JPH0223945A - コンピュータトモグラフ - Google Patents
コンピュータトモグラフInfo
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- JPH0223945A JPH0223945A JP1129972A JP12997289A JPH0223945A JP H0223945 A JPH0223945 A JP H0223945A JP 1129972 A JP1129972 A JP 1129972A JP 12997289 A JP12997289 A JP 12997289A JP H0223945 A JPH0223945 A JP H0223945A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 11
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 7
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 3
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
- A61B6/035—Mechanical aspects of CT
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
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- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/40—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4021—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis involving movement of the focal spot
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- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
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- A61B6/40—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4064—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis specially adapted for producing a particular type of beam
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野]
本発明は、測定開口部を包囲する回転枠体を備え、その
回転枠体上には列状に配置された検出器要素によって構
成された放射線検出器とこの放射線検出器に入射する扇
形X線束を放射するためのX線放射器とが配置され、回
転枠体はX線束を種々異なった方向から検査対象物に透
過させ得るようにするために、扇面に対して垂直に位置
して測定開口部を貫通する軸線を中心にして回転可能で
あり、データ収集装置の助けによって作成された放射線
検出器の測定値から検査対象物の横断像を作成するため
のコンピュータが設けられ、放射線検出器の対称軸線に
対して垂直に扇面におけるX線放射器の焦点を偏向する
ための偏向装置が設けられているコンピュータトモグラ
フに関する。
回転枠体上には列状に配置された検出器要素によって構
成された放射線検出器とこの放射線検出器に入射する扇
形X線束を放射するためのX線放射器とが配置され、回
転枠体はX線束を種々異なった方向から検査対象物に透
過させ得るようにするために、扇面に対して垂直に位置
して測定開口部を貫通する軸線を中心にして回転可能で
あり、データ収集装置の助けによって作成された放射線
検出器の測定値から検査対象物の横断像を作成するため
のコンピュータが設けられ、放射線検出器の対称軸線に
対して垂直に扇面におけるX線放射器の焦点を偏向する
ための偏向装置が設けられているコンピュータトモグラ
フに関する。
この種の公知のコンビエータトモグラフにおいては、焦
点が回転枠体内に固定位置を有する構成に比較して、焦
点を周期的に偏向するようにすると、測定値の全個数が
高まり、従って解像度が改善される。従来の放射線検出
器は回転枠体上に位置固定して配設されているので、焦
点の目標位置は回転枠体に対して相対的に予め定められ
る。
点が回転枠体内に固定位置を有する構成に比較して、焦
点を周期的に偏向するようにすると、測定値の全個数が
高まり、従って解像度が改善される。従来の放射線検出
器は回転枠体上に位置固定して配設されているので、焦
点の目標位置は回転枠体に対して相対的に予め定められ
る。
しかしながら、このような構成は、回転枠体の震動が不
所望に放射線検出器に伝導されて、像形成に悪影響を与
える擾乱信号が発生し得るという欠点を有する。
所望に放射線検出器に伝導されて、像形成に悪影響を与
える擾乱信号が発生し得るという欠点を有する。
そこで、本発明は、回転枠体の震動が実質的に検品質に
影響しないように、冒頭で述べた種類のコンピュータト
モグラフを構成することを課題とする。
影響しないように、冒頭で述べた種類のコンピュータト
モグラフを構成することを課題とする。
このような課題を解決するために、本発明は、放射線検
出器は回転枠体上にその回転軌道に接するように弾性的
に支持され、その都度の検出器位置に依存して焦点の目
標位置を定める焦点の目標位置制御装置が設けられるこ
とを特徴とする。
出器は回転枠体上にその回転軌道に接するように弾性的
に支持され、その都度の検出器位置に依存して焦点の目
