JPH0225450B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0225450B2 JPH0225450B2 JP3580982A JP3580982A JPH0225450B2 JP H0225450 B2 JPH0225450 B2 JP H0225450B2 JP 3580982 A JP3580982 A JP 3580982A JP 3580982 A JP3580982 A JP 3580982A JP H0225450 B2 JPH0225450 B2 JP H0225450B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample gas
- analyzer
- concentration
- volume
- measured
- Prior art date
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- Expired
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0009—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
- G01N33/0011—Sample conditioning
- G01N33/0014—Sample conditioning by eliminating a gas
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Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、サンプルガスの成分濃度を求める分
析装置に関するものである。
析装置に関するものである。
従来、サンプルガスを分析計へ導入してその成
分分析を行なう際に、サンプルガスが高温の場合
には冷却しないと分析が不可能であるため、ま
た、サンプルガスの湿分が高い場合には分析計に
対し湿分が悪影響を与えるため、サンプルガスを
冷却器または除湿器に通し、温度および湿分を下
げた後に分析計に導入してサンプルガスの成分分
析を行なつていた。
分分析を行なう際に、サンプルガスが高温の場合
には冷却しないと分析が不可能であるため、ま
た、サンプルガスの湿分が高い場合には分析計に
対し湿分が悪影響を与えるため、サンプルガスを
冷却器または除湿器に通し、温度および湿分を下
げた後に分析計に導入してサンプルガスの成分分
析を行なつていた。
しかしながら、サンプルガスを冷却器または除
湿器に通した場合、サンプルガス中の湿分が除去
されるため、分析計において求められたサンプル
ガス中の被測定成分の濃度が実際の濃度より高く
なるという誤差を生じていた。従来はこの濃度を
ドライベース濃度（除湿後濃度）として、実濃度
とは異なる測定をしていた。
湿器に通した場合、サンプルガス中の湿分が除去
されるため、分析計において求められたサンプル
ガス中の被測定成分の濃度が実際の濃度より高く
なるという誤差を生じていた。従来はこの濃度を
ドライベース濃度（除湿後濃度）として、実濃度
とは異なる測定をしていた。
本発明は、除去された湿分の補正を施してサン
プルガス中の被測定成分の実濃度を求めることが
できる分析装置を提供することを目的とする。
プルガス中の被測定成分の実濃度を求めることが
できる分析装置を提供することを目的とする。
本発明は、冷却器または除湿器を通して温度お
よび湿分を下げたサンプルガスを分析計に導きサ
ンプルガス中の被測定成分の濃度を求める分析装
置において、前記冷却器または除湿器から排出さ
れた水の量と前記分析計へ流入するサンプルガス
の温度とに基き前記冷却器または除湿器で除去さ
れた水の量に相当する湿分の体積QWを算出し、
分析計へ流入するサンプルガスの体積Ｑと前記
QWとを加算てサンプルガスの実体積QSを求め、
前記分析計から入力された被測定成分の濃度Ｃ
〔％〕にＱ／QSを乗算して被測定成分の実濃度CS
〔％〕を求める演算器とを具備することにより、
所期の目的を達成したものである。
よび湿分を下げたサンプルガスを分析計に導きサ
ンプルガス中の被測定成分の濃度を求める分析装
置において、前記冷却器または除湿器から排出さ
れた水の量と前記分析計へ流入するサンプルガス
の温度とに基き前記冷却器または除湿器で除去さ
れた水の量に相当する湿分の体積QWを算出し、
分析計へ流入するサンプルガスの体積Ｑと前記
QWとを加算てサンプルガスの実体積QSを求め、
前記分析計から入力された被測定成分の濃度Ｃ
〔％〕にＱ／QSを乗算して被測定成分の実濃度CS
〔％〕を求める演算器とを具備することにより、
所期の目的を達成したものである。
〔発明の実施例〕
本発明による分析装置の一実施例を第１図を参
照して説明する。第１図において、１はサンプル
ストリーム、１４はサンプリングプローブ、２は
冷却器または除湿器、３はサンプリングポンプ、
４は圧力調整弁で、サンプリングポンプ３および
圧力調整弁４により分析計５に導入されるサンプ
