JPH02236485A - 放射線検出器用波高検出回路 - Google Patents
放射線検出器用波高検出回路Info
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- JPH02236485A JPH02236485A JP5863489A JP5863489A JPH02236485A JP H02236485 A JPH02236485 A JP H02236485A JP 5863489 A JP5863489 A JP 5863489A JP 5863489 A JP5863489 A JP 5863489A JP H02236485 A JPH02236485 A JP H02236485A
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- circuit
- output signal
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、X線分析等に使用される放射線検出器に関し
、特に放射線検出器の出力信号の波高を検出する検出回
路に関するものである。
、特に放射線検出器の出力信号の波高を検出する検出回
路に関するものである。
[従来技術コ
放射線計n1においては、放射線検出器に入射する放射
線のエネルギーを直流パルス状の電気信号に変換した後
、その波高を測定する方法で個々の放射線のエネルギー
が計〕1される。現在では、その波高は、A−D変換器
でデジタル信号に変換されて取扱われるが、この放射線
計測の分野では、計測しようとする放射線のスペクトル
分布を求めることが主な目的であるため、A−D変換の
際、例えば1024レベルから4096レベル程度)で
正確に量子化すると同時に、微分非直線性を0.5%以
下に抑えることも必要であるという特殊な条件が要求さ
れる。
線のエネルギーを直流パルス状の電気信号に変換した後
、その波高を測定する方法で個々の放射線のエネルギー
が計〕1される。現在では、その波高は、A−D変換器
でデジタル信号に変換されて取扱われるが、この放射線
計測の分野では、計測しようとする放射線のスペクトル
分布を求めることが主な目的であるため、A−D変換の
際、例えば1024レベルから4096レベル程度)で
正確に量子化すると同時に、微分非直線性を0.5%以
下に抑えることも必要であるという特殊な条件が要求さ
れる。
従来、この目的のために使用されている波高検出回路は
、W1 1kinson型A−D変換器を使用するもの
で、放射線検出器からの出力信号を近似ガウスフィルタ
などの波形整形回路により整形して得た第6図(a)に
おいてSで示すようなガウス波形信号のピーク電圧をコ
ンデンサにホールドしたのち、その蓄積された電荷を定
電流回路を利用して直線的に放電させ、その放電が終了
するまでの所要時間tを、第6図(b)に示すようにク
ロツクパルスを計数して測定するものである。
、W1 1kinson型A−D変換器を使用するもの
で、放射線検出器からの出力信号を近似ガウスフィルタ
などの波形整形回路により整形して得た第6図(a)に
おいてSで示すようなガウス波形信号のピーク電圧をコ
ンデンサにホールドしたのち、その蓄積された電荷を定
電流回路を利用して直線的に放電させ、その放電が終了
するまでの所要時間tを、第6図(b)に示すようにク
ロツクパルスを計数して測定するものである。
第6図において、TPは放射線が到来した時間原点Oか
ら検出信号がピークを示すまでの所要時間、TTはピー
クの後十分減衰するまでの所要時間である。
ら検出信号がピークを示すまでの所要時間、TTはピー
クの後十分減衰するまでの所要時間である。
この方式は、一定周期のクロツクパルスを計数して行う
時間計測の微分非直線性が良いことを利用するもので、
主に微分非直線性の向上を図ることを目的として採用さ
れている。
時間計測の微分非直線性が良いことを利用するもので、
主に微分非直線性の向上を図ることを目的として採用さ
れている。
[発明が解決しようとする課題コ
ところが、この方式には、A−D変換にかなりの時間が
かかるという欠点がある。現在一般に採用されている装
置構成で、クロツク周波数が50メガヘルツの場合、1
024レベルを計数するのに、第6図(b)に示すよう
に約20μ秒必要である。第6図(a)に示すようなガ
ウス波形に整形した場合、波形がベースラインに復帰す
るのに波形が立ち上がる時間以上に掛かるので、この様
な方式のA−D変換器を用いても計数率を損なうことが
少なく、この変換に要する時間は大きな障害とは見なさ
れていなかった。
かかるという欠点がある。現在一般に採用されている装
置構成で、クロツク周波数が50メガヘルツの場合、1
024レベルを計数するのに、第6図(b)に示すよう
