JPH02236446A - 漏洩磁束探傷方法及び装置 - Google Patents
漏洩磁束探傷方法及び装置Info
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- JPH02236446A JPH02236446A JP1058478A JP5847889A JPH02236446A JP H02236446 A JPH02236446 A JP H02236446A JP 1058478 A JP1058478 A JP 1058478A JP 5847889 A JP5847889 A JP 5847889A JP H02236446 A JPH02236446 A JP H02236446A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野Ｊ
この発明は、鉄、コバルト、ニッケル等を含む合金のよ
うな強磁性体材料の欠陥検出方法に関するものであって
、材料の表面や表層部の４−ズや溶接構造物の欠陥の検
出等の非破壊検査に利用できる。
うな強磁性体材料の欠陥検出方法に関するものであって
、材料の表面や表層部の４−ズや溶接構造物の欠陥の検
出等の非破壊検査に利用できる。
［従来の技術コ
従来より、コバルト、ニッケルなどを含む合金のような
強磁性体材料の欠陥の非破壊検査法として、磁気探傷検
査法がある。
強磁性体材料の欠陥の非破壊検査法として、磁気探傷検
査法がある。
その代表的なものは被検査材料を磁化したときの欠陥部
分からの漏洩磁束を利用して欠陥を検出する漏洩磁束探
傷法であって、欠陥部分からの漏洩磁束の検出方法によ
り、磁粉探傷法、録磁探傷法等がある。
分からの漏洩磁束を利用して欠陥を検出する漏洩磁束探
傷法であって、欠陥部分からの漏洩磁束の検出方法によ
り、磁粉探傷法、録磁探傷法等がある。
第４図に示す磁粉探信法は広く用いられている方法であ
って、被検査材料１０１の被検査面に鉄粉等の磁粉１０
２をまき被検査材料１０１を磁化器等で磁化すると、被
検査面や表層部にキズ等の欠陥のない被検査材料１０１
では、材料表層部の磁界の強さは材料の表層部全域で同
一でかつ磁束は材料の外には出ないから、材料１０１の
被検査面にまかれた磁粉１０２は材料１０１の被検査面
に一様に分布した状態で材料１０１の被検査面１１０に
吸着されている《第４図（ａ））。
って、被検査材料１０１の被検査面に鉄粉等の磁粉１０
２をまき被検査材料１０１を磁化器等で磁化すると、被
検査面や表層部にキズ等の欠陥のない被検査材料１０１
では、材料表層部の磁界の強さは材料の表層部全域で同
一でかつ磁束は材料の外には出ないから、材料１０１の
被検査面にまかれた磁粉１０２は材料１０１の被検査面
に一様に分布した状態で材料１０１の被検査面１１０に
吸着されている《第４図（ａ））。
ところが、きす等の欠陥１０３のある材料では第５図に
示すように欠陥１０３の溝１０４を挟む一方の側の壁１
０５がＮ極、他方の側の壁１０６がＳ極となって両極間
に磁界が形成され、両極を結ぶ弧状の磁束１０７の一部
は被検査材料の被検査而１１０より外側に出る漏洩磁束
１０７ａとなる。
示すように欠陥１０３の溝１０４を挟む一方の側の壁１
０５がＮ極、他方の側の壁１０６がＳ極となって両極間
に磁界が形成され、両極を結ぶ弧状の磁束１０７の一部
は被検査材料の被検査而１１０より外側に出る漏洩磁束
１０７ａとなる。
このため欠陥１０３の部分には、この漏洩磁束１０７ａ
に沿って磁粉１０２が寄り集まり被検査材料の被検査面
１１０から盛り上がった磁粉模様１０６が形成される（
第４図（ｂ》）。
に沿って磁粉１０２が寄り集まり被検査材料の被検査面
１１０から盛り上がった磁粉模様１０６が形成される（
第４図（ｂ》）。
そこで、この磁粉模様１０８の有無、形や大きさ、高さ
を検査者が目視して，欠陥１０３の形や大きさ、深さを
推測するものである。
を検査者が目視して，欠陥１０３の形や大きさ、深さを
推測するものである。
このように磁粉探傷法は複雑な装置を必要とせずだれに
でも手軽にできる特長がある。
でも手軽にできる特長がある。
［発明が解決しようとする課題］
ところが磁粉探傷法は手作業であって、検査者がついて
いなければならず、結果が検査者の技量に左右ざれ、微
小な欠陥では石粉模様が明瞭でなく、かつ記録性がない
