JPH02241024A - 試料固定装置 - Google Patents
試料固定装置Info
- Publication number
- JPH02241024A JPH02241024A JP1064470A JP6447089A JPH02241024A JP H02241024 A JPH02241024 A JP H02241024A JP 1064470 A JP1064470 A JP 1064470A JP 6447089 A JP6447089 A JP 6447089A JP H02241024 A JPH02241024 A JP H02241024A
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- Japan
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- sample
- fixing
- specimen
- fixture
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は、例えばシリコンウェハなどの試料を移動さ
せつつ荷電ビームを照射して描画などの加工を施すため
の装置に関連し、殊にこの発明は、前記の試料を所定の
位置に位置決めして固定するのに用いられる試料固定装
置に関する。
せつつ荷電ビームを照射して描画などの加工を施すため
の装置に関連し、殊にこの発明は、前記の試料を所定の
位置に位置決めして固定するのに用いられる試料固定装
置に関する。
〈従来の技術〉
従来この種試料固定装置として、第5図に示す如く、試
料固定台1上の対向位置に支持具2を配置し、各支持具
2の適所に固定具3を配備した構造のものが存在する。
料固定台1上の対向位置に支持具2を配置し、各支持具
2の適所に固定具3を配備した構造のものが存在する。
試料固定台1.支持具2および、固定具3は良導体であ
って、試料固定台1は接地しである。加工すべきシリコ
ンウェーハ(以下、「試料」という)4は各支持具2の
平坦な支持面5上に載せられ、各固定具3にて試料4の
上面が押圧状態で固定される。
って、試料固定台1は接地しである。加工すべきシリコ
ンウェーハ(以下、「試料」という)4は各支持具2の
平坦な支持面5上に載せられ、各固定具3にて試料4の
上面が押圧状態で固定される。
試料4の表面にはSiO□等の酸化膜6が形成されるこ
とがあるため、前記固定具3は先端を尖らせて、前記酸
化膜6を突き破ることが可能な構成となっている。この
ため固定具3は、第6図に示すように試料4と直接接触
することになり、荷電粒子(図中、−の符号で示す)は
固定具3.支持具2.試料固定台1を経て大地に導かれ
、荷電ビームのチャージアップ現象が阻止される。
とがあるため、前記固定具3は先端を尖らせて、前記酸
化膜6を突き破ることが可能な構成となっている。この
ため固定具3は、第6図に示すように試料4と直接接触
することになり、荷電粒子(図中、−の符号で示す)は
固定具3.支持具2.試料固定台1を経て大地に導かれ
、荷電ビームのチャージアップ現象が阻止される。
〈発明が解決しようとする問題点〉
しかしながら試料固定台1が良導体であると、この試料
固定台1の作動により試料4を動かしつつ荷電ビームを
照射した場合、荷電ビームの集束または偏向用のコイル
による磁場が試料固定台1に渦電流を生じさせることに
なる。その結果、この渦電流による反作用磁場が本来の
磁界分布に影響を与えて荷電ビームを変位させ、荷電ビ
ームの偏向エラーを生じさせる。そのため試料固定台1
の導電率は低いものとせざるを得す、チャージアップ現
象を避けることが困難となる。
固定台1の作動により試料4を動かしつつ荷電ビームを
照射した場合、荷電ビームの集束または偏向用のコイル
による磁場が試料固定台1に渦電流を生じさせることに
なる。その結果、この渦電流による反作用磁場が本来の
磁界分布に影響を与えて荷電ビームを変位させ、荷電ビ
ームの偏向エラーを生じさせる。そのため試料固定台1
の導電率は低いものとせざるを得す、チャージアップ現
象を避けることが困難となる。
また試料4は、その下面が位置決めの基準面として各支
持具2の支持面5上に支持されるようになっているため
、試料4の厚みが一定でない場合は、荷電ビームの焦点
ずれが生じて正確な描画が困難となる。
持具2の支持面5上に支持されるようになっているため
、試料4の厚みが一定でない場合は、荷電ビームの焦点
ずれが生じて正確な描画が困難となる。
第7図(1)は、厚みが一定でない試料4の下面を支持
具2aにより支持した状態を示している。
具2aにより支持した状態を示している。
同図によれば、適正な厚みdを有する部分については荷
電ビーム7の焦点Fが試料4の上面に正しく設定される
のに対して、所定値より小さな厚みd′を有する部分に
ついては前記焦点Fの位置が試料4の上面の手前に設定
されて焦点ずれが生じている。
電ビーム7の焦点Fが試料4の上面に正しく設定される
のに対して、所定値より小さな厚みd′を有する部分に
ついては前記焦点Fの位置が試料4の上面の手前に設定