標位置を定める焦点の目標位置制御装置が設けられるこ
とを特徴とする。
放射線検出器を(例えばばねによって)弾性的に支持す
ることにより、回転枠体の震動は実質的に検品質に影響
しなくなる0弾性的に懸吊された放射線検出器が回転中
に重力によりその回転軌道に対して接線方向に移動する
と、焦点の目標位置はそれに応じて追従する。即ち、放
射線検出器の位置ずれは測定値を変化させず、従って同
様に像欠陥を生ゼしぬない。
ることにより、回転枠体の震動は実質的に検品質に影響
しなくなる0弾性的に懸吊された放射線検出器が回転中
に重力によりその回転軌道に対して接線方向に移動する
と、焦点の目標位置はそれに応じて追従する。即ち、放
射線検出器の位置ずれは測定値を変化させず、従って同
様に像欠陥を生ゼしぬない。
次に、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。
。
第1図は本発明に基づくコンピュータトモグラフを示す
概略図、第2図は第1図に示したコンピュータトモグラ
フの要部詳細図である。
概略図、第2図は第1図に示したコンピュータトモグラ
フの要部詳細図である。
第1図には回転枠体lが図示されており、この回転枠体
1は測定開口部2を包囲し、かつ列状に配置された検出
器要素3a・・・から成る放射線検出器3およびこの放
射線検出器3に入射する扇形X線束5を放射するための
X線放射器4とを担持している0回転枠体lは検査対象
物たとえば寝台上の患者が位置する測定領域6に種々異
なった方向から扇形X線束5を透過させ得るようにする
ために軸線19を中心として回転可能である。軸線19
はX線束5の扇面に対して垂直に測定開口部2および測
定領域6を貫通している。コンピュータ7はデータ収集
装置8の助けによって得られた放射線検出器3の測定値
から検査対象物の横断像を作成する。この横断像はデイ
スプレィ装置9にて再生される。
1は測定開口部2を包囲し、かつ列状に配置された検出
器要素3a・・・から成る放射線検出器3およびこの放
射線検出器3に入射する扇形X線束5を放射するための
X線放射器4とを担持している0回転枠体lは検査対象
物たとえば寝台上の患者が位置する測定領域6に種々異
なった方向から扇形X線束5を透過させ得るようにする
ために軸線19を中心として回転可能である。軸線19
はX線束5の扇面に対して垂直に測定開口部2および測
定領域6を貫通している。コンピュータ7はデータ収集
装置8の助けによって得られた放射線検出器3の測定値
から検査対象物の横断像を作成する。この横断像はデイ
スプレィ装置9にて再生される。
X線放射器4の焦点10は測定値の個数を高めるために
X線発生器12の偏向装置11の助けによって周期的に
二重矢印13の方向へ、つまり放射線検出器3の対称軸
線14に対して垂直方向へ偏向される。
X線発生器12の偏向装置11の助けによって周期的に
二重矢印13の方向へ、つまり放射線検出器3の対称軸
線14に対して垂直方向へ偏向される。
第2図にはX線束5を周期的に偏向するためのX線放射
器4の構成が示されている。カソード15がアノード1
7に向けて電子ビーム16を送出し、アノード17から
はX線束5が、扇面が紙面に垂直に位置するように放射
される。偏向装置11に接続されている偏向コイル18
によって、周期的な焦点偏向が紙面に対して垂直に行わ
れる。
器4の構成が示されている。カソード15がアノード1
7に向けて電子ビーム16を送出し、アノード17から
はX線束5が、扇面が紙面に垂直に位置するように放射
される。偏向装置11に接続されている偏向コイル18
によって、周期的な焦点偏向が紙面に対して垂直に行わ
れる。
第1図から、放射線検出器3は震動を吸収するために軸
受21内で弾性的に、即ちばねにより支持されているこ
とが分かるであろう、放射線検出器3の集束点は、第1
図に示された位置においては焦点10に符合しているが
、回転枠体1が回転すると重量のために回転枠体lに対
して相対的に位置ずれを生じる。この位置ずれを補償す
るために、放射線検出器3には偏向装置11を制御する
センサ20が付設されている。このセンサ20は検出器
点Pの位置ベクトルに相当する電気信号を供給する。
受21内で弾性的に、即ちばねにより支持されているこ
とが分かるであろう、放射線検出器3の集束点は、第1
図に示された位置においては焦点10に符合しているが
、回転枠体1が回転すると重量のために回転枠体lに対
して相対的に位置ずれを生じる。この位置ずれを補償す
るために、放射線検出器3には偏向装置11を制御する
センサ20が付設されている。このセンサ20は検出器
点Pの位置ベクトルに相当する電気信号を供給する。
放射線検出器3の移動量が既知である場合には、焦点1
0の目標位置は放射線検出器3の集束点に対して相対的
に予め定められる。焦点位置が回転枠体lに対して相対
的に測定され、そして、rFl:放射線検出器3が回転
枠体1に対して位置固定された場合の焦点lOの目標位
置の位置ベクトル、 rDU:放射線検出器3が回転枠体1に対して位置固定
された場合の検出器点Pの位置ベクトル、rDtz放射
線検出器3が可動的に支持された場合の検出器点Pの位
置ベクトル、 とすると、放射線検出器3の集束点に関連する焦点10
の目標位置のための位置ベクトルrF2は次のようにし
て得られる。
0の目標位置は放射線検出器3の集束点に対して相対的
に予め定められる。焦点位置が回転枠体lに対して相対
的に測定され、そして、rFl:放射線検出器3が回転
枠体1に対して位置固定された場合の焦点lOの目標位
置の位置ベクトル、 rDU:放射線検出器3が回転枠体1に対して位置固定
された場合の検出器点Pの位置ベクトル、rDtz放射
線検出器3が可動的に支持された場合の検出器点Pの位
置ベクトル、 とすると、放射線検出器3の集束点に関連する焦点10
の目標位置のための位置ベクトルrF2は次のようにし
て得られる。
rF2−rFl+ベクトル(rDU−rDb)の接線成