ため見逃しも多く、欠陥の客観的評価、定量的評価、経
時比較評価等がでぎないという問題がある。
いなければならず、結果が検査者の技量に左右ざれ、微
小な欠陥では石粉模様が明瞭でなく、かつ記録性がない
ため見逃しも多く、欠陥の客観的評価、定量的評価、経
時比較評価等がでぎないという問題がある。
録磁探傷法は、第３図に示すように、被検査材料１０１
ａの表面１１０《第３図（ａ）》に、磁気テープ１１１
等の磁気記録材を載せた状態（第３図（ｂ））で被検査
材料１０１ａを磁化し（第３図（Ｃ））、被検査材料１
０１ａの欠陥１０３部分からの漏洩磁束１０７ａを磁気
テーブ１１１の磁性層１１１８に記録、すなわち磁性層
１１１ａの漏洩磁束１０７ａの通る部分をその漏洩磁束
１０７ａの方向と多少に応じた強弱に磁化させ（第３図
（ｄ））、この記録済みの磁気テープ１１１を磁気ヘッ
ド１１２等に通して前記磁化の方向と強弱に応じた誘起
電圧の高低に変換しく第３図（ｅ））、得られた電圧波
形の信号１１３《第３図（ｆ））を解析して欠陥１０３
を評価するものである。
ａの表面１１０《第３図（ａ）》に、磁気テープ１１１
等の磁気記録材を載せた状態（第３図（ｂ））で被検査
材料１０１ａを磁化し（第３図（Ｃ））、被検査材料１
０１ａの欠陥１０３部分からの漏洩磁束１０７ａを磁気
テーブ１１１の磁性層１１１８に記録、すなわち磁性層
１１１ａの漏洩磁束１０７ａの通る部分をその漏洩磁束
１０７ａの方向と多少に応じた強弱に磁化させ（第３図
（ｄ））、この記録済みの磁気テープ１１１を磁気ヘッ
ド１１２等に通して前記磁化の方向と強弱に応じた誘起
電圧の高低に変換しく第３図（ｅ））、得られた電圧波
形の信号１１３《第３図（ｆ））を解析して欠陥１０３
を評価するものである。
このような録磁探傷法は、自動探傷が可能だから検査者
がついている必要がなく、また記録性があるので客観的
・定吊的評価や経時比較評価が可能である。
がついている必要がなく、また記録性があるので客観的
・定吊的評価や経時比較評価が可能である。
しかし従来の録磁探傷法では漏洩磁束１０７ａの磁性層
１１１ａに対する磁化力が小さい、すなわち漏洩磁束１
０７ａが磁気テーブ１１１に明瞭に記録されない、とい
う問題があった。これは漏ａ磁束１０７ａは被検査面１
１０から僅かｆｌＬ，でも急激に減衰するため磁気テー
プ１１１のリフトオフをなるべく小にする必要があり、
このため磁気テープ１１１の上にゴム板を戟置する等の
対策がとられるが、それでも、微小な欠陥や、薄板材料
、塗膜のある材料の欠陥等では得られる信号は極めて微
弱となりノイズとの識別が困難で、これらの場合の検査
は事実上不可能であった。
１１１ａに対する磁化力が小さい、すなわち漏洩磁束１
０７ａが磁気テーブ１１１に明瞭に記録されない、とい
う問題があった。これは漏ａ磁束１０７ａは被検査面１
１０から僅かｆｌＬ，でも急激に減衰するため磁気テー
プ１１１のリフトオフをなるべく小にする必要があり、
このため磁気テープ１１１の上にゴム板を戟置する等の
対策がとられるが、それでも、微小な欠陥や、薄板材料
、塗膜のある材料の欠陥等では得られる信号は極めて微
弱となりノイズとの識別が困難で、これらの場合の検査
は事実上不可能であった。
磁気探傷法は漏洩磁束探傷法の伯にも秤々考えられてい
るが、磁気センサの厚みでリフトオフが生じ、このリフ
トオフのために小さな欠陥や薄板材料、塗膜のある材料
の欠陥の検出はやはり困難である。
るが、磁気センサの厚みでリフトオフが生じ、このリフ
トオフのために小さな欠陥や薄板材料、塗膜のある材料
の欠陥の検出はやはり困難である。
この発明は上記の如き事情に鑑みてなされたものであっ
て、自動化が可能であって記録性があり、客観的、定量
的、経時的検査が可能で、微小な欠陥や岬板材料、塗膜
のある材料の欠陥をも検出可能で見逃しが極めて少ない
漏洩磁束探傷方法及び装置を提供することを目的として
いる。
て、自動化が可能であって記録性があり、客観的、定量
的、経時的検査が可能で、微小な欠陥や岬板材料、塗膜
のある材料の欠陥をも検出可能で見逃しが極めて少ない
漏洩磁束探傷方法及び装置を提供することを目的として
いる。
［課題を解決するための手段コ
この目的に対応して、この発明の漏洩磁束探傷方法は、
磁気記録用磁性体をその一方の面は被検査材料の被検査
