JPH02253265A - レジスト剥離剤 - Google Patents
レジスト剥離剤Info
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- JPH02253265A JPH02253265A JP7602689A JP7602689A JPH02253265A JP H02253265 A JPH02253265 A JP H02253265A JP 7602689 A JP7602689 A JP 7602689A JP 7602689 A JP7602689 A JP 7602689A JP H02253265 A JPH02253265 A JP H02253265A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resist
- acetate
- wafer
- alkoxypropanol
- ethoxyethanol
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/26—Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
- G03F7/42—Stripping or agents therefor
- G03F7/422—Stripping or agents therefor using liquids only
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、半導体集積回路等の製造工程においてパター
ン形成に用いられるレジストを剥離除去する際の剥離剤
に関する。
ン形成に用いられるレジストを剥離除去する際の剥離剤
に関する。
〈従来の技術〉
半導体集積回路等の製造工程においては、回路パターン
等の形成のために、レジストを用いたリソグラフィー技
術が多用される。その際、使用したレジストを剥離除去
する工程が必ず存在する。
等の形成のために、レジストを用いたリソグラフィー技
術が多用される。その際、使用したレジストを剥離除去
する工程が必ず存在する。
またレジスト塗布時にウェハー裏面やエツジ部に付着し
た不要なレジストを除去する必要がある。
た不要なレジストを除去する必要がある。
レジストを除去するには、薬品で化学的に処理する方法
とOtプラズマで焼いてしまうドライプロセスがある。
とOtプラズマで焼いてしまうドライプロセスがある。
前者は、化学薬品でレジストを溶解して除去する方法で
、その陸用いる薬品をレジスト剥離剤あるいはレジスト
剥離液と称している。
、その陸用いる薬品をレジスト剥離剤あるいはレジスト
剥離液と称している。
現在、半導体集積回路等の製造工程で使用されているレ
ジストとしては、ノボラック樹脂とキノンジアジド化合
物からなるポジ型フォトレジストが多数を占めている。
ジストとしては、ノボラック樹脂とキノンジアジド化合
物からなるポジ型フォトレジストが多数を占めている。
従来、このポジ型プオトレジストを剥離除去するには、
有機溶剤)゛用いられてきた。具体的にはエチレングリ
コールの誘導体特に2−エトキシエタノール(別名エチ
レングリコールモノエチルエーテル、通称エチルセロソ
ルブ)あるいは該溶剤と他の溶剤との混合溶剤がよく用
いられてきた。
有機溶剤)゛用いられてきた。具体的にはエチレングリ
コールの誘導体特に2−エトキシエタノール(別名エチ
レングリコールモノエチルエーテル、通称エチルセロソ
ルブ)あるいは該溶剤と他の溶剤との混合溶剤がよく用
いられてきた。
しかし、最近になって2−エトキシエタノールの生体に
対する°毒性(詳しくは催奇性)が問題となっており、
日本でも労働安全衛生法で定める作業規準が1990年
4月より厳しくなることが決まっている。(管理濃度
5ppm)、従って、安全衛生土酸溶剤を使用すること
は好ましくない。
対する°毒性(詳しくは催奇性)が問題となっており、
日本でも労働安全衛生法で定める作業規準が1990年
4月より厳しくなることが決まっている。(管理濃度
5ppm)、従って、安全衛生土酸溶剤を使用すること
は好ましくない。
そこで、他の溶剤、例えばアセトンをレジスト剥離剤と
して使用しようとした場合、アセトンはノボラック樹脂
系のレジストに対する溶解力が強くレジストを容易に剥
離する。また蒸発速度が速くアセトン自身も速やかに除
去される。しかしながら引火点が低く火災や爆発の危険
性が高いため実際の製造ラインで使用することはできな
い。このようにレジスト剥離剤には剥離性能とともに安
全衛生上問題のない特性が要求される。
して使用しようとした場合、アセトンはノボラック樹脂
系のレジストに対する溶解力が強くレジストを容易に剥
離する。また蒸発速度が速くアセトン自身も速やかに除
去される。しかしながら引火点が低く火災や爆発の危険
性が高いため実際の製造ラインで使用することはできな
い。このようにレジスト剥離剤には剥離性能とともに安
全衛生上問題のない特性が要求される。
