JPH02266592A - How to form through holes - Google Patents

How to form through holes

Info

Publication number
JPH02266592A
JPH02266592A JP8689989A JP8689989A JPH02266592A JP H02266592 A JPH02266592 A JP H02266592A JP 8689989 A JP8689989 A JP 8689989A JP 8689989 A JP8689989 A JP 8689989A JP H02266592 A JPH02266592 A JP H02266592A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
hole
holes
forming
wall
energy beam
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8689989A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideho Inagawa
秀穂 稲川
Shigenobu Noujiyou
能條 重信
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP8689989A priority Critical patent/JPH02266592A/en
Publication of JPH02266592A publication Critical patent/JPH02266592A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、エネルギービームによる貫通孔の形成とプラ
ズマ処理による仕上加工とを併用したプリント配線板に
設けるスルーホールの形成法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a method for forming through-holes in a printed wiring board using both the formation of through-holes using an energy beam and finishing processing using plasma treatment.

[従来の技術] 従来、プリント配線板のスルーホールの形成は、プリン
ト配線板形成用の基板にドリル等を用いた機械加工によ
って貫通孔を形成し、形成された貫通孔内壁に導体材料
を被覆することによって行なわれてきた。
[Prior Art] Conventionally, through-holes in printed wiring boards are formed by forming the through-holes in the substrate for forming the printed wiring board by machining using a drill or the like, and then coating the inner walls of the formed through-holes with a conductive material. It has been done by doing.

[発明が解決しようとする課題] しかしながら、従来の機械加工により貫通孔を形成する
方法では、より小さい径の貫通孔を形成する場合に、下
記のような問題が生じた。
[Problems to be Solved by the Invention] However, in the conventional method of forming a through hole by machining, the following problems arose when forming a through hole with a smaller diameter.

1)小さい径のドリルは、一般に刃の耐久性が必ずしも
十分でなく、加工数の増加に従って強度が低下し、寿命
が短く、しかも高価である。
1) Small diameter drills generally do not have sufficient blade durability, their strength decreases as the number of drills increases, their lifespan is short, and they are expensive.

2)ドリルの寿命を延長するために、ドリルの送り速度
を遅くすると、加工時間が長くなる。
2) In order to extend the life of the drill, reducing the feed speed of the drill will increase the machining time.

3)貫通孔の直行性、位置精度がでにくい。3) It is difficult to achieve perpendicularity and positional accuracy of the through hole.

4)第2図(a)及び(b)に示すようにドリルにより
形成された貫通孔内壁の凹凸が孔径に対して大きく、貫
通孔内壁への導線材料の均一な被覆がむずかしく、また
被覆された導電材料の貫通孔内壁への十分な密着性が得
られない場合が多く、スルーホールの各種ストレスに対
する信頼性にかける場合が多い。
4) As shown in FIGS. 2(a) and (b), the unevenness of the inner wall of the through hole formed by the drill is large compared to the hole diameter, making it difficult to uniformly coat the inner wall of the through hole with the conductor material. In many cases, sufficient adhesion of the conductive material to the inner wall of the through-hole cannot be obtained, and the reliability of the through-hole against various stresses is often compromised.

本発明の目的は、微少径のスルーホールの形成において
も、信頼性の高いスルーホールを効率良く形成できるス
ルーホールの形成法を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a through-hole forming method that can efficiently form highly reliable through-holes even when forming through-holes with minute diameters.

[B題を解決するための手段] 本発明のスルーホールの形成法は、複合材料からなる基
板にエネルギービームによって貫通孔を形成する過程と
、形成された貫通孔内をプラズマ処理により仕上げ加工
する過程と、仕上げ加工された貫通孔内壁に導電性材料
を被覆してスルーホールを形成する過程とを含むことを
特徴とする。
[Means for Solving Problem B] The through-hole forming method of the present invention includes a process of forming a through-hole in a substrate made of a composite material using an energy beam, and finishing the inside of the formed through-hole by plasma treatment. and a step of forming a through hole by coating the finished inner wall of the through hole with a conductive material.

