JPH02241717A - 成形条件計測データの解析・表示方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、射出成形機、押出成形機等の成形機の成形品
品質に影響を与える成形条件をワンショット毎に連続的
に計１ＪＦＩすると共にその全ての計測データを記憶し
、任意の成形条件に−〕いて前記計Ａ？Ｉデータから統
計的手法による解析データを算出してその解析結果を表
示する方法に関する。

〔従来の技術〕

従来、成形機の成形条件を計測し、その計測データ若し
くはその計測データを用いた品質デ・−タを表示及び記
録するものが知られている。例えば、特開昭６０−２４
７５３６号公報には、成形品品質に影響を与える圧力、
速度、ａ度、時間等の成形条件を成形シうツト毎に検出
し、その検出した計測値をデジタル量に変換した後、該
計測値とＹめ設定されている良品基準値とを比較演算し
てシテ】ット数に対する良品数、良品発４１゛亭及び十
記名成形条件の平均値、標窄偏差等苓・記録する品質記
録装置が示されている。上記品質記録装置は８成形シ３
ツト毎に成形条件の良否判定を行うこノ。により成形品
の品質管理が行えるよ）にしたものである。

また、特開昭６ｌ−１１４Ｂ３２号公報には７．、成形
サイクルにおけるサイクル時間、射出時間、混練時間、
ピーク射出圧力、切換圧力、クヅション圧力等の成形条
件のｆＳ−変量とこれらδ変量の最大値、赫小崎及び現
在より過去数回分の成形ザ、イクルの平均値を記憶、表
示する射出成形機が示されている。上記射出成形機は、
現在より過大数回分の成形サイクルの名成形条件の変量
を記憶、表示することにより射出成形プロセスの特異時
？異常発生を早急に発見できるようにしたものである。

また、特開昭（）３−・１０８９６１号公報には、身・
ｊ出成形機の全ての成形条件の軌跡を連続的εこ記憶し
２、この配憶した軌跡の内、任、亡の軌跡をＣＲ′ｒ十
に選択的に表；ｔさｌｊたり、選択的に表示させた軌跡
の」−にｉ！ｒＪ新の成）ＩＢ条件の軌跡を重ね描きさ
（る射出成］１３条件シ１゛側データの記憶再生方法が
示さねている。また、特開昭６３−１０８９６２号公ｆ
ジには、射出成形条件の軌跡をいわゆるグラフで表示ン
“ｌ＜は記録する場合に、カーソルで任意に選択しｊコ
点の値をデジタルで表示若シ、＜は記録させる射出成形
条４／ｌの表示・記録方法が示されている。、１．、記
射出成、形条件２ｔ　ａＰＩデータの記憶１す生方法及
び表示・記録方法は、射出成形条件の、１１川結果の内
、希望の＝：ハ１データの軌跡を迅速かつ容（−１Ｊ観
化ｊできるようにすると）・もに任意の観測点ζ・“）
＋ｔｔ川値用正確に観；９１できるようにしたオ、ので
ある６、（発明が解決しようとする課ＩＩ！！Ｊ）きこ
ろで、十記従東技術は、成形サイクルにおける品成形条
件をワンショット毎に計ＡＨＬ　、その、ｉｉ　ａＰｌ
データを観計Ｉ　Ｌ、やすいように表示又は記録するも
のであるか、或いは、計測データの良否１゛Ｊ１定り・
４−１１．１、その結果を表示又は記録するも）の１・
“ある。

１−記従来技術により成形機の成形条件の計測データの
観測が迅速かつ容易に行われる−１、うにな）たが、各
シ？ツＩ・のコ１゛Δ１１データから異常のあるショッ
トを抽出したり、ショットの繰返しによる計Ａ１１ＪＩ
−夕の変化から成形品品質に影響を与え６成形条件を抽
出して該成形条件の設定値を修正するような作業は、依
然、熟練した成形技術者の経験とノウハウによるところ
が大きい。

また、成形加工におＬｊる成形品品質に影響をうえる成
形条件は非常に多く、例えば同じ金型内圧力でも位置の
異なる条件が多数含よれるから、各ショットに・ついて
これら全ての成形条件を観Ａ−１シて成；ヒ条件の異常
やその異常要因を解析することは非常に困難である。そ
こで、多数の成形条件の中から成形品品質に及ぼす主要
条件を抽出したり、各成形条件の嚢動量、金型の寿命等
舒より科学的に管理するものと１．てδ成形条件のＪｌ
“ｌ！ｌＰＩデータを統シｌ的に処理し′Ｃ解析を行う
ことが考えられる。

