JPH0225612B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0225612B2 JPH0225612B2 JP58234061A JP23406183A JPH0225612B2 JP H0225612 B2 JPH0225612 B2 JP H0225612B2 JP 58234061 A JP58234061 A JP 58234061A JP 23406183 A JP23406183 A JP 23406183A JP H0225612 B2 JPH0225612 B2 JP H0225612B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- center
- ray
- center position
- ray detector
- optical axis
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は、Ｘ線断層撮像装置（以下Ｘ線CTと
略す）に関し、更に詳しくは、Ｘ線を検出するＸ
線検出器の光軸調整の改善がなされたＸ線CTに
関する。
略す）に関し、更に詳しくは、Ｘ線を検出するＸ
線検出器の光軸調整の改善がなされたＸ線CTに
関する。
（従来技術）
被検体に対し多数の角度からＸ線フアンビーム
を投射し、被検体を透過したＸ線を検出して多数
の投影データを得、この投影データを用いて被検
体のＸ線吸収の分布を求め断層像を再構成するよ
うにしたＸ線CTはよく知られている。
を投射し、被検体を透過したＸ線を検出して多数
の投影データを得、この投影データを用いて被検
体のＸ線吸収の分布を求め断層像を再構成するよ
うにしたＸ線CTはよく知られている。
この場合において、透過Ｘ線を検出するＸ線検
出器は、第１図に示すように被検体１を中心にＸ
線源２と対向して配置されている。このＸ線検出
器３は、多数の検出チヤンネルより構成され、図
示のようにＸ線源２を中心とする円周上に配置さ
れている。
出器は、第１図に示すように被検体１を中心にＸ
線源２と対向して配置されている。このＸ線検出
器３は、多数の検出チヤンネルより構成され、図
示のようにＸ線源２を中心とする円周上に配置さ
れている。
このような構成のＸ線検出器３により検出され
た投影データを用いて被検体１の断層像を再構成
する場合、検出器３の中心４を基準にして像を再
構成する。この中心４は、Ｘ線源２の中心と、Ｘ
線源２とＸ線検出器３を被検体１に対して一体的
に回転するときの回転中心Ｏ（被検体は、その中
心がほぼこの回転中心に位置するように載置され
る）を結ぶ直線上におく必要がある。画像の再構
成演算回路はＸ線検出器３の中心４がこの直線上
にあるものとして断層像の再構成を行つているの
で、中心４がこの直線上からずれると再構成画像
にアーテイフアクトが生ずる。
た投影データを用いて被検体１の断層像を再構成
する場合、検出器３の中心４を基準にして像を再
構成する。この中心４は、Ｘ線源２の中心と、Ｘ
線源２とＸ線検出器３を被検体１に対して一体的
に回転するときの回転中心Ｏ（被検体は、その中
心がほぼこの回転中心に位置するように載置され
る）を結ぶ直線上におく必要がある。画像の再構
成演算回路はＸ線検出器３の中心４がこの直線上
にあるものとして断層像の再構成を行つているの
で、中心４がこの直線上からずれると再構成画像
にアーテイフアクトが生ずる。
Ｘ線検出器３の中心４をＸ線源２と回転中心Ｏ
を結ぶ直線（以下、これを光軸と呼ぶ）上に位置
合わせすることを光軸調整（アライメント）とい
い、通常約1/100mmの精度で調整されている必要
がある。
を結ぶ直線（以下、これを光軸と呼ぶ）上に位置
合わせすることを光軸調整（アライメント）とい
い、通常約1/100mmの精度で調整されている必要
がある。
しかしながら、この光軸調整は面倒であり、製
品出荷後の使用中においては通常行われない。こ
のため経時変化により、機械的な狂いが生じ、Ｘ
線検出器の中心前記直線上からずれ、分解能が劣
化したりアーテイフアクト等を生ずるという欠点
があつた。又、機械的な狂いが生じてこの欠点を
無視できなくなつた場合には、機械的な狂いを除
去するための面倒な光軸調整（機械的調整）を再
度行わねばならなかつた。
品出荷後の使用中においては通常行われない。こ
のため経時変化により、機械的な狂いが生じ、Ｘ
線検出器の中心前記直線上からずれ、分解能が劣
化したりアーテイフアクト等を生ずるという欠点
があつた。又、機械的な狂いが生じてこの欠点を
無視できなくなつた場合には、機械的な狂いを除
去するための面倒な光軸調整（機械的調整）を再
度行わねばならなかつた。
（発明の目的）
本発明は、このような欠点に鑑みてなされたも
ので、その目的は、一度光軸調整を行つておけ
ば、その後に機械的な光軸調整を行わなくても、
分解能が劣化せずアーテイフアクトも生じない断
層像が得られるＸ線CTを提供することにある。
ので、その目的は、一度光軸調整を行つておけ