〈発明が解決しようとする課題〉
本発明の目的は、以下に述べるような特性を有するレジ
スト剥離剤を提供することにある。すなわち■レジスト
膜を容易に剥離(溶解)し除去する■蒸発速度が十分速
く、レジスト膜を除去した後、剥離剤自身をスピンオフ
等の方法で簡単に除去できる■レジストを剥離除去し剥
離剤自身も除去された後、剥離面に残渣が残らない■ウ
ェハー表面層あるいは基板を侵さない■人体に害を及ぼ
さない■火災・爆発の危険性が低い、という特性である
。
スト剥離剤を提供することにある。すなわち■レジスト
膜を容易に剥離(溶解)し除去する■蒸発速度が十分速
く、レジスト膜を除去した後、剥離剤自身をスピンオフ
等の方法で簡単に除去できる■レジストを剥離除去し剥
離剤自身も除去された後、剥離面に残渣が残らない■ウ
ェハー表面層あるいは基板を侵さない■人体に害を及ぼ
さない■火災・爆発の危険性が低い、という特性である
。
〈課題を解決する手段〉
本発明者らは上記目的を達成すべく鋭意検討した結果、
低級アルコキシプロパノールが剥離剤として良好な結果
を示すことを見出した。
低級アルコキシプロパノールが剥離剤として良好な結果
を示すことを見出した。
すなわち、本発明は低級アルコキシプロパノールまたは
、低級アルコキシプロパノールと酢酸エステルとの混合
物からなるレジスト剥離剤である。
、低級アルコキシプロパノールと酢酸エステルとの混合
物からなるレジスト剥離剤である。
低級アルコキシプロパノールとしては、ニーメトキシ−
2−プロパツール、3−メj−キシー1−プロパツール
、1−エトキシ−2−プロパツール3−エトキシ−1−
プロパツール等が挙げられる。
2−プロパツール、3−メj−キシー1−プロパツール
、1−エトキシ−2−プロパツール3−エトキシ−1−
プロパツール等が挙げられる。
特に、1−メトキシ−2−プロパツールが好ましい、ま
た酢酸エステルとしては、酢酸メチル、酢酸エチル、酢
酸−n−プロピル、酢酸イソプロピル、酢酸−n−ブチ
ル、酢酸イソブチル、酢酸第ニブチル、酢酸−n−アミ
ル、酢酸イソアミル。
た酢酸エステルとしては、酢酸メチル、酢酸エチル、酢
酸−n−プロピル、酢酸イソプロピル、酢酸−n−ブチ
ル、酢酸イソブチル、酢酸第ニブチル、酢酸−n−アミ
ル、酢酸イソアミル。
酢酸メチルイソアミル、酢酸メトキシブチル、酢酸第ニ
ー・キシル、酢酸−2−エチルブチル等が挙げられる。
ー・キシル、酢酸−2−エチルブチル等が挙げられる。
酢酸エステルを混合することにより、■レジストに対す
る溶解速度が増す■ウェハーとのぬれ性が良くなる、と
いう効果がある。混合する場合の比率は、低級アルコキ
シプロパノール/酢酸エステル= 10010〜20/
80、好ましくは10010〜40/60(容量比)で
ある。
る溶解速度が増す■ウェハーとのぬれ性が良くなる、と
いう効果がある。混合する場合の比率は、低級アルコキ
シプロパノール/酢酸エステル= 10010〜20/
80、好ましくは10010〜40/60(容量比)で
ある。
低級アルコキシプロパノールが20%より少ないとレジ
ストに対する溶解力が低下する。
ストに対する溶解力が低下する。
この低級アルコキシプロパノールは、半導体回路不良の
原因となる塩素イオン、および金属イオン(Na” 、
K” 、 Fe”、 Fej・6at+、 5nz2
5n44Zn”、 A l ”、 Mg”等)をでき
る限り含まないことが好ましい。また、過酸化物、高沸
点物質あるいは水分等の不純物をできる限り含まないこ
とが好ましい。このことは、酢酸エステルについても同
様である。
原因となる塩素イオン、および金属イオン(Na” 、
K” 、 Fe”、 Fej・6at+、 5nz2
5n44Zn”、 A l ”、 Mg”等)をでき
る限り含まないことが好ましい。また、過酸化物、高沸
点物質あるいは水分等の不純物をできる限り含まないこ
とが好ましい。このことは、酢酸エステルについても同
様である。
また本発明のレジスト剥離剤は、0.2μm以下の孔径
を有するフィルターで予め濾過したものを使用すること
が好ましい。半導体回路等の製造における不良品発生の
原因となる異物や塵を除去することができる。
を有するフィルターで予め濾過したものを使用すること
が好ましい。半導体回路等の製造における不良品発生の
原因となる異物や塵を除去することができる。
低級アルコキシプロパノールは、現在リソグラフィー分
野で広く使用されているノボうツク樹脂とキノンジアジ
ド化合物からなるポジ型フォトレジストに対する溶解力
が強く良好な剥離性を示す。
野で広く使用されているノボうツク樹脂とキノンジアジ
ド化合物からなるポジ型フォトレジストに対する溶解力
が強く良好な剥離性を示す。
また、蒸発速度が十分速いためスピンオフ等の方法で容
易に除去できる。ウェハー表面層や基板を侵すこともな
い。また高沸点物等の不純物をほとんど含まないため、
剥離剤除去後の残渣が出ない。
易に除去できる。ウェハー表面層や基板を侵すこともな