に約20μ秒必要である。第6図(a)に示すようなガ
ウス波形に整形した場合、波形がベースラインに復帰す
るのに波形が立ち上がる時間以上に掛かるので、この様
な方式のA−D変換器を用いても計数率を損なうことが
少なく、この変換に要する時間は大きな障害とは見なさ
れていなかった。
ところで、ゲーテッドインテグレー夕を使用することに
よって波形がベースラインに復帰するまでの時間を短縮
し、それにより計数率を改善しようとする試みがRad
eka氏から提案されている(V.Radeka. I
EEE Trans. N.S.. NS−15. N
o.3 455(1988))。この様なゲーテッド
インテグレータを用いると、信号波形は第6図(c)に
示す様なものとなり、波形はゲートによって瞬時にベー
スラインへ戻る。図においてT,は測定時間である。
よって波形がベースラインに復帰するまでの時間を短縮
し、それにより計数率を改善しようとする試みがRad
eka氏から提案されている(V.Radeka. I
EEE Trans. N.S.. NS−15. N
o.3 455(1988))。この様なゲーテッド
インテグレータを用いると、信号波形は第6図(c)に
示す様なものとなり、波形はゲートによって瞬時にベー
スラインへ戻る。図においてT,は測定時間である。
この様な信号波形を用いた場合、計数率はA−D変換時
間によって大きく左右され、変換時間の長い111ki
nson型A−D変換器では計数率の向上は余り望めな
い。
間によって大きく左右され、変換時間の長い111ki
nson型A−D変換器では計数率の向上は余り望めな
い。
そこで、この変換時間の短い逐次比較型A−D変換器を
用いることが試みられている。しかしながら、このA−
D変換器は変換時間が2μ秒程度と短いものの、微分非
直線性が最小単位の50%程度もあり、この面で前述し
た条件が満たされていない。
用いることが試みられている。しかしながら、このA−
D変換器は変換時間が2μ秒程度と短いものの、微分非
直線性が最小単位の50%程度もあり、この面で前述し
た条件が満たされていない。
本発明は上述した諸点に鑑みてなされたものであり、微
分非直線性が良好でしかも計数率を飛躍的に向上させる
ことができる放射線検出器用波高検出回路を提供するこ
とを目的としている。
分非直線性が良好でしかも計数率を飛躍的に向上させる
ことができる放射線検出器用波高検出回路を提供するこ
とを目的としている。
[課題を解決するための手段]
この目的を達成するため、本発明の放射線検出器用波高
検出回路は、放射線検出器の出力信号を人力信号として
予め定められたクロック周期でA−D変換するA−D変
換器と、該A−D変換器の出力信号を順次積算する積算
回路と、該積算回路の出力信号を保持するレジスタと、
前記放射線検出器の出力信号に基づき前記積算回路の動
作開始と動作終了を指令するタイミング信号を作成する
タイミング回路とから構成されることを特徴としている
。
検出回路は、放射線検出器の出力信号を人力信号として
予め定められたクロック周期でA−D変換するA−D変
換器と、該A−D変換器の出力信号を順次積算する積算
回路と、該積算回路の出力信号を保持するレジスタと、
前記放射線検出器の出力信号に基づき前記積算回路の動
作開始と動作終了を指令するタイミング信号を作成する
タイミング回路とから構成されることを特徴としている
。
[作用]
一峻に、パルス波高はパルス信号の面積に比例する。本
発明は、その点に着目し、従来のように厳密にパルス信
号の波高を検出するのではなく、パルス信号を積分し、
面積を求めることで波高を検出するようにしている。即
ち、波形整形回路を介して供給される放射線検出器の出
力信号は、高速A−D変換器により所定のクロック周期
でサンプリング及びA−D変換される。順次得られるA
−D変換値は積算器へ送られて積算される。所定数のA
−D変換値を積算した時点で積算が停止され、その時点
での積算値が波高値としてレジスタから読み出される。
発明は、その点に着目し、従来のように厳密にパルス信
号の波高を検出するのではなく、パルス信号を積分し、
面積を求めることで波高を検出するようにしている。即
ち、波形整形回路を介して供給される放射線検出器の出
力信号は、高速A−D変換器により所定のクロック周期
でサンプリング及びA−D変換される。順次得られるA
−D変換値は積算器へ送られて積算される。所定数のA
−D変換値を積算した時点で積算が停止され、その時点
での積算値が波高値としてレジスタから読み出される。
以下、図面を用いて本発明の一実施例を詳説する。
[実施例]
第1図は本発明の一実施例の構成を示す図である。第1
図において放射線検出器1から得られた検出信号は、例
えば近似矩形波に整形する波形整形回路2を介して、並
列型A−D変換器3へ送られる。このA−D変換器3は
、クロック発振器4から供給されるクロック信号に基づ