ば、その後に機械的な光軸調整を行わなくても、
分解能が劣化せずアーテイフアクトも生じない断
層像が得られるＸ線CTを提供することにある。
（発明の構成）
このような目的を達成する本発明は、互いに角
度の異なる多数の方向から被検体にＸ線を投射
し、得られた投影データを用いて、再構成演算回
路が、演算により被検体のＸ線吸収の分布を求め
て前記被検体の断層像を再構成し、その再構成画
像を表示装置に表示するＸ線断層撮像装置におい
て、Ｘ線源とＸ線検出器の回転中心にほぼその中
心が来るように載置された真円状のフアントム
の、各ビユーにおける投影データから、各ビユー
についてフアントムのＸ線検出器上への投影幅の
中心を求め、次に該中心の変動幅の中心位置を求
め、該中心位置を示すデータを再構成演算回路に
与える中心位置算出手段を備え、前記再構成演算
回路は、該中心位置算出手段により得られた中心
位置をＸ線検出器の光軸中心位置として用い断層
像を再構成するようにしたことを特徴とするもの
である。
度の異なる多数の方向から被検体にＸ線を投射
し、得られた投影データを用いて、再構成演算回
路が、演算により被検体のＸ線吸収の分布を求め
て前記被検体の断層像を再構成し、その再構成画
像を表示装置に表示するＸ線断層撮像装置におい
て、Ｘ線源とＸ線検出器の回転中心にほぼその中
心が来るように載置された真円状のフアントム
の、各ビユーにおける投影データから、各ビユー
についてフアントムのＸ線検出器上への投影幅の
中心を求め、次に該中心の変動幅の中心位置を求
め、該中心位置を示すデータを再構成演算回路に
与える中心位置算出手段を備え、前記再構成演算
回路は、該中心位置算出手段により得られた中心
位置をＸ線検出器の光軸中心位置として用い断層
像を再構成するようにしたことを特徴とするもの
である。
（実施例）
以下、図面を参照し本発明の実施例を詳細に説
明する。
明する。
第２図は本発明の一実施例を示す構成図であ
る。図において、Ｘ線検出器３の多数のチヤネル
で検出された投影信号は、データ集録装置２１に
導かれる。データ集録装置２１は、多数のチヤネ
ルの投影信号（電流信号）をスキヤンして読み取
り、読いてデイジタル信号に変換して出力するも
のである。このようにデイジタル信号化されたＸ
線検出器３の各チヤネルの投影データは、各投影
角ごと（各ビユーごと）にメモリ２２に格納され
る。全ビユーにわたり投影データを採取した後、
適宜の順序でメモリ２２から取り出され、再構成
演算回路２３に導かれ、所定のデータ処理や演算
処理が施される。これにより被検体の断層像を再
構成することができ、この再構成画像データは表
示装置２４に出力され表示される。
る。図において、Ｘ線検出器３の多数のチヤネル
で検出された投影信号は、データ集録装置２１に
導かれる。データ集録装置２１は、多数のチヤネ
ルの投影信号（電流信号）をスキヤンして読み取
り、読いてデイジタル信号に変換して出力するも
のである。このようにデイジタル信号化されたＸ
線検出器３の各チヤネルの投影データは、各投影
角ごと（各ビユーごと）にメモリ２２に格納され
る。全ビユーにわたり投影データを採取した後、
適宜の順序でメモリ２２から取り出され、再構成
演算回路２３に導かれ、所定のデータ処理や演算
処理が施される。これにより被検体の断層像を再
構成することができ、この再構成画像データは表
示装置２４に出力され表示される。
尚、データ集録装置２１、その出力を記憶する
メモリ２２、再構成画像データを表示する表示装
置２４に係る動作等は従来の装置における場合と
同様である。
メモリ２２、再構成画像データを表示する表示装
置２４に係る動作等は従来の装置における場合と
同様である。
本発明装置では、フアントムの投影データか
ら、Ｘ線検出器上の光軸の位置（本明細書ではこ
れをＸ線検出器の光軸中心位置と呼ぶ）を求める
ための中心位置算出手段２５を設けた点に特徴が
ある。即ち、従来はＸ線検出器３の中心４がその
まま光軸中心位置として扱われ、機械的な狂いが
生じてＸ線検出器３が移動し中心４が光軸からず
れても、画像再構成時にはそのずれた中心４をあ
くまで光軸中心位置として扱つていたが、本発明
装置では、Ｘ線検出器３の光軸中心位置をシフト
できるようにしている。
ら、Ｘ線検出器上の光軸の位置（本明細書ではこ
れをＸ線検出器の光軸中心位置と呼ぶ）を求める
ための中心位置算出手段２５を設けた点に特徴が
ある。即ち、従来はＸ線検出器３の中心４がその
まま光軸中心位置として扱われ、機械的な狂いが
生じてＸ線検出器３が移動し中心４が光軸からず
れても、画像再構成時にはそのずれた中心４をあ
くまで光軸中心位置として扱つていたが、本発明
装置では、Ｘ線検出器３の光軸中心位置をシフト
できるようにしている。
本発明装置では、まず、Ｘ線吸収係数の大きい
物質からなる断面が真円状のフアントムを、その
中心がほぼ回転中心Ｏに一致するように載置して
おき、被検体投影データの採取と同様に、多数の
角度からの投影データを得る。次に中心位置算出