面と重なりかつ他方の面は非磁性体層を介して磁性体層
と重なるように配置し、前記被検査材料を通る磁気回路
を形成することを特徴とし、また漏洩磁束探傷装置は、
磁化器と録磁補助部材とを備え、前記録磁補助部材は磁
性体層と非磁性体層とを有して前記磁慴休層が前記非磁
性体層を介して記録用磁性体に重なり得るように構成さ
れていることを特徴としている。
磁気記録用磁性体をその一方の面は被検査材料の被検査
面と重なりかつ他方の面は非磁性体層を介して磁性体層
と重なるように配置し、前記被検査材料を通る磁気回路
を形成することを特徴とし、また漏洩磁束探傷装置は、
磁化器と録磁補助部材とを備え、前記録磁補助部材は磁
性体層と非磁性体層とを有して前記磁慴休層が前記非磁
性体層を介して記録用磁性体に重なり得るように構成さ
れていることを特徴としている。
［作用］
このように構成された漏洩磁束探傷方法及び装置におい
ては、被検査材料からの漏洩隘束は磁気記録用の磁性体
層を従来より強く磁化する。
ては、被検査材料からの漏洩隘束は磁気記録用の磁性体
層を従来より強く磁化する。
これは磁気記録用磁性体の外側に非磁性体層を隔てて磁
性体層があるために、この磁性体層が漏洩磁束が通り易
い磁路となって通る漏洩磁束を壜加させ、またこの磁性
体層自体も漏洩磁束によって磁化されてこれが磁気記録
用磁性体の磁化を強める作用をするためと考えられる。
性体層があるために、この磁性体層が漏洩磁束が通り易
い磁路となって通る漏洩磁束を壜加させ、またこの磁性
体層自体も漏洩磁束によって磁化されてこれが磁気記録
用磁性体の磁化を強める作用をするためと考えられる。
このため従来は漏洩磁束が少なくて記録できなかった欠
陥、すなわち、表面からの深さの浅い欠陥や幅の小さい
欠陥、塗膜があるためにリフトオフが大きい欠陥、強く
磁化しにくい薄い材料の欠陥等による漏洩磁束をも記録
可能とし、これらの検出を可能にする。
陥、すなわち、表面からの深さの浅い欠陥や幅の小さい
欠陥、塗膜があるためにリフトオフが大きい欠陥、強く
磁化しにくい薄い材料の欠陥等による漏洩磁束をも記録
可能とし、これらの検出を可能にする。
［実施例コ
以下、この発明の詳細を一実施例を示す図面について説
明する。
明する。
第１図はこの発明の一実施例に係わる漏洩磁束探傷方法
を示す。
を示す。
まず被検査材料１０１を用意しく第１図（ａ））その被
検査面１１０上に磁気記録用磁性体層の磁性層１１１ａ
を重ねる。ここでは磁性体１１１ａ単独でなく、磁性層
１１１ａの背面に非磁性体のプラスチック層であるベー
スフィルム１１１ｂを貼合した市販の磁気テープ１１１
とする。
検査面１１０上に磁気記録用磁性体層の磁性層１１１ａ
を重ねる。ここでは磁性体１１１ａ単独でなく、磁性層
１１１ａの背面に非磁性体のプラスチック層であるベー
スフィルム１１１ｂを貼合した市販の磁気テープ１１１
とする。
ここまでは従来と変わらないが、ここで重要なことは磁
気テープ１１１の上に更に非磁性体間１を隔てて強磁性
体唐２を重ね合せて設けることである（第１図（ｂ））
。
気テープ１１１の上に更に非磁性体間１を隔てて強磁性
体唐２を重ね合せて設けることである（第１図（ｂ））
。
ここに非磁性体層１としては例えば０．２ｍ＋厚さの塩
化ビニルのような柔軟なプラスヂックシ−ト等を、また
磁性体Ｍ２としては、強磁性を有する金属板例えば鉄板
や、磁性プラスチック等を用いることができる。
化ビニルのような柔軟なプラスヂックシ−ト等を、また
磁性体Ｍ２としては、強磁性を有する金属板例えば鉄板
や、磁性プラスチック等を用いることができる。
このように、磁気記録用の磁性層１１１ａの一方の面が
被検査材料の被検査面に沿って重なりかつ他方の面が非
磁性体層１を介して磁性体層と重なり合った状態では、
磁化テーブ１１１は材料１０１からのリフトオフがＯに
なる。この状態で材料１０１を磁化器１００で磁化し、
隅束７を材料１０１の中に通し、このとき欠陥１０３部
からの漏洩磁束７ａを磁性体層１１１ａによって記録す
る《第１図（ｄ）》。
被検査材料の被検査面に沿って重なりかつ他方の面が非
磁性体層１を介して磁性体層と重なり合った状態では、
磁化テーブ１１１は材料１０１からのリフトオフがＯに
なる。この状態で材料１０１を磁化器１００で磁化し、
隅束７を材料１０１の中に通し、このとき欠陥１０３部