しかし、成形機の成形条件を＝１′測し、その計７１１
１データを用いて統二１的解析データを算出した後、そ
の解析結果を表示又は記録するよう１２°したものは未
だ提案されておらず、成形条件の計ａｌｌデータから統
シ１的解析データを算出するには、改めて３．１肋１デ
ータから必要なｉｔ　側データを抽出して統計演算処理
を行わなければならなかった。このため、４１１Ｍデー
タの保存や整理に多大の時間を要すると」（慮、二人為
的なミスも生じ易く、作業効率が非常に憑かった。

本発明は、、−１−記課題に鑑みて成されたものであり
、成し機の成形品品質に影響を与える谷成形条件及びタ
イミング信号をショット毎に、？Ｌ　Ａ１１ｌ　１．、
　、その討側デ・−夕及びタイミング信号から所望の成
形条件の成形サイクルにおける所望の時刻の計測ｆ−夕
を抽出；２、統５．（的解析データをわ出しＣ１その解
析結果を表示するようにした成形条件計Ａ）Ｊデータの
解析・表示方法をｍ　ｉｘすることをＥｌ的とする。

［課題を解決するための手段〕 上記課題を解決するために、本発明に係る成ｊじ条件計
Ａか１データの解析・表示方法は、成形サイクルにむけ
ろ成形機の各タイミング信号の検出と８成形条件の計Ｍ
Ｉとをショット毎に行い、上記計訓データ及びタイミン
グ信号を記憶し５、Ｊ−記記憶された計測データ及びタ
イミング信号から、設定された統計的解析条件の対応す
る、タイミング信号を基準に決定される時点における計
測データを複数のショット回数分だけ抽出して上記統：
［的解析データを算出し、該算出された統３１的解析デ
ータを読み出し、て表示装置に表示するようにしたもの
である。

〔作　月１　〕 −Ｆ記のように構成された成形条件３４側デ・−夕の解
（Ｊｉ・表示方法では、ショット毎に成形機の成形サイ
クルにおける各タイミング信号が検出されると共に成形
品品質に影響与える成形条件が計測され、これら全ての
タイミング信号及び計ｊｔｌデータがショット毎１こ！
Ｗ　ＩＩＪ！され記憶される。そして、；己憶された上
記計測データ及びタイミング信号から、設定された統計
的解析条件に対応するタイミング（，４号を基準にして
決定される計ＡＰｊデータが設定されたショット回数分
だけ抽出され、該抽出データから統：１的解析データが
算出された後、その統計的解析結果が表示装置に表示さ
れる。

〔実施例〕

第１図は本発明に係る成形条件計測データの解析・表示
方法を射出成形機に適用ｊ７たシステム構成図を示して
いる。同図において、１はスクリュー式射出成形機、２
は射出成形機１に取付けられた金型、３は上記射出成形
機１の射出筒である。

金型２には、射出成形時に金型内の樹脂に加わ６０；力
を計測する全型内樹脂圧力検出装置４及び射出成形時の
全型内温度を計測する金型ｍ度検出装置５が配設されて
いる。また、射出筒３には、加熱筒の温度を検出する加
熱筒温度検出装置６、射出時のスクリュー位置を検出す
る射出スクリュー位置検出装置７及び射出時のスクリュ
、−の圧力を検出する射出圧力検出装ｇ！８が配設され
ている。

なお、上記全型内樹脂圧力検出装置４、金型ｍ度検出装
置５、加熱筒温度検出装置６、射出スクリュー位置検出
装ｇＩ１７及び射出圧力検出装置８としてそれぞれ複数
の検出器を配設することで、各成形条件について計肺１
位置の異なる複数の計肺１データがｉりられる。例えば
金型内１１５＃脂圧力検出装置４では金型内の中心付近
と周辺付近の位置の異なる圧力が検出される。

