JPH02253184A - カメラ回転型spect装置 - Google Patents
カメラ回転型spect装置Info
- Publication number
- JPH02253184A JPH02253184A JP7596689A JP7596689A JPH02253184A JP H02253184 A JPH02253184 A JP H02253184A JP 7596689 A JP7596689 A JP 7596689A JP 7596689 A JP7596689 A JP 7596689A JP H02253184 A JPH02253184 A JP H02253184A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pinhole
- data
- detector
- collimator
- sensitivity
- Prior art date
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- Pending
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- Nuclear Medicine (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
この発明は、核医学診断装置に関し、特にカメラ回転型
のS P E CT (Single Photon
EmissionComputer Tomograp
hy)装置に関する。
のS P E CT (Single Photon
EmissionComputer Tomograp
hy)装置に関する。
SPECT装置は、シングルフォトン放出性核種のR1
(ラジオアイソトープ)を被検体く人体等〉に投与し、
そのRIの被検体内の分布を断層像として撮影するもの
であり、カメラ回転型のSPECT装置はガンマカメラ
などと呼ばれている2次元放射線入射位置検出器を被検
体の周囲に回転させて各方向の投影データを得るタイプ
のものである。 従来のカメラ回転型SPECT装置では、一般にガンマ
カメラの前面に平行コリメータを装着している。
(ラジオアイソトープ)を被検体く人体等〉に投与し、
そのRIの被検体内の分布を断層像として撮影するもの
であり、カメラ回転型のSPECT装置はガンマカメラ
などと呼ばれている2次元放射線入射位置検出器を被検
体の周囲に回転させて各方向の投影データを得るタイプ
のものである。 従来のカメラ回転型SPECT装置では、一般にガンマ
カメラの前面に平行コリメータを装着している。
しかしながら、平行コリメータを使用する場合、空間分
解能が良好でないという問題がある。 この発明は、従来の平行コリメータに代えてピンホール
コリメータを用いることにより空間分解能を向上させた
、カメラ回転型SPECT装置を提供することを目的と
する。
解能が良好でないという問題がある。 この発明は、従来の平行コリメータに代えてピンホール
コリメータを用いることにより空間分解能を向上させた
、カメラ回転型SPECT装置を提供することを目的と
する。
一
上記目的を達成するため、この発明によるカメラ回転型
SPECT装置においては、放射線の入射位置を検出す
る検出手段と、該検出器に装着されたピンポール型コリ
メート手段と、このコリメー)・手段が装着された検出
手段を回転させる回転手段と、上記検出手段から出力さ
れるデータを収集する手段と、該データを同じ方向のも
のを集めるよう並べ換える手段と、上記検出手段の各入
射位置からピンホールを見込む角度に応じて各位置のデ
ータを補正する補正手段と、上記の並べ換えられ補正さ
れたデータを画像再構成処理する手段とが具備されてい
ることが特徴となっている。
SPECT装置においては、放射線の入射位置を検出す
る検出手段と、該検出器に装着されたピンポール型コリ
メート手段と、このコリメー)・手段が装着された検出
手段を回転させる回転手段と、上記検出手段から出力さ
れるデータを収集する手段と、該データを同じ方向のも
のを集めるよう並べ換える手段と、上記検出手段の各入
射位置からピンホールを見込む角度に応じて各位置のデ
ータを補正する補正手段と、上記の並べ換えられ補正さ
れたデータを画像再構成処理する手段とが具備されてい
ることが特徴となっている。
ピンホール型コリメート手段を検出手段の前面に装着す
ると、ピンホールを通った放射線が検出手段に入射する
ことになるため、ある回転角度での検出手段からは平行
な放射線による投影データが得られるわけではない。そ
こで、異なる回転角度に位置している検出手段から得た
データより、平行な放射線によるものを選んで並べ換え
ることにより、投影データに変換する。 また、ピンホール型コリメート手段を検出手段の前面に
装着する場合、ピンホールを見込む角度か検出手段の検
出面での位置によって異なるので、各位置で感度が異な
ることになる。そこで、この感度の相違を、検出手段の
各入射位置からピンホールを見込む角度に応じて各位置
のデータを補正することにより解消する。 こうして並べ換えられ、且つ感度の補正されたデータを
用いて画像再構成処理を行なうことにより、RIの分布
を表わす断層像を得ることができる。 この場合、ピンホール型コリメート手段の拡大機能によ
りRIの分布に関する拡大されたデータが得られ、これ
から断層像が再構成されるため、断層像の空間分解能を
向上させることができる。
ると、ピンホールを通った放射線が検出手段に入射する
ことになるため、ある回転角度での検出手段からは平行
な放射線による投影データが得られるわけではない。そ
