JPH02267747A - デュアルグレーティングを用いた光ピックアップ装置 - Google Patents
デュアルグレーティングを用いた光ピックアップ装置Info
- Publication number
- JPH02267747A JPH02267747A JP1089124A JP8912489A JPH02267747A JP H02267747 A JPH02267747 A JP H02267747A JP 1089124 A JP1089124 A JP 1089124A JP 8912489 A JP8912489 A JP 8912489A JP H02267747 A JPH02267747 A JP H02267747A
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- Japan
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- grating
- light
- angle
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光情報記録媒体からの反射光の信号検出にデ
ュアルグレーティングを用いた光ピックアップ装置に関
する。
ュアルグレーティングを用いた光ピックアップ装置に関
する。
従来の技術
従来におけるフォーカスエラー信号やトラックエラー信
号の検出にグレーティングを用いた例を第4図に基づい
て説明する。半導体レーザ1から出射された光をコリメ
ートレンズ2で平行化した後、ビームスプリッタ3、ミ
ラー4を通過させ、対物レンズ5により集光して光情報
記録媒体としての光磁気ディスク6の表面に照射し、こ
れにより情報の記録等を行う。また、その光磁気ディス
ク6からの反射光は前記ビームスプリッタ3により反射
され、信号検出光学系7に導かれる。この信号検出光学
系7に導かれた前記反射光は、1/2波長板8によりそ
の光の偏光方向を45°回転され、集光レンズ9により
集束光となる。その後、その集束光はHOE 10 (
Holographic 0pticalE leme
nt)に入射し、その表面に形成された4種の異なるホ
ログラムにより回折光にと透過光Tとに分離される。こ
の時、回折光には4本の光に分離され6分割された受光
素子11に導かれ、一方、HOE 10の影響を受けず
にそのまま透過した透過光Tは偏光プリズム12を通過
して2分割された受光素子13に導かれる。
号の検出にグレーティングを用いた例を第4図に基づい
て説明する。半導体レーザ1から出射された光をコリメ
ートレンズ2で平行化した後、ビームスプリッタ3、ミ
ラー4を通過させ、対物レンズ5により集光して光情報
記録媒体としての光磁気ディスク6の表面に照射し、こ
れにより情報の記録等を行う。また、その光磁気ディス
ク6からの反射光は前記ビームスプリッタ3により反射
され、信号検出光学系7に導かれる。この信号検出光学
系7に導かれた前記反射光は、1/2波長板8によりそ
の光の偏光方向を45°回転され、集光レンズ9により
集束光となる。その後、その集束光はHOE 10 (
Holographic 0pticalE leme
nt)に入射し、その表面に形成された4種の異なるホ
ログラムにより回折光にと透過光Tとに分離される。こ
の時、回折光には4本の光に分離され6分割された受光
素子11に導かれ、一方、HOE 10の影響を受けず
にそのまま透過した透過光Tは偏光プリズム12を通過
して2分割された受光素子13に導かれる。
この場合、信号検出光学系7内における各信号の検出は
、光磁気信号が(S、−3,)、 トラックエラー信
号が(S、−S、) 、フォーカスエラー信号が(S、
+S、)−(S、十S、)によりそれぞれ検出すること
ができる。第6図(a)(b)(c)は、光磁気ディス
ク6のフォーカス状態により受光素子11に照射される
スポット形状が変わることを示したものである。第6図
(b)は光磁気ディスク6が合焦時にある状態を示し、
この時受光量の差分はOとなりフォーカスエラー信号は
