JPH0226735B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0226735B2 JPH0226735B2 JP57050033A JP5003382A JPH0226735B2 JP H0226735 B2 JPH0226735 B2 JP H0226735B2 JP 57050033 A JP57050033 A JP 57050033A JP 5003382 A JP5003382 A JP 5003382A JP H0226735 B2 JPH0226735 B2 JP H0226735B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- edge
- image
- fiber
- light leakage
- image fiber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Optical Fibers, Optical Fiber Cores, And Optical Fiber Bundles (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はイメージフアイバの漏光測定方法に関
し、特にエツジ法に用いて有用なものである。
し、特にエツジ法に用いて有用なものである。
整列された束状光フアイバを用いて画像を直接
に伝送するイメージフアイバにおいて、その伝送
画像の質を規定する最大の要因として光フアイバ
素線間の漏光量がある。通常の光フアイバケーブ
ルにおいては光フアイバ素線相互の距離を充分に
とること及び夫々の光フアイバ素線に光学的に不
透明なプラスチツク被覆を施すことにより漏光量
は実用上問題のない範囲内に抑えられているが、
イメージフアイバにおいては光フアイバ素線の充
填率を向上せしむべく光フアイバ素線相互間の距
離を極めて短かくしている。一例として光フアイ
バ素線のコア径10μｍ、外径15μｍとした場合、
隣接するコア間の距離は5μｍであり、各画素を
伝播する光のコア外へのしみ出しにより画素間の
漏光を生起する。画素間の漏光量が大となると、
通常光フアイバ素線の総数により決まつている伝
送画像の分解能が低下することとなり、所謂画質
の劣化を招来する。したがつてイメージフアイバ
では画素間の漏光が生じないような構造パラメー
タ（光フアイバ素線のコア径、コア間距離、屈折
率差等）を適切に選択する必要があり、また製造
後所定の性能が満足されているか否かを測定する
必要がある。画質の評価法としては空間周波数領
域で行なうOTF法、MTF法があるが、より直接
的な評価法としては一つの光フアイバ素線に光を
励起し隣接する光フアイバ素線への漏光量を測定
する方法、イメージフアイバの入射端へエツジを
貼り付けてその伝送像を出射端で観測する方法が
ある。この後者の方法はエツジ法と呼称されてい
る。これを更に詳細に説明すると、第１図ａに示
すように、イメージフアイバ１の入射端１ａにエ
ツジ２を貼り付けた後、その入射端１ａに均一な
照明光３を入射せしめて出力端１ｂにおける伝送
像のボケをスリツト付の検出器等で走査記録する
ものである。
に伝送するイメージフアイバにおいて、その伝送
画像の質を規定する最大の要因として光フアイバ
素線間の漏光量がある。通常の光フアイバケーブ
ルにおいては光フアイバ素線相互の距離を充分に
とること及び夫々の光フアイバ素線に光学的に不
透明なプラスチツク被覆を施すことにより漏光量
は実用上問題のない範囲内に抑えられているが、
イメージフアイバにおいては光フアイバ素線の充
填率を向上せしむべく光フアイバ素線相互間の距
離を極めて短かくしている。一例として光フアイ
バ素線のコア径10μｍ、外径15μｍとした場合、
隣接するコア間の距離は5μｍであり、各画素を
伝播する光のコア外へのしみ出しにより画素間の
漏光を生起する。画素間の漏光量が大となると、
通常光フアイバ素線の総数により決まつている伝
送画像の分解能が低下することとなり、所謂画質
の劣化を招来する。したがつてイメージフアイバ
では画素間の漏光が生じないような構造パラメー
タ（光フアイバ素線のコア径、コア間距離、屈折
率差等）を適切に選択する必要があり、また製造
後所定の性能が満足されているか否かを測定する
必要がある。画質の評価法としては空間周波数領
域で行なうOTF法、MTF法があるが、より直接
的な評価法としては一つの光フアイバ素線に光を
励起し隣接する光フアイバ素線への漏光量を測定
する方法、イメージフアイバの入射端へエツジを
貼り付けてその伝送像を出射端で観測する方法が
ある。この後者の方法はエツジ法と呼称されてい
る。これを更に詳細に説明すると、第１図ａに示
すように、イメージフアイバ１の入射端１ａにエ
ツジ２を貼り付けた後、その入射端１ａに均一な
照明光３を入射せしめて出力端１ｂにおける伝送
像のボケをスリツト付の検出器等で走査記録する
ものである。
ところでかかるエツジ法を用いた場合にはイメ
