JPH02253123A - 放射光束測定装置 - Google Patents
放射光束測定装置Info
- Publication number
- JPH02253123A JPH02253123A JP7625589A JP7625589A JPH02253123A JP H02253123 A JPH02253123 A JP H02253123A JP 7625589 A JP7625589 A JP 7625589A JP 7625589 A JP7625589 A JP 7625589A JP H02253123 A JPH02253123 A JP H02253123A
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- Japan
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- light
- light source
- luminous flux
- measured
- integrating
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- Pending
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は光源から放射される光束を測定する放射光束測
定装置に関し、例えば複写機や原稿読取装置等の照明系
に使用されている、長尺ランプからの全放射光束を測定
する際に好適な放射光束測定装置に関するものである。
定装置に関し、例えば複写機や原稿読取装置等の照明系
に使用されている、長尺ランプからの全放射光束を測定
する際に好適な放射光束測定装置に関するものである。
（従来の技術）
従来より点光源から放射される全光束の測定装置は種々
と提案されている。
と提案されている。
第３図は球体の内壁に光拡散性材料を塗布した所謂積分
球を用いた放射光束測定装置の要部概略図である。同図
においては積分球３１の中央部に点光源９を配置し、点
光源９からの放射光束を積分球３１の内壁１３で拡散反
射させ、該拡散反射光束を拡散ガラス１１を介して受光
器１２で受光し、これにより標準光源との比を求めるこ
とにより点光源９の放射光束を求めている。尚１０は遮
光板で点光源９からの放射光束が直接受光器１２に入射
しないようにしている。第３図に示す装置においては積
分球内の照度Ｅ、は点光源９からの直接光による照度Ｅ
Ｐ０と相互反射による照度ＥＰｒとの和となる。
球を用いた放射光束測定装置の要部概略図である。同図
においては積分球３１の中央部に点光源９を配置し、点
光源９からの放射光束を積分球３１の内壁１３で拡散反
射させ、該拡散反射光束を拡散ガラス１１を介して受光
器１２で受光し、これにより標準光源との比を求めるこ
とにより点光源９の放射光束を求めている。尚１０は遮
光板で点光源９からの放射光束が直接受光器１２に入射
しないようにしている。第３図に示す装置においては積
分球内の照度Ｅ、は点光源９からの直接光による照度Ｅ
Ｐ０と相互反射による照度ＥＰｒとの和となる。
今、点光源９の放射全光束なＦ（文ｍ）、積分球３１の
内壁の表面積をＳ （ｍ２） 、内壁の反射率をｐとす
ると Ｅ ｐ −Ｅ ｐｏ＋ Ｅ 、ｒ となる。
内壁の表面積をＳ （ｍ２） 、内壁の反射率をｐとす
ると Ｅ ｐ −Ｅ ｐｏ＋ Ｅ 、ｒ となる。
照度Ｅｐｏは場所によって異なるか照度Ｅｐｒは内壁全
面にわたり均一てあり、かつその値は点光源の全光束Ｆ
に比例するという原理に基づいて、これより点光源の全
放射光束を求めている。
面にわたり均一てあり、かつその値は点光源の全光束Ｆ
に比例するという原理に基づいて、これより点光源の全
放射光束を求めている。
具体的には積分球３１内に既知光束Ｆ５Ｃ１＋ｒ＋）の
標準電球と未知光束Ｆ、（文ｍ）の被測定光源を交互に
行いたときに得られる受光器からの出力値１．．１．よ
り式 ％式％（１） を用いて求めている。
標準電球と未知光束Ｆ、（文ｍ）の被測定光源を交互に
行いたときに得られる受光器からの出力値１．．１．よ
り式 ％式％（１） を用いて求めている。
第３図に示す積分球を用いた測定装置は点光源のように