分 上述した実施例においては、放射線検出器3の接線方向
への移動を補償するために供される焦点10の目標位置
の位置変更に、測定値の個数を高めるための周期的な焦
点移動が重畳される。この焦点移動を周期的に行うこと
はやめることもできる。
分 上述した実施例においては、放射線検出器3の接線方向
への移動を補償するために供される焦点10の目標位置
の位置変更に、測定値の個数を高めるための周期的な焦
点移動が重畳される。この焦点移動を周期的に行うこと
はやめることもできる。
回転枠体1上の位置固定点に対する検出器点Pのその都
度の位置が投射の都度検出されることによって、検出器
点Pのその都度の位置ベクトルが得られる場合には、セ
ンサ20は省略することができる。このために、検出器
点Pのその都度の位置ベクトルとその都度の投射との関
係を表わす曲線を記憶しておくことができる。
度の位置が投射の都度検出されることによって、検出器
点Pのその都度の位置ベクトルが得られる場合には、セ
ンサ20は省略することができる。このために、検出器
点Pのその都度の位置ベクトルとその都度の投射との関
係を表わす曲線を記憶しておくことができる。
放射線検出器3の位置は例えば次の計算式に基づいて定
めることができる。
めることができる。
t (rDU−rDb)=t+ °cosα但し、
t (rDU−rDb)はベクトルの接線成分であり、
αは焦点10を通りかつ軸線19に垂直である直線が扇
面内に位置する水平線と共に形成する角度であり、 toは検出器軸受21と検出器3との一定の特性値、つ
まり検出器3の接線方向への偏向の振幅である。
面内に位置する水平線と共に形成する角度であり、 toは検出器軸受21と検出器3との一定の特性値、つ
まり検出器3の接線方向への偏向の振幅である。
第1図は本発明に基づくコンピュータトモグラフを示す
概略図、第2図は第1図に示したコンビエータトモグラ
フの要部詳細図である。 1・・・回転枠体 2・・・測定開口部 3・・・放射線検出器 3a・・・検出器要素 4・・・X線放射器 5・・・X線束 6・・・測定領域 7・・・コンピュータ 8・・・データ収集装置 10・・・焦点 11・・・偏向装置 12・・・X線発生器 14・・・対称軸線 15・・・カソード 16・・・電子ビーム 17・・・アノード 18・・・偏向コイル 19・・・軸線 20・・・センサ 21・・・軸受 P・・・検出器点
概略図、第2図は第1図に示したコンビエータトモグラ
フの要部詳細図である。 1・・・回転枠体 2・・・測定開口部 3・・・放射線検出器 3a・・・検出器要素 4・・・X線放射器 5・・・X線束 6・・・測定領域 7・・・コンピュータ 8・・・データ収集装置 10・・・焦点 11・・・偏向装置 12・・・X線発生器 14・・・対称軸線 15・・・カソード 16・・・電子ビーム 17・・・アノード 18・・・偏向コイル 19・・・軸線 20・・・センサ 21・・・軸受 P・・・検出器点
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)測定開口部(2)を包囲する回転枠体(1)を備え
、その回転枠体上には列状に配置された検出器要素(3
a、・・・)によって構成された放射線検出器(3)と
この放射線検出器(3)に入射する扇形X線束(5)を
放射するためのX線放射器(4)とが配置され、回転枠
体はX線束を種々異なった方向から検査対象物に透過さ
せ得るようにするために、扇面に対して垂直に位置して
測定開口部(2)を貫通する軸線(19)を中心にして
回転可能であり、データ収集装置(8)の助けによって
作成された放射線検出器(3)の測定値から検査対象物
の横断像を作成するためのコンピュータ(7)が設けら
れ、放射線検出器(3)の対称軸線(14)に対して垂
直に扇面におけるX線放射器(4)の焦点(10)を偏
向するための偏向装置(11)が設けられているコンピ
ュータトモグラフにおいて、放射線検出器(3)は回転
枠体(1)上にその回転軌道に接するように弾性的に支
持され、その都度の検出器位置に依存して焦点(10)
の目標位置を定める焦点の目標位置制御装置(11)が
設けられることを特徴とするコンピュータトモグラフ。 2)放射線検出器(3)の集束点に関連する焦点の目標
位置のための位置ベクトルrF2は次式 rF2=rF1+ベクトル(rDU−rDb)の接線成
分 但し、 rF1=放射線検出器(3)が回転枠体(1)に対して
位置固定された場合の焦点( 10)の目標位置の位置ベクトル、 rDU=放射線検出器(3)が回転枠体(1)に対して
位置固定された場合の検出 器点(P)の位置ベクトル、 rDb=放射線検出器(3)が可動的に支持された場合
の検出器点(P)の位置 ベクトル、 によって定められることを特徴とする請求項1記載のコ
ンピュータトモグラフ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3817724A DE3817724C2 (de) | 1988-05-25 | 1988-05-25 | Computertomograph |
| DE3817724.2 | 1988-05-25 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0223945A true JPH0223945A (ja) | 1990-01-26 |
Family
ID=6355074
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1129972A Pending JPH0223945A (ja) | 1988-05-25 | 1989-05-23 | コンピュータトモグラフ |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4934832A (ja) |
| JP (1) | JPH0223945A (ja) |