されて焦点ずれが生じている。
そこで第7図(2)に示すように、試料4の上面を位置
決めの基準面として支持することが望ましいが、試料4
の上面と支持具2bとが酸化膜6を介在させて面接触す
るから、支持具2bとの電気的接触が不十分となり、チ
ャージアップ現象が避けられないという問題がある。
決めの基準面として支持することが望ましいが、試料4
の上面と支持具2bとが酸化膜6を介在させて面接触す
るから、支持具2bとの電気的接触が不十分となり、チ
ャージアップ現象が避けられないという問題がある。
この発明は、上記の問題に着目してなされたもので、試
料の上面を位置決めの基準面として支持する方式の固定
機構を採用して焦点ずれなどの発生を防止し、これに加
えてチャージアップ現象の発生も完全に阻止できる新規
な試料固定装置を提供することを目的とする。
料の上面を位置決めの基準面として支持する方式の固定
機構を採用して焦点ずれなどの発生を防止し、これに加
えてチャージアップ現象の発生も完全に阻止できる新規
な試料固定装置を提供することを目的とする。
またこの発明は、試料の固定機構に簡単な工夫を施すこ
とにより、加工に際して試料を動かしても、試料の位置
1ずれを確実に防止し得る試料固定装置を提供すること
を目的とする。
とにより、加工に際して試料を動かしても、試料の位置
1ずれを確実に防止し得る試料固定装置を提供すること
を目的とする。
〈問題点を解決するための手段〉
上記目的を達成するため、この発明では、固定機構によ
り試料を位置決め固定するのに、前記固定機構を、試料
の上面を位置決めの基準面として面接触状態で支持する
ための支持面と、支持面に対し試料を押圧して固定する
ための導電性の固定具とで構成するようにしている。
り試料を位置決め固定するのに、前記固定機構を、試料
の上面を位置決めの基準面として面接触状態で支持する
ための支持面と、支持面に対し試料を押圧して固定する
ための導電性の固定具とで構成するようにしている。
また請求項2に記載の発明では、加工時における試料の
位置ずれを確実に防止するため、前記固定具の試料との
接触面に針状突起を設けるようにしている。
位置ずれを確実に防止するため、前記固定具の試料との
接触面に針状突起を設けるようにしている。
〈作用〉
試料はその上面を位置決め基準面として面接触状態で支
持面により支持されるので、たとえ試料の厚みが一定で
なくても、荷電ビームなどの焦点は常に適正位置に設定
される。
持面により支持されるので、たとえ試料の厚みが一定で
なくても、荷電ビームなどの焦点は常に適正位置に設定
される。
また導電性の固定具により試料を支持面に対して押圧固
定しているので、試料と固定具との間が完全に導通し、
荷電粒子は固定具を経て大地に導かれてチャージアップ
現象が防止される。
定しているので、試料と固定具との間が完全に導通し、
荷電粒子は固定具を経て大地に導かれてチャージアップ
現象が防止される。
しかも支持面は良導体である必要がなく、絶縁材などで
形成してもよいから、材質の自由度は大きなものとなる
。
形成してもよいから、材質の自由度は大きなものとなる
。
さらに固定具に針状突起が設けであるので、試料の固定
時に針状突起により試料の下面が傷付けられて溝が形成
されるため、その溝に針状突起が係合した状態では、試
料の位置ずれが確実に防止されることになる。
時に針状突起により試料の下面が傷付けられて溝が形成
されるため、その溝に針状突起が係合した状態では、試
料の位置ずれが確実に防止されることになる。
〈実施例〉
第1図は、この発明の一実施例にかかる試料固定装置を
示しており、試料固定台11上に試料4が固定機構12
により固定されている。
示しており、試料固定台11上に試料4が固定機構12
により固定されている。
試料固定台11は、半導電性または絶縁性の材料にて形
成され、図示しないモータに連繋して一定速度で回転す
るよう制御される。この試料固定台11の上方位置には
荷電ビーム照射装置の収束レンズを配備して、荷電ビー
ムを試料4の所定の位置に照射する。
成され、図示しないモータに連繋して一定速度で回転す
るよう制御される。この試料固定台11の上方位置には
荷電ビーム照射装置の収束レンズを配備して、荷電ビー
ムを試料4の所定の位置に照射する。
前記固定機構12は、試料固定台11上の対向位置に支
持具13を配備するとともに、固定具16を複数箇所に
取り付けて成る。
持具13を配備するとともに、固定具16を複数箇所に
取り付けて成る。
各支持具13は、上端部を内方へ屈曲させた支持部14
を備え、その支持部14の下面を水平かつ平坦な支持面
15となしている。この支持面15は試料4の上面を位
置決めの基準面として面接触状態で支持するためのもの
で、支持される試料4の上面が水平となるよう各支持具
14の支持面15を同一高さに設定しである。
を備え、その支持部14の下面を水平かつ平坦な支持面
15となしている。この支持面15は試料4の上面を位
置決めの基準面として面接触状態で支持するためのもの
で、支持される試料4の上面が水平となるよう各支持具
14の支持面15を同一高さに設定しである。