検出されないが、第6図(a)(C)に示すようにピン
トがずれて前ピン、後ピンの状態になった時には、受光
量の差分は0とはならず、これによりフォーカスエラー
信号が検出されることになる。
、光磁気信号が(S、−3,)、 トラックエラー信
号が(S、−S、) 、フォーカスエラー信号が(S、
+S、)−(S、十S、)によりそれぞれ検出すること
ができる。第6図(a)(b)(c)は、光磁気ディス
ク6のフォーカス状態により受光素子11に照射される
スポット形状が変わることを示したものである。第6図
(b)は光磁気ディスク6が合焦時にある状態を示し、
この時受光量の差分はOとなりフォーカスエラー信号は
検出されないが、第6図(a)(C)に示すようにピン
トがずれて前ピン、後ピンの状態になった時には、受光
量の差分は0とはならず、これによりフォーカスエラー
信号が検出されることになる。
このようにフォーカスエラー信号、トラックエラー信号
の信号検出機能と光磁気信号の検出のための偏光分離機
能とを合わせもったグレーティングを用いた信号検出用
の光学素子を採用することにより、従来における光ピッ
クアップ装置の構成を小型、軽量化することができる。
の信号検出機能と光磁気信号の検出のための偏光分離機
能とを合わせもったグレーティングを用いた信号検出用
の光学素子を採用することにより、従来における光ピッ
クアップ装置の構成を小型、軽量化することができる。
発明が解決しようとする課題
上述したような従来の装置においては、半導体レーザ1
から出射された光は、気温等の変化に応じて波長が変化
する。この波長の変化に応じてHOEIOのグレーティ
ング(ホログラム)に入射した光の回折光の回折角度が
変化する。従って、この場合、その回折光側に6個の受
光素子11を配置している構造では、その波長変動に対
して回折光Kが所定の位置にその回折光Kが集光しなく
なる恐れがある。その結果、このように回折光にの位置
ずれが生じると、フォーカスエラー信号、トラックエラ
ー信号、光磁気信号が正確に検出することができなくな
るおそれがあり、信号検出の信頼性に問題が生じること
になる。
から出射された光は、気温等の変化に応じて波長が変化
する。この波長の変化に応じてHOEIOのグレーティ
ング(ホログラム)に入射した光の回折光の回折角度が
変化する。従って、この場合、その回折光側に6個の受
光素子11を配置している構造では、その波長変動に対
して回折光Kが所定の位置にその回折光Kが集光しなく
なる恐れがある。その結果、このように回折光にの位置
ずれが生じると、フォーカスエラー信号、トラックエラ
ー信号、光磁気信号が正確に検出することができなくな
るおそれがあり、信号検出の信頼性に問題が生じること
になる。
また、本装置の場合、HOE 10自身は集光能ツノを
もたないので、信号検出光学系7の光路上に集光機能を
有する集光レンズ9を設け、その集光光路中にHOE
I Oを配置して、回折光側と透過光側の所定の位置に
合計8個の受光素子11,13を配置する必要がある。
もたないので、信号検出光学系7の光路上に集光機能を
有する集光レンズ9を設け、その集光光路中にHOE
I Oを配置して、回折光側と透過光側の所定の位置に
合計8個の受光素子11,13を配置する必要がある。
このため、その組み立てにかなりの精度と労力を費やす
ことになり生産効率が悪いものとなる。
ことになり生産効率が悪いものとなる。
また、これまで述べたHOE 10を用いた装置の他に
、表裏両面にグレーティングを有するデュアルグレーテ
ィングを用いた光ピックアップ装置の場合、信号検出を
行う受光素子を同一箇所に設置することができるため、
小型、軽量化を実現することができ波長変動に対しても
強いが、しかし、光は2回グレーティングを通過するた
め、光利用効率及び回折波効率が1回グレーティングを
通過するものに比べ悪いものとなり、これにより信号検
出の安定性に対して問題が生じることになる。
、表裏両面にグレーティングを有するデュアルグレーテ
ィングを用いた光ピックアップ装置の場合、信号検出を
行う受光素子を同一箇所に設置することができるため、
