JPH02260647A - 試料固定装置 - Google Patents

試料固定装置

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JPH02260647A
JPH02260647A JP1082121A JP8212189A JPH02260647A JP H02260647 A JPH02260647 A JP H02260647A JP 1082121 A JP1082121 A JP 1082121A JP 8212189 A JP8212189 A JP 8212189A JP H02260647 A JPH02260647 A JP H02260647A
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JP
Japan
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sample
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post
notch
Prior art date
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Pending
Application number
JP1082121A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuji Yamazaki
雄司 山崎
Toshio Sasaoka
笹岡 俊雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Tateisi Electronics Co
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Filing date
Publication date
Application filed by Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Tateisi Electronics Co
Priority to JP1082121A priority Critical patent/JPH02260647A/ja
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Pending legal-status Critical Current

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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 この発明は、電子ビーム描写装置、精密測定機器、エネ
ルギービーム加工装置等において、試料を試料台上に固
定するのに用いられる試料固定装置に関する。
〈従来の技術〉 たとえばフレネルレンズ等の微細なパターンを切欠部を
有する円板状の試料に描写するのに、電子ビーム描画装
置が用いられる。このようなパターン描写において、試
料を試料台に固定する場合、従来は、第5図に示すよう
に、試料台1上に接着剤N2を形成し、その上面に試料
3を押圧して固定している。
〈発明が解決しようとする問題点〉 しかしながらこのような試料固定方法では、接着層2に
凹凸があれば、試料3の平行度は悪くなる。また高い硬
性の試料3であれば、第6図に示すように、接着剤層2
の厚みが一定とならず、試料台1と試料3とが平行でな
くなることがある。このような場合、試料3の上面で電
子ビームの焦点ずれを起こし、正確なパターン描写が困
難となる。
また試料3を接着剤層2で試料台1に固定するため、試
料3を取り外す際、試料3の破損を招くなどのおそれが
ある。
さらにパターン描写は真空室内で行われるが、接着剤の
アウトガスで真空度が損なわれるという不具合もある。
この発明は、上記問題を解消するためになされたもので
、試料の平行度が高められ、かつ試料の着脱も容易な試
料固定装置を提供することを目的としている。
く問題点を解決するための手段〉 この発明の試料固定装置は、円周上に切欠部を有する円
板状の試料を試料台上に固定するのに、試料台の上面に
、試料の外周部上面を支える鍔状の支持部を備えた少な
くとも3個のポストと、各ポストの支持部に対し試料の
外周部を押し付けるためのばねとを配備したものである
そして各ポストは、試料の外形に沿いかつ少なくとも1
個を切欠部に対応させてそれぞれ配置するとともに、各
ポストの間隔を試料の挿入は許容するが、試料台に対す
る試料の周方向の相対回動は切・大部の位置のポストが
規制するよう設定している。
く作用〉 この発明の試料固定装置では、試料台上のボスト間に試
料を位置させ、切欠部と反対側のポストの方向へ試料を
移行させて支持部とばねとの間に試料の外周部を挿入し
た後、試料台に対して試料を相対的に周方向へ回動する
ことにより、試料の切欠部をその位置のポストに突き当
てて支持部とばねとの間で挟持させる。このように試料
の固定が簡易であり、試料は支持部により上面基準で試
料台上に固定されることになる。
〈実施例〉 第1図は、この発明に係る試料固定装置を電子ビーム描
画装置に適用した例を示している。
同図において、試料3は円板状のシリコンウェハであっ
て、第3図および第4図に示すように、その円周上に直
線状の切欠部3aが設けられている。
試料台1上には、3本のポスト4A、4B。
4Cが縦設され、これらポスト4A、4B。
4Cは試料3の外形に沿う円周上に配置されている。各
ポストの上端には、第1図および第2図に示す如く、試
料3の外周部上面を支えるための鍔状の支持部4aがそ