いて入力信号をA−D変換し、得られたデジタル信号は
、アキュムレー夕5及びアキュムレータ5のオーバーフ
ロー信号を計数するカウンタ6より成る積算回路7へ送
られて積算される。8は積算回路の出力値を保持し外部
へ送るためのレジスタである。9はタイミング制御回路
で、弁別器10、フリップフロップ11、ゲート12、
分周器13から構成される。
図において放射線検出器1から得られた検出信号は、例
えば近似矩形波に整形する波形整形回路2を介して、並
列型A−D変換器3へ送られる。このA−D変換器3は
、クロック発振器4から供給されるクロック信号に基づ
いて入力信号をA−D変換し、得られたデジタル信号は
、アキュムレー夕5及びアキュムレータ5のオーバーフ
ロー信号を計数するカウンタ6より成る積算回路7へ送
られて積算される。8は積算回路の出力値を保持し外部
へ送るためのレジスタである。9はタイミング制御回路
で、弁別器10、フリップフロップ11、ゲート12、
分周器13から構成される。
上記構成において、並列型A−D変換器3としては例え
ば8ビットビデオADCが、アキュムレー夕5及びカウ
ンタ6としては例えば8ビットのものが、レジスタ8と
しては例えば16ビットのものが夫々使用される。
ば8ビットビデオADCが、アキュムレー夕5及びカウ
ンタ6としては例えば8ビットのものが、レジスタ8と
しては例えば16ビットのものが夫々使用される。
上述の様な構成を有する装置の動作を第2図を用いて説
明する。波形整形回路2から第2図(a)において実線
で示すように40μ秒の幅を持つ近似矩形波形を持つパ
ルス信号が出力され、クロツク発振器4は周波数3.2
MHz (周期0.3125μ秒)のクロック信号を
発生し、分周器13の分周比は1/128に設定されて
いるものとする。A−D変換器3は、クロック信号に基
づいて上記パルス信号を0.3125μ秒毎にサンプリ
ング及びA−D変換する。第2図(b)は弁別器10の
出力信号b1同図(C)はフリップフロップ11からゲ
ート12へ送られる信号c1同図(d)はゲート12の
出力として得られる積算タイミング信号d1同図(e)
は分周器13の出力信号eを夫々示す。図から分かるよ
うに、パルス信号が発生している40μ秒の間に128
個の積算タイミング信号dが発生し、積算回路7はこの
信号dに基づいてA−D変換器3から送られて来る12
8個のデジタル信号を順次積算する。
明する。波形整形回路2から第2図(a)において実線
で示すように40μ秒の幅を持つ近似矩形波形を持つパ
ルス信号が出力され、クロツク発振器4は周波数3.2
MHz (周期0.3125μ秒)のクロック信号を
発生し、分周器13の分周比は1/128に設定されて
いるものとする。A−D変換器3は、クロック信号に基
づいて上記パルス信号を0.3125μ秒毎にサンプリ
ング及びA−D変換する。第2図(b)は弁別器10の
出力信号b1同図(C)はフリップフロップ11からゲ
ート12へ送られる信号c1同図(d)はゲート12の
出力として得られる積算タイミング信号d1同図(e)
は分周器13の出力信号eを夫々示す。図から分かるよ
うに、パルス信号が発生している40μ秒の間に128
個の積算タイミング信号dが発生し、積算回路7はこの
信号dに基づいてA−D変換器3から送られて来る12
8個のデジタル信号を順次積算する。
積算終了後の積算回路7の中の2進情報は、第2図(a
)において破線で示すように、人力信号の積分値となる
。
)において破線で示すように、人力信号の積分値となる
。
この場合、フルスケール8ビットのデータを128回(
27回)加算するので、第2図(a)のような波形では
14ビットの情報が得られる。もし必要な情報が10ビ
ットであれば、14ビットの積算結果の内上位10ビッ
トをレジスタ8から読出して用いれば良い。こうすれば
、微分非直線性誤差δは下位4ビットを捨てたことによ
り]/24に減少する。
27回)加算するので、第2図(a)のような波形では
14ビットの情報が得られる。もし必要な情報が10ビ
ットであれば、14ビットの積算結果の内上位10ビッ
トをレジスタ8から読出して用いれば良い。こうすれば
、微分非直線性誤差δは下位4ビットを捨てたことによ
り]/24に減少する。
現在、ビデオADCとしては10ビットあるいは12ビ
ットのものが市販されている。もし、12ビットのビデ
オADCをA−D変換器3として用いれば、128個の
データの積算により、第2図(a)のような波形では1
8ビットの積算結果が得られ、この内の上位10ビット
を使用すれば、微分非直線性誤差は1/28に減少する
。A−D変換器3の微分非直線性誤差δが士(1/2)
LSB即ち50%であったとしても、その1/28即ち
約0.2%程度に低減され、前述した微分非直線性誤差
に関する条件は満足される。
ットのものが市販されている。もし、12ビットのビデ