射出成形機１にはアナログ信号増幅装置９、割込信号出
力装置１０及び通信制御装置１１が設けられている。ア
ナログ信号増幅装置９は上記検出装置４〜８のそれぞれ
の検出装置に設けられた各検出器に対応する増幅器を６
１−１検出されたアナログ・検出信号をそれぞれ増幅す
る。これにより各検出ｊｒｉ号は検出と同時にアナログ
信号増幅装置９で増幅され、その増幅信号は後述する計
Ｊ＃Ｊ　ｔ＝号大入力装置１′２に随時出力される。Ｊ
：、た、割込信号出力装置１０は射出成形機の成形サイ
クルにおける、例えば金型の開閉動作の切換えや射出速
度の高速、低速の切換え等の動作変更を指示或いは動作
終了を確認する各信号（以下、タイミング信号という）
を検出して計測信号入力装置１２へ出力するものである
。また、通信制御装置１１は射出成形機１側で検出し、
蓄積されている、例えば温度等の検出データを計ａＰ目
−号入力装置１２へ出力するものである。、通信制御装
置１１は演算処理制御装置１４からの指示により慕情デ
ータを一括して計ＡＰ目：末号入力装置１２へ出力する
。なお、検出データが一定量蓄積されたとき、該蓄積デ
ータが一括ｊ７て出力さ４］るようにしてもよ、い。

３０は上記成形条件の計測データ及びタイミング信号を
用いて解析処理及び表示を行う解析処理システムを示し
、計測人力装置１２、計測制御装置１３、演算処理制御
装置１４、針側データー時記憶装置１５、主記憶装置１
６、補助１尼憶装置１７．１８、キーボード１９、ＣＲ
Ｔ表示装置２０及び他の表示装置としてのプリンタ２１
及びプロッタ２２より構成されている。

、ｉｔｊ？目３号入力装置１２は」−紀アナログ信号増
幅装置９、割込Ｃ３号出力装置１０及び通信１ｋｌｌ　
Ｉ装置１１から射出成形機の成形サイクルにおける一連
の動作に対応り、て人力された成形条件の各種検出信号
及びタイミング信号を解析処理システム３０に取込む入
力部である。を記検出信号及びタイミング信号は計ａＰ
！信号入力装置１２を介して計測デ−ター時記憶装置１
５に人力され、該記ｆ！装置１５で一時的に記憶され、
更に後述するように主記憶装置１６を介し゛Ｃ捕補助憶
装置１７及び１８に記憶、保存される。なお、計Ａ−１
（３号入力装置１２はＡ／Ｄ変換器を有１．ており、に
記アナログｆみ号増幅装置９及び通信制御装置１１から
入力されろアナログ検出信号をデジタル信号に変換して
：１゛測データー時記憶装置１５へ出力する。

二１″州制御装置］３は計測信号人力装置１２による上
記成形条件の検出信号及びタイミング信号のデータ取込
みを制ｉするものである。すなわち、上記アナログ信号
増幅装置９及び通信制御装置１１から入力される成形条
件の名検出信号及びタイミング信号の内、演算処理制御
装置１４からのデータ取込み指令に基づき解析データと
して必要なデータを選択的に計測データ・−時２憶装置
１５へ出力させるものである。また、検出信号のサンプ
リング速度は予め成形条件の：［側項目毎に決定されて
おり、計測制御装置１３は計４１１項目毎に決められた
サンプリング速度で計測データを取込むように計測人力
装置１２を制御する。なお、サンプリング速度はキーボ
ード１９から指定することｂできる。＋−ボード１９か
らサンプリング速度が指定されると、演算処理１；１　
ｍ装置１４から指定されたサンプリング速度か計測１７
１ｇｏ装置１３・＼入力され、５そのサンプリング速度
で、Ｈ−ａｌ１人力装置１２のデータ取込みが制御され
る。

演り処理制御装置１４は、解析処理システム３０の動作
を集中的に管理するとともに３１　ａｌデータの解析処
理を行う。解析処理では補助記憶装置１７及び１８に記
憶、与れている成１１３条件のｊＬ　ＡＪＩＪデータを
用いて、例えばヒストグラム、バレート図、相関図等の
解析処理を行い、その解析結果を補助記憶装置１７又は
１８にシ己憶させると１（にＣＲＴ表示装置２０に表示
させたり、プリンタ２１又ブ１１ツタ２２に記録させる
。

主記憶装置（ＲＡＭ）１６は演算処理制御装置１３の演
算処理のための記憶装置であり、例えば成形安定性解析
、ヒストグラム解析、バレート図解析、２梢関解析等の
演算処理力法をも記憶されている。

補助記憶装置１ｆ１７（フロッピーディスク）及び１８
（固定ディスク）は解析処理方法、計１ｌｐｉデータ及
びタイミング信号、解析結果等が記憶される記ｔａ装置
であり、例えば補助記憶装置１８は第２図に示すファイ
ル体系を有している。なお、補助記憶装置１７も同様の
ファイル体系をａしている。