こで、異なる回転角度に位置している検出手段から得た
データより、平行な放射線によるものを選んで並べ換え
ることにより、投影データに変換する。 また、ピンホール型コリメート手段を検出手段の前面に
装着する場合、ピンホールを見込む角度か検出手段の検
出面での位置によって異なるので、各位置で感度が異な
ることになる。そこで、この感度の相違を、検出手段の
各入射位置からピンホールを見込む角度に応じて各位置
のデータを補正することにより解消する。 こうして並べ換えられ、且つ感度の補正されたデータを
用いて画像再構成処理を行なうことにより、RIの分布
を表わす断層像を得ることができる。 この場合、ピンホール型コリメート手段の拡大機能によ
りRIの分布に関する拡大されたデータが得られ、これ
から断層像が再構成されるため、断層像の空間分解能を
向上させることができる。
つぎにこの発明の一実施例について図面を参照しながら
説明する。第1図に示すように、ECT用のベツド2に
被検体1が横たわっており、ピンホールコリメータ6が
装着された検出器5がアーム4によって保持されてこの
被検体1の周囲に回転されるようになっている。検出器
5は放射線の入射位置を2次元的に検出するいわゆるガ
ンマカメラである。アーム4はガントリ3から伸びてお
り、このガンI−リ3の中には回転機構が備えられてい
る。ピンホールコリメータ6はこの実施例では全体の形
状が円錐状となっており、その頂点に1つのピンホール
61を有する。 このようにピンホールコリメータ6を検出器5に装着し
、且つこの検出器5が被検体1の周囲を回転して、所定
の回転角度毎に静止してデータ収集を行なうため、各回
転角度毎に第3図に示すようにピンホール61に収束す
る放射状の方向に入射する放射線に関するデータが得ら
れることになる。 検出器5から得られる位置信号は第2図に示すようにガ
ン1〜す3かち得られる回転角度信号とともに磁気ディ
スク装置などの記録装置7に記録される。こうして検出
器5が1回転してデータが収集されたとき、コンピュー
タ8がこのデータを記録装置7から読み出し、補間装置
9へ送って角度及びリニア方向でのデータの補間を行な
う。つきに並へ換え装置10か、第3図のように検出器
5を種々の角度に置いて収集したデータのうちから平行
なデータ(たとえば第3図ではPとQ)を選んで、これ
をリニア方向に並べる。こうしてあたかも平行コリメー
タを用いて様々な角度から収集したような投影データを
作る。 さらに補正装置11により、ピンホールコリメータ6を
用いたことによる感度の不均一性が補正される。すなわ
ち、ピンホールコリメータ6を用いると、第4図に示す
ように検出器5の各位置でピンホール61を見込む角度
θが異なるため、各位置で感度が不均一になる。そのた
め、この角度θの相違に応じて感度を補正する。 こうして、補間され、並べ換えられ、且つ感度補正され
たデータは画像再構成袋W12に送られ、フィルタ投影
逆投影法などの画像再構成アルゴリズムにより断層像が
再構成される。この再構成像は表示用の画像メモリ13
を介して表示装置14に送られ、この表示装置14によ
って断層像が表示される。 なお、上記では補間、並べ換え、感度補正等をハードウ
ェア的に処理する構成としているが、ソフトウェア的に
処理することももちろん可能である。また、それらの処
理順序も上記の順序によらなくてもよい。 さらに上記のような1つのピンホール61を有するピン
ホールコリメータ6を用いる場合、ピンホール61の移
動軌跡が作る1つの平面上の断層像しか得られないが、
第5図に示すような多孔ピンホールコリメータ62を用
いて多スライスの断層像を得るようにしてもよい。この
多孔ピンホールコリメータ62では、多数のピンホール
61が回転中心軸20と平行な1つの直線上に配列され
、且つ各ピンホール61を通った放射線が互いに分離さ
れるように、内部に配列された仕切板によってピンホー
ル61の配列方向に仕切られている。 このような多孔ピンホールコリメータ62を用いれば、
ピンホール61の数だけのスライス数の断層像が同時に
得られる。
説明する。第1図に示すように、ECT用のベツド2に
被検体1が横たわっており、ピンホールコリメータ6が
装着された検出器5がアーム4によって保持されてこの
被検体1の周囲に回転されるようになっている。検出器
5は放射線の入射位置を2次元的に検出するいわゆるガ
ンマカメラである。アーム4はガントリ3から伸びてお
り、このガンI−リ3の中には回転機構が備えられてい
る。ピンホールコリメータ6はこの実施例では全体の形
状が円錐状となっており、その頂点に1つのピンホール
61を有する。 このようにピンホールコリメータ6を検出器5に装着し
、且つこの検出器5が被検体1の周囲を回転して、所定
の回転角度毎に静止してデータ収集を行なうため、各回
転角度毎に第3図に示すようにピンホール61に収束す
る放射状の方向に入射する放射線に関するデータが得ら
れることになる。 検出器5から得られる位置信号は第2図に示すようにガ
ン1〜す3かち得られる回転角度信号とともに磁気ディ
スク装置などの記録装置7に記録される。こうして検出
器5が1回転してデータが収集されたとき、コンピュー
タ8がこのデータを記録装置7から読み出し、補間装置
9へ送って角度及びリニア方向でのデータの補間を行な
う。つきに並へ換え装置10か、第3図のように検出器
5を種々の角度に置いて収集したデータのうちから平行
なデータ(たとえば第3図ではPとQ)を選んで、これ
をリニア方向に並べる。こうしてあたかも平行コリメー
タを用いて様々な角度から収集したような投影データを
作る。 さらに補正装置11により、ピンホールコリメータ6を
用いたことによる感度の不均一性が補正される。すなわ