小型、軽量化を実現することができ波長変動に対しても
強いが、しかし、光は2回グレーティングを通過するた
め、光利用効率及び回折波効率が1回グレーティングを
通過するものに比べ悪いものとなり、これにより信号検
出の安定性に対して問題が生じることになる。
課題を解決するための手段
そこで、このような問題点はを解決するために、光情報
記録媒体からの反射光が信号検出光学系に導かれた光路
上に、集光レンズを介して、最初に前記反射光が入射す
る側に形成された表面グレーティングのピッチがこれと
対向して形成された裏面グレーティングのピッチよりも
小さく、前記反射光の前記表面グレーティングへの入射
角をその表面グレーティングのブラッグ角よりも大きく
設定したデュアルグレーティングを配設し、このデュア
ルグレーティングにより2分割して得られた透過光及び
回折光を検出する受光素子を設けた。
記録媒体からの反射光が信号検出光学系に導かれた光路
上に、集光レンズを介して、最初に前記反射光が入射す
る側に形成された表面グレーティングのピッチがこれと
対向して形成された裏面グレーティングのピッチよりも
小さく、前記反射光の前記表面グレーティングへの入射
角をその表面グレーティングのブラッグ角よりも大きく
設定したデュアルグレーティングを配設し、このデュア
ルグレーティングにより2分割して得られた透過光及び
回折光を検出する受光素子を設けた。
作用
従って、光情報記録媒体からの反射光を裏面グレーティ
ングのピッチと異なる表面グレーティングに、その表面
グレーティングのブラッグ角から少しずれた入射角で入
射させることによって、裏面グレーティングへの入射角
もその裏面グレーティングのブラッグ角から少しずれた
状態で入射することになり、これにより、そのデュアル
グレーティングを通過した光の合成された回折効率を、
表裏両面のグレーティングのピッチが等しく入射角をブ
ラッグ角で入射させた時に比べ高くすることができる。
ングのピッチと異なる表面グレーティングに、その表面
グレーティングのブラッグ角から少しずれた入射角で入
射させることによって、裏面グレーティングへの入射角
もその裏面グレーティングのブラッグ角から少しずれた
状態で入射することになり、これにより、そのデュアル
グレーティングを通過した光の合成された回折効率を、
表裏両面のグレーティングのピッチが等しく入射角をブ
ラッグ角で入射させた時に比べ高くすることができる。
実施例
本発明の一実施例を第1図ないし第3図に基づいて説明
する。ここでは光ピックアップ装置の全体構成について
の説明は省略し、本発明に係る信号検出光学系について
のみ説明する。
する。ここでは光ピックアップ装置の全体構成について
の説明は省略し、本発明に係る信号検出光学系について
のみ説明する。
光情報記録媒体としての図示しない光磁気ディスクから
の反射光14が信号検出光学系15に導かれた光路上に
は、集光レンズ16を介して、デュアルグレーティング
17が配設されており、このデュアルグレーティング1
7を通過した光の光路上には、信号の検出を行う上下に
2分割された受光素子18が設けられている。
の反射光14が信号検出光学系15に導かれた光路上に
は、集光レンズ16を介して、デュアルグレーティング
17が配設されており、このデュアルグレーティング1
7を通過した光の光路上には、信号の検出を行う上下に
2分割された受光素子18が設けられている。
前記デュアルグレーティング17は、前記反射光14が
最初に入射する側の光路上に位置して表面グレーティン
グ19が形成されており、この表面グレーティング19
と対向した位置には裏面グレーティング20が形成され
ている。この場合、表面グレーティング19のピッチは
裏面グレーティング20のピッチよりも小さいものとな
っており、しかも、前記反射光14の前記表面グレーテ
ィング19への入射角はその表面グレーティング19の
ブラッグ角(B ragg角)よりも大きく設定された
ものとなっている。
最初に入射する側の光路上に位置して表面グレーティン
グ19が形成されており、この表面グレーティング19