からの漏洩磁束７ａを磁性体層１１１ａによって記録す
る《第１図（ｄ）》。
次にこの記録済みの磁気テーブ１１１を磁気ヘッド１１
２（第１図（ｅ）の磁気記録装置１１４に内蔵されてい
る）に通して、記録された漏洩磁束７ａの磁界の強弱に
より磁気ヘッド１１２の磁気コイルに誘起電圧を発生さ
せ（第１図（ｅ））、この電圧波形の信号３を得て（第
１図（ｆ》）、この信号３を増幅器４で増幅した後、遅
延回路５で遅延させロジックストレージ６に記憶した後
口ンビュータ８で解析する（第１図（ｇ）》。
２（第１図（ｅ）の磁気記録装置１１４に内蔵されてい
る）に通して、記録された漏洩磁束７ａの磁界の強弱に
より磁気ヘッド１１２の磁気コイルに誘起電圧を発生さ
せ（第１図（ｅ））、この電圧波形の信号３を得て（第
１図（ｆ》）、この信号３を増幅器４で増幅した後、遅
延回路５で遅延させロジックストレージ６に記憶した後
口ンビュータ８で解析する（第１図（ｇ）》。
以上の実施例は、被検査材料がある程度の厚みをもった
板状をなし充分な磁束を通し得る断面積を有する場合で
あって、被検査材料を磁化器で直接磁化しているが、被
検査材料が極薄であってかつ透磁率もあまり大きくない
場合、例えば厚さ０．０１〜０．０５ｍ＋の鉄系のアモ
ルファス材料である場合には、この実施例の被検査材料
のように直接磁化する方法では材料１０１内には充分な
磁束が通せず、かつこのような材料では欠陥の深さも当
然極めて浅くなるので、漏洩磁束による信号は極めて微
弱となり、欠陥検出ができないものも出てくる。
板状をなし充分な磁束を通し得る断面積を有する場合で
あって、被検査材料を磁化器で直接磁化しているが、被
検査材料が極薄であってかつ透磁率もあまり大きくない
場合、例えば厚さ０．０１〜０．０５ｍ＋の鉄系のアモ
ルファス材料である場合には、この実施例の被検査材料
のように直接磁化する方法では材料１０１内には充分な
磁束が通せず、かつこのような材料では欠陥の深さも当
然極めて浅くなるので、漏洩磁束による信号は極めて微
弱となり、欠陥検出ができないものも出てくる。
このような場合の磁化方法としては、欠陥のない平滑な
強磁性体（例えば鉄板）の上にこの極薄の被検査材料を
密着させて載置してこの一休化した状態で強磁性体ごと
磁化すると被検査材料は単独に磁化した場合より強く磁
化され、大きな信号が得られる。
強磁性体（例えば鉄板）の上にこの極薄の被検査材料を
密着させて載置してこの一休化した状態で強磁性体ごと
磁化すると被検査材料は単独に磁化した場合より強く磁
化され、大きな信号が得られる。
更にまた被検査面が曲面である場合には、第２図に示す
ように被検査材料１０１ａの被検査面に沿って磁気テー
プ１１１を置き更に非磁性体層１を介して磁性プラスチ
ックフィルム２ａを設【ノて、これら３層が互いに密着
した状態で被検査材料１０１ａの被検査面１１０ａに密
着するようにして、被検査材料１０１ａを磁化すればよ
い。
ように被検査材料１０１ａの被検査面に沿って磁気テー
プ１１１を置き更に非磁性体層１を介して磁性プラスチ
ックフィルム２ａを設【ノて、これら３層が互いに密着
した状態で被検査材料１０１ａの被検査面１１０ａに密
着するようにして、被検査材料１０１ａを磁化すればよ
い。
次に漏洩磁束探傷装置について説明する。
第１図（Ｃ）において１１は漏洩磁束探傷装ほの一実施
例であり、漏洩磁束探爛装置１１は磁化器１００と、録
…補助部材１０とを備える。
例であり、漏洩磁束探爛装置１１は磁化器１００と、録
…補助部材１０とを備える。
磁化器１００としては市販の磁化器を用いることができ
る。・ 録磁補助部材１０は磁性体層２と非磁性体層１とを分離
可能にに若しくは一休化して有し、磁性体層２は非磁性
体層１を介して磁気テープ等の記録用磁性体１１１にピ
ッタリと隙間なく重なり得るように構成されている。
る。・ 録磁補助部材１０は磁性体層２と非磁性体層１とを分離
可能にに若しくは一休化して有し、磁性体層２は非磁性
体層１を介して磁気テープ等の記録用磁性体１１１にピ
ッタリと隙間なく重なり得るように構成されている。
漏洩磁束探傷装置１１によって探傷するときは、記録さ
れた漏洩磁束を電気的信号に変換するための磁気ヘッド
１１２、増幅器４等の一連の装置を別途に必要とする。
れた漏洩磁束を電気的信号に変換するための磁気ヘッド
１１２、増幅器４等の一連の装置を別途に必要とする。