い。また高沸点物等の不純物をほとんど含まないため、
剥離剤除去後の残渣が出ない。
米国ACGIH(八merican Confere
nce ofGovernmental Indus
trjal Hygientsts )の勧告する化学
物質の許容濃度のうち時間荷重平均濃度に関して、2−
エトキシエタノールの5 ppIllに対して、1−メ
トキシ−2−プロパツールは1100ppであり人体に
とって比較的安全である。
nce ofGovernmental Indus
trjal Hygientsts )の勧告する化学
物質の許容濃度のうち時間荷重平均濃度に関して、2−
エトキシエタノールの5 ppIllに対して、1−メ
トキシ−2−プロパツールは1100ppであり人体に
とって比較的安全である。
低級アルコキシプロパノールは、消防法で定める危険物
の分類では第四類第二石油類に属し、火災等の危険性は
十分低いと考えてよい。
の分類では第四類第二石油類に属し、火災等の危険性は
十分低いと考えてよい。
以上の特性を有する低級アルコキシプロパノール、特に
ニーメトキシ−2−プロパツールがレジスト剥離剤とし
て優れているという事実はこれまで知られておらず、今
回のわれわれの検討で明らかとなった。
ニーメトキシ−2−プロパツールがレジスト剥離剤とし
て優れているという事実はこれまで知られておらず、今
回のわれわれの検討で明らかとなった。
〈実施例〉
以下に実施例を示して本発明を具体的に説明するが、本
発明はこれらに限定されるものではない。
発明はこれらに限定されるものではない。
■−上
次に挙げる16種の溶剤を用いてレジストを剥離する試
験を行なった。(溶剤の混合比率は容量比、) ■ 1−メトキシ−2−プロパツール ■ l−メトキシ−2−プロパツール/6M−n−ブチ
ル=1/1 ■ 1−メトキシ−2−プロピルアセテート■ 1−メ
トキシ−2−プロピルアセテート/酢酸−n−ブチル=
1/1 ■ 3−メトキシブタノール ■ 3−メトキシブタノール/酢酸−n−ブチル−1/
1 ■ 3−メトキシブチルアセテート ■ 3−メトキシブチルアセテート/酢酸−n−ブチル
=1/1 ■ 3−エトキシ−1−プロパツール [相] 3−エトキシ−1−プロパツール/酢酸−n−
一1/1 ■ 3−エトキシ−1−プロピルアセテート@ 3−エ
トキシ−1−プロピルアセテート/酢酸−n−ブチル−
1/1 @ 2−エトキシエチルアセテート(エチレングリコー
ルモノエチルエーテルアセテート)o 2−エトキシエ
チルアセテート/酢酸−n −ブチル=1/1 ■ 2−エトキシエタノール @) 2−エトキシエタノール/酢酸−n−ブチル−1
/1 まずノボラック樹脂とキノンジアジド化合物からなるポ
ジ型フォトレジストを2種類用意する。
験を行なった。(溶剤の混合比率は容量比、) ■ 1−メトキシ−2−プロパツール ■ l−メトキシ−2−プロパツール/6M−n−ブチ
ル=1/1 ■ 1−メトキシ−2−プロピルアセテート■ 1−メ
トキシ−2−プロピルアセテート/酢酸−n−ブチル=
1/1 ■ 3−メトキシブタノール ■ 3−メトキシブタノール/酢酸−n−ブチル−1/
1 ■ 3−メトキシブチルアセテート ■ 3−メトキシブチルアセテート/酢酸−n−ブチル
=1/1 ■ 3−エトキシ−1−プロパツール [相] 3−エトキシ−1−プロパツール/酢酸−n−
一1/1 ■ 3−エトキシ−1−プロピルアセテート@ 3−エ
トキシ−1−プロピルアセテート/酢酸−n−ブチル−
1/1 @ 2−エトキシエチルアセテート(エチレングリコー
ルモノエチルエーテルアセテート)o 2−エトキシエ
チルアセテート/酢酸−n −ブチル=1/1 ■ 2−エトキシエタノール @) 2−エトキシエタノール/酢酸−n−ブチル−1
/1 まずノボラック樹脂とキノンジアジド化合物からなるポ
ジ型フォトレジストを2種類用意する。
1つは剥離が比較的困難とされている市販品で、これを
レジストAとする。もう1つは汎用市販品(東京応化工
業型0FPR−800)でこれをレジス)Bとする。
レジストAとする。もう1つは汎用市販品(東京応化工
業型0FPR−800)でこれをレジス)Bとする。
シリコンウェハー上にレジス)Aを塗布し120°Cで
120秒間ベータして、約1.4μ−のレジスト膜を形
成した。このウェハーをウェハー1とする。また一方、
シリコンウェハー上にレジストBを塗布し120℃で1
を0秒間ベータして約1.0μ−のレジスト膜を形成し
た後、更にその上にウェハー1と同様にして約1.4μ
−のレジストAの膜を形成した。これをウェハー2とす
る。
120秒間ベータして、約1.4μ−のレジスト膜を形
成した。このウェハーをウェハー1とする。また一方、
シリコンウェハー上にレジストBを塗布し120℃で1
を0秒間ベータして約1.0μ−のレジスト膜を形成し
た後、更にその上にウェハー1と同様にして約1.4μ
−のレジストAの膜を形成した。これをウェハー2とす
る。
ウェハー1をスピンナーに装着して500rpmで回転