オADCをA−D変換器3として用いれば、128個の
データの積算により、第2図(a)のような波形では1
8ビットの積算結果が得られ、この内の上位10ビット
を使用すれば、微分非直線性誤差は1/28に減少する
。A−D変換器3の微分非直線性誤差δが士(1/2)
LSB即ち50%であったとしても、その1/28即ち
約0.2%程度に低減され、前述した微分非直線性誤差
に関する条件は満足される。
また、変換時間については、最終のサンプリングデータ
の加算が終了した時点でA−D変換が完了していること
になり、この最終データの加算に要する時間即ち数10
ナノ秒乃至100ナノ秒が従来法における変換時間に相
当するが、これはパルス信号の幅40μ秒に対して実質
的に無視できる数字である。従って、本発明の波高検出
回路によれば、波高検出後直ちに次のパルス信号の検出
に対処できることになり、計数率を大幅に向上させるこ
とが可能となる。
の加算が終了した時点でA−D変換が完了していること
になり、この最終データの加算に要する時間即ち数10
ナノ秒乃至100ナノ秒が従来法における変換時間に相
当するが、これはパルス信号の幅40μ秒に対して実質
的に無視できる数字である。従って、本発明の波高検出
回路によれば、波高検出後直ちに次のパルス信号の検出
に対処できることになり、計数率を大幅に向上させるこ
とが可能となる。
更に、本発明では、積算を行なっているため、第2図(
f)に示すようにパルス信号に雑音が重畳しているよう
な場合でも、積算による平均化効果により、破線で示す
真の波形の積分に近い積算結果を得ることができる。従
って、信号対雑音比(SN比)の向上が期待できる。
f)に示すようにパルス信号に雑音が重畳しているよう
な場合でも、積算による平均化効果により、破線で示す
真の波形の積分に近い積算結果を得ることができる。従
って、信号対雑音比(SN比)の向上が期待できる。
第3図は本発明の他の実施例の構成を示し、第1図の実
施例と同一の構成要素には同一番号が付されている。本
実施例では、A−D変換器3と積算回路7との間に乗算
器14が挿入されると共に、積算タイミング信号dによ
って予め定められたデジタル時間関数信号g (t)を
発生する関数発生器15を設け、A−D変換器3から出
力されるデジタル信号にこのデジタル関数信号g (t
)を掛けて積算回路7へ送るようにした点である。尚、
関数発生器15としては、例えば、読出し専用メモリ(
ROM)に格納された時間関数データを積算タイミング
信号dに基づいて順次読出すようにした構成が用いられ
る。
施例と同一の構成要素には同一番号が付されている。本
実施例では、A−D変換器3と積算回路7との間に乗算
器14が挿入されると共に、積算タイミング信号dによ
って予め定められたデジタル時間関数信号g (t)を
発生する関数発生器15を設け、A−D変換器3から出
力されるデジタル信号にこのデジタル関数信号g (t
)を掛けて積算回路7へ送るようにした点である。尚、
関数発生器15としては、例えば、読出し専用メモリ(
ROM)に格納された時間関数データを積算タイミング
信号dに基づいて順次読出すようにした構成が用いられ
る。
今、A−D変換器3への入力信号Eが第4図(a)に示
す様に幅T,の理想的な矩形波であるとする。g (t
)が、第4図(b)に示すようにg(t)=1’の場合
、即ち乗算器14が無いのと等価の場合、A−D変換及
び精算後の積算回路7の出力信号f (t’)は、第4
図(c)に示すように f (t)− (t/TM) となる。
す様に幅T,の理想的な矩形波であるとする。g (t
)が、第4図(b)に示すようにg(t)=1’の場合
、即ち乗算器14が無いのと等価の場合、A−D変換及
び精算後の積算回路7の出力信号f (t’)は、第4
図(c)に示すように f (t)− (t/TM) となる。
ところで、放射線検出回路の特性を評価する指標として
、ステップノイズインデックス(stepnoise
index ) Ns2、デルタノイズインデックス(
dcllta noise index ) Nd2及
びフリツカーノイズインデックスNf”がある。Gou
ldlng氏は、検出回路の評価の際、スルーブットの
観点からNd2 ・Td値を判断の基準とすることを提
案している(P.S. Goulding. JEER
Trans. N.S.. NS−29, No.1
412(1982) ) .このTdは不感時間(de
ad time )であり、Nd2 ・Td値は小さい
程良い。上記g (t)−1の場合についてNd2−T
d値を試算すると、理想的な値4となる。
、ステップノイズインデックス(stepnoise
index ) Ns2、デルタノイズインデックス(
dcllta noise index ) Nd2及
びフリツカーノイズインデックスNf”がある。Gou