同図において、成形サイクル管理ファイル２３には、１
成形ザイクルにおいて検出される全てのタイミング信号
の発生時刻、成形条件の！を測項目を示す項目ナンバー
、計肺１データファイル２６における各成形条件の計肺
１データのメモリアドレスを示すレコー・ドナニッパ−
１計測データの各成形条件毎に決定されているサンプリ
ング速度及び成形機の成形条件の設定値の成形条件設定
ファイル２７におけるメモリアドレスを示すレコード大
ンバーが全てのシジットについて記憶されＣいる。なお
、上記タイミング信号とは、例えば型締開始、型締完了
、射出開始、射出完了、保圧開始、保圧切換、保圧光γ
、工ｔロ開始、１１量完了、型Ｉ３ａ開始、突出開始、
突出完Ｔ、サイクル終ｒの各信号及び射出速度の切換信
号である。

解析処理方法ファイル２４には＝１１項１１、それぞれ
の解析処理方法で用いられるタイミング信号とその発生
時刻及びタイミング信号の発生時刻から指定された時間
経過し５た時刻が記憶される。なお、上記指定時間はキ
ーボード１９から指定可能なｉｆ意の時間である。

演算処理パラメータファイル２５には解１ｔｉ結果をＣ
Ｒ，Ｔ表示装置２０に画面表示するための、例えば表示
項１］、表示スケール等のｆＢ算処理パラメータが記憶
される。

計ｌ１ｌｐｊデータファイル２６には計ｉ４ｐノ信号人
力装置１１から人力された成形条件のま１°測データが
ＡＩ　Ａｍ１項［１毎に整理１．て記憶される。なお、
ｔｉｉ算処理制御装置１４はト記憶装置１６から補助記
憶装置］−７又は１８への２１″Ａ−１データの転送を
制御し、必要な計測データを上記ニーｔ　ｔ’ＩＰ１デ
ータファイル２６に記憶させる。

成形条ｎ設定データファイル２７には成形機側で設定１
．た成形条件設定鎖が成形条件の項１１毎に整理して記
ｔａされている。

解析結果記憶ファイル′、２８には解析演算処理が終了
すると同時にその解析結果・が記憶、保（ｉされる。

なお、補助記憶装置１７及び１８に上記ファイル２３〜
２８を同時に１（数個保有させれば、解析能力をより大
きくｊることができる。

第１図に房って、３１は金型２の温度を、調節する金Ｊ
４１７温度７周節装置である。金型温度調節装置３１で
は冷却ＪＩＪ油のと度が油温検出装置３２１こより検出
され、アナログ信号増幅装置３３で増幅された後、計測
データ入力装置１２へ出力される。また、割込１３号入
出力装置３４により全てのタイミング信号が計測データ
入力装置１２へ出力される。

３６は射出成形された製品を搬送する製品搬送装置であ
る。製品搬送装置３６では割込信号人力装置３５により
製品搬送のタイミング信号が検出され、計測信号人力装
置１２に人力される。

４６は射出成形の樹脂材料を乾燥し、供給するホッパー
ドライヤーである。ホッパードライヤー４６では樹脂本
（料乾燥用エアーの温度が乾燥エアー温度検出装置４７
により検出され、アナログ信号増幅装置４８で増幅され
た後、ｆｌＪデータ人力装置１２へ出力される。また、
割込信号入出力装置４９によりすべてのタイミング信号
が計測データ人力装置１２へ出力される。

第３図は本発明に係る成形条件計測データの解析・表示
方法を押出成形機に適用した場合の押出成形機の構成の
一例を示したものである。

ｐｉｌ出成形機では混綽機３７の回転速度及び混練！！
度がそれぞれ回転速度検出装置３９及び混練温度検出装
置４０により検出され、その検出信号がアナログ信号増
幅装置３８を介して計測信号人力装置１２へ人力される
。また、ダイ４１及び冷却用水槽４３の温度がそれぞれ
グイａ度検出装置４２及び水槽温度検出装置４４により
検出され、その検出信号がアナログ信号増幅装置４５を
介して計測データ人力装置１２へ人力される。そしで、
」−記計測データにより後述する統■的解析処理が行わ
れる。

次に、解析処理方法について説明する。本発明に係る解
析処理システムでは、成形条件の各計１１Ｐ１項トｌに
ついて任意のタイミング信号の発生時刻における計測デ
ータ若しくはそのタイミング信号の発生時刻から任意の
時間経過した時点におけるＪ副データを用いて、例えば
成形安定性解析、ヒストグラム解１１１、バレート図解
析及び相関解Ｆｉ等の統計的解析が行われる。また、計
１１Ｐ！データとして解１１１対象としている計ａＰ１
項［］の１成形サイクル内の最大１ａ若しくは最小値を
採ることもできる。

