JPH02242143A - スティック収納型電子部品の検査方法とその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、スティック（マガジンと称することもある）
に収納されたＩＣ，トランジスタ、半固定抵抗等の電子
部品を軟Ｘ線を用いて非破壊検査するためのスティック
収納型電子部品の検査方法とその装置に関する。

［従来の技術とその課題］ 電子部品製造工程において製造された電子部品は、断線
１回線破損、リード線接続不良等の有無を検査され、良
品のみが出荷されていく、このような電子部品の検査は
、一般にＸ線透視画像による非破壊検査によって行なわ
れる。

ところで、第７図に示すようにＩＣやある種のトランジ
スタ、半固定抵抗等の電子部品りは、プラスチックある
いはアルミ合金等からなる中空棒状スティックＷに多数
個まとめて収納し搬送される。したがって、スティック
Ｗに収納したままの状態で多数個の電子部品を連続的に
検査できれば、検査の迅速化を図ることができる。

しかしながら、スティックＷ内の電子部品は。

前後左右に大きな空隙を有した状態となっているため姿
勢がまちまちであり、スティック収納状態のままＸ線検
査装置に供給しても電子部品の位置が定まらない、ゆえ
に、従来は電子部品を一個づつＸ線検査装置に取り付け
て検査を行なっており、作業性が悪いという問題を有し
ていた。

本発明はこのような問題点にかんがみてなされたもので
、スティックに収納したままの状態で電子部品の検査を
行なえ、検査の迅速化を図ることのできるスティック収
納型電子部品の検査方法とその装置の提供を目的とする
。

［課題の解決手段］ 上記目的を達成するために、本発明のスティック収納型
電子部品の検査方法は、電子部品を多数個直列に収納し
たスティックを前傾もしくは後傾姿勢に配置するととも
に、当該スティックを軸心もしくは軸心と平行な回転軸
を中心として時計廻り方向または反時計廻り方向に任意
の角度回転させてステイラク内の電子部品を整列させ、
その後、当該スティックを挟んで一方の位置からＸ線を
照射し、他方の位置で透過Ｘ線を検出することによりス
ティック内の電子部品を検査する方法としである。

また１本発明のスティック収納型電子部品の検査装置は
、電子部品を多数個直列に収納したスティックを一本づ
つ供給する供給部と、供給されたスティックを前傾もし
くは後傾姿勢に配置するとともに、当該スティックを軸
心もしくは軸心と平行な回転軸を中心として時計廻り方
向または反時計廻り方向に任意の角度回転させる搬送位
置決め部と、搬送されてきたスティックを挟んで一方の
位置にＸ線発生源を、他方の位置にＸ線カメラを備えた
検査部と、上記検査部による検査を終了したスティック
を収納する収納部とで構成してあり、必要に応じて検査
の結果、不良品と判別された電子部品を収納する部位を
スティック表面にマーキングを行なうマーキング機を設
置した構成としである。

［実施例］ 以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。

まず２本発明装置に係る実施例を第１図〜第４図にもと
づいて説明する。

第１図はスティック収納型電子部品検査装置の全体構成
を示す縦断面図、第２図（ａ）は搬送位置決め部を拡大
して示す縦断面図、第２図（ｂ）は同じく平面図、第３
図は第１図Ａ−Ａ断面を拡大して示す構成図である。

第１図において１００は装置本体、２００は電子部品を
多数個直列に収納したスティックＷを供給する供給部、
３００は前段搬送位置決め部３００ａおよび後段搬送位
置決め部３００ｂからなる搬送位置決め部、４００は搬
送されてきたスティックＷ内の電子部品を軟Ｘ線を用い
て検査する検査部、５００は検査の終了したスティック
を収納する収納部である。

供給部２００は装置本体１００の供給口１０１に連接し
て設けてあり、スティックＷを一本づつ積み上げた状態
でストックする架台２０１を有し、供給ローラ２０２の
回転により下端のスティックＷから一本づつ軸方向に引
き出し、装置本体１００内に供給する。

装置本体１００の内部は、中央部に検査部４００か設け
てあり、供給口１０１から検査部４００まての間に前段
搬送位置決め部３００ａが、また検査部４０口から搬出
口１０２まての間に後段搬送位置決め部３００ｂが、そ
れぞれ設けである。装置本体１００は搬出口１０２側を
下向きにして傾斜しており、これに伴って前段搬送位置
決め部３００ａおよび後段搬送位置決め部３００ｂ上の
スティックＷの搬送経路も前部を下向きにして傾斜して
いる。また、装置本体１００の供給口１０１および搬出
口１０２には開閉シャッタ１０：ｌ、１０４か設けてあ
り、スティックＷが通過するときのみ開閉シャッタ１０
３　、　ＩＯ２か開放するようにして、Ｘ＆Ｉの漏洩を
防止しである。