ージフアイバ１の光フアイバ素線の配列方向とエ
ツジ２の方向が一致していないと測定値にバラツ
キを生じるという問題がある。第２図ａはエツジ
２の方向と光フアイバ素線１ｃの配列方向とが一
致していない場合を示しており、この場合にはイ
メージフアイバ１の出射端１ｂでエツジ２の方向
に検出器のスリツトを一致させて走査すると光フ
アイバ素線１ｃ間の漏光量が存在していない場合
でも第２図ｂに示すようなデータとなる。第２図
ｂにおいて、の部分が不規則な形状となるのは
光フアイバ素線１ｃの配列方向と検出器のスリツ
トの方向（エツジ２の方向）とが一致していない
ためで、の部分が滑らかな形状を示すのは光フ
アイバ素線１ｃ−1，１ｃ−2，１ｃ−3，１ｃ−4
の如く一部がエツジ２で隠蔽されてハーフトーン
となる画素が存在するためである。なお、第２図
ａ中のはこのときの検出器の走査方向である。
一方、第３図ａはイメージフアイバ１の光フアイ
バ素線１ｃの配列方向にエツジ２の方向を一致さ
せた場合で、この場合には検出器のスリツトの方
向とエツジ２の方向とを一致させて走査すると第
３図ｂに示すようなデータとなり漏光量の直読が
可能となる。第３図ｂにおいて10logp1／p0が隣
接画素間の漏光量を示す。また、夫々の光フアイ
バ素線列に対応する光出力の分離観測が可能とな
る。即ち、かかるエツジ法においては入力端１ａ
でエツジ２を光フアイバ素線１ｃの列の中間に
（光フアイバ素線１ｃの列にかからないように）
調整する必要がある。
ージフアイバ１の光フアイバ素線の配列方向とエ
ツジ２の方向が一致していないと測定値にバラツ
キを生じるという問題がある。第２図ａはエツジ
２の方向と光フアイバ素線１ｃの配列方向とが一
致していない場合を示しており、この場合にはイ
メージフアイバ１の出射端１ｂでエツジ２の方向
に検出器のスリツトを一致させて走査すると光フ
アイバ素線１ｃ間の漏光量が存在していない場合
でも第２図ｂに示すようなデータとなる。第２図
ｂにおいて、の部分が不規則な形状となるのは
光フアイバ素線１ｃの配列方向と検出器のスリツ
トの方向（エツジ２の方向）とが一致していない
ためで、の部分が滑らかな形状を示すのは光フ
アイバ素線１ｃ−1，１ｃ−2，１ｃ−3，１ｃ−4
の如く一部がエツジ２で隠蔽されてハーフトーン
となる画素が存在するためである。なお、第２図
ａ中のはこのときの検出器の走査方向である。
一方、第３図ａはイメージフアイバ１の光フアイ
バ素線１ｃの配列方向にエツジ２の方向を一致さ
せた場合で、この場合には検出器のスリツトの方
向とエツジ２の方向とを一致させて走査すると第
３図ｂに示すようなデータとなり漏光量の直読が
可能となる。第３図ｂにおいて10logp1／p0が隣
接画素間の漏光量を示す。また、夫々の光フアイ
バ素線列に対応する光出力の分離観測が可能とな
る。即ち、かかるエツジ法においては入力端１ａ
でエツジ２を光フアイバ素線１ｃの列の中間に
（光フアイバ素線１ｃの列にかからないように）
調整する必要がある。
本発明は、上記の点に鑑み、エツジの調整を容
易になし得るイメージフアイバの漏光測定方法を
提供することを目的とする。かかる目的を達成す
る本発明はイメージフアイバの入射端をモニタ系
により観察する点をその技術思想の基礎とするも
のである。
易になし得るイメージフアイバの漏光測定方法を
提供することを目的とする。かかる目的を達成す
る本発明はイメージフアイバの入射端をモニタ系
により観察する点をその技術思想の基礎とするも
のである。
以下本発明の実施例を図面に基づき詳細に説明
する。第４図に示すように、イメージフアイバ１
の入射端１ａの近傍にこの入射端に対し傾斜させ
てミラー４を配設する。このときミラー４はその
上端をピン５に回動可能に支持されている。本実
施例のモニタ系である顕微鏡６は前記ミラー４に
写つたイメージフアイバ１の入力端１ａを観察し
得るようになつている。そこで、この顕微鏡６を
介して入力端１ａを観察しながらエツジ２の方向
が前記イメージフアイバ１を構成する光フアイバ
素線１ｃの配列方向と一致するように調整してこ
のエツジ２を前記入力端１ａに貼り付ける。この
ことにより第３図ａに示す状態が確保される。そ
の後、前記ミラー４を図中時計方向に回動するこ
とにより入射端１ａの軸方向に関する延長面から
除去してこの入射端１ａに照明光３を入射せしめ
れば第３図ｂに示す特性が得られる。
する。第４図に示すように、イメージフアイバ１
の入射端１ａの近傍にこの入射端に対し傾斜させ
てミラー４を配設する。このときミラー４はその
上端をピン５に回動可能に支持されている。本実
施例のモニタ系である顕微鏡６は前記ミラー４に
写つたイメージフアイバ１の入力端１ａを観察し
得るようになつている。そこで、この顕微鏡６を
介して入力端１ａを観察しながらエツジ２の方向
が前記イメージフアイバ１を構成する光フアイバ
素線１ｃの配列方向と一致するように調整してこ
のエツジ２を前記入力端１ａに貼り付ける。この
ことにより第３図ａに示す状態が確保される。そ