各固定具16は導電性を有する金属板材にて形成され、
各固定具16には接地線17を接続して大地に接地しで
ある。各固定具16は第2図に示す如く、取付基部18
に対し所定の角度をなす保持部19を備えており、取付
基部18を試料固定台11上に固定することにより保持
部19を斜め上方へ突出させて、その先端部を前記支持
面15の下方に位置させる。保持部19は取付基部18
を固定することにより弾性が付与され、この弾性により
試料4の下面を支持具13の支持面15へ押圧して保持
する。
各固定具16には接地線17を接続して大地に接地しで
ある。各固定具16は第2図に示す如く、取付基部18
に対し所定の角度をなす保持部19を備えており、取付
基部18を試料固定台11上に固定することにより保持
部19を斜め上方へ突出させて、その先端部を前記支持
面15の下方に位置させる。保持部19は取付基部18
を固定することにより弾性が付与され、この弾性により
試料4の下面を支持具13の支持面15へ押圧して保持
する。
この保持部19の先端は湾曲し、その上面中央には、試
料4の下面に第3図および第4図に示すような溝21a
、21bを生成するための針状突起20が設けである。
料4の下面に第3図および第4図に示すような溝21a
、21bを生成するための針状突起20が設けである。
前記溝21a、21bは、試料4を支持具13と固定具
16との間へ挿入して位置させる際、針状突起20が試
料4の下面を傷付けることにより生成されるもので、試
料4の挿入方向が真っ直ぐであれば第3図に示すような
直線状の溝21aが、また試料4の挿入方向が円に沿う
のであれば第4図に示すような円弧状の満21bが、そ
れぞれ生成される。なお第3図に示す例では、4個の固
定具16がそれぞれ平行に配置されており、また第4図
に示す例では3個の固定具16が中心に向けて配置され
ている。
16との間へ挿入して位置させる際、針状突起20が試
料4の下面を傷付けることにより生成されるもので、試
料4の挿入方向が真っ直ぐであれば第3図に示すような
直線状の溝21aが、また試料4の挿入方向が円に沿う
のであれば第4図に示すような円弧状の満21bが、そ
れぞれ生成される。なお第3図に示す例では、4個の固
定具16がそれぞれ平行に配置されており、また第4図
に示す例では3個の固定具16が中心に向けて配置され
ている。
前記の溝21a、21bに針状突起20が係合している
と、溝21a、21bと直交する方向の力fに対して試
料4の位置ずれ阻止力が作用する。
と、溝21a、21bと直交する方向の力fに対して試
料4の位置ずれ阻止力が作用する。
なお針状突起20は板面を切り起こすなどの方法で容易
に生成できるが、先端が尖っておればその形態は問わな
い、またこの実施例では針状突起20を一箇所だけ設け
であるが、これを複数箇所に設けることもできる。
に生成できるが、先端が尖っておればその形態は問わな
い、またこの実施例では針状突起20を一箇所だけ設け
であるが、これを複数箇所に設けることもできる。
上記構成の試料固定装置により試料4を試料固定台11
上に固定する場合、試料4はその上面が各支持具13の
支持面15により支持され、またその下面は固定具16
の保持部19により支持面15へ押圧した状態で保持さ
れる。この場合、試料4の上面は位置決め基準面として
支持されるので、たとえ試料4の厚みが一定していなく
ても、荷電ビームなどの焦点は常に試料4の上面の適正
位置に設定される。
上に固定する場合、試料4はその上面が各支持具13の
支持面15により支持され、またその下面は固定具16
の保持部19により支持面15へ押圧した状態で保持さ
れる。この場合、試料4の上面は位置決め基準面として
支持されるので、たとえ試料4の厚みが一定していなく
ても、荷電ビームなどの焦点は常に試料4の上面の適正
位置に設定される。
また固定具16は導電性を有するから、試料4と固定具
16との間が完全に導通し、荷電粒子は固定具16から
接地線17を通って大地に導かれてため、チャージアッ
プ現象が防止される。
16との間が完全に導通し、荷電粒子は固定具16から
接地線17を通って大地に導かれてため、チャージアッ
プ現象が防止される。
さらに試料4の下面には、試料4の固定時に固定具16
0針状突起20により溝21a。
0針状突起20により溝21a。
21bが生成され、その溝21a、21bに前記針状突
起20が係合している。このため試料固定台11をモー
タにより回転させても、その回転力や振動などで試料4
が溝21a、21bと直交する方向に位置ずれするのが
阻止される。
起20が係合している。このため試料固定台11をモー
タにより回転させても、その回転力や振動などで試料4
が溝21a、21bと直交する方向に位置ずれするのが
阻止される。
〈発明の効果〉
この発明は上記の如く、固定機構により試料を位置決め
固定するのに、前記固定機構を、試料の上面を位置決め
の基準面として面接触状態で支持するための支持面と、
支持面に対し試料を押圧して固定するための導電性の固
定具とで構成するようにしたから、試料はたとえその厚