と対向した位置には裏面グレーティング20が形成され
ている。この場合、表面グレーティング19のピッチは
裏面グレーティング20のピッチよりも小さいものとな
っており、しかも、前記反射光14の前記表面グレーテ
ィング19への入射角はその表面グレーティング19の
ブラッグ角(B ragg角)よりも大きく設定された
ものとなっている。
このような構成において、まず、信号検出光学系15の
全体の流れについて説明する。光磁気ディスクからの反
射光14は、集光レンズ16により集光された後、デュ
アルグレーティング17の表面グレーティング19及び
裏面グレーティング20を共に透過した光とこれらを共
に回折した光が2分割された受光素子18に受光され、
これによりフォーカスエラー信号、トラックエラー信号
、光磁気信号の検出を行うことができる。
全体の流れについて説明する。光磁気ディスクからの反
射光14は、集光レンズ16により集光された後、デュ
アルグレーティング17の表面グレーティング19及び
裏面グレーティング20を共に透過した光とこれらを共
に回折した光が2分割された受光素子18に受光され、
これによりフォーカスエラー信号、トラックエラー信号
、光磁気信号の検出を行うことができる。
次に、本発明に係るデュアルグレーティング17につい
て説明する。まず、表面グレーティング19のピッチを
裏面グレー、7−イング2oのピッチよりも小さくした
理由について述べる。上下に2分割された受光素子】8
に透過光Tと回折光にとを受光させるためには、それら
2つの集光スポットが重なり合わない程度に分離させる
必要がある。
て説明する。まず、表面グレーティング19のピッチを
裏面グレー、7−イング2oのピッチよりも小さくした
理由について述べる。上下に2分割された受光素子】8
に透過光Tと回折光にとを受光させるためには、それら
2つの集光スポットが重なり合わない程度に分離させる
必要がある。
そこで、表裏両面のグレーティング19.20のピッチ
を異なるようにすることにより、透過光Tの光軸と回折
光にの光軸とは平行でなくなり、そのデュアルグレーテ
ィング17を通過後方いに離れていき、これにより2分
割された受光素子18の受光面の必要距離を確保するこ
とができる。また、表裏両面のグレーティング19,2
0のピッチを等しくした場合、回折光にの集束点が透過
光Tの集束点よりも手前側に位置するようになり受光素
子18面上における集光スポットの径が異なってしまう
ことになる。このため受光素子18面上における集光ス
ポットの形状を同一にするためにはピッチを異なるよう
にして調整する必要がある。このようなことから、デュ
アルグレーティング17の表面グレーティング19のピ
ッチを裏面グレーティング20のピッチよりも小さくす
るようにした。
を異なるようにすることにより、透過光Tの光軸と回折
光にの光軸とは平行でなくなり、そのデュアルグレーテ
ィング17を通過後方いに離れていき、これにより2分
割された受光素子18の受光面の必要距離を確保するこ
とができる。また、表裏両面のグレーティング19,2
0のピッチを等しくした場合、回折光にの集束点が透過
光Tの集束点よりも手前側に位置するようになり受光素
子18面上における集光スポットの径が異なってしまう
ことになる。このため受光素子18面上における集光ス
ポットの形状を同一にするためにはピッチを異なるよう
にして調整する必要がある。このようなことから、デュ
アルグレーティング17の表面グレーティング19のピ
ッチを裏面グレーティング20のピッチよりも小さくす
るようにした。
次に、光磁気ディスクからの反射光14の表面グレーテ
ィング19への入射角をその表面グレーティング19の
ブラック角よりも大きく設定した理由について説明する
。第3図は、表面グレーティング19の入射角θと回折
効率との関係を示したものである。この図より、入射角
がブラッグ角から少しずれた程度では回折効率はあまり
低下しないが、入射角がブラッグ角からある程度ずれる
と、回折効率は加速度的に低下することになる。
ィング19への入射角をその表面グレーティング19の