本発明の方法では、エネルギービームによる熱加工によ
る貫通孔の形成が利用されるので、微少径の貫通孔の形
成においても、直進性及び位置精度の良い貫通孔を形成
可能であり、さらに、プラズマ処理という化学反応を利
用した仕上げ加工によって、貫通孔内壁に、導電材料の
均一かつ良好な被覆に必要な状態が容易に得られるので
、本発明の方法を用いれば、位置精度、形状精度に優れ
、信頼性の高いスルーホールを形成できる。
Since the method of the present invention utilizes the formation of through holes by thermal processing using an energy beam, it is possible to form through holes with good straightness and positional accuracy even when forming through holes with minute diameters. Finishing using a chemical reaction called treatment can easily provide the conditions necessary for uniform and good coating of the conductive material on the inner wall of the through hole, so if the method of the present invention is used, it can be achieved with excellent positional accuracy and shape accuracy. , it is possible to form highly reliable through holes.

しかも、ドリル等を用いた機械加工による貫通孔の形成
を行なわないので、機械加工を利用する際の上述したよ
うな種々の問題を回避できる。
Moreover, since the through holes are not formed by machining using a drill or the like, the various problems described above when using machining can be avoided.

以下、本発明の方法の一例を図面を参照しつつ説明する
An example of the method of the present invention will be described below with reference to the drawings.

本発明の方法では、基板への孔あけは、エネルギービー
ムによる熱加工が利用される。
In the method of the present invention, thermal processing using an energy beam is used to create holes in the substrate.

孔あけ加工に用いるエネルギービームは、複合材料から
なる基板の材質に応じて適宜選択すれば良く、例えば、
レーザービーム、電子ビーム、イオンビーム等が利用で
きる。
The energy beam used for drilling may be appropriately selected depending on the material of the substrate made of composite material. For example,
Laser beams, electron beams, ion beams, etc. can be used.

エネルギービームの照射条件は、所望とする孔あけが行
なえるよ−・に設定すわば良い。
The energy beam irradiation conditions may be set to such a value that the desired hole drilling can be performed.

エネルギービームによって形成された貫通孔内壁には、
通常凹凸が形成きれ易い。
The inner wall of the through hole formed by the energy beam has
Normally, unevenness is easily formed.

これは、基板が異なる材料から形成された複合材料から
なり、エネルギービームの照射時におけるこれらの材料
の状態変化が異なるためであると考えられる。
This is thought to be because the substrate is made of a composite material made of different materials, and the states of these materials change differently when irradiated with the energy beam.

例えば、第1図(a)に示すようなガラス繊維に樹脂を
含浸硬化させて形成した複合材料からなる層2を有する
基板にエネルギービーム3による孔あけを行なうと、第
1図(b)に示すようにガラスを主に含む凸部が形成さ
れる。
For example, when a hole is drilled using the energy beam 3 in a substrate having a layer 2 made of a composite material formed by impregnating and curing glass fiber with resin as shown in FIG. 1(a), the hole shown in FIG. 1(b) is formed. As shown, a convex portion mainly containing glass is formed.

そこで、このような凹凸を平滑化するプラズマによる処
理が次に行なわれる。
Therefore, plasma processing is next performed to smooth out such irregularities.

この凹凸を平滑化のためのプラズマ処理は、凸部を選択
的に除去できる操作条件が選択されて行なわれる。例え
ば、第1図(b)に示したようなガラスを主に含む凸部
を除去する場合には、フッ素イオン系プラズマエツチン
グを利用して5第1図(c)のように凸部の選択的除去
を行なうことができる。
The plasma treatment for smoothing the unevenness is performed by selecting operating conditions that can selectively remove the unevenness. For example, when removing a protrusion mainly containing glass as shown in Fig. 1(b), fluorine ion plasma etching is used to select the protrusion as shown in Fig. 1(c). Target removal can be performed.

この凸部の選択的除去のためのプラズマ処理の条件は、
凸部を形成している材質に応じて適宜選択すればよい。
The plasma treatment conditions for selectively removing the convex portions are as follows:
It may be selected as appropriate depending on the material forming the convex portion.

本発明においては、上記の凹凸の平滑化のためのプラズ
マ処理に、貫通孔内の浄化のためのプラズマ処理を付加
しても良い。
In the present invention, plasma treatment for cleaning the inside of the through hole may be added to the plasma treatment for smoothing the unevenness described above.

具体的には、例えば第1図(a)に示すような樹脂を含
む層にエネルギービームによる孔あけを行うと、第17
J4 (b )に示すように樹脂から黒色炭化物4が生
じるので、この黒色炭化物を02プラズマによる02ア
ツシング処理によって除去することにより、貫通孔内を
浄化できる。
Specifically, for example, when a hole is made using an energy beam in a layer containing resin as shown in FIG. 1(a), the 17th
As shown in J4 (b), black carbide 4 is generated from the resin, and by removing this black carbide by the 02 ashes treatment using 02 plasma, the inside of the through hole can be purified.