手段２５にて、各ビユーでの投影データよりフア
ントムのＸ線検出器３上への投影幅の中心をＸ線
検出器３上の位置に換算して求める。第３図は各
ビユーに関しフアントムの投影幅の中心がＸ線検
出器３に対して変化（ずれ）する様子を例示した
もので、その変動幅（振幅）は回転中心Ｏとフア
ントムの中心との間隔にほぼ比例する。中心位置
算出手段２５では、上記のようにして各ビユーの
投影幅の中心を求めた後、その変動幅の中心位置
（振幅の中心位置）を求め、その中心位置を示す
データをＸ線検出器３に出力する。
物質からなる断面が真円状のフアントムを、その
中心がほぼ回転中心Ｏに一致するように載置して
おき、被検体投影データの採取と同様に、多数の
角度からの投影データを得る。次に中心位置算出
手段２５にて、各ビユーでの投影データよりフア
ントムのＸ線検出器３上への投影幅の中心をＸ線
検出器３上の位置に換算して求める。第３図は各
ビユーに関しフアントムの投影幅の中心がＸ線検
出器３に対して変化（ずれ）する様子を例示した
もので、その変動幅（振幅）は回転中心Ｏとフア
ントムの中心との間隔にほぼ比例する。中心位置
算出手段２５では、上記のようにして各ビユーの
投影幅の中心を求めた後、その変動幅の中心位置
（振幅の中心位置）を求め、その中心位置を示す
データをＸ線検出器３に出力する。
このようにして求められた中心位置が光軸中心
位置として像再構成演算時に用いられることとな
る。
位置として像再構成演算時に用いられることとな
る。
以上のような光軸位置の較正（シフト）は常時
行う必要はなく、Ｘ線検出器の経時変化との兼ね
合いで、適宜行うだけでよい。尚、次回の較正が
行われるまで前回求めた光軸中心位置（チヤネル
番号）は記憶されている。
行う必要はなく、Ｘ線検出器の経時変化との兼ね
合いで、適宜行うだけでよい。尚、次回の較正が
行われるまで前回求めた光軸中心位置（チヤネル
番号）は記憶されている。
尚、Ｘ線検出器の光軸中心位置を実際の物理的
な中心位置よりも僅かにずらせた仮想位置にして
像再構成を行うという再構成方式に対しても、本
発明を適宜できることは勿論である。
な中心位置よりも僅かにずらせた仮想位置にして
像再構成を行うという再構成方式に対しても、本
発明を適宜できることは勿論である。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明によれば、フアン
トムの投影データを基にＸ線検出器の光軸中心位
置を較正できるようにしたため、面倒な機械的光
軸調整を不要とし、経時変化による分解能の劣化
防止やアーテイフアクトの軽減を図れる。
トムの投影データを基にＸ線検出器の光軸中心位
置を較正できるようにしたため、面倒な機械的光
軸調整を不要とし、経時変化による分解能の劣化
防止やアーテイフアクトの軽減を図れる。
又、本発明による光軸較正は操作が簡単で短時
間でもあるため、装置の保守点検時間を短縮化で
きる効果もあり、実用上の効果は大きい。
間でもあるため、装置の保守点検時間を短縮化で
きる効果もあり、実用上の効果は大きい。
第１図はＸ線源とＸ線検出器との位置関係を示
す説明図、第２図は本発明のＸ線CTの一実施例
を示す要部構成図、第３図は各ビユーにおけるフ
アントムの投影幅の中心のＸ線検出器に対する変
化の様子を示す説明図である。 １……被検体、２……Ｘ線源、３……Ｘ線検出
器、２１……データ収録装置、２２……メモリ、
２３……再構成演算回路、２４……表示装置、２
５……中心位置算出手段。
す説明図、第２図は本発明のＸ線CTの一実施例
を示す要部構成図、第３図は各ビユーにおけるフ
アントムの投影幅の中心のＸ線検出器に対する変
化の様子を示す説明図である。 １……被検体、２……Ｘ線源、３……Ｘ線検出
器、２１……データ収録装置、２２……メモリ、
２３……再構成演算回路、２４……表示装置、２
５……中心位置算出手段。
Claims (1)
- １ 互いに角度の異なる多数の方向から被検体に
Ｘ線を投射し、得られた投影データを用いて、再
構成演算回路が、演算により被検体のＸ線吸収の
分布を求めて前記被検体の断層像を再構成し、そ
の再構成画像を表示装置に表示するＸ線断層撮像
装置において、Ｘ線源とＸ線検出器の回転中心に
ほぼその中心が来るように載置された真円状のフ
アントムの、各ビユーにおける投影データから、
各ビユーについてフアントムのＸ線検出器上への
投影幅の中心を求め、次に該中心の変動幅の中心
位置を求め、該中心位置を示すデータを再構成演
算回路に与える中心位置算出手段を備え、前記再
構成演算回路は、該中心位置算出手段により得ら
れた中心位置をＸ線検出器の光軸中心位置として
用い断層像を再構成するようにしたことを特徴と