| DE (1) | DE3817724C2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4140631C1 (en) * | 1991-12-10 | 1993-08-05 | Frank Prof. Dr. 4400 Muenster De Natterer | Computer tomograph system - rotates source around circular track around body and swings source so that beam is sent out at different distances to the body centre |
| DE4207006C2 (de) * | 1992-03-05 | 1994-07-14 | Siemens Ag | Computertomograph |
| CN1139872A (zh) * | 1994-02-03 | 1997-01-08 | 模拟公司 | 层析x射线照相装置的模式化检测装置 |
| US6461040B1 (en) | 1998-11-12 | 2002-10-08 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Apparatus and method to correct for position errors in diagnostic imaging |
| DE10211016A1 (de) * | 2002-03-13 | 2003-09-25 | Philips Intellectual Property | Röntgengerät mit lageveränderlichem Röntgendetektor |
| CN100573114C (zh) * | 2004-11-26 | 2009-12-23 | 同方威视技术股份有限公司 | 一种辐射成像火车检测系统的扫描臂刚性化减振结构 |
| US20080187094A1 (en) * | 2006-08-25 | 2008-08-07 | Multi Magnetics Incorporated | Method and system for performing local tomography |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1478121A (en) * | 1973-07-21 | 1977-06-29 | Emi Ltd | Radiography |
| DE2355094C3 (de) * | 1973-11-03 | 1979-05-23 | Behringwerke Ag, 3550 Marburg | Verfahren zur Herstellung eines Tetanus-Impfstoffs |
| DE2538517A1 (de) * | 1974-08-28 | 1976-03-11 | Emi Ltd | Radiologisches geraet |
| GB1547964A (en) * | 1975-07-11 | 1979-07-04 | Emi Ltd | Electron beam deflection arrangements |
| JPS53132985A (en) * | 1977-04-25 | 1978-11-20 | Jeol Ltd | X-ray image pickup device |
| GB1598685A (en) * | 1977-04-28 | 1981-09-23 | Emi Ltd | Radiography |
| DE3017494A1 (de) * | 1980-05-07 | 1981-11-12 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Strahlendiagnostikeinrichtung |
| DE8135726U1 (de) * | 1981-12-08 | 1985-05-02 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Strahlendiagnostikgerät |
| GB2181330B (en) * | 1985-09-26 | 1990-05-09 | Toshiba Kk | X-ray inspection apparatus |
| DE8704182U1 (de) * | 1987-03-20 | 1987-07-09 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Computertomograph |
| JPS63255042A (ja) * | 1987-04-10 | 1988-10-21 | 株式会社東芝 | Ct装置におけるデ−タ収集方式 |
-
1988
- 1988-05-25 DE DE3817724A patent/DE3817724C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-05-19 US US07/354,207 patent/US4934832A/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-05-23 JP JP1129972A patent/JPH0223945A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3817724C2 (de) | 1996-04-04 |
| DE3817724A1 (de) | 1989-11-30 |
| US4934832A (en) | 1990-06-19 |
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