前段搬送位置決め部３００ａは、第２図（ａ）。

（ｂ）に示すように長尺状のハウジング３０１に一定間
隔ごと搬送ローラ３０２を設け、タイミングベルト］０
：ｌａ、：＋０３ｂを介して駆動モータ３０３の動力を
これら搬送ローラ３０２に伝達し、スティックＷを図示
右方向に搬送するようになっている。搬送ローラ３０２
と対向する位置には上部ガイトローラ３０４が設けてあ
り、搬送ローラ３０２と上部ガイドローラ３０４とでス
ティックＷの上下面を挟んで案内する。また、３０５は
側面ガイドローラであり、水平に二個設けられた一対の
ローラてスティックＷの側面を案内する。

３０６は前段搬送位置決め部３００ａを回転するための
回転リング部材であり、ハウジング３０１の前後端部の
外周に配設するとともに、底部においてハウジング３０
１と連結しである。この回転リング部材３０６には、支
持バンド３０７か外嵌してあり、装置本体１００に固定
した支持プーリ３０８か三方向からこの支持バンド３０
７を支持することにより（第３図参照）１回転リング部
材３０６が回転自在に支持固定されている。これにより
ハウジング３０１も回転リング部材３０６を介して支持
固定されている。また、回転リング部材３０６には外歯
車３０９か形成しである。この外歯車３０９には歯車３
１０か噛み合っており、駆動ベルト３１１を介してモー
タ３１２からの動力か伝達される。これにより回転リン
グ部材３０６は軸心Ｏもしくは軸心Ｏと平行な回転軸を
中心として時計廻り方向または反時計廻り方向に、一定
の角度だけ回転するようになっている０回転角度は任意
に設定できるが、通常、供給時の角度な０度として、−
４５度〜＋９０度程度に設定すれば十分である。

３１３はストッパであり、エアシリンダ３１４の駆動に
より爪コ１５が支軸３１６を中心に回動してスティック
Ｗの搬送経路上に突出する。爪３１５には接触スイッチ
等のセンサが取り付けてあり、このセンサにスティック
Ｗの先端か接触したことを後述する制御・処理部７００
に知らせて、搬送ローラ３０２の回転を停止させる。

後段搬送位置決め部３００ｂは、搬送ローラおよび上面
、側面ガイドローラの設置位置が若干具なるだけで、全
体的な構成は前段搬送位置決め部３００ａと同じである
。

検査部４００には、スティックＷの搬送経路を挟んで上
方の位置にＸ線発生源４０１を備え、また下方の位置に
Ｘ線カメラ４０２を移動自在に設けである。Ｘ線発生源
４０１としては、例えば、焦点寸法０．３　Ｘ（１，３
ｍｍ　、　Ｘ線出力１［１０ｋＶ、／　３　ｍＡ（７）
軟Ｘ線出力管を使用すればよい、またＸ線カメラ４０２
は、駆動機構４０３により、第３図の矢印ａ方向および
ｂ方向に駆動されるようになっており、これにより搬送
されてきたスティックＷの底面に近接し、あるいは搬送
中のスティックＷとの接触を回避てきる。

駆動機構４０３は、第一ボールベアリング４０４を第一
駆動モータ４０５で回転させることによって第一ボール
スクリュー４０６を軸方向（ａ方向）に移動させ、これ
に伴なって第一ボールスクリュー４０６に連結したＸ線
カメラ４０２をａ方向に移動させる。また、第一駆動モ
ータ４０５および第一ボールベアリング４０４は移動台
４０７に取り付けてあり、第二駆動モータ４０８で第二
ボールスクリュー４０９を回転させることにより第二ボ
ールベアリング４１Ｏ（移動台４０７）をｂ方向に移動
させ、これに伴ってＸ線カメラ４０２をｂ方向に移動さ
せる。

ところで、検査部４００はＸ線の漏洩を防ぐため、防護
壁４１１で仕切られており、しかもＸ線発生源４０１の
前面にはシャッタ４１２が設けてあり、Ｘ線照射時のみ
このシャッタ４１２を開口するようになっている。

第３図において、６００はマーキング機てあり、エアシ
リンダ６０１により軸方向に駆動するシリンダロット６
０２の先端にマーキングベン６０３が取り付けである。

一方、マーキングベン６０３のキャップ６０４は、支軸
６０５を中心に回動自在な取付板６０６に固定されてい
る。取付板６０６は１図示しない駆動モータにより回動
する。マーキング機６００は、第３図の状態（マーキン
グベン６０３にキャップ６０４が嵌め込まれた状態）か
ら、まずエアシリンダ６旧によりマーキングベン６０３
を図示Ｃ方向に移動させてキャップ６０４からはずす０
次いで。