この0□アツシング浄化処理は、−上記の凹凸の平滑化
のためのプラズマ処理の前に行なわれる。
This 0□ Ashing purification treatment is performed before the above-mentioned plasma treatment for smoothing unevenness.

すなわち、まず02プラズマアツシングの処理により炭
化物を除去しないと、被覆炭化物によってプラズマによ
る平滑化の反応が妨害されて有効に行なわれない。
That is, unless the carbide is first removed by the 02 plasma ashing process, the smoothing reaction by the plasma will be hindered by the coated carbide and will not be carried out effectively.

この浄化処理は、エネルギービームによって形成された
貫通孔内の状態に応じて追加的に行なえば良く、その操
作条件も、除去すべき黒色炭化物からなるカス等の種類
に応じて設定すれば良い。
This purification process may be performed additionally depending on the state inside the through hole formed by the energy beam, and the operating conditions may also be set depending on the type of black carbide scum etc. to be removed.

以」二のプラズマ処理を行なうことによって、内壁が平
滑化された貫通孔を得ることができる。
By performing the following two plasma treatments, a through hole with a smooth inner wall can be obtained.

次に、例えば第1図(d)に示すように、導電材料を貫
通孔内壁に、無電解メツキ、電気メツキ等の方法により
被覆して、被覆層7を形成してスルーホールを得ること
ができる。
Next, as shown in FIG. 1(d), for example, the inner wall of the through hole is coated with a conductive material by electroless plating, electroplating, or the like to form a coating layer 7 to obtain a through hole. can.

この導電材料の被覆に際して、貫通孔内壁が上記プラズ
マ処理によって浄化された平滑面となっているので、均
一な導電材料の被覆が行なえ、かつ形成された被覆層の
密着性も良好なものとなる。
When coating with the conductive material, the inner wall of the through hole is a smooth surface that has been purified by the plasma treatment, so that the conductive material can be coated uniformly and the formed coating layer has good adhesion. .

[実施例] 実施例1 第1図(a)に示す構成の両面銅張ガラスエポキシ基板
(東芝ケミカル社製、TLG−W−551,0,66m
+r+t)に、波長10.8μmの炭酸ガスレーザービ
ームな、平均出力30W、周波数10Hzのパルス発振
、スポット径0.1 mo+φ、照射時間1.2秒の条
件で所望の位置に照射し、直径0.Immの貫通孔を得
た。
[Example] Example 1 A double-sided copper-clad glass epoxy substrate (manufactured by Toshiba Chemical Corporation, TLG-W-551, 0, 66m) having the configuration shown in FIG.
+r+t), a carbon dioxide laser beam with a wavelength of 10.8 μm, an average output of 30 W, a pulse oscillation frequency of 10 Hz, a spot diameter of 0.1 mo+φ, and an irradiation time of 1.2 seconds are applied to the desired position, and a diameter of 0. .. A through hole of Imm was obtained.

次に、形成された貫通孔に常法(150℃という低温で
、70分間)によりo2アッシング処理を行ない、貫通
孔内壁に残った黒色炭化物を除去した。
Next, the formed through-hole was subjected to O2 ashing treatment by a conventional method (at a low temperature of 150° C. for 70 minutes) to remove black carbide remaining on the inner wall of the through-hole.

更に、NF、ガスを用いたF−プラズマによる処理(圧
力10−”Torr、400W 、 150℃、60分
間)を行なった。
Furthermore, treatment with F-plasma using NF and gas (pressure 10-'' Torr, 400 W, 150° C., 60 minutes) was performed.

F−プラズマ処理終了後に、貫通孔内を孔中心を通る面
で切断、洗浄し光学顕微鏡で断面観察することにより観
察したところ、貫通孔内壁が十分に浄化及び平滑化され
ていることが確認できた。
After the F-plasma treatment, the inside of the through hole was cut along a plane passing through the center of the hole, cleaned, and the cross section was observed using an optical microscope. It was confirmed that the inside wall of the through hole was sufficiently purified and smoothed. Ta.

次に、無電解メツキ法によって、銅の被覆層(層厚20
gmt)を貫通孔内壁に形成し、スルーホールを得た。
Next, a copper coating layer (layer thickness 20
gmt) was formed on the inner wall of the through hole to obtain a through hole.