なお以上の実施例では録磁補助部材１０は磁化器１００
と別体をなしていたが、磁化器１００に変位可能に支持
されるように構成してもよい。この場合、録磁補助部材
１０は、磁化器１００のコアと絶縁して磁化器１００に
取付け、使用時に記録用磁性体への肴離を可能とするよ
うに、磁化器のコアの両端面を結ぶ而との間隔を調整可
能に構成する。
と別体をなしていたが、磁化器１００に変位可能に支持
されるように構成してもよい。この場合、録磁補助部材
１０は、磁化器１００のコアと絶縁して磁化器１００に
取付け、使用時に記録用磁性体への肴離を可能とするよ
うに、磁化器のコアの両端面を結ぶ而との間隔を調整可
能に構成する。
［実験例］
（１）第６図、第７図、第８図は、本発明の漏洩磁束探
傷方法により表面の傷の溝の深さを各々１。１５履、０
．２ｍｒａ，０．００８順に設定した、縦４５＃ｌｌｌ
，横２００ｍ、厚さ２０ｌｎｌＲの板状の被検査材料に
ついて得られた信号波形を示す。
傷方法により表面の傷の溝の深さを各々１。１５履、０
．２ｍｒａ，０．００８順に設定した、縦４５＃ｌｌｌ
，横２００ｍ、厚さ２０ｌｎｌＲの板状の被検査材料に
ついて得られた信号波形を示す。
使用した強磁性体は縦６０ｓ１横８０＃Ｉ、厚さ０．５
ａｍの鉄板、非磁性体は厚さ０．２ｍの塩化ビニル、磁
化器に流した電流はＩＯＡである。
ａｍの鉄板、非磁性体は厚さ０．２ｍの塩化ビニル、磁
化器に流した電流はＩＯＡである。
（結果）
従来は不可能であった０．００８ｍの深さの微小な傷に
ついても明瞭な信号が得られ、傷があることを示した。
ついても明瞭な信号が得られ、傷があることを示した。
得られた信号波形を解析すれば傷の溝の深さや幅を推定
することができ。
することができ。
すなわち、得られる信号の波形は溝の両側で正と負の最
大値Ｈ と最小値Ｈ２をとり、これらののＩＨ ＩＩＨ
２１の大小は溝の深さの大小に対応し、また｝Ｉ１．Ｈ
２を与える被検査材料の表而距離Ｗの大小は溝幅の大小
に対応する。
大値Ｈ と最小値Ｈ２をとり、これらののＩＨ ＩＩＨ
２１の大小は溝の深さの大小に対応し、また｝Ｉ１．Ｈ
２を与える被検査材料の表而距離Ｗの大小は溝幅の大小
に対応する。
但し、図中の満幅値はここには述べない波形解折により
１ｑたものであり、Ｗは溝深さが大きいときは実際の満
幅に近い値を示し、溝深さが小さいときは実際の溝幅よ
り大きい値を示す。
１ｑたものであり、Ｗは溝深さが大きいときは実際の満
幅に近い値を示し、溝深さが小さいときは実際の溝幅よ
り大きい値を示す。
（２）第９図、第１０図、第１１図は、同一の被検査材
料の傷についての信号波形を、本発明と従来とで比較し
たものである。第９図、第１０図は本発明であって、使
用する強磁性体を各々ＪＩＳ規格のＳＭ５０．ＳＰＣＣ
の厚さ０．５＃Ｉの板とした場合である。満深さは３．
２ｆｆｉＩ＋＋，リフトオフは０．２ｍ，流した電流は
９Ａである。
料の傷についての信号波形を、本発明と従来とで比較し
たものである。第９図、第１０図は本発明であって、使
用する強磁性体を各々ＪＩＳ規格のＳＭ５０．ＳＰＣＣ
の厚さ０．５＃Ｉの板とした場合である。満深さは３．
２ｆｆｉＩ＋＋，リフトオフは０．２ｍ，流した電流は
９Ａである。
（ｆａ果）
単純に１最大値１．１最小値１を比較しても本発明の方
が従来より信号値が大きいことが分るが、バラツキを除
き全体的に信号が大きいということを示すために、ＯＦ
ＦＳＥＴラインの上下で波形が囲む面積の合計Ｓ（図の
８１，ａ２ ，ａ３，ａ４，ａ５はこのときの積分の端
点を示す）を比較したところ、各々約４３０，４１７．
３２５であった。
が従来より信号値が大きいことが分るが、バラツキを除
き全体的に信号が大きいということを示すために、ＯＦ
ＦＳＥＴラインの上下で波形が囲む面積の合計Ｓ（図の
８１，ａ２ ，ａ３，ａ４，ａ５はこのときの積分の端
点を示す）を比較したところ、各々約４３０，４１７．
３２５であった。
本発明と従来とで信号の大きさ（信号波形の囲む面積Ｓ
）を比較すると、同一のぎずに対して同一のリフトオフ
条件で検査したとき、リフトオフと面積Ｓの関係は概略
第１２図のグラフのようになり、本発明によれば従来よ
りリフトオフが大きい場合にも検査可能となる。
）を比較すると、同一のぎずに対して同一のリフトオフ
条件で検査したとき、リフトオフと面積Ｓの関係は概略