ルガスの圧力と流量とは一定に保たれている（必
ずしも一定でなくてもよい）。８はサンプルガス
の流量計である。９は冷却器または除湿器２に付
属されたドレンポツトで、７は止め弁である。１
０は水位計でドレンポツト９の水位を計り、それ
を電気信号にして演算器１１に出力する。演算器
１１では温度計１２から出力されてくる除湿後の
サンプルガスの温度、分析計５から出力されてく
る除湿後のサンプルガス中の被測定成分の濃度、
水位計１０から出力されてくるドレンポツト９の
水位に基いて演算を行ないサンプルガスから除去
された湿分の量を求め湿分補正を行なつてその結
果を指示計６に出力する。
照して説明する。第１図において、１はサンプル
ストリーム、１４はサンプリングプローブ、２は
冷却器または除湿器、３はサンプリングポンプ、
４は圧力調整弁で、サンプリングポンプ３および
圧力調整弁４により分析計５に導入されるサンプ
ルガスの圧力と流量とは一定に保たれている（必
ずしも一定でなくてもよい）。８はサンプルガス
の流量計である。９は冷却器または除湿器２に付
属されたドレンポツトで、７は止め弁である。１
０は水位計でドレンポツト９の水位を計り、それ
を電気信号にして演算器１１に出力する。演算器
１１では温度計１２から出力されてくる除湿後の
サンプルガスの温度、分析計５から出力されてく
る除湿後のサンプルガス中の被測定成分の濃度、
水位計１０から出力されてくるドレンポツト９の
水位に基いて演算を行ないサンプルガスから除去
された湿分の量を求め湿分補正を行なつてその結
果を指示計６に出力する。
次に、上記のように構成された本発明一実施例
の分析装置の作用を説明する。分析計５に導入さ
れる除湿後のサンプルガスの単位時分Δt当りの
体積をＱ〔ｌ〕、温度をＴ〔℃〕とし、分析計５か
ら出力されるサンプルガス中の被測定成分の濃度
をＣ〔％〕とする。また、ドレンポツト９の内部
の断面積をＡとする。そして、演算器１１により
下記の演算を行なう。
の分析装置の作用を説明する。分析計５に導入さ
れる除湿後のサンプルガスの単位時分Δt当りの
体積をＱ〔ｌ〕、温度をＴ〔℃〕とし、分析計５か
ら出力されるサンプルガス中の被測定成分の濃度
をＣ〔％〕とする。また、ドレンポツト９の内部
の断面積をＡとする。そして、演算器１１により
下記の演算を行なう。
水位計１０から出力されるドレンポツト９の水
位を示す信号から単位時間Δt当りの水位の変化
ΔLを求めて、サンプルガスから除去された水の
単位時間Δt当りの体積ΔV／Δtを(1)式により算出
する。
位を示す信号から単位時間Δt当りの水位の変化
ΔLを求めて、サンプルガスから除去された水の
単位時間Δt当りの体積ΔV／Δtを(1)式により算出
する。
ΔV／Δt＝ΔL／Δt×Ａ …(1)
このΔV／Δtを質量Ｗに換算して、サンプルガ
ス中から除湿された単位時間Δt当りの湿分の体
積QWを(2)式により算出する。
ス中から除湿された単位時間Δt当りの湿分の体
積QWを(2)式により算出する。
QW＝Ｗ／18×22.4×273＋Ｔ／273〔ｌ〕 …(2)
このQWと前記Ｑとからサンプルガスの単位時
間Δt当りの実体積QSを(3)式により算出する。
間Δt当りの実体積QSを(3)式により算出する。
QS＝QW＋Ｑ〔ｌ〕 …(3)
そして、サンプルガス中の被測定成分の実濃度
CS〔％〕を(4)式により算出する。
CS〔％〕を(4)式により算出する。
CS＝Ｃ×Ｑ／QS …(4)
上記のようにして、本発明一実施例の分析装置
では、サンプルガスの冷却、除湿により除去され
た湿分を補正したサンプルガス中の被測定成分の
実濃度を求めることができる。
では、サンプルガスの冷却、除湿により除去され
た湿分を補正したサンプルガス中の被測定成分の
実濃度を求めることができる。
次に、第２図に本発明の変形例を示す。第１図
に示した実施例と異なる点は、冷却器または除湿
器２においてサンプルガスから除去された水の量
を求める手段として、第１図のドレンポツト９お
よび水位計１０の代りに第２図に示す流量計１３
を使用した点である。
に示した実施例と異なる点は、冷却器または除湿
器２においてサンプルガスから除去された水の量
を求める手段として、第１図のドレンポツト９お
よび水位計１０の代りに第２図に示す流量計１３
を使用した点である。
流量計１３では冷却器または除湿器２から排出
される水、すなわちサンプルガスから除去された
水の流量Q′Wを測定し、演算器１１へこの流量を
示す信号を出力している。演算器１１ではQ′Wを
前記(2)式によりサンプルガス中から除湿された単
位時間当りの湿分の体積QWに変換し、以下第１
図の実施例と同様に(3)式および(4)式による演算を
行なつてサンプルガス中の被測定成分の実濃度CS
を求める。
される水、すなわちサンプルガスから除去された
水の流量Q′Wを測定し、演算器１１へこの流量を
示す信号を出力している。演算器１１ではQ′Wを
前記(2)式によりサンプルガス中から除湿された単
位時間当りの湿分の体積QWに変換し、以下第１
図の実施例と同様に(3)式および(4)式による演算を
行なつてサンプルガス中の被測定成分の実濃度CS