得られたスルーホールを、通電チエツク、オイルディッ
ピングによる熱衝撃(X顕性試験、基板の上下面におけ
る位置ズレの検査によって評価した結果を表1に示す。
Table 1 shows the results of evaluating the obtained through-holes by conducting a current check, a thermal shock test (X-sensitivity test) by oil dipping, and inspecting the positional deviation on the upper and lower surfaces of the substrate.

なお、通電チエツクは、スルーホールに通電して、その
抵抗値を測定することにより行ない、50mΩ以Fの場
合を「良」とし、スルーホール100個あたりの「良」
と認定されたスルーホールの個数を表1に示した。
The energization check is carried out by applying current to the through hole and measuring its resistance value.If it is 50 mΩ or more, it is considered "good", and "good" is determined per 100 through holes.
Table 1 shows the number of through holes that have been certified as such.

また、熱衝撃信頼性試験は、260℃のオイルへの5秒
間の浸漬を10回繰り返した後に、通電チエツクが行な
われた。スルーホール50個あたりの通電不能となった
スルーホールの個数を表1に示した。
Further, in the thermal shock reliability test, after repeating immersion in oil at 260° C. for 5 seconds 10 times, a current check was performed. Table 1 shows the number of through holes that could no longer conduct electricity per 50 through holes.

また、位置精度は、基準孔を原点とした、相対的な座標
点測定を裏・表面性なうことにより測定され、理論値に
対するズレ量は±10鱗以内であった。
Further, the positional accuracy was measured by measuring relative coordinate points on the back and front sides with the reference hole as the origin, and the deviation from the theoretical value was within ±10 scales.

実施例2 炭酸ガスレーザーの代りに、波長1.06μmのYAG
レーザーを用い、照射条件を、平均出力lOW、周波数
5叶2、スポット径0.08 mmφ、照射時間0.5
秒とする以外は実施例1と同様にしてスルホールの形成
を行なった。
Example 2 YAG with a wavelength of 1.06 μm instead of carbon dioxide laser
Using a laser, the irradiation conditions were: average output 1OW, frequency 5, 2, spot diameter 0.08 mmφ, irradiation time 0.5.
Through-holes were formed in the same manner as in Example 1 except that the time was changed to 2 seconds.

得られたスルーホールの実施例1と同様に行なった評価
の結果を表1に示す。
Table 1 shows the results of the evaluation of the obtained through-hole in the same manner as in Example 1.

比較例 実施例1で用いた両面銅張ガラスエポキシ基板に、直径
0.1ma+の孔あけ用のドリルにより貫通孔を送り速
度2.5m/minのドリル条件で形成し、得られた貫
通孔に実施例1と同様にして導電材料層を被覆し、スル
ーホールを得た。
Comparative Example A through hole was formed in the double-sided copper-clad glass epoxy substrate used in Example 1 using a drilling drill with a diameter of 0.1 ma+ at a feed rate of 2.5 m/min, and the resulting through hole was A conductive material layer was coated in the same manner as in Example 1 to obtain a through hole.

得られたスルーホールの実施例1と同様に行なった評価
の結果を表1に示す。
Table 1 shows the results of the evaluation of the obtained through-hole in the same manner as in Example 1.

表   1 [発明の効果] 本発明の方法によれば、基板への孔あけにエネルーギー
ビームによる孔あけが用いらねるので、微小径の孔あけ
も効率良く、容易である。しかも、ドリル等の機械加工
による孔あけに伴なう問題を生じることなくスルーホー
ルの形成が可能である。
Table 1 [Effects of the Invention] According to the method of the present invention, since drilling by an energy beam is not used for drilling holes in the substrate, it is possible to drill holes with minute diameters efficiently and easily. In addition, through-holes can be formed without causing problems associated with drilling by machining with a drill or the like.