ち、ピンホールコリメータ6を用いると、第4図に示す
ように検出器5の各位置でピンホール61を見込む角度
θが異なるため、各位置で感度が不均一になる。そのた
め、この角度θの相違に応じて感度を補正する。 こうして、補間され、並べ換えられ、且つ感度補正され
たデータは画像再構成袋W12に送られ、フィルタ投影
逆投影法などの画像再構成アルゴリズムにより断層像が
再構成される。この再構成像は表示用の画像メモリ13
を介して表示装置14に送られ、この表示装置14によ
って断層像が表示される。 なお、上記では補間、並べ換え、感度補正等をハードウ
ェア的に処理する構成としているが、ソフトウェア的に
処理することももちろん可能である。また、それらの処
理順序も上記の順序によらなくてもよい。 さらに上記のような1つのピンホール61を有するピン
ホールコリメータ6を用いる場合、ピンホール61の移
動軌跡が作る1つの平面上の断層像しか得られないが、
第5図に示すような多孔ピンホールコリメータ62を用
いて多スライスの断層像を得るようにしてもよい。この
多孔ピンホールコリメータ62では、多数のピンホール
61が回転中心軸20と平行な1つの直線上に配列され
、且つ各ピンホール61を通った放射線が互いに分離さ
れるように、内部に配列された仕切板によってピンホー
ル61の配列方向に仕切られている。 このような多孔ピンホールコリメータ62を用いれば、
ピンホール61の数だけのスライス数の断層像が同時に
得られる。
この発明のカメラ回転型SPECT装置によれば、空間
分解能の優れた断層像を得ることができるため、とくに
小型の臓器などの拡大像を得る場合に有効である。
分解能の優れた断層像を得ることができるため、とくに
小型の臓器などの拡大像を得る場合に有効である。
第1図はこの発明の一実施例の模式図、第2図は同実施
例のブロック図、第3図はデータの並べ換えを説明する
ための図、第4図は感度補正を説明するための図、第5
図は他の実施例の斜視図である。 1・・・被検体、2・・・ベツド、3・・・ガントリ、
4・・・アーム、5・・・検出器、6・・・ピンホール
コリメータ、7・・・記録装置、8・・・コンピュータ
、9・・・補間装置、10・・・並べ換え装置、11・
・・補正装置、12・・・画像再構成装置、13・・・
画像メモリ、14・・・表示装置、20・・・回転中心
軸、61・・・ピンホール、62・・・多孔ピンホール
コリメータ。 ソ
例のブロック図、第3図はデータの並べ換えを説明する
ための図、第4図は感度補正を説明するための図、第5
図は他の実施例の斜視図である。 1・・・被検体、2・・・ベツド、3・・・ガントリ、
4・・・アーム、5・・・検出器、6・・・ピンホール
コリメータ、7・・・記録装置、8・・・コンピュータ
、9・・・補間装置、10・・・並べ換え装置、11・
・・補正装置、12・・・画像再構成装置、13・・・
画像メモリ、14・・・表示装置、20・・・回転中心
軸、61・・・ピンホール、62・・・多孔ピンホール
コリメータ。 ソ
Claims (1)
- (1)放射線の入射位置を検出する検出手段と、該検出
器に装着されたピンホール型コリメート手段と、このコ
リメート手段が装着された検出手段を回転させる回転手
段と、上記検出手段から出力されるデータを収集する手
段と、該データを同じ方向のものを集めるよう並べ換え
る手段と、上記検出手段の各入射位置からピンホールを
見込む角度に応じて各位置のデータを補正する補正手段
と、上記の並べ換えられ補正されたデータを画像再構成
処理する手段とを有することを特徴とするカメラ回転型
SPECT装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7596689A JPH02253184A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | カメラ回転型spect装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7596689A JPH02253184A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | カメラ回転型spect装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02253184A true JPH02253184A (ja) | 1990-10-11 |
Family
ID=13591475
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7596689A Pending JPH02253184A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | カメラ回転型spect装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02253184A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4847386A (ja) * | 1971-10-15 | 1973-07-05 |
-
1989
- 1989-03-28 JP JP7596689A patent/JPH02253184A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4847386A (ja) * | 1971-10-15 | 1973-07-05 |
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