ldlng氏は、検出回路の評価の際、スルーブットの
観点からNd2 ・Td値を判断の基準とすることを提
案している(P.S. Goulding. JEER
Trans. N.S.. NS−29, No.1
412(1982) ) .このTdは不感時間(de
ad time )であり、Nd2 ・Td値は小さい
程良い。上記g (t)−1の場合についてNd2−T
d値を試算すると、理想的な値4となる。
ここで、第4図(d)に示す様に、g (t)をg (
t)= (t/Tm )’・5に設定すると、A−D変
換,乗算及び積算後の積算回路7の出力信号f (t)
は、g (t)が掛っているので、第4図(e)に示す
様に f (t) = (t/T+a ) ”・5となる。こ
の場合のNd2 ・Td値は4.5となり、理想的な値
4より若干悪くなるが、フリッカノイズ指数Nf2はg
(t)−1の場合よりも改善され、雑音指数が向上す
る。そのため、スルーブットよりも分解能を重視する様
な用途の場合には、こちらの方が有利である。
t)= (t/Tm )’・5に設定すると、A−D変
換,乗算及び積算後の積算回路7の出力信号f (t)
は、g (t)が掛っているので、第4図(e)に示す
様に f (t) = (t/T+a ) ”・5となる。こ
の場合のNd2 ・Td値は4.5となり、理想的な値
4より若干悪くなるが、フリッカノイズ指数Nf2はg
(t)−1の場合よりも改善され、雑音指数が向上す
る。そのため、スルーブットよりも分解能を重視する様
な用途の場合には、こちらの方が有利である。
尚、第4図(a)では、検出信号を理想的に矩形波と仮
定したが、実際の信号は第5図(a)に示す様に立上が
りの部分で波形がなまる。この立上がり部分を含めて禎
分を行うと、矩形波とのずれの部分(斜線を施した部分
)に相当する誤差が積分値に影響を与え、その結果、所
謂コレクションタイムに起因する信号の揺らぎが現われ
てしまう。そこで、第4図(b), (d)に示され
ている時間関数信号を立上がり時間だけ遅らせた第5図
(b), (d)に示す様な時間関数信号を用いれば
、検出信号の立上がり過渡期間の間は関数信号が“0#
となってその期間の積算を停止させることができ、積算
回路7の出力信号f (t)は第5図(c), (e
)のようになる。そのため上述したコレクションタイム
に起因する信号の揺らぎが減少し、SN比が向上する。
定したが、実際の信号は第5図(a)に示す様に立上が
りの部分で波形がなまる。この立上がり部分を含めて禎
分を行うと、矩形波とのずれの部分(斜線を施した部分
)に相当する誤差が積分値に影響を与え、その結果、所
謂コレクションタイムに起因する信号の揺らぎが現われ
てしまう。そこで、第4図(b), (d)に示され
ている時間関数信号を立上がり時間だけ遅らせた第5図
(b), (d)に示す様な時間関数信号を用いれば
、検出信号の立上がり過渡期間の間は関数信号が“0#
となってその期間の積算を停止させることができ、積算
回路7の出力信号f (t)は第5図(c), (e
)のようになる。そのため上述したコレクションタイム
に起因する信号の揺らぎが減少し、SN比が向上する。
[効果]
以上詳述した如く、本発明によれば、放射線検出器の出
力信号を予め定められたクロック周期でA−D変換する
と共に、該A−D変換器の出力信号を順次積算すること
によりパルス信号の波高を求めるようにしたため、微分
非直線性が良好でしかも計数率を飛躍的に向上させるこ
とができる放射線検出器用波高検出回路が実現される。
力信号を予め定められたクロック周期でA−D変換する
と共に、該A−D変換器の出力信号を順次積算すること
によりパルス信号の波高を求めるようにしたため、微分
非直線性が良好でしかも計数率を飛躍的に向上させるこ
とができる放射線検出器用波高検出回路が実現される。
更に、本発明では、A−D変換器と積算回路との間に乗
算器を挿入し、A−D変換器から出力されるデジタル信
号にこの関数信号を掛けて積算回路へ送るようにしため
、雑音指数の最適化を図った放射線検出器用波高検出回
路が実現される。
算器を挿入し、A−D変換器から出力されるデジタル信
号にこの関数信号を掛けて積算回路へ送るようにしため
、雑音指数の最適化を図った放射線検出器用波高検出回
路が実現される。
第1図及び第3図は夫々本発明の一実施例の構成を示す
図、第2図.第4図及び第5図は各実施例の動作を説明
するための波形図、第6図は従来の問題点を説明するた
めの波形図である。 1:放射線検出器 2:波形整形回路3:並列型
A−D変換器 4:クロック発振器5:アキュムレータ
6:カウンタ7;積算回路 8:レジ
スタ9:タイミング制御回路 10:弁別器11:フリ
ップフロップ 12:ゲート 13:分周器 15:関数発生器 14:乗算器
図、第2図.第4図及び第5図は各実施例の動作を説明