を求める。
この変形例の分析装置では、ドレンポツト９が
不要となり、分析装置をコンパクトにすることが
でき、スペースおよび製作コストが削減されると
いうメリツトがある。
不要となり、分析装置をコンパクトにすることが
でき、スペースおよび製作コストが削減されると
いうメリツトがある。
以上詳述したように本発明によれば、冷却器ま
たは除湿器においてサンプルガスから除去された
水の量を求める手段と、この手段により求められ
た水の量からサンプルガス中から除湿された湿分
の単位時間当りの体積を算出し、この値と分析計
へ流入する単位時間当りのサンプルガスの体積と
から演算してサンプルガス中の被測定成の実濃度
を算出する演算器とを分析装置に具備したことに
より下記のような効果を得ることができる。
たは除湿器においてサンプルガスから除去された
水の量を求める手段と、この手段により求められ
た水の量からサンプルガス中から除湿された湿分
の単位時間当りの体積を算出し、この値と分析計
へ流入する単位時間当りのサンプルガスの体積と
から演算してサンプルガス中の被測定成の実濃度
を算出する演算器とを分析装置に具備したことに
より下記のような効果を得ることができる。
〔1〕 サンプルガスを分析計に導入する前の冷却、
除湿などの前処理に起因する濃度変化を補正
し、被測定成分のサンプルストリーム中の実濃
度を求めて指示することが可能である。
除湿などの前処理に起因する濃度変化を補正
し、被測定成分のサンプルストリーム中の実濃
度を求めて指示することが可能である。
〔2〕 必要に応じて実濃度および除湿後濃度の双
方の濃度測定を行なうようにすることも容易で
ある。
方の濃度測定を行なうようにすることも容易で
ある。
第１図は本発明一実施例の分析装置の系統図、
第２図は本発明変形例の分析装置の系統図であ
る。 １……サンプルストリーム、２……冷却器また
は除湿器、３……サンプリングポンプ、４……圧
力調整弁、５……分析計、６……指示計、７……
止め弁、８……流量計、９……ドレンポツト、１
０……水位計、１１……演算器、１２……温度
計、１３……流量計、１４……サンプリングプロ
ーブ。
第２図は本発明変形例の分析装置の系統図であ
る。 １……サンプルストリーム、２……冷却器また
は除湿器、３……サンプリングポンプ、４……圧
力調整弁、５……分析計、６……指示計、７……
止め弁、８……流量計、９……ドレンポツト、１
０……水位計、１１……演算器、１２……温度
計、１３……流量計、１４……サンプリングプロ
ーブ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 冷却器または除湿器を通して温度および湿分
を下げたサンプルガスを分析計に導きサンプルガ
ス中の被測定成分の濃度を求める分析装置におい
て、前記冷却器または除湿器から排出された水の
量を測定する検出手段と、この検出手段により検
出された水の量と前記分析計へ流入するサンプル
ガスの温度とに基き前記冷却器または除湿器で除
去された水の量に相当する湿分の体積QWを算出
する手段と、前記分析計へ流入するサンプルガス
の体積Ｑと前記体積QWとからサンプルガスの実
体積QSを算出し、前記分析計から入力された被
測定成分の濃度Ｃ〔％〕にＱ／QSを乗算して被測
定成分の実濃度CS〔％〕を求める演算器とを具備
したことを特徴とする分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3580982A JPS58153143A (ja) | 1982-03-09 | 1982-03-09 | 分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3580982A JPS58153143A (ja) | 1982-03-09 | 1982-03-09 | 分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58153143A JPS58153143A (ja) | 1983-09-12 |
| JPH0225450B2 true JPH0225450B2 (ja) | 1990-06-04 |
Family
ID=12452250
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3580982A Granted JPS58153143A (ja) | 1982-03-09 | 1982-03-09 | 分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58153143A (ja) |
-
1982
- 1982-03-09 JP JP3580982A patent/JPS58153143A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58153143A (ja) | 1983-09-12 |
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