第１２図のグラフのようになり、本発明によれば従来よ
りリフトオフが大きい場合にも検査可能となる。
（３）第１３図及び第１４図は極薄のアモルファス材料
の欠陥を検出した信号波形の例である。
の欠陥を検出した信号波形の例である。
第１３図は厚さ０．０２３ａｍの鉄系のアモルファス材
料の溝深さ０． ０２３ｍｌｌ１の欠陥（員通）、１０
Ａの電流を流した時の信号波形、第１４図は第１３図の
原波形であり、いずれも明瞭に表れている。
料の溝深さ０． ０２３ｍｌｌ１の欠陥（員通）、１０
Ａの電流を流した時の信号波形、第１４図は第１３図の
原波形であり、いずれも明瞭に表れている。
［発明の効果］
以上の説明から明らかなようにこの発明によれば、自動
化が可能であって、記録性があり、客観的、定量的、経
時的検査が可能で、微小な欠陥やｉ４１材料、塗膜のあ
る材料の欠陥をも検出可能で見逃しが極めて少ない漏洩
磁束探傷方法及び装置を得ることができる。
化が可能であって、記録性があり、客観的、定量的、経
時的検査が可能で、微小な欠陥やｉ４１材料、塗膜のあ
る材料の欠陥をも検出可能で見逃しが極めて少ない漏洩
磁束探傷方法及び装置を得ることができる。
第１図はこの発明の漏ｉＬＩ２磁束探傷方法及び装買を
示す説明図ぐあって、第１図（ａ）は被検査材料の斜視
図、第１図（ｂ）は被検査材料に録磁補助部材を重ねた
状態を示す斜視図、第１図（Ｃ）は被検査材料を通る磁
気回路を形成している状態を示す斜視図、第１図（ｄ）
は欠陥部分と磁束を示す断面説明図、第１図（ｅ）は記
録用磁性体を磁気ヘッドに通している状態を丞す斜視図
、第１図（ｆ）は信号を示す説明図、第１図（ｇ＞は信
号波形を解析する装置を示す説明図、第２図は被検査面
が曲面である場合の被検査材料と磁性体層の位置関係を
示す断面説明図、第３図は従来の漏洩磁束探傷方法を示
す説明図であって、第３図（ａ）は被検査材料の斜視図
、第３図（ｂ）は被検査材料に配録用磁性体を重ねた状
態を示す斜視図、第３図（Ｃ）は被検査材料を通る磁気
回路を形成している状態を示す斜視図、第３図（ｄ）は
欠陥部分と磁束を示す断面説明図、第３図（ｅ）は配録
用磁性体を磁気ヘッドに通している状態を示す斜視図、
第３図（ｆ）は信号を示す説明図、第４図は磁粉探傷法
を示す斜視説明図であって、第４図（ａ＞は被検査材料
に欠陥が無い場合、第４図（ｂ）は被検査材料に欠陥が
有る場合の図、第５図は蟻粉模様部分の断面説明図、第
６図、第７図、第８図は本発明の漏洩磁束探傷方法によ
り得られた信号波形を示し傷の溝の深さが各々１．１５
ｓｎＯ．２ａｍ．０．００８ｍの場合の図，第９図、第
１０図、第１１図は同一の被検査材料の傷についての信
号波形を示し、第９図はｌａｄ体がＳＭ５０の場合、第
１０図は磁性体がｓｐｃｃの場合、第１１図は従来の磁
性体を用いない場合、第１２図はリフトオフと信号の大
きさとの関係を従来と本発明とで比較したグラフ、第１
３図、第１４図は本発明でアモルファス材料の欠陥を検
出した信号波形を示し、第１３図は厚さ０．０２３ｍＩ
Ｒの場合であり、第１４図は第１３図の原波形である。 １１１ａ・・・磁性層、 １１１ｂ・・・ベースフイル
ム、１１２・・・磁気ヘッド、 １１３・・・信号１１
４・・・磁気記録装置 １・・・非磁性体層、 ２・・・磁性体層、３・・・信
号、 ４・・・増幅器、 ５・・・遅延回路、６・・・
ロジックストレージ、 ８・・・コンピュータ、７・・
・磁束、 ７ａ・・・漏洩磁束、１００・・・磁化器、
１０１・・・材料、１０１ａ・・・材料、 １０２・
・・磁粉、１０３・・・欠陥、 １０４・・・溝、１０
５．１０６・・・壁、 １０７・・・七束、１０７ａ
・・・漏洩磁束、 １０８・・・石粉模様、１１０・・
・表面、 １１１・・・磁気テープ、第 図 ＩＩ１ ２ａ １１０ａ 第４図 （ｂ） 第 ５図 ｏ７ ０．１ ０．２ ０．３ ０．４ ０．５ ０．６ ０．７ ノフトオフ（ｍｍ） 葺 咬 １９’ ミ（）１
示す説明図ぐあって、第１図（ａ）は被検査材料の斜視
図、第１図（ｂ）は被検査材料に録磁補助部材を重ねた
状態を示す斜視図、第１図（Ｃ）は被検査材料を通る磁
気回路を形成している状態を示す斜視図、第１図（ｄ）
は欠陥部分と磁束を示す断面説明図、第１図（ｅ）は記
録用磁性体を磁気ヘッドに通している状態を丞す斜視図