みが一定でなくても、荷電ビームなどの焦点は常に適正
位置に設定され、正確な描画などの加工が可能となる。
固定するのに、前記固定機構を、試料の上面を位置決め
の基準面として面接触状態で支持するための支持面と、
支持面に対し試料を押圧して固定するための導電性の固
定具とで構成するようにしたから、試料はたとえその厚
みが一定でなくても、荷電ビームなどの焦点は常に適正
位置に設定され、正確な描画などの加工が可能となる。
また試料と導電性の固定具との間は完全に導通して、荷
電粒子は固定具を経て大地に導かれるため、チャージア
ップ現象の発生が阻止され、しかも支持面は良導体以外
の材料でも形成できて、材質の自由度も大きなものとな
る。
電粒子は固定具を経て大地に導かれるため、チャージア
ップ現象の発生が阻止され、しかも支持面は良導体以外
の材料でも形成できて、材質の自由度も大きなものとな
る。
さらにこの発明では、固定具に針状突起を設けたから、
この針状突起により形成される溝にその針状突起が係合
するため、加工時における試料の位置ずれを確実に防止
し得るなど、発明目的を達成した顕著な効果を奏する。
この針状突起により形成される溝にその針状突起が係合
するため、加工時における試料の位置ずれを確実に防止
し得るなど、発明目的を達成した顕著な効果を奏する。
第1図はこの発明の一実施例にかかる試料固定装置を示
す断面図、第2図は固定具の一例を示す斜面図、第3図
および第4図は試料の下面に形成される溝と固定具との
関係を示す説明図、第5図は従来の試料固定装置の断面
図、第6図は荷電粒子の流れを示す説明図、第7図は試
料の位置決め基準面の設定例を示す断面図である。 4・・・・試料 12・・・・固定機構15
・・・・支持面 16・・・・固定具20・・
・・針状突起
す断面図、第2図は固定具の一例を示す斜面図、第3図
および第4図は試料の下面に形成される溝と固定具との
関係を示す説明図、第5図は従来の試料固定装置の断面
図、第6図は荷電粒子の流れを示す説明図、第7図は試
料の位置決め基準面の設定例を示す断面図である。 4・・・・試料 12・・・・固定機構15
・・・・支持面 16・・・・固定具20・・
・・針状突起
Claims (2)
- (1)固定機構により試料を位置決め固定するための試
料固定装置であって、 前記固定機構は、試料の上面を位置決めの 基準面として面接触状態で支持するための支持面と、 この支持面に対し試料を押圧して固定する ための導電性の固定具とを備えてなる試料固定装置。 - (2)前記固定具は、試料との接触面に針状突起が設け
られている請求項1に記載の試料固定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1064470A JPH02241024A (ja) | 1989-03-15 | 1989-03-15 | 試料固定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1064470A JPH02241024A (ja) | 1989-03-15 | 1989-03-15 | 試料固定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02241024A true JPH02241024A (ja) | 1990-09-25 |
Family
ID=13259148
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1064470A Pending JPH02241024A (ja) | 1989-03-15 | 1989-03-15 | 試料固定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02241024A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP4202972A3 (en) * | 2021-12-23 | 2023-11-22 | FEI Company | Method and system for positioning and transferring a sample |
-
1989
- 1989-03-15 JP JP1064470A patent/JPH02241024A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP4202972A3 (en) * | 2021-12-23 | 2023-11-22 | FEI Company | Method and system for positioning and transferring a sample |
| US12000789B2 (en) | 2021-12-23 | 2024-06-04 | Fei Company | Method and system for positioning and transferring a sample |
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