の後、前記ミラー４を図中時計方向に回動するこ
とにより入射端１ａの軸方向に関する延長面から
除去してこの入射端１ａに照明光３を入射せしめ
れば第３図ｂに示す特性が得られる。
以上実施例とともに具体的に説明したように、
本発明によればイメージフアイバのエツジ法によ
る漏光測定を容易に行なうことができる。
本発明によればイメージフアイバのエツジ法によ
る漏光測定を容易に行なうことができる。
第１図はイメージフアイバの漏光測定方法であ
るエツジ法を説明するための説明図、第２図ａは
そのエツジが傾いている場合のエツジとイメージ
フアイバの入射端との位置関係を示す説明図、第
２図ｂは第２図ａの場合のイメージフアイバの出
射端における光出力と検出器位置との関係を示す
特性図、第３図ａはエツジが正常な場合のエツジ
とイメージフアイバの入射端との位置関係を示す
説明図、第３図ｂは第３図ａの場合のイメージフ
アイバの出射端における光出力と検出器位置との
関係を示す特性図、第４図は本発明の実施例を説
明するための説明図である。図面中、 １はイメージフアイバ、１ａは入射端、１ｂは
出射端、２はエツジ、３は照明光、４はミラー、
６は顕微鏡である。
るエツジ法を説明するための説明図、第２図ａは
そのエツジが傾いている場合のエツジとイメージ
フアイバの入射端との位置関係を示す説明図、第
２図ｂは第２図ａの場合のイメージフアイバの出
射端における光出力と検出器位置との関係を示す
特性図、第３図ａはエツジが正常な場合のエツジ
とイメージフアイバの入射端との位置関係を示す
説明図、第３図ｂは第３図ａの場合のイメージフ
アイバの出射端における光出力と検出器位置との
関係を示す特性図、第４図は本発明の実施例を説
明するための説明図である。図面中、 １はイメージフアイバ、１ａは入射端、１ｂは
出射端、２はエツジ、３は照明光、４はミラー、
６は顕微鏡である。
Claims (1)
- １ 整列された束状光フアイバであるイメージフ
アイバの入射端面にエツジを固定し、出射端に伝
送される像を観測して漏光を測定するにあたり、
入射端の近傍にミラーを介して入射端面及びエツ
ジを顕微鏡等のモニタ系で観察可能に配置し、エ
ツジの一辺が前記イメージフアイバを構成する光
フアイバ素線の列にかからないように隣接する列
との中間に位置させ、且つ前記光フアイバ素線の
一部を隠蔽するよう調整し、この位置関係を保持
しながら前記エツジを前記入射端面に接触させて
固定し、その後前記ミラーを除去してこの入射端
に照明光を入射せしめるようにしたことを特徴と
するイメージフアイバの漏光測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57050033A JPS58167939A (ja) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | イメ−ジフアイバの漏光測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57050033A JPS58167939A (ja) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | イメ−ジフアイバの漏光測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58167939A JPS58167939A (ja) | 1983-10-04 |
| JPH0226735B2 true JPH0226735B2 (ja) | 1990-06-12 |
Family
ID=12847679
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57050033A Granted JPS58167939A (ja) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | イメ−ジフアイバの漏光測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58167939A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2518171B2 (ja) * | 1985-07-16 | 1996-07-24 | 株式会社ニコン | 照明用フアイバ−束検査装置 |
| JPH0571661U (ja) * | 1992-02-15 | 1993-09-28 | 純規 尾鳥 | タバコ用ライター |
-
1982
- 1982-03-30 JP JP57050033A patent/JPS58167939A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58167939A (ja) | 1983-10-04 |
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