取付板６０６を図示時計方向に移動させることにより、
キャップ６０４をシリンダロッド６０２（マーキングベ
ン６０３）の移動線上から回避させる。そして、マーキ
ングベン６０３を図示ｄ方向に移動させて搬送経路上の
スティック表面にマーキングを行なうようになっている
。この一連の動作は、後述する制御・処理部７００から
の制御信号により行なわれる。制御・処理部７００は、
検査の結果、不良品と判別された電子部品を収納する部
位のスティック表面に、マーキングを行なうようにマー
キング機６００を制御する。

収納部５００は、後段搬送位置決め部３００ｂにより搬
出口１０２かう搬出されてきたスティックＷを収容する
架台５０１を備えている。

第４図は制御・処理部の正面図である。

制御・処理部７００は、装置各部の動作制御を行なう制
御装置（内蔵）および操作パネル７０１、検査部４００
からの検査信号を画像処理する画像処理装置（内蔵）、
ビデオモニタ７０２を備えている。

この制御・処理部７００は、装置本体１００と別体とな
っており、信号ケーブル７０３により装置各部と接続さ
れている。したがって、あらゆる作業環境に適し、操作
性も向上している。

次に、上述の検査装置を使用したスティック収納型電子
部品の検査方法に係る実施例を説明する。

第５図は、同検査方法のフローチャート、第６図（ａ）
、（ｂ）はそれぞれスティック内の電子部品の位置決め
状態を示す断面図である。

まず、供給部２００に非検査対象となる電子部品を収納
したスティックＷを積み重ねて配置し、制御・処理部７
００の操作パネル７０１上にある始動スイッチをＯＮに
する（ＳＴＡＲＴ）　、検査は、供給部２００に配置さ
れた全てのスティックＷについて連続的に行なわれる。

供給部２００の供給ローラ２０２か回転し、供給部２０
０内の下端に配置されたスティックＷが、供給口１０１
を通して装置本体１００内の前段搬送位置決め部３００
ａ上に供給される（ステップ１）。

前段搬送位置決め部３００ａでは、搬送ローラ３０２が
連続的に回転し、スティックＷを搬送する。このとき３
ストツパ３１３は搬送ライン上に突出しており、搬送さ
れてきたスティックＷの先端が爪３１５に設けたセンサ
に接触したときを検知して搬送ローラ３０２を停止させ
る。このようにしてスティックＷの全体を前段搬送位置
決め部３００ａ内に配置する（ステップ２）。

前段搬送位置決め部３００ａは、前部を下向きにして傾
斜しているので、第６図（ａ）の如くスティックＷ内の
各電子部品は重力により隙間なく接触し、前段方向の位
置決めが行なわれる。

次に１回転リング部材３０６を任意角度回転させ、前段
搬送位置決め部３００ａ上のスティックＷを前方または
後方からみて傾斜した姿勢にする（ステップ３）、その
結果、スティックＷ内の各電子部品は、第６図（ｂ）の
如く重力により一側方に寄り、左右方向の位置決めが行
なわれる。

このようにして前後、左右方向の位置決めを行なった後
、ストッパ３１３を解除し、搬送ローラ３０２を間欠的
に回転させてスティックＷをステップ送りする（ステッ
プ４）、このときの送り量は、電子部品−個分の長さに
設定する。ステップ送りにより、スティックＷ内の電子
部品は一個づつ検査部４００内のＸ線照射位置に配置さ
れる。なお、後段搬送位置決め部３００ｂも前段搬送位
置決め部３００ａに同期して回転リング部材が回転し、
かつ搬送ローラかステップ送り動作を行なっており、検
査部４００を通過したスティックＷを搬送する。

電子部品がｘｉ照射位置に配置された状態で。

Ｘ線カメラ４０２をスティックＷの底面に近接して配置
する。そして、Ｘ線発生源４０１からＸ線を照射し、電
子部品を通過したＸ線をＸ線カメラ４Ｑ２で受光する（
ステップ５）。Ｘ線発生源４０１から照射されるＸ線は
、軟Ｘ線であるため、小形電子部品等の場合には特に明
瞭なＸ線透視像を得ることができる。

Ｘ線カメラ４０２に入力したＸ線透視像は制御・処理部
７００の画像処理装置に送られ、画像処理を経てビデオ
モニタ７０２に表示される。検査員はこの表示された画
像により目視検査を行ない、電子部品か不良品であるか
否かを判別する（ステップ６）。

目視検査の結果、不良電子部品と判別した場合は、制御
・処理部７００の操作パネル７Ｑｌ上に設けたマーキン
グ機作動スイッチをＯＮにしてマーキング機６００を作
動する（ステップ７）、これにより、不良電子部品を収
納する部位のスティック表面にマーキングがなされ、検
査終了後、このマーキングを目印として不良電子部品を
排除する。

上記のステップ４〜６（該当する場合はステップ７まて
）の操作をスティックＷ内の全ての電子部品について行
なった後、後段搬送位置決め部３００ｂの搬送ローラを
連続的に回転し、スティックＷの全体を後段搬送位置決
め部３００ｂ内に配置する９次いで、後段搬送位置決め
部３００ｂの回転リング部材を送回転させ、スティック
Ｗの前方または後方からみた姿勢を水平にする。そして
、搬送ローラを連続的に回転し、搬出口１０２から収納
部５００へとスティックＷを搬出する（ステップ８）。

供給部２００に配置した全てのスティックＷについて以
上の操作を終了したら、制御・処理部７００の操作パネ
ル７０１上にある始動スイッチをＯＦＦにして、検査を
終了する（ＥＮＤ）。

なお１本発明は上述した実施例に限定されるものではな
く、要旨を変更しない範囲で種々の変形実施が可能であ
る。

例えば、スティックの前後方向の位置決めは。

スティックの後部が下向きとなる状態に傾斜させること
により行なってもよい。また、不良品の判別は目視検査
によらなくとも、コンピュータな用いて正常晶の画像と
Ｘ線透視画像とを比較することにより自動的に行なって
もよい。

〔発明の効果］ 以上説明したように本発明のスティック収納型電子部品
の検査方法およびその装置によれば、スティックに収納
したままの状態で電子部品の検査を行なえるため、検査
の迅速化２作業の容易化を図ることがてきる。

【図面の簡単な説明】

第１図〜第４図は本発明装置の実施例を説明するための
図であり、第１図は装置の全体構成を示す縦断面図、第
２図（ａ）は搬送位置決め部を拡大して示す縦断面図、
第２図（ｂ）は同じく平面図、第３図は第１図Ａ−Ａ断
面を拡大して示す構成図、第４図は制御・処理部の正面
図である。 第５図および第６図（ａ）、（ｂ）は本発明方法の実施
例を説明するための図て、第５図は同方法のフローチャ
ート、第６図（ａ）、（ｂ）はそれぞれスティック内の
電子部品の位置決め状態を示す断面図である。 第７図は電子部品収納用スティックの一部切欠断面図で
ある。 １００：装置本体　　　１０３，１０４：開閉シャッタ
２００：供給部　　　　３００：搬送位置決め部３００
ａ　：前段搬送位置決め部 ３００ｂ　：後段搬送位置決め部 ３０６：回転リング部材　コニ３：ストツパ４００：検
査部　　　　　４０１：Ｘ線発生源４０２：Ｘ線カメラ
　　　４０３：駆動機構５０〇　二収納部　　　　　６
００：マーキング機７００：制御・処理部

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）電子部品を多数個直列に収納したスティックを前
   傾もしくは後傾姿勢に配置するとともに、当該スティッ
   クを軸心もしくは軸心と平行な回転軸を中心として時計
   廻り方向または反時計廻り方向に任意の角度回転させて
   スティック内の電子部品を整列させ、その後、当該ステ
   ィックを挟んで一方の位置からＸ線を照射し、他方の位
   置で透過Ｘ線を検出することによりスティック内の電子
   部品を検査することを特徴としたスティック収納型電子
   部品の検査方法。
2. （２）電子部品を多数個直列に収納したスティックを一
   本づつ供給するための供給口と、供給されたスティック
   を前傾もしくは後傾姿勢に配置するとともに、当該ステ
   ィックを軸心もしくは軸心と平行な回転軸を中心として
   時計廻り方向または反時計廻り方向に任意の角度回転さ
   せる搬送位置決め部と、搬送されてきたスティックを挟
   んで一方の位置にＸ線発生源を、他方の位置にＸ線カメ
   ラを備えた検査部と、上記検査部での検査を終了したス
   ティックを搬出するための搬出口とを具備したことを特
   徴とするスティック収納型電子部品の検査装置。
3. （３）請求項２に記載のスティック収納型電子部品の検
   査装置において、検査の結果不良品と判別された電子部
   品を収納する部位のスティック表面にマーキングを行な
   うマーキング機を備えたことを特徴とするスティック収
   納型電子部品の検査装置。