まず、解析処理システムを立上げると、ＣＲＴ表示装置
２０のＣＲＴ上に上記解析処理方法のメニュー、計ａ１
１項［１、タイミング信号、１成形サイクル内の最大値
若しくは最小値を針側デ・・−夕とする諜］Δ−１デー
タの抽出方法等が表示されるので、キーボード１９より
解Ｉｉシたい解析処理方法、＝１側項［１及び夕・イミ
ング信号を選択し、ショツト数、上記選択１．たタイミ
ング信号からの経過時間で決定される解析したい時刻等
の解析条件を人力する。

なお、これら設定された計Ａカｊ項目、タイミング信号
、ショツト数及び解析時刻等の解析条件は解析処理方法
ファイル２４に記憶されるので、再反同じ条件の計測デ
ータを用いて解析する時は改めて条件設定する必要はな
い。

解析条件の選択及び人力が終了すると、演算処理制御装
置１４は補助記憶装置］８から必要な解＃ｉデータをｌ
ｌｌ１出する。すなわち、指定されたタイミング信号の
発生時刻における計測データを抽出する場合、演算処理
制御装置１４は成形サイクツ！５ファイル２１から指定
されたタイミング信号のｔ生時刻を呼出・し、同時に計
ｉｌＮデータファイル２６における計測データのレコー
ドナンバーとサンプリング速度とにより決定される上記
タイミング信号の発生時刻に対応する＝１Δ―１データ
のメモリアドレスを算出して！ｉ　ａＰｊデータファイ
ル２６からそのコ［測データを抽出する。また、指定さ
れたタイミング信号の発生時刻から指定された時間経過
した時点における計−〇データを抽出する場合、演算処
理馴卸装ｆ１４は指定されたタイミング信号がら指定さ
れた時間経過後の時刻を算出１，５、該発／Ｊ：　１１
５刻に対応する計７１ζＩ’ｊ’−タのメモリアドレス
を算出して計測データファイル２６からその計測データ
を抽出する。上記方法により解析対象の全計測項目につ
き、全ショットについて計測データが抽出される。また
、１成形ザ・ｆクル内の最大値若しくは最小値を：ｉ　
ｉＩＰ！データとする場合は、ａ算処理制陣装置１４は
解析対象の計測類［」についてδシｊットにおける３１
″訓データの最大値又は最小値をシｌ゛ＩＩ＃（デーク
ファ・イル２６から全シ（ツ［・について算出する。

例えば連続成形開始から１５シづット分について射出開
始時のスクリュー位置、スクリュー速度及び射出圧力の
成形安定性解析を行）た場合、演算処理制御装置１４は
補助記すΔ装置１８内の１）゛ΔＰＩデータファイル２
６から射出開始時のスクリュー位置、スクリュー速度及
び射出圧力の各計測データを連続成形開始から１５シヨ
ツトについて抽出１７、各計測項目について最大値、最
小値及びこれら最大値、最少値を記録したシぢット番号
及び甲均＆Ｍを算出する。

第、４図１．Ｊ、１．記成形安定性解析結果をＣＲＴ表
示装置２０に表示した一例を示している。ν；１図に示
すように６計ａＦ１項［１の計測データが時系列的にグ
ラフ化され、同時に表示される。各グラフのスケールの
１１情はショツト数、縦軸はそれぞれの物理量の単位を
示し２ている。なお、各計測類［１について、それぞれ
複数の計ａポイントの計測データを解ＩＩｉ　１−たと
きは、それらを重ね表示させたり、その内の任意のｉｔ
　１１１１ボイシトの解析結果を表示させることができ
る。また、スケールを任意に変更して拡大・縮小表示を
自由にさせることもできる。

−Ｆ、４のように選択的に表示１７た表示項目や変更し
た表示スケール等はｆｉ算熱処理パラメータ２５記憶さ
れるので、同一条件の解析結果の再表示を簡単に行うこ
とができる。また、第４図には示していないが、カーソ
ル及びそのカーソルとグラフとの交点の計測デルタ値（
デジタル値）を表示させることもできる。