、第１図（ｆ）は信号を示す説明図、第１図（ｇ＞は信
号波形を解析する装置を示す説明図、第２図は被検査面
が曲面である場合の被検査材料と磁性体層の位置関係を
示す断面説明図、第３図は従来の漏洩磁束探傷方法を示
す説明図であって、第３図（ａ）は被検査材料の斜視図
、第３図（ｂ）は被検査材料に配録用磁性体を重ねた状
態を示す斜視図、第３図（Ｃ）は被検査材料を通る磁気
回路を形成している状態を示す斜視図、第３図（ｄ）は
欠陥部分と磁束を示す断面説明図、第３図（ｅ）は配録
用磁性体を磁気ヘッドに通している状態を示す斜視図、
第３図（ｆ）は信号を示す説明図、第４図は磁粉探傷法
を示す斜視説明図であって、第４図（ａ＞は被検査材料
に欠陥が無い場合、第４図（ｂ）は被検査材料に欠陥が
有る場合の図、第５図は蟻粉模様部分の断面説明図、第
６図、第７図、第８図は本発明の漏洩磁束探傷方法によ
り得られた信号波形を示し傷の溝の深さが各々１．１５
ｓｎＯ．２ａｍ．０．００８ｍの場合の図，第９図、第
１０図、第１１図は同一の被検査材料の傷についての信
号波形を示し、第９図はｌａｄ体がＳＭ５０の場合、第
１０図は磁性体がｓｐｃｃの場合、第１１図は従来の磁
性体を用いない場合、第１２図はリフトオフと信号の大
きさとの関係を従来と本発明とで比較したグラフ、第１
３図、第１４図は本発明でアモルファス材料の欠陥を検
出した信号波形を示し、第１３図は厚さ０．０２３ｍＩ
Ｒの場合であり、第１４図は第１３図の原波形である。 １１１ａ・・・磁性層、 １１１ｂ・・・ベースフイル
ム、１１２・・・磁気ヘッド、 １１３・・・信号１１
４・・・磁気記録装置 １・・・非磁性体層、 ２・・・磁性体層、３・・・信
号、 ４・・・増幅器、 ５・・・遅延回路、６・・・
ロジックストレージ、 ８・・・コンピュータ、７・・
・磁束、 ７ａ・・・漏洩磁束、１００・・・磁化器、
１０１・・・材料、１０１ａ・・・材料、 １０２・
・・磁粉、１０３・・・欠陥、 １０４・・・溝、１０
５．１０６・・・壁、 １０７・・・七束、１０７ａ
・・・漏洩磁束、 １０８・・・石粉模様、１１０・・
・表面、 １１１・・・磁気テープ、第 図 ＩＩ１ ２ａ １１０ａ 第４図 （ｂ） 第 ５図 ｏ７ ０．１ ０．２ ０．３ ０．４ ０．５ ０．６ ０．７ ノフトオフ（ｍｍ） 葺 咬 １９’ ミ（）１
Claims (3)
- （１）磁気記録用磁性体をその一方の面は被検査材料の
被検査面と重なりかつ他方の面は非磁性体層を介して磁
性体層と重なるように配置し、前記被検査材料を通る磁
気回路を形成することを特徴とする漏洩磁束探傷方法 - （２）磁化器と録磁補助部材とを備え、前記録磁補助部
材は磁性体層と非磁性体層とを有して前記磁性体層が前
記非磁性体層を介して記録用磁性体に重なり得るように
構成されていることを特徴とする漏洩磁束探傷装置 - （３）前記磁性体層は前記磁化器に変位可能に支持され
ており前記磁化器のコアの両端面を結ぶ面との間隔を調
整可能に構成されていることを特徴とする請求項２記載
の漏洩磁束探傷装置
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1058478A JPH073407B2 (ja) | 1989-03-10 | 1989-03-10 | 漏洩磁束探傷方法及び装置 |
| US07/489,235 US5008620A (en) | 1989-03-10 | 1990-03-06 | Leakage flux flaw detection method and apparatus utilizing a layered detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1058478A JPH073407B2 (ja) | 1989-03-10 | 1989-03-10 | 漏洩磁束探傷方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02236446A true JPH02236446A (ja) | 1990-09-19 |
| JPH073407B2 JPH073407B2 (ja) | 1995-01-18 |
Family
ID=13085543
