein the control mechanism is provided with a function of processing and sending the processed material to the flaw removing mechanism.
(3)線材の単位長さごとの円周上で複数の疵が存在す
る場合、その深さを比較して、最も深い疵から優先的に
切削するように疵取工具を駆動するように構成した請求
項1の自動疵取装置。
(3) When multiple flaws exist on the circumference of the wire for each unit length, the flaw removing tool is configured to compare the depths and drive the flaw removing tool to cut the deepest flaw preferentially. The automatic flaw removing device according to claim 1.
(4)線材の外側の円周を複数に区分し、各区分におけ
る疵を時々刻々表示する表示灯をそなえた請求項1の自
動疵取装置。
(4) The automatic flaw removing device according to claim 1, wherein the outer circumference of the wire is divided into a plurality of sections, and an indicator light is provided to display the flaws in each section from time to time.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59142054A (en) * 1983-01-28 1984-08-15 Sumitomo Metal Ind Ltd Removing method and device of surface flaw on wire rod
JPS6341418B2 (en) * 1981-03-05 1988-08-17 Yokokawa Denki Kk

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6341418B2 (en) * 1981-03-05 1988-08-17 Yokokawa Denki Kk
JPS59142054A (en) * 1983-01-28 1984-08-15 Sumitomo Metal Ind Ltd Removing method and device of surface flaw on wire rod

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