発光面の比較的小さなランプには適しているかＪＴＳｊ
３Ｌ＃８ては積分球の直径はランプ長の１２倍以−にと
定められており、例えば黒板型複写機の照明に用いられ
る長さ１ｍ、幅］、ｃｍ程度の長尺ランプの全放射光束
を測定するには積分球の直径を数ｍ程度に太きくしなけ
れば精度良く測定することができないという問題点があ
った。
発光面の比較的小さなランプには適しているかＪＴＳｊ
３Ｌ＃８ては積分球の直径はランプ長の１２倍以−にと
定められており、例えば黒板型複写機の照明に用いられ
る長さ１ｍ、幅］、ｃｍ程度の長尺ランプの全放射光束
を測定するには積分球の直径を数ｍ程度に太きくしなけ
れば精度良く測定することができないという問題点があ
った。
この為従来より長尺ランプの全放射光束の測定を第４図
に示すような両端部を半球体とした円筒形の所謂ツェッ
ペリン型の積分筒を用いて、第３図に示す測定方法と同
様の原理を用いて行っていた。
に示すような両端部を半球体とした円筒形の所謂ツェッ
ペリン型の積分筒を用いて、第３図に示す測定方法と同
様の原理を用いて行っていた。
（発明が解決しようとする問題点）
第４図に示すツェッペリン型の積分筒を用いる測定方法
は長尺ランプ３の配光分布が均一の場合は比較的精度良
く測定することができる。
は長尺ランプ３の配光分布が均一の場合は比較的精度良
く測定することができる。
しかしながら例えば第５図に示すように長尺ランプの各
部分で配光特性が異っていると、円筒内壁４１の照度分
布は均一どならず、受光器１２の取り付は位置の違いに
よってｌＩ］ｌ＋定精度がハラツク笠の問題、Ｉｌｊ、
があった。又、このときのバラツキをなくず為には積分
筒４２を大型化しなければならない等の問題点があった
。
部分で配光特性が異っていると、円筒内壁４１の照度分
布は均一どならず、受光器１２の取り付は位置の違いに
よってｌＩ］ｌ＋定精度がハラツク笠の問題、Ｉｌｊ、
があった。又、このときのバラツキをなくず為には積分
筒４２を大型化しなければならない等の問題点があった
。
本発明は長尺ランプの放射配光特性が発光部分により異
っていても比較的小型の積分筒により長尺ランプの全放
射光束を高精度に測定することのできる放射光束」り定
装置の（に供をｌ」的とする。
っていても比較的小型の積分筒により長尺ランプの全放
射光束を高精度に測定することのできる放射光束」り定
装置の（に供をｌ」的とする。
（問題点を解決するための手段）
本発明の放射光束測定装置は円筒の内壁に光反射拡散性
材料を塗布した積分筒と該積分筒の内部に被測定用光源
を支持する為の支持部材の一部と該積分筒の両端部に各
々視感度と略同等の分光感度を持つように調整した受光
手段を設け、該支持部材に支持した光源を発光させたと
き放射される光束を該２つの受光手段で受光し、該２つ
の受光り段からの出力信号を用いて求めたことを特徴と
している。
材料を塗布した積分筒と該積分筒の内部に被測定用光源
を支持する為の支持部材の一部と該積分筒の両端部に各
々視感度と略同等の分光感度を持つように調整した受光
手段を設け、該支持部材に支持した光源を発光させたと
き放射される光束を該２つの受光手段で受光し、該２つ
の受光り段からの出力信号を用いて求めたことを特徴と
している。
（実施例）
第１図（Ａ）は本発明の第１実施例の要部概略図、第１
図（丁３）、ＦＣ）は各々第１図の断面側面図、第２図
（△）、（Ｂ）は第１図の積分筒７の外観図と該積分筒
の軸線に東行方向に用いたときの内部を示す要部概略図
である。
図（丁３）、ＦＣ）は各々第１図の断面側面図、第２図
（△）、（Ｂ）は第１図の積分筒７の外観図と該積分筒
の軸線に東行方向に用いたときの内部を示す要部概略図
である。
同図において７は積分筒であり、円筒形状をしており、
その内壁には硫酸バリウム（ＢａＳＯ４）等の完全拡散
反射をするような光反射拡散材料が均一に塗布されてい
る。
その内壁には硫酸バリウム（ＢａＳＯ４）等の完全拡散
反射をするような光反射拡散材料が均一に塗布されてい
る。
積分筒７の両端部（第１図、Ｂ、Ｃ）は平面状になって
おり、この部分にも光反射拡散材料が塗布されている。
おり、この部分にも光反射拡散材料が塗布されている。