次に、第５図は上記成形安定性解析結果をプリンタ２１
で記録表示した一例である。同図に示すようにプリンタ
２］では計測項目毎に各ショットの５１′計１データか
全て出力される。また、第６図は上記成形安定性解析結
果をプロブタ２２で記録表示した一例である。同図に示
すようにプロフタ２０ではスクリュー位置、スクリュー
速度及び射出圧力の成形安定性解析結果が一つのグラフ
に重ね描きされると共に各計測項目について最大値、最
小値及びこれら最大値、最小値を記録したショット番号
及び平均値が記録表示される。

第７図は連続成形開始から５０シゴット分について射出
開始からＯ，５秒後の全型内樹脂圧力の成形安定性解析
を行った結果をＣＲＴ表示装置２０に表示したちの１：
゛ある。）また、同図は２種類の全室内樹脂圧力の成形
安定性解析を行った結果を示し、ている。この場合、演
算処理制御装置１４は計測データファイル２６から射出
開始から０．　５秒後の各全型内樹脂圧力の計測データ
を成形開始から５０シヨツトについて抽出し、それらの
最大値、最小値及びこれら最大値、最少値を記録したシ
ョット番・号及びｉ１２均値を算出する。第８図は」−
２安定性解析結果をプリンタ２１で記録表示したもので
、各全型内樹脂圧力の凸ショットの計ＡＰＪデータが全
て記録表示される。

」−述のように成形安定性解析では連続成形における任
意の計測項目について計測データのシｊットの繰返しに
よる変動が−１１で観測できるので、異常のあったショ
ットを簡単に見付は出すことができると１（に成！１３
機の成形条件Ｘは機械的革件の安定性を極めて容易に１
４定することができる。

以上、成形安定性解析を例に解１１ｉ処理方法を説明１
．だが、ヒ・ストグラム解析、バレー　ト図解析、相関
解析についても上述と回様の方法で計測データを抽出し
て解析することができる。

ヒストグラム解析では解析対象とし、ている全ショット
の：！測データを比較演算してヒストグラムデータとそ
の特性値が算出される。ヒストグラムの表示範囲及び分
割数はキーボ・・−ド１９から任意に設定することがで
き、設定された表示用のパラメータは演算処理パラメー
タ２５に記憶される。

従−フて、同−豹件の解析は改め゛Ｃ解ξ１１α・（′
１４・人力することなく行うことができる。

第９図は上記スク゛リプー速ｌ逢の例に１）いてｔ、ス
トグラム解析を行った結果の表示！＋ｌＪを称し、第１
０図及び第１１図はそれ’Ｅ！ｔ１’ｃの解析結果をプ
リンタ１シ１とブロック２２で記録表示した−・例′ｅ
ある。

ＣＲＴ表示装置２０には第０図に示すようにトストゲう
ムの分布と各分割領域のデータの数及びその分布の最大
値、最少値及びぞイ１ら最大値１、最でし値を記録した
ンＪツト番号、標県偏差等の特性値が表示される。これ
らの解析結１４！は解析と同時に解ｆｌ’ｉ　＃ｌ！ｉ
里記憶ファイル２８（ζ記憶され、再疫表示さｔ！−る
ときに使Ｊ１ｊされる。

プリンタ２１では第１０図にｓ　ｔ　Ｊ、うに解ｐ′ｉ
条件としストダラムの各分割領域のデータ数及び分布の
最大−６，最少値及びこれら最大値、最少値を記録し、
たショット番号、漂阜（１，ｉ差等の特性値が記録表示
され、プロッタ２２では第１１図に示ずＪ゛、う１．：
′ＣＲＴ表示装ｊ；ジ２０で表示された内容と同一内容
が記’１４４表示される。

バ１／−ト図解ｔ１７では対象と１．ている全ショット
の１：１ΔＰ（データを比較ＭＷしてバレート図のデー
タ及びその特性値が算出されろ。このとき＝ｒ　ａデー
タの分類は計Ａニ１データの計測範囲をｆ丁意に分割し
ｊ６−分割領域につい７゛行われる。バレート図の表示
範囲及び分割数は４−ボード１つから任意に設定するこ
とができ、設定された表示用のパラメータは演算処理パ
ラメタイ・２５に記憶されろ。

第１２図はＪ：、：ビスクリュー’　Ｊ中度の崗（につ
いてバレート図解伍をｔｉ−＞た結果の表示例を示１−
１第１３図はその解析結果をプリンタ２１で記えＡ表示
した一例である。