させながら、■〜[相]の溶剤を定量的に20秒間滴下
し、その後3000rpmでスピンオフしてレジストが
剥離できたかどうか観察した。更に溶剤を滴下する時間
を40秒、60秒と長くして同様な実験を行なった。
させながら、■〜[相]の溶剤を定量的に20秒間滴下
し、その後3000rpmでスピンオフしてレジストが
剥離できたかどうか観察した。更に溶剤を滴下する時間
を40秒、60秒と長くして同様な実験を行なった。
ウェハー2についても、ウェハー1と同様の実験を行な
った。結果を表1に示す= 本発明による17メトキシー2−プロパツールおよび該
溶剤と酢酸ブチルの混合溶剤は、2−エトキシエタノー
ルと同等の剥離能力を示した。また本発明による3−エ
トキシ−1−プロパツールおよび該溶剤と酢酸ブチルの
混合溶剤は、2−エトキシエタノールにはわずかに劣る
ものの十分使用に耐える剥離能力を示した0本発明によ
る上記の溶剤でレジストを剥離除去した後、剥離面を光
学顕微鏡で観察したところ残渣は見られなかった。
った。結果を表1に示す= 本発明による17メトキシー2−プロパツールおよび該
溶剤と酢酸ブチルの混合溶剤は、2−エトキシエタノー
ルと同等の剥離能力を示した。また本発明による3−エ
トキシ−1−プロパツールおよび該溶剤と酢酸ブチルの
混合溶剤は、2−エトキシエタノールにはわずかに劣る
ものの十分使用に耐える剥離能力を示した0本発明によ
る上記の溶剤でレジストを剥離除去した後、剥離面を光
学顕微鏡で観察したところ残渣は見られなかった。
〔発明の効果]
本発明のレジス
ト剥離削は毒性が低く、
しかも
従来の代表的ではあるが、
毒性の強いレジスト剥
特
許
庁
長
官
殿
離削である2−エトキシエタノールにほぼ匹敵すl。
事件の表示
る剥離能力を示すので、
任用性が高い。
特願平1−76026号
3゜
補正をする者
特
許
出
願
人
日本ゼオン株式会社
事件との関係
Claims (1)
- 低級アルコキシプロパノールまたは、低級アルコキシプ
ロパノールと酢酸エステルとの混合物からなることを特
徴とするレジスト剥離剤。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7602689A JPH02253265A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | レジスト剥離剤 |
| GB9006881A GB2229827A (en) | 1989-03-28 | 1990-03-28 | "Use of a propanol as resist-remover". |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7602689A JPH02253265A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | レジスト剥離剤 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02253265A true JPH02253265A (ja) | 1990-10-12 |
Family
ID=13593314
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7602689A Pending JPH02253265A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | レジスト剥離剤 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02253265A (ja) |
| GB (1) | GB2229827A (ja) |
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|---|---|---|---|---|
| US5759973A (en) * | 1996-09-06 | 1998-06-02 | Olin Microelectronic Chemicals, Inc. | Photoresist stripping and cleaning compositions |
| US5780406A (en) * | 1996-09-06 | 1998-07-14 | Honda; Kenji | Non-corrosive cleaning composition for removing plasma etching residues |
| US5817610A (en) * | 1996-09-06 | 1998-10-06 | Olin Microelectronic Chemicals, Inc. | Non-corrosive cleaning composition for removing plasma etching residues |