３は被測定光源で例えば複写機等の照明系に用いられる
長さ３０ｃｍ、幅１ｃｍ程度の長尺ランプ等であり、積
分筒７の略中夫の軸線上に位ｉ６するように設定されて
いる。尚、測定のときは被測定光源３の代わりに標準光
源を同様に配置している。Ａは光源；３の発光領域を示
している。
長さ３０ｃｍ、幅１ｃｍ程度の長尺ランプ等であり、積
分筒７の略中夫の軸線上に位ｉ６するように設定されて
いる。尚、測定のときは被測定光源３の代わりに標準光
源を同様に配置している。Ａは光源；３の発光領域を示
している。
光源３の左右の電源接点そのものの位置は＋ＩＪ変とな
っており、発光面△の大きさに合わせ微調節を行うこと
ができるようになっている。１は電源であり光源：３に
電圧を供給し光源３を発光させている。
っており、発光面△の大きさに合わせ微調節を行うこと
ができるようになっている。１は電源であり光源：３に
電圧を供給し光源３を発光させている。
４ａ、４ｂは各々受光手段であり、積分筒７の両端部７
ａ、７ｂ面上の積分筒７の軸線延長線」−（光源３の軸
線上に相当）に配置されている。そして視感度と略同等
の分光感度を持つように例えば光学フィルター等が受光
面前方に配置されている。
ａ、７ｂ面上の積分筒７の軸線延長線」−（光源３の軸
線上に相当）に配置されている。そして視感度と略同等
の分光感度を持つように例えば光学フィルター等が受光
面前方に配置されている。
２ａ、２ｂは各々遮光板であり光源３からの放射光束が
直接受光手段４ａ、４ｂに入射しないように光源３の大
きさに対応してその大きさ及び位置が設定さ、れており
、可変できるようになっている。
直接受光手段４ａ、４ｂに入射しないように光源３の大
きさに対応してその大きさ及び位置が設定さ、れており
、可変できるようになっている。
６は支持部材であり、その一部は積分筒７の内部に突出
しており、光源３を支持している。又、支持部材５．６
の一部は光源３の長さの違による位置を決める為にスケ
ールが設けられており、支え軸５」−を積分筒７の軸線
と平行方向に移動可能となっている。
しており、光源３を支持している。又、支持部材５．６
の一部は光源３の長さの違による位置を決める為にスケ
ールが設けられており、支え軸５」−を積分筒７の軸線
と平行方向に移動可能となっている。
これにより種々の寸法の光源の測定をｉｉＪ能とすると
共に光源３の発光面が受光手段４ａ、４ｂから等距離に
位置するようにしている。
共に光源３の発光面が受光手段４ａ、４ｂから等距離に
位置するようにしている。
本実施例では支持部材６によって標準光源又は被測定光
源を支持する。同図では被測定光源３を支持している場
合を示している。電源ｌから電圧を印加し発光させる。
源を支持する。同図では被測定光源３を支持している場
合を示している。電源ｌから電圧を印加し発光させる。
光源３からの放射光束は積分筒７の内壁面で相互に完全
拡散反射する。このとき光源３からの放射光束のうち受
光手段４ａ、４ｂ方向に直接向う光束を遮光板２ａ、２
ｂによって遮っている。そして積分筒７の両端面（第一
図Ｂ、Ｃ）に設けた受光手段４ａ、４ｂには積分筒７の
内壁面で相互反射した拡散光束のみが入射するようにし
ている。
拡散反射する。このとき光源３からの放射光束のうち受
光手段４ａ、４ｂ方向に直接向う光束を遮光板２ａ、２
ｂによって遮っている。そして積分筒７の両端面（第一
図Ｂ、Ｃ）に設けた受光手段４ａ、４ｂには積分筒７の
内壁面で相互反射した拡散光束のみが入射するようにし
ている。
そして標準光源と被測定光源を順に支持部材６に配置し
たときの２つの受光手段４ａ、４ｂから得られる出力信
号の比を求め、即ち受光手段４ａ、４ｂ面上の照度の比
を求め、これより被測定光源の全放射光束を求めている
。
たときの２つの受光手段４ａ、４ｂから得られる出力信
号の比を求め、即ち受光手段４ａ、４ｂ面上の照度の比
を求め、これより被測定光源の全放射光束を求めている
。
本実施例では２つの受光手段４ａ、４ｂにより相互反射
に基づく光束を受光し、２つの受光手段４ａ、４ｂから
の出力信号を利用することにより積分筒７の内壁面の不
均一や光源の部分的な配光特性の違いによる測定誤差を
補正している。又積分筒７の両端面を平面とし装置全体