ＣＲＴ表示装置２０では第１２図に示すように解析条件
と二！測デークの計測範囲を任意に分割して、その分割
領域に；含まれるな側データの数が棒グラフで表示され
る共に各分割領域の、９副データ数が枯ｐされＣｔＪｊ
　ｔｉ、線グラフで表示される。また、δ分割領域の’
ｊ’−りの散及びその分布の最大値、最少値及びこれら
最大値、最少値を３ｅ、録したシ叱ッ）・番号、標堕偏
？：：″！′１．．の特性値が表・」ζされ２る。これ
らの解析結果は解ＩＪｉと同時に解析結ル記憶ファイル
２８に２俤、され、再度表示させるときに使用される。

バレート図解析では、ｖｉ　１ｉｐｐデータのＪ［測範
囲を分割（、た分割領域の各データ数を積算１て表示さ
せＣいるので１、例えば不良となるしきい値を設定する
と、それによる不良の発生数を１１！１単にｔ４別する
ことができる。

プリンタ２１では第１３図に示すように解析条件とバレ
ート図のδ分割領域のデータ数、δ分割領域の清算デー
タ数及び上記分布の特性値が記録表示される。

相関解析では２つの計４−１項目のそ１］ぞれの、：１
′１ｌｌｉｌデータを全ショットについて相１７．に比
較演算して２つのシｉ　ｉｌ？Ｉ　Ｊ′ｉ′ｔＩＪ間の
相関図（散ｒｌｉ図）データが算出される。

第１４図は」二記スクリュー速度及びスクリュー位置の
例について相関解析を行った結果の表示例を示し、第１
５図及び第１６図はそれぞれその結果をブリンク２１と
ブ［１フシ２２゛Ｃ記録人示した一例である。

ＣＲＴ表示装置２０には第１４図に示す人うに解析条件
、散布図、各計測項１コについての最大値、υ小値及び
これら最大値、最少値を記録したシ」ット番号、樟亭偏
差及び相関係数等の特性値が表示される。これらの解析
結果は解析と同時Ｃ５−解１ｉ結果記仏）ｒイル２８に
記↑ａされ、再度表示させるときに使用される。散イＩ
Ｉ図の表示スケール各Ｊギーボード１９から任意に設定
することができ、設定された表示用のパラメータは演算
処理パラメタ２５に記憶される。

プリンタ２１では第１４図に示すよりに解析条件と２つ
の、：Ｉ−ａＰ１項目の全ショットにおけるそ４１＝ｐ
れのｍｌ　ｉ１！！データが記録表示され、ブロック２
２では第１６図に示すよりにＣＲＴ表示装置２ｏで表示
された内容と同一の内容が記録表示される。

上記のように相関解析では任意の２つの成形条件用ｆｊ
の柑閃舶゛析デ・−夕が迅パ１に得られるので、異常な
相関解析データ・の５１！、　ＥＬにより成形機の成形
条Ｐ［又は機減的条１）１：の異常状態とその異常原因
を早期に発見することができる。

なお、上記成形条件の計測データの解析・表示り法は射
出成形機、押出成形機だけでなく、類似の成形機である
鋳物成形機やセラミック成形機にも適用することができ
る。

〔発明の効果］ 以上、説明したように本発明にかかる成形条件計ΔＮデ
ータの解析・表示方法では、成形機の成形サイクルにお
ける成形条件を３シヨツト毎に計測してその＝１゛側デ
ータを各計測項目のシ」ット毎に１２憶し、記憶された
該計測データから設定された解析条件に対応する各ショ
ットの成形サイクルにおける同一時点の計測データを抽
出して選択された統ｊ１″的処理を行うようにしたので
、全計測データを細かく分類して有効に活用することが
できる。

特に、δショットの成形サイクルにおける同一時点の計
＃Ｊデータからヒストグラム解析及びバレート図解析を
行い、その解析結果を自動的に表示させることにより、
計ａ−１データのばらつきが一目で把握できるから成形
品品質に影響を与える成Ｉじ条件の抽出が迅速に処理で
きる。

また、相関解析を行い、その解析結果を「１ｉＪＪ的に
表示させることにより成形条件のＩＦ（互の関係が定ｍ
的に把握されるので、相関データの異常を観測すること
により成形条件の異常や１１械条件の異常を容易かつ迅
速に発見することができる。

また、成形安定性解析を行い、その解析結果を自動的に
表示させることによりδショットの成形サイクルにおけ
る同一時点の３［刈データの変動が−１１で把握できる
から、成形品品質の良占判定がショット毎に容品にでき
ると共にδ成形条件の変化と密接に関係にある成形機、
金型、金型温調機、ホッパードライヤー等の各機器の性
能の連続成形時における安定性をきめ細かくチエツクす
ることができる。