れぞれ一体形成されている。また各ポストに対応して試
料台1上には、押上ばね5A、5B、5Cが配設されて
いる。これらばねは、略コ字形の押圧部5aと、試料台
1に埋設・固定された基端部5bとからなり、各押圧部
5aは各ポストの支持部4aに対し試料3の外周部を押
し付けて両者間で挟持するものである。上記各組のポス
トおよびばねのうち、1組のポスト4Cおよびばね5C
は、試料3の切欠部3aと対向する位置に配置されてお
り、各ポストの間隔はその間への試料3の挿入は許容す
るが、試料台1に対する試料3の周方向の相対回動はポ
スト4Cとばね5Cとの組が規制するように設定しであ
る。
上記構成において、試料3を第3図(1)および第4図
に示すように、その切欠部3aがポスト4Cおよびばね
5Cに対向するようポスト4A。
4B、4C間に挿入位置させた後、試料3を矢印aの方
向へ移動させれば、試料3の外周部が第3図(1)中鎖
線で示すようにポスト4A、4Bの各支持部4aとばね
5A、5Bの各押圧部5aとの間に挿入されて挟持され
る。この状態で試料3または試料台1のいずれかを周方
向へ回動操作すると(この例では試料台1を第3図(2
)の矢印すの方向へ回動操作する)、試料3の切欠部3
aの端部がポスト4Cに突き当たり、支持部4aとばね
5Cの押圧部5aとの間に挿入されて挟持される二これ
により、試料3は3組のポストおよびばねで試料台1上
に水平状態で支持されることになる。
なお試料台1を反対方向へ回動操作して試料3の切欠部
3aをポスト4Cおよびばね5Cと対向する位置に移動
させれば、試料3を取り外すことができる。
このように試料3の外周部をポストの支持部4aとばね
との間で挟持しているため、試料3の平行度は接着剤を
用いるもののように劣化することがない。しかも支持部
4aで試料3がその上面基準で固定されることにより、
試料3の厚みに関係なく試料3の上面レベルが一定に保
持され、電子ビームの焦点合せが不要となる。
また、支持部4aの高さを調整すれば、試料3と試料台
1との平行度も容易に調整可能となる。
さらに、試料3を挿入操作と回動操作とで試料台1に対
して容易に着脱できるため、この着脱の自動化を実現で
き、その場合、真空室の真空を破るおそれもなく、作業
効率が高められる。
また、接着剤を用いでいないので、真空中のアウトガス
で真空度が損なわれるおそれも解消される。
なお、上記の例では、3組のポストおよびばねを使用し
た例で説明したが、その数をさらに増してもよく、また
ポストやばねの形状も適宜変更可能である。
〈発明の効果〉 この発明によれば、円周上に切欠部を有する円板状の試
料を、試料台上に設けた少なくとも3組のポストとばね
とで支持するようにしたから、試料は上面基準で高い平
行度をもって固定され、さらに簡単な操作で試料台に対
する試料の着脱が可能であるため、着脱時の試料の損傷
が防止される。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明に係る試料固定装置を電子ビーム描画
に適用した例を示す正面図、第2図は試料固定装置の要
部の構成を示す一部を破断した正面図、第3図は試料の
装着手順を示す平面図、第4図はその正面図、第5図お
よび第6図は従来例による試料の固定状態を示す正面図
である。 1・・・・試料台     3・・・・試料3a・・・
・切欠部 4八、 4B、 4C・・・・ポスト

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 円周上に切欠部を有する円板状の試料を試料台上に固定
    するための試料固定装置において、前記試料台の上面に
    、試料の外周部上面を支える鍔状の支持部を備えた少な
    くとも3個のポストと、各ポストの支持部に対し試料の
    外周部を押し付けるためのばねとが配備され、 各ポストは、試料の外形に沿いかつ少なくとも1個を切
    欠部に対応させてそれぞれ配置するとともに、各ポスト
    の間隔を試料の挿入は許容するが、試料台に対する試料
    の周方向の相対回動は切欠部の位置のポストが規制する
    よう設定されて成る試料固定装置。
JP1082121A 1989-03-31 1989-03-31 試料固定装置 Pending JPH02260647A (ja)

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JP1082121A JPH02260647A (ja) 1989-03-31 1989-03-31 試料固定装置

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JPH02260647A true JPH02260647A (ja) 1990-10-23

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ID=13765580

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2023137920A (ja) * 2022-03-18 2023-09-29 日本発條株式会社 試験片把持構造、試験片把持具および材料試験方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0216749A (ja) * 1988-07-05 1990-01-19 Fujitsu Ltd 電子ビーム露光装置用ウェハーホルダ

Patent Citations (1)

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