の簡素化を図っている。
に基づく光束を受光し、２つの受光手段４ａ、４ｂから
の出力信号を利用することにより積分筒７の内壁面の不
均一や光源の部分的な配光特性の違いによる測定誤差を
補正している。又積分筒７の両端面を平面とし装置全体
の簡素化を図っている。
本実施例においては光源形状が長軸型であるために第５
図のごとくランプの配光分布が左右で異なっている場合
、放射光束を受光するセンサーが測定機の左右にあるこ
とにより、センサーの出力信号を演算し、全光束との対
応を行ったグラフが第６図である。配光分布の差がある
ものの出力信号を演算することによって、第６図におい
ては全光束と演算値がある一定の関係となっていること
がわかる受光するセンサーを複数用い、さらに出力値を
演算することによってより高精度に全光束の測定ができ
ることがわかる。
図のごとくランプの配光分布が左右で異なっている場合
、放射光束を受光するセンサーが測定機の左右にあるこ
とにより、センサーの出力信号を演算し、全光束との対
応を行ったグラフが第６図である。配光分布の差がある
ものの出力信号を演算することによって、第６図におい
ては全光束と演算値がある一定の関係となっていること
がわかる受光するセンサーを複数用い、さらに出力値を
演算することによってより高精度に全光束の測定ができ
ることがわかる。
第７図は本発明の第２実施例の要部概略図である。
同図においては積分部材１７を直方体又は立方体より形
成している。内壁面は第１実施例と同様の材料が塗布さ
れている。そして積分部材１７の周囲に複数の受光手段
１６を設け、これにより光源１５の配光分布の不均一さ
による測定誤差を少なくしている。尚、同図において１
８は光源の支え板、１９は遮光板である。
成している。内壁面は第１実施例と同様の材料が塗布さ
れている。そして積分部材１７の周囲に複数の受光手段
１６を設け、これにより光源１５の配光分布の不均一さ
による測定誤差を少なくしている。尚、同図において１
８は光源の支え板、１９は遮光板である。
第８図は本発明の第３実施例の要部概略図である。本実
施例では受光手段として第１、第２実施例で用いた比視
感度に調整した受光手段の代わりに光電子増倍管２１
（フォトマル）を用い、これによって例えばＬＥＤ２０
等のような比較的放射光束量の少ない光源についての測
定を行っている。
施例では受光手段として第１、第２実施例で用いた比視
感度に調整した受光手段の代わりに光電子増倍管２１
（フォトマル）を用い、これによって例えばＬＥＤ２０
等のような比較的放射光束量の少ない光源についての測
定を行っている。
尚、２２はＡＤ変換、フォトマル表示系である。
（発明の効果）
本発明によれば積分筒及びそれに設ける受光手段等を前
述の如く設定することにより長尺ランプ等の細長い発光
面を有する光源からの全放射光束を容易にしかも高精度
に求めることのできる放射光束測定装置を達成すること
ができる。
述の如く設定することにより長尺ランプ等の細長い発光
面を有する光源からの全放射光束を容易にしかも高精度
に求めることのできる放射光束測定装置を達成すること
ができる。
第１図は本発明の第１実施例の要部概略図、第２図は第
１図の積分筒の説明図、第３図は従来の積分球の説明図
、第４図は従来のツェッペリン型積分筒の概略図、第５
図は長軸方向を横軸とした光源の配光分布の説明図、第
６図は受光手段からの出力値と全光束との関係を示す説
明図、第７、第８図は本発明の第２、第３実施例の要部
概略図である。 図中１は電源、２ａ、２ｂ、１９は遮光板、３．１５．
２０は光源、４ａ、４ｂ、１６．２１は受光手段、５は
支え軸、６．１８は支持部材、７は積分筒、８は本体支
え、である。
１図の積分筒の説明図、第３図は従来の積分球の説明図
、第４図は従来のツェッペリン型積分筒の概略図、第５
図は長軸方向を横軸とした光源の配光分布の説明図、第
６図は受光手段からの出力値と全光束との関係を示す説
明図、第７、第８図は本発明の第２、第３実施例の要部
概略図である。 図中１は電源、２ａ、２ｂ、１９は遮光板、３．１５．
２０は光源、４ａ、４ｂ、１６．２１は受光手段、５は
支え軸、６．１８は支持部材、７は積分筒、８は本体支
え、である。
Claims (2)