また、成形条件の計Ａ−１データの収集からその計肺１
データによる統シ１的解析処理を全て自動的にコンピュ
ータ処理するようにしているので、データの解析におけ
る人的なミスがなくなると共に作業時間が大幅に短縮で
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る成形条件計ΔＰＩデータの解析・
表示方法を射出成形機に適用した解析処理システムの構
成図、第２図は補助記憶装置内のファイル体系を示す図
、第３図は押出成形機に適用１７た場合の構成面、第４
図は成形安定性の解析結果を表示した図、第５図は成形
安定性の解析結果をプリンタで記録表示した図、第６図
は成形安定性の解析結果をプロッタで記録表示した図、
第７図は第２の成形安定性の解析結果を表示し、た図、
第８図は第２の成形安定性の解析結果をプリンタで記録
表示した図、第９図はヒストグラム図の解析結果を表示
した図、第１０図はヒストグリム図の解析結果をプリン
タで記録表示した図、第１１図はヒストグラム図の解析
結果をプロッタで記録表示した図、第１２図はバレート
図の解析結果を表示しｔ；図、第１３図はバレート図の
解析結果をプリンタで記録表示した図、第１４図は相関
図の解析結果を表示した図、第１５図は相関図の解析結
果をプリンタで記録表示した図、第１６図は相関図の解
析結果をプロッタで記録表示した図である。 １・・・射出成形機、２・・・金型、３中射出筒、４・
・・金９内樹脂圧力検出装置、５・・・金型温度検出装
置６・・・加熱筒温度検出装置、７・・・射出スクリュ
ー位ｉｉ！７検出装置、８・・・射出圧力検出装置、９
，３３゜３８．４５．４８・・・アナログ信号増幅装置
、１０・・・割込信号検出装置、１１・・・通信制御装
置、１２・・・計ａＰｊ信号人力装置、１３・・・計ｉ
ｆ＄ｊ　Ｉ１１御装置、１４・・・演算処理制御装置、
１５・・・計測データー時記憶装置、］６・・・主記憶
装置、１７．１８・・・補助記憶装置、１９・・・牛−
ボード、２０・・・ＣＲＴ表示装置、２１・・・プリン
タ、２２・・・ブロック、２３・・・成形サイクル管理
ファイル、２４・・・解析処理方法記憶ファイル、２５
・・・演算処理パラメータ記憶ファイル、２６・・・計
肺１データファイル、２７・・・成形条件設定フ、アイ
ル、２８・・・解析結果記憶ファイル、３０・・・解析
処理システム、３】・・・金型温度調節装置、３２・・
・均温度検出装置、３４．４９・・・割込信号入出力装
置、３５・・・割込信号人力装置、３６・・・製品搬出
装置、３７・・・混練機、３９・・・回転速度検出装置
、４０・・・混練温度検出装置、４１・・・ダイ、４２
・・・ダイ温度検出装置、４３・・・水槽、４４・・・
水槽ＩＡＡ度検出装置、４６・・・ホッパードライヤー
４７・・・乾燥エアー温度検出装置。 特許出願人　　　ミノルタカメラ株式会社代　　理　　
人　　　　　弁理士　　小　　谷　　悦　　川向　　　
　　弁理士　長　１）　　正 向　　　　　弁理士　伊　藤　孝　夫 第 図 第 図 第 因 第１６ 図 −・・■−＝−−−−−１

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、成形サイクルにおける成形機の各タイミング信号の
   検出と各成形条件の計測とをショット毎に行い、上記計
   測データ及びタイミング信号を記憶し、上記記憶された
   計測データ及びタイミング信号から、設定された統計的
   解析条件に対応する、タイミング信号を基準にして決定
   される時点における計測データを複数のショット回数分
   だけ抽出し、該抽出データから上記統計的解析データを
   算出し、該算出された統計的解析データを読み出して表
   示することを特徴とする成形条件計測データの解析・表
   示方法。 ２、上記成形条件の計測データは成形機、金型、金型温
   調機及びホッパードライヤーで検出されるものであるこ
   とを特徴とする請求項１記載の成形条件計測データの解
   析・表示方法。 ３、前記抽出される計測データは所定間隔毎のショット
   における計測データであることを特徴とする請求項１記
   載の成形条件計測データの解析・表示方法。