するための波形図、第6図は従来の問題点を説明するた
めの波形図である。 1:放射線検出器 2:波形整形回路3:並列型
A−D変換器 4:クロック発振器5:アキュムレータ
6:カウンタ7;積算回路 8:レジ
スタ9:タイミング制御回路 10:弁別器11:フリ
ップフロップ 12:ゲート 13:分周器 15:関数発生器 14:乗算器
Claims (2)
- (1)放射線検出器の出力信号を入力信号として予め定
められたクロック周期でA−D変換するA−D変換器と
、該A−D変換器の出力信号を順次積算する積算回路と
、該積算回路の出力信号を保持するレジスタと、前記放
射線検出器の出力信号に基づき前記積算回路の動作開始
と動作終了を指令するタイミング信号を作成するタイミ
ング回路とから構成されることを特徴とする放射線検出
器用波高検出回路。 - (2)前記A−D変換器と積算回路との間に乗算器を配
置し、該乗算器を介してA−D変換器の出力信号を積算
回路へ供給すると共に、該積算回路の動作開始からの時
間に応じて値が予め定められた時間関数信号を該乗算器
へ供給して前記A−D変換器の出力信号に乗算するよう
に構成したことを特徴とする請求項1記載の放射線検出
器用波高検出回路。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP1058634A JP2566006B2 (ja) | 1989-03-10 | 1989-03-10 | 放射線検出器用波高検出回路 |
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| JPH02236485A true JPH02236485A (ja) | 1990-09-19 |
| JP2566006B2 JP2566006B2 (ja) | 1996-12-25 |
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ID=13090016
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| JP1058634A Expired - Fee Related JP2566006B2 (ja) | 1989-03-10 | 1989-03-10 | 放射線検出器用波高検出回路 |
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| JP (1) | JP2566006B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009504004A (ja) * | 2005-07-28 | 2009-01-29 | ケアストリーム ヘルス インク | デジタル放射線撮影での低雑音データ取り込み |
| JP2012233727A (ja) * | 2011-04-28 | 2012-11-29 | Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd | 放射線計測装置及びその方法 |
| CN110361775A (zh) * | 2019-03-01 | 2019-10-22 | 明峰医疗系统股份有限公司 | 一种高效的闪烁晶体性能测量装置及方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6088383A (ja) * | 1983-09-16 | 1985-05-18 | エヌ・ベ−・フイリツプス・フル−イランペンフアブリケン | 核放射線測定装置 |
-
1989
- 1989-03-10 JP JP1058634A patent/JP2566006B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6088383A (ja) * | 1983-09-16 | 1985-05-18 | エヌ・ベ−・フイリツプス・フル−イランペンフアブリケン | 核放射線測定装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN110361775A (zh) * | 2019-03-01 | 2019-10-22 | 明峰医疗系统股份有限公司 | 一种高效的闪烁晶体性能测量装置及方法 |
| CN110361775B (zh) * | 2019-03-01 | 2023-09-15 | 明峰医疗系统股份有限公司 | 一种高效的闪烁晶体性能测量装置及方法 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2566006B2 (ja) | 1996-12-25 |
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