- （１）円筒の内壁に光反射拡散性材料を塗布した積分筒
と該積分筒の内部に被測定用光源を支持する為の支持部
材の一部と該積分筒の両端部に各々視感度と略同等の分
光感度を持つように調整した受光手段とを設け、該支持
部材に支持した光源を発光させたとき放射される光束を
該２つの受光手段で受光し、該２つの受光手段からの出
力信号を用いて求めたことを特徴とする放射光束測定装
置。 - （２）前記支持部材は前記積分筒の外部に設けた支え軸
上を該積分筒の長手方向に移動可能となるように取着さ
れていることを特徴とする請求項１記載の放射光束測定
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7625589A JPH02253123A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | 放射光束測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7625589A JPH02253123A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | 放射光束測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02253123A true JPH02253123A (ja) | 1990-10-11 |
Family
ID=13600093
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7625589A Pending JPH02253123A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | 放射光束測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02253123A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5430540A (en) * | 1992-11-27 | 1995-07-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Luminous flux measuring apparatus using an integrating hemisphere or an integrating quarter sphere |
| JP2010271235A (ja) * | 2009-05-22 | 2010-12-02 | Otsuka Denshi Co Ltd | 全光束測定装置および全光束測定方法 |
| JP2024173011A (ja) * | 2023-06-01 | 2024-12-12 | 浜井電球工業株式会社 | 積分球、積分球検査装置、及び、それを利用したランプ検査システム |
-
1989
- 1989-03-28 JP JP7625589A patent/JPH02253123A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5430540A (en) * | 1992-11-27 | 1995-07-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Luminous flux measuring apparatus using an integrating hemisphere or an integrating quarter sphere |
| JP2010271235A (ja) * | 2009-05-22 | 2010-12-02 | Otsuka Denshi Co Ltd | 全光束測定装置および全光束測定方法 |
| JP2024173011A (ja) * | 2023-06-01 | 2024-12-12 | 浜井電球工業株式会社 | 積分球、積分球検査装置、及び、それを利用したランプ検査システム |
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