するＸ線断層撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58234061A JPS60126143A (ja) | 1983-12-12 | 1983-12-12 | Ｘ線断層撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58234061A JPS60126143A (ja) | 1983-12-12 | 1983-12-12 | Ｘ線断層撮像装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60126143A JPS60126143A (ja) | 1985-07-05 |
| JPH0225612B2 true JPH0225612B2 (ja) | 1990-06-05 |
Family
ID=16964971
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58234061A Granted JPS60126143A (ja) | 1983-12-12 | 1983-12-12 | Ｘ線断層撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60126143A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03101710U (ja) * | 1990-02-06 | 1991-10-23 | ||
| JPH0463710U (ja) * | 1990-10-12 | 1992-05-29 | ||
| JPH0882034A (ja) * | 1994-09-05 | 1996-03-26 | Kokuyo Co Ltd | パネル |
| JP2005195494A (ja) * | 2004-01-08 | 2005-07-21 | Toshiba It & Control Systems Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2534664B2 (ja) * | 1986-03-31 | 1996-09-18 | 株式会社東芝 | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2590148Y2 (ja) * | 1991-07-09 | 1999-02-10 | 株式会社 ナイツ | 拡大表示装置 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4053780A (en) * | 1975-10-20 | 1977-10-11 | Syntex (U.S.A.) Inc. | Method for calibration of an axial tomographic scanner |
| DE2747872A1 (de) * | 1977-10-26 | 1979-05-03 | Philips Patentverwaltung | Strahlennachweisvorrichtung |
| JPS5644707U (ja) * | 1979-09-18 | 1981-04-22 | ||
| US4296329A (en) * | 1979-10-22 | 1981-10-20 | General Electric Company | Alignment device for computerized tomography phantoms |
| JPS583104U (ja) * | 1981-06-29 | 1983-01-10 | 河野 通 | 吸引式フケ取り器 |
| JPS5840528U (ja) * | 1981-09-09 | 1983-03-17 | 株式会社東芝 | タ−ビン防熱セグメント支持装置 |
| JPS595877A (ja) * | 1982-07-01 | 1984-01-12 | Japanese National Railways<Jnr> | デイ−ゼル機関を搭載した鉄道車両の自動始動装置 |
-
1983
- 1983-12-12 JP JP58234061A patent/JPS60126143A/ja active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03101710U (ja) * | 1990-02-06 | 1991-10-23 | ||
| JPH0463710U (ja) * | 1990-10-12 | 1992-05-29 | ||
| JPH0882034A (ja) * | 1994-09-05 | 1996-03-26 | Kokuyo Co Ltd | パネル |
| JP2005195494A (ja) * | 2004-01-08 | 2005-07-21 | Toshiba It & Control Systems Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60126143A (ja) | 1985-07-05 |
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