更に、本発明の方法においては、エネルギービームによ
る孔あけに、プラズマ処理による仕上加工が組合されて
いるので、スルーホールとなる貫通孔の内壁が、導電材
料の均一かつ密着性良い被覆に好適な状態で形成され、
信頼性の高いスルーホールを得ることができる。
Furthermore, in the method of the present invention, finishing processing using plasma treatment is combined with drilling using an energy beam, so that the inner wall of the through-hole is coated with a conductive material with good uniformity and adhesion. formed in the state,
Highly reliable through holes can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図(a)〜(d)は本発明の方法の一例の主要工程
を基板の部分断面図で示した図、?42図(a)及び(
b)は従来の機械加工を用いた方法の主要工程を基板の
部分断面図で示した図である。 1:導電材料層(銅層) 2:複合材料層 3:エネルギービーム 4:黒色炭化物 5:プラズマ 6:ドリル 7:導電材料被覆層
FIGS. 1(a) to 1(d) are partial sectional views of a substrate showing the main steps of an example of the method of the present invention. Figure 42 (a) and (
b) is a partial sectional view of a substrate showing the main steps of a conventional method using machining. 1: Conductive material layer (copper layer) 2: Composite material layer 3: Energy beam 4: Black carbide 5: Plasma 6: Drill 7: Conductive material coating layer

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1)複合材料からなる基板にエネルギービームによって
貫通孔を形成する過程と、形成された貫通孔内をプラズ
マ処理により仕上げ加工する過程と、仕上げ加工された
貫通孔内壁に導電性材料を被覆してスルーホールを形成
する過程とを含むことを特徴とするスルーホールの形成
法。 2)前記プラズマ処理が前記貫通孔内壁の浄化処理及び
凹凸の平滑化処理を含む請求項1に記載のスルーホール
の形成法。 3)前記複合材料が、ガラス繊維に樹脂を含浸、硬化さ
せて形成したものであるスルーホールの形成法。
[Claims] 1) A process of forming a through hole in a substrate made of a composite material using an energy beam, a process of finishing the inside of the formed through hole by plasma treatment, and a process of forming a conductive material on the inner wall of the finished through hole. 1. A method for forming a through hole, the method comprising the step of forming a through hole by coating a transparent material. 2) The method for forming a through hole according to claim 1, wherein the plasma treatment includes cleaning the inner wall of the through hole and smoothing unevenness. 3) A method for forming through-holes in which the composite material is formed by impregnating glass fiber with resin and curing it.
JP8689989A 1989-04-07 1989-04-07 How to form through holes Pending JPH02266592A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8689989A JPH02266592A (en) 1989-04-07 1989-04-07 How to form through holes

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8689989A JPH02266592A (en) 1989-04-07 1989-04-07 How to form through holes

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02266592A true JPH02266592A (en) 1990-10-31

Family

ID=13899683

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8689989A Pending JPH02266592A (en) 1989-04-07 1989-04-07 How to form through holes

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02266592A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001008128A1 (en) * 1999-07-22 2001-02-01 Seiko Epson Corporation Electro-optical device, method of manufacture thereof, and electronic device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001008128A1 (en) * 1999-07-22 2001-02-01 Seiko Epson Corporation Electro-optical device, method of manufacture thereof, and electronic device
US6690032B1 (en) 1999-07-22 2004-02-10 Seiko Epson Corporation Electro-optical device and method of manufacture thereof, and electronic instrument

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100361701B1 (en) Multilayer printed wiring board and method for manufacturing same
JPH02182390A (en) Hole processing method using laser
US6827867B2 (en) Method for manufacturing printed wiring board
JP2004351513A (en) Material processing method using ultrashort pulse laser, printed wiring board, and manufacturing method thereof
CN113395842A (en) Method for manufacturing circuit board with suspended circuit layer
JP7333210B2 (en) Method for manufacturing printed wiring board
JPH02266592A (en) How to form through holes
JPH0435818A (en) Drilling of printed circuit board and device therefor
JP4186926B2 (en) Laser processing method
JPH0346393A (en) Manufacturing method of printed wiring board
JPS6197995A (en) Making of through hole type circuit board
JP2687535B2 (en) Method of processing holes by energy beam
JPH0414284A (en) Manufacturing method of printed wiring board
JP7227798B2 (en) Glass circuit board manufacturing method
JPH0447999B2 (en)
JPS61133696A (en) Manufacture of wiring board
JP2015177018A (en) Method of manufacturing wiring board
JPH10337699A (en) Drilling method of wiring board
JP2001244606A (en) Drilling method for laminated substrate
JPS62216297A (en) Hole drilling of multilayer printed board
JPH0354885A (en) How to make holes in printed circuit boards
JPH06244529A (en) Manufacture of printed-wiring board
JPH11204916A (en) Printed circuit board and its drilling method
JPH10229257A (en) Glass resin board
JPH04356993A (en) Manufacture of printed circuit board