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1058478A Expired - Lifetime JPH073407B2 (ja) | 1989-03-10 | 1989-03-10 | 漏洩磁束探傷方法及び装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5008620A (ja) |
| JP (1) | JPH073407B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008216045A (ja) * | 2007-03-05 | 2008-09-18 | Nippon Steel Corp | 磁性帯の表面性状観察方法及び観察装置 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5648720A (en) * | 1993-03-25 | 1997-07-15 | International Business Machines Corporation | Apparatus and method for producing a magnetic image of a conductive pattern using eddy currents |
| US5821129A (en) * | 1997-02-12 | 1998-10-13 | Grimes; Craig A. | Magnetochemical sensor and method for remote interrogation |
| CN107664661A (zh) * | 2016-07-29 | 2018-02-06 | 本钢板材股份有限公司 | 一种漏磁探伤图谱与实物缺陷对照的方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4315759Y1 (ja) * | 1965-01-20 | 1968-07-01 | ||
| JPS6047233A (ja) * | 1983-08-26 | 1985-03-14 | Hitachi Ltd | 接触磁気転写方法とその装置 |
| JPS62175413U (ja) * | 1986-04-24 | 1987-11-07 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3845382A (en) * | 1972-11-02 | 1974-10-29 | F Forster | Method of magnetographic inspection of metal parts using a roll of magnetic tape having an adhesive coating |
-
1989
- 1989-03-10 JP JP1058478A patent/JPH073407B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-03-06 US US07/489,235 patent/US5008620A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4315759Y1 (ja) * | 1965-01-20 | 1968-07-01 | ||
| JPS6047233A (ja) * | 1983-08-26 | 1985-03-14 | Hitachi Ltd | 接触磁気転写方法とその装置 |
| JPS62175413U (ja) * | 1986-04-24 | 1987-11-07 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008216045A (ja) * | 2007-03-05 | 2008-09-18 | Nippon Steel Corp | 磁性帯の表面性状観察方法及び観察装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5008620A (en) | 1991-04-16 |
| JPH073407B2 (ja) | 1995-01-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |