JPH02243950A - 汚染測定計 - Google Patents
汚染測定計Info
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業−」二の利用分野］
本発明は、特に可溶塩による表面の汚染度を測定するこ
とに関する。
とに関する。
［発明の要約１
本発明の目的はこのような汚染を測定する簡便な測定計
及び測定方法を提供することにある。
及び測定方法を提供することにある。
すなわち、本発明は、同心状電極を備えた基板：該基板
に対して枢回でき、圧力バッドを備えた苫；該基板に誤
着を締付けて、誤着と該基板との間に位置しているとき
に、汚染試験媒体に所定の圧力を加える部材；及び該試
験媒体の電気抵抗を測定する手段からなることを特徴と
する可溶塩による被測定面の汚染を測定する汚染測定計
を提供するものである。
に対して枢回でき、圧力バッドを備えた苫；該基板に誤
着を締付けて、誤着と該基板との間に位置しているとき
に、汚染試験媒体に所定の圧力を加える部材；及び該試
験媒体の電気抵抗を測定する手段からなることを特徴と
する可溶塩による被測定面の汚染を測定する汚染測定計
を提供するものである。
好ましくは、蓋の閉鎖位置において圧力パッドを基板に
弾性的に押圧する。
弾性的に押圧する。
また、本発明は、標準吸収特性の試験媒体を？ｇ！潤す
る工程；該試験媒体を所定時間被測定面にａｆｆＪして
、該被測定面から可溶塩を吸収する工程：該被測定面か
ら該試験媒体を引剥がす工程；汚染試験媒体を測定計１
内に設定して、該試験媒体を電極に押圧接触する工程：
及び該試験媒体の７ｕ気抵抗を測定して、汚染度を求め
る工程からなることを特徴とする可溶塩による被測定面
の汚染度を測定する方法をも提供するものである。
る工程；該試験媒体を所定時間被測定面にａｆｆＪして
、該被測定面から可溶塩を吸収する工程：該被測定面か
ら該試験媒体を引剥がす工程；汚染試験媒体を測定計１
内に設定して、該試験媒体を電極に押圧接触する工程：
及び該試験媒体の７ｕ気抵抗を測定して、汚染度を求め
る工程からなることを特徴とする可溶塩による被測定面
の汚染度を測定する方法をも提供するものである。
以下、例示のみを目的として、本発明の実施態様を添付
図面について説明していく。
図面について説明していく。
第１図は、蓋付き汚染測定計を示す、一部を破断した平
面図であり、 第２図は、第１図の線１１ｉ、Ｉについての部分断面図
であり、そして 第３図は、第１図の線ＩＩＩ−ＩＩＩについての部分断
面図である。
面図であり、 第２図は、第１図の線１１ｉ、Ｉについての部分断面図
であり、そして 第３図は、第１図の線ＩＩＩ−ＩＩＩについての部分断
面図である。
第１図について説明すると、汚染測定計１は持運び用の
ハンドル７とディスプレイ−面９を構成する開口部５を
備えた矩形）１ウジング３からなる。
ハンドル７とディスプレイ−面９を構成する開口部５を
備えた矩形）１ウジング３からなる。
ハウジング３の基板１１には、中心に円形の電極１３を
設けると共に、これと同心の外側環状７ｕ極１５を設け
る。ｉＭ＋７ （図示は一部省略）を点１９．２１で枢
着することにより、基板１１に閉じることができ、従っ
て、電極１３及び１５に接触している基板に吸収試験紙
（図示省略）を押付けることができる。第２図に示すよ
うに、蓋１７は開口部２３を備え、ここに圧力板（パッ
ド）２５を設けるが、これには、蓋１７の内面及び圧力
板２５に接着した弾性発泡支持シート２７によって孟１
７から離間する付勢力が与えられている。ハウジング３
に接着した受座２９により基板１１を支持する。第２図
において１．１１７は閉じた状態にあるが、蓋の開放位
置は破線で示しである。
設けると共に、これと同心の外側環状７ｕ極１５を設け
る。ｉＭ＋７ （図示は一部省略）を点１９．２１で枢
着することにより、基板１１に閉じることができ、従っ
て、電極１３及び１５に接触している基板に吸収試験紙
（図示省略）を押付けることができる。第２図に示すよ
うに、蓋１７は開口部２３を備え、ここに圧力板（パッ
ド）２５を設けるが、これには、蓋１７の内面及び圧力
板２５に接着した弾性発泡支持シート２７によって孟１
７から離間する付勢力が与えられている。ハウジング３
に接着した受座２９により基板１１を支持する。第２図
において１．１１７は閉じた状態にあるが、蓋の開放位
置は破線で示しである。
枢青点１９．２１を中心とする蓋の枢回を容易にするた
めに、蓋１７の縁部にノブ３１及びリップ３３を設ける
。ハウジング３内に設けた磁性片３７が蓋のプレート３
７に作用して、蓋を閉鎖状態に保持するが、この場合、
圧力板２５は基板１１に押圧接触している。
めに、蓋１７の縁部にノブ３１及びリップ３３を設ける
。ハウジング３内に設けた磁性片３７が蓋のプレート３
７に作用して、蓋を閉鎖状態に保持するが、この場合、
圧力板２５は基板１１に押圧接触している。
第３図に示すように、ハンドル７はハウジング３の断面
正方形部分からなり、その隅部３９に丸みを付ける。デ
ィスプレイ面９は斜面４１に設けて、表示データの読取
りを容易にする。測定計１は携帯が簡単である。
正方形部分からなり、その隅部３９に丸みを付ける。デ
ィスプレイ面９は斜面４１に設けて、表示データの読取
りを容易にする。測定計１は携帯が簡単である。
電極■３．１５は、ハウジング３内に設けた電池動作式
の抵抗測定回路（図示なし）に接続する。
の抵抗測定回路（図示なし）に接続する。
この汚染測定計を使用する場合には、高純度脱イオン水
で飽和した試験紙４３を汚染度を測定すべき被測定面に
載せる。試験紙は、ピンセットを使用するか、非吸収性
でかつ非汚染性の耐水膜を介して圧力を加えるかによっ
て、被測定面の凹凸に合わせる。試験紙は所定時間、例
えば１分間被測定面に接触したままにしておき、この間
１こ、該面の可溶塩が存在するなら、これが試験紙に含
まれている水分に溶解する。次に、ビンセットを使用し
て試験紙４３を引剥がし、測定計の基板１１に載せる（
第２図参照）。蓋を閉め、磁性片３５．３７により締付
け、試験紙に所定の雰しい荷重を加えて、試験紙を電極
Ｉ３、Ｉ５に押圧接触する。この状態で、試験紙の抵抗
を電極間で測定する。？（ｉ極の形状及び測定した抵抗
値から、測定計が塩汚染レベルをμ９／ Ｃ１ｌ ’の
単位で算出し、ディスプレイ面９にデジタル表示する。
で飽和した試験紙４３を汚染度を測定すべき被測定面に
載せる。試験紙は、ピンセットを使用するか、非吸収性
でかつ非汚染性の耐水膜を介して圧力を加えるかによっ
て、被測定面の凹凸に合わせる。試験紙は所定時間、例
えば１分間被測定面に接触したままにしておき、この間
１こ、該面の可溶塩が存在するなら、これが試験紙に含
まれている水分に溶解する。次に、ビンセットを使用し
て試験紙４３を引剥がし、測定計の基板１１に載せる（
第２図参照）。蓋を閉め、磁性片３５．３７により締付
け、試験紙に所定の雰しい荷重を加えて、試験紙を電極
Ｉ３、Ｉ５に押圧接触する。この状態で、試験紙の抵抗
を電極間で測定する。？（ｉ極の形状及び測定した抵抗
値から、測定計が塩汚染レベルをμ９／ Ｃ１ｌ ’の
単位で算出し、ディスプレイ面９にデジタル表示する。
電極１３及び１５は高純度の銅から構成する。これら電
極を設ける基板１１は非吸収性でかつ非導電性の材料、
例えば樹脂含浸ガラス繊維で構成する。圧力板２５も非
吸収性でかつ非導電性の材料、例えばポリプロピレンで
構成する。弾性発泡シート２７はポリウレタンで、また
受座２９は合成ゴムで構成すればよい。
極を設ける基板１１は非吸収性でかつ非導電性の材料、
例えば樹脂含浸ガラス繊維で構成する。圧力板２５も非
吸収性でかつ非導電性の材料、例えばポリプロピレンで
構成する。弾性発泡シート２７はポリウレタンで、また
受座２９は合成ゴムで構成すればよい。
重要なことは、好ましくは少なくとも１０９／ Ｃ１ｌ
’の等しい荷重を試験紙４３に加えることである。も
う一つの重要な点は、使用前の試験紙の可溶塩レベルを
極めて低いレベルに、例えば標準吸収性の、直径が１１
ｃｍで厚さが０．０１５ｃ■の試験紙については、５μ
２未満のレベルにしておくことである。このような直径
がｌ１ｃｍの試験紙は１．７ｃｃの高純度脱イオン水で
飽和する。好ましくは、脱イオン水は２５℃でその電気
抵抗度が１７メグオーム／ ｃｍ以上でなければならず
、また非汚染分配シリンジから分配する必要がある。
’の等しい荷重を試験紙４３に加えることである。も
う一つの重要な点は、使用前の試験紙の可溶塩レベルを
極めて低いレベルに、例えば標準吸収性の、直径が１１
ｃｍで厚さが０．０１５ｃ■の試験紙については、５μ
２未満のレベルにしておくことである。このような直径
がｌ１ｃｍの試験紙は１．７ｃｃの高純度脱イオン水で
飽和する。好ましくは、脱イオン水は２５℃でその電気
抵抗度が１７メグオーム／ ｃｍ以上でなければならず
、また非汚染分配シリンジから分配する必要がある。
使用後は、基板１１から試験紙４３を引剥がし、高純度
脱イオン水に浸漬した非汚染ティッシュペーパーで基板
を拭取ることによって汚染痕跡すべてを除去する必要が
ある。
脱イオン水に浸漬した非汚染ティッシュペーパーで基板
を拭取ることによって汚染痕跡すべてを除去する必要が
ある。
本発明による汚染測定計及び測定方法は、例えば、原子
力、海洋工学、航空工学や石油、ガス、建設産業等に適
用できる。また、例えば、塗装前の表面検査、絶縁や施