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| US6413923B2 (en) | 1999-11-15 | 2002-07-02 | Arch Specialty Chemicals, Inc. | Non-corrosive cleaning composition for removing plasma etching residues |
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|---|---|---|---|---|
| JP3978255B2 (ja) * | 1997-06-24 | 2007-09-19 | Azエレクトロニックマテリアルズ株式会社 | リソグラフィー用洗浄剤 |
| KR100335484B1 (ko) * | 1998-08-05 | 2002-05-04 | 윤종용 | 알콕시 n-하이드록시알킬 알칸아미드로 된 레지스트 제거제, 레지스트 제거용 조성물, 이들의 제조 방법 및 이를 이용한 레지스트 제거 방법 |
| SG76567A1 (en) * | 1998-08-05 | 2000-11-21 | Samsung Electronics Co Ltd | Resist removing method and apparatus |
Family Cites Families (4)
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|---|---|---|---|---|
| DE3012522A1 (de) * | 1980-03-31 | 1981-10-08 | Hoechst Ag, 6000 Frankfurt | Verfahren und entwicklerloesung zum entwickeln von belichteten negativ arbeitenden diazoniumsalzschichten |
| US4786580A (en) * | 1983-12-27 | 1988-11-22 | Hoechst Celanese Corporation | Method of developing imaged diazo material with propanol containing developer composition |
| EP0164083B1 (de) * | 1984-06-07 | 1991-05-02 | Hoechst Aktiengesellschaft | Positiv arbeitende strahlungsempfindliche Beschichtungslösung |
| US4692398A (en) * | 1985-10-28 | 1987-09-08 | American Hoechst Corporation | Process of using photoresist treating composition containing a mixture of a hexa-alkyl disilazane, propylene glycol alkyl ether and propylene glycol alkyl ether acetate |
-
1989
- 1989-03-28 JP JP7602689A patent/JPH02253265A/ja active Pending
-
1990
- 1990-03-28 GB GB9006881A patent/GB2229827A/en not_active Withdrawn
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| US7402552B2 (en) | 1999-11-15 | 2008-07-22 | Fujifilm Electronic Materials U.S.A., Inc. | Non-corrosive cleaning composition for removing plasma etching residues |
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| JP2007072332A (ja) * | 2005-09-09 | 2007-03-22 | Daicel Chem Ind Ltd | リソグラフィー用洗浄剤又はリンス剤 |
| KR101286817B1 (ko) * | 2005-09-09 | 2013-07-17 | 가부시끼가이샤 다이셀 | 리소그래피용 세정제 또는 린스제 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB9006881D0 (en) | 1990-05-23 |
| GB2229827A (en) | 1990-10-03 |
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