JPH02264491A - 分布帰還型半導体レーザの製造方法 - Google Patents

分布帰還型半導体レーザの製造方法

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JPH02264491A
JPH02264491A JP1086014A JP8601489A JPH02264491A JP H02264491 A JPH02264491 A JP H02264491A JP 1086014 A JP1086014 A JP 1086014A JP 8601489 A JP8601489 A JP 8601489A JP H02264491 A JPH02264491 A JP H02264491A
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JP
Japan
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diffraction grating
active layer
layer
semiconductor laser
type
Prior art date
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Pending
Application number
JP1086014A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshitatsu Kawama
吉竜 川間
Shoichi Kakimoto
柿本 昇一
Yasushi Sakakibara
靖 榊原
Yasuo Nakajima
康雄 中島
Akira Takemoto
武本 彰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Publication of JPH02264491A publication Critical patent/JPH02264491A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/12Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は利得結合型の分布帰還型半導体レーザの製造
方法に関するものである。
〔従来の技術〕
第2図は例えば特開昭62−173786号公報に示さ
れた従来の利得結合型の分布帰還型半導体レーザの断面
図、第3図(a)〜(c)は第2図の半導体レーザの製
造方法の工程を示す断面図である。図において、(至)
はn型InP基板%(2)はn型InPクラッド層、(
至)はP型1nGaAsP吸収層、(財)はn型1nP
クラッド層(イ)及びP型1nGaAsP吸収層(至)
上に形成した回折格子、(ハ)はn型1nGaAsPガ
イド層、(至)はInGaAsP 活性層、鋤はP型1
nPクラッド層、(至)はn電極、(2)はPw!極で
ある。
次に、この半導体レーザの製造方法について説明する。
まず、第3図(a)に示すように、n型1nP基板(至
)の上にn型1nP sクラッド層@、P型1nGaA
sP吸収層(2)を順次形成する。次に813図(b)
に示すように、P型InGaAsP吸収層(2)を貫き
、n型1nPクラッド層(2)に到達する回折格子(財
)を形成する。次に第3図(c)に示すように、回折格
子(至)上にn型InGaAsP ガイド層@ s I
nGaAsP活性層fi、 P型1nPクラフト層翰を
順次成長する。そして、最後にn電極(至)及びP f
f!61を形成すれば半導体レーザが完成する。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の利得結合型の分布帰還型半導体レーザの製造方法
は以上のように行われているので、P型InGaAsP
吸収S(至)の大きさが、回折格子(ハ)の深さで変わ
るため制御が難しく、結合定数や効率がばらついてしま
うという問題があった。
この発明は、上記の様な問題を解消するためになされた
もので、特性の安定した利得結合型の分布帰還型半導体
レーザの製造方法を得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係る半導体レーザの製造方法は、第1導電型
の半導体基板上に回折格子を形成する工程と、上記回折
格子を熱変形する工程と、上記回折格子表面の原子ステ
ップ部分に活性層を形成する工程と、上記活性層上に第
2導電型の半導体層を形成する工程とを含むものである
〔作用〕 この発明における半導体レーザの製造方法は、熱変形し
正弦波状になる回折格子表面の原子ステップ部分に活性
層を成長することにより、活性層の密な部分と疎な部分
が回折格子の半分の周期で形成されるため、回折格子の
周期が通常の倍になり、制御性が向上し特性が安定する
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第1図(a)〜(e)はこの発明の半導体レーザの製造
方法の工程を示す断面図である。図において、(1)は
第14W型の半導体基板、(2)は第141It型の半
導体基板(1)表面に形成した回折格子、(3)は熱変
形した回折格子、(4)は熱変形した回折格子(3)表
面の原子ステップに形成した活性層、(5)は活性層の
密な部分、(6)は活性層の疎な部分、(7)は第2導
電型の半導体層、(8)は第1導電型電極、(9)は第
2導笥型電極である。
次に製造方法について説明する。
まず、第1図(a)に示すように、第1導電型の半導体
基板(1)表面に回折格子(21を形成する。次に、第
1図(b)に示すように1回折格子(21の形状をアニ
ールで正弦波状にする。次に第1図(C)に示すように
、熱変形した回折格子(3)の表面に、原子層エピタキ
シャル成長により活性層の密な部分(+1)、及び活性
層の疎な部分(6)を形成する。このとき、第1図(d
)に示すように、活性層(4)を回折格子(21の原子
ステップ部分に形成し、周期的に活性層(4)の密度差
ができるように制御することが必要である。最後に、第
1図(e)に示すように、活性層(4)上に第2導電型
の半導体層(7)を形成し、M1導市型N極(8)、第
2導電型電極(9)をそれぞれ形成する。
すなわち、この発明によれば活性層(4)が熱変形した
回折格子(3)の半分の周期で密になる利得結合型の分
布帰還型半導体レーザが形成できる。
〔発明の効果〕
この発明は以上説明したとおも、第1導電型の半導体基
板上に回折格子を形成する工程と、上記回折格子を変形
する工程と、上記回折格子表面の原子ステップ部分に活
性層を形成する工程と、上記活性層上に第2導彎型の半
導体層を形成する工程とを含むので、回折格子の周期が
倍になり制御性が向上し、特性が安定する半導体レーザ
が得られるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)〜(e)はこの発明の一実施例による半導
体レーザの製造方法の工程を示す断面図、第2図は従来
の半導体レーザの断面図、第3図(a)〜(c)は第2
図の半導体レーザの製造方法の工程を示す断面図である
。。 図において、(1)は第1導彎型の半導体基板、(2)
は回折格子、(3)は熱変形した回折格子、(4)は宿
性層、(6)は活性層の密な部分、(61は活性層の疎
な部分、(7)は第2導電型の半導体層、(8)は第1
導市型電極、(9)は第2導電型電極である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 第1導電型の半導体基板上に回折格子を形成する工程と
    、上記回折格子を熱変形する工程と、上記回折格子表面
    に活性層を形成する工程と、上記活性層上に第2導電型
    の半導体層を形成する工程とを含むことを特徴とする分
    布帰還型半導体レーザの製造方法。
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