工面の汚染成分の検査等にも適用可能である。
力、海洋工学、航空工学や石油、ガス、建設産業等に適
用できる。また、例えば、塗装前の表面検査、絶縁や施
工面の汚染成分の検査等にも適用可能である。
第１図は、蓋付き汚染測定計を示す、
部を破断した平面図であり、
茅２図は、第１図の線＋ １−１１についての部分断面
図であり、そして 第３図は、第１図の線ＩＩＩ−ＩＩＩについての部分断
面図である。 ■は測定計、３はハウジング、５は開口部、７はハンド
ル、９はディスプレイ面、１１は基板、１３．１５は電
極、１７は蓋、１９．２１は枢管点、２５は圧力板、２
９は受座、３５．３７は磁性片、４３は試験紙である。
図であり、そして 第３図は、第１図の線ＩＩＩ−ＩＩＩについての部分断
面図である。 ■は測定計、３はハウジング、５は開口部、７はハンド
ル、９はディスプレイ面、１１は基板、１３．１５は電
極、１７は蓋、１９．２１は枢管点、２５は圧力板、２
９は受座、３５．３７は磁性片、４３は試験紙である。
Claims (12)
- （１）同心状電極１３、１５を備えた基板 １１；該基板に対して枢回でき、圧力パッド２５を備え
た蓋１７；該基板に該蓋を締付けて、該蓋と該基板との
間に位置しているときに、汚染試験媒体４３に所定の圧
力を加える部材３５；及び該試験媒体の電気抵抗を測定
する手段からなることを特徴とする可溶塩による被測定
面の汚染を測定する汚染測定計。 - （２）該蓋１７が閉鎖位置にある時、該圧 力パッド２５が弾性により基板１１に対して押圧される
ことを特徴とする請求項第１項記載の測定計。 - （３）該圧力パッドを該基板に押圧するた めに、該蓋１７と該圧力パッド２５との間に弾性材料層
２７を設けたことを特徴とする請求項第２項記載の測定
計。 - （４）測定した電気抵抗に応答して、該試 験媒体に存在する塩汚染レベルを測定する手段と、該汚
染レベルを表示するディスプレイ手段９を備えたことを
特徴とする請求項第１〜３項のいずれか１項に記載の測
定計。 - （５）該部材３５が磁性片からなることを 特徴とする請求項第１〜４項のいずれか１項に記載の測
定計。 - （６）該電極１３、１５が高純度銅からな ることを特徴とする請求項第１〜５項のいずれか１項記
載の測定計。 - （７）該基板１１及び該圧力パッド２５が 実質的に非吸収性でかつ電気絶縁性の同一又は異なる材
料からなることを特徴とする請求項第１〜６項のいずれ
か１項記載の測定計。 - （８）携帯式ハウジング３に組込んだこと を特徴とする請求項第１〜７項のいずれか１項記載の測
定計。 - （９）標準吸収特性の試験媒体４３を湿潤 する工程；該試験媒体を所定時間被測定面に適用して、
該被測定面から可溶塩を吸収する工程；該被測定面から
該試験媒体を引剥がす工程；汚染試験媒体を測定計１内
に設定し て、該試験媒体を電極１３、１５に押圧接触する工程；
及び該試験媒体の電気抵抗を測定して、汚染度を求める
工程からなることを特徴とする可溶塩による被測定面の
汚染度を測定する方法。 - （１０）２５℃における電気抵抗度１７メ ガオーム／ｃｍ以上の高純度脱イオン水で該試験媒体４
３を湿潤することを特徴とする請求項第９項記載の方法
。 - （１１）少なくとも１０ｇ／ｃｍ＾２の実質的に均等な
荷重で該試験媒体４３を該電極１３、１５に押圧接触す
ることを特徴とする請求項第９項又は第１０項記載の方
法。 - （１２）該試験媒体４３が所定寸法の紙か らなることを特徴とする請求項第９〜１１項のいずれか
１項に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB888824652A GB8824652D0 (en) | 1988-10-21 | 1988-10-21 | Contamination meter |
| GB8824652.5 | 1988-10-21 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02243950A true JPH02243950A (ja) | 1990-09-28 |
Family
ID=10645557
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27361789A Pending JPH02243950A (ja) | 1988-10-21 | 1989-10-20 | 汚染測定計 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0365342B1 (ja) |
| JP (1) | JPH02243950A (ja) |
| DE (1) | DE68916163T2 (ja) |
| GB (1) | GB8824652D0 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022549106A (ja) * | 2019-09-20 | 2022-11-24 | レーニンベント エービー | 電気抵抗率の測定によって汚れの量を測定するための装置、方法、システム及びキット |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3039911B2 (ja) * | 1995-06-13 | 2000-05-08 | 高砂熱学工業株式会社 | 基板表面の有機物汚染の評価装置および方法 |
| GB2527766B (en) * | 2014-06-30 | 2020-07-29 | Elcometer Ltd | Contamination meter |
| EP3427007B1 (en) * | 2016-03-10 | 2021-11-10 | Defelsko Corporation | Method and system for testing surfaces for contaminants |
| CN106645300A (zh) * | 2016-11-26 | 2017-05-10 | 浙江大学 | 一种固体表面盐分含量测定传感器 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3849723A (en) * | 1970-08-06 | 1974-11-19 | G Allen | Conductivity measuring method and apparatus |
| US3753099A (en) * | 1972-04-28 | 1973-08-14 | Harco Electr Ltd | Device and method for the quantitative measurement of fluid on paper strips |
| US4123701A (en) * | 1976-07-01 | 1978-10-31 | United States Surgical Corporation | Disposable sample card having a well with electrodes for testing a liquid sample |
| KR900005223B1 (ko) * | 1986-12-11 | 1990-07-21 | 가부시끼가이샤 호리바 세이사꾸쇼 | 이온농도등의 측정방법과 그 측정에 사용하는 계측기의 교정용시이트 및 교정방법 |
| IT1213861B (it) * | 1987-12-11 | 1990-01-05 | Galileo Spa Off | Strumento per la misura degli 'ohm per quadro' di pellicole metallizzate |
-
1988
- 1988-10-21 GB GB888824652A patent/GB8824652D0/en active Pending
-
1989
- 1989-10-20 EP EP19890310805 patent/EP0365342B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-10-20 JP JP27361789A patent/JPH02243950A/ja active Pending
- 1989-10-20 DE DE1989616163 patent/DE68916163T2/de not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022549106A (ja) * | 2019-09-20 | 2022-11-24 | レーニンベント エービー | 電気抵抗率の測定によって汚れの量を測定するための装置、方法、システム及びキット |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0365342A2 (en) | 1990-04-25 |
| GB8824652D0 (en) | 1988-11-30 |
| DE68916163T2 (de) | 1994-09-22 |
| EP0365342A3 (en) | 1990-08-22 |
| DE68916163D1 (de) | 1994-07-21 |
| EP0365342B1 (en) | 1994-06-15 |
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