ブラック角よりも大きく設定した理由について説明する
。第3図は、表面グレーティング19の入射角θと回折
効率との関係を示したものである。この図より、入射角
がブラッグ角から少しずれた程度では回折効率はあまり
低下しないが、入射角がブラッグ角からある程度ずれる
と、回折効率は加速度的に低下することになる。
今、仮に、反射光14の入射角を表面グレーティング1
9のブラッグ角と等しくしたとすると、表面グレーティ
ング19の回折効率は最も大きい値となるが、そのよう
なブラッグ角の入射の場合、入射角と出射角とが等しい
ため裏面グレーティング2oにも表面グレーティング1
9の入射角と同じ値の入射角で入射することになる。し
かし、裏面グレーティング20のブラッグ角はその入射
角とは異なるので、裏面グレーティング20の回折効率
は低下する。この場合、特に、表裏両面のグレーティン
グ19.20のピッチ差が大きくなるに連れて、第3図
の関係から、裏面グレーティング2oの回折効率は加速
度的に低下することになる。従って、これにより回折効
率は、表面グレーティング19では高いものとなるが、
裏面グレーティング20では、かなり低いものとなり、
その結果、デュアルゲーティング17を通過後の合成さ
れた全体の回折効率は低いものとなる。
9のブラッグ角と等しくしたとすると、表面グレーティ
ング19の回折効率は最も大きい値となるが、そのよう
なブラッグ角の入射の場合、入射角と出射角とが等しい
ため裏面グレーティング2oにも表面グレーティング1
9の入射角と同じ値の入射角で入射することになる。し
かし、裏面グレーティング20のブラッグ角はその入射
角とは異なるので、裏面グレーティング20の回折効率
は低下する。この場合、特に、表裏両面のグレーティン
グ19.20のピッチ差が大きくなるに連れて、第3図
の関係から、裏面グレーティング2oの回折効率は加速
度的に低下することになる。従って、これにより回折効
率は、表面グレーティング19では高いものとなるが、
裏面グレーティング20では、かなり低いものとなり、
その結果、デュアルゲーティング17を通過後の合成さ
れた全体の回折効率は低いものとなる。
ところが、本発明のように、反射光14の表面グレーテ
ィング19への入射角を、その表面グレーティング19
のブラッグ角よりも少し大きな値に設定することによっ
て、裏面グレーティング20への入射角もその裏面グレ
ーティング2oのブラッグ角よりも少しずれたものとな
るが、それらの入射角のブラッグ角からのずれ量はいず
れも小さいため、第3図の関係から、デュアルグレーテ
ィング17を通過後の合成された全体の回折効率は、前
述した入射角を表面グレーティング19のブラッグ角と
等しくした場合に比べ高くすることができる。このよう
に、デュアルグレーティング17の回折効率が全体とし
て高ければ、光利用効率も高いものとすることができ、
これにより、フォーカスエラー信号、トラックエラー信
号、光磁気信号の信号検出の感度を上げ安定した信号の
検出を行うことができる。
ィング19への入射角を、その表面グレーティング19
のブラッグ角よりも少し大きな値に設定することによっ
て、裏面グレーティング20への入射角もその裏面グレ
ーティング2oのブラッグ角よりも少しずれたものとな
るが、それらの入射角のブラッグ角からのずれ量はいず
れも小さいため、第3図の関係から、デュアルグレーテ
ィング17を通過後の合成された全体の回折効率は、前
述した入射角を表面グレーティング19のブラッグ角と
等しくした場合に比べ高くすることができる。このよう
に、デュアルグレーティング17の回折効率が全体とし
て高ければ、光利用効率も高いものとすることができ、
これにより、フォーカスエラー信号、トラックエラー信
号、光磁気信号の信号検出の感度を上げ安定した信号の
検出を行うことができる。
発明の効果
本発明は、光情報記録媒体からの反射光を裏面グレーテ
ィングのピッチと異なる表面グレーティングに、その表
面グレーティングのブラッグ角から少しずれた入射角で
入射させるようにしたので、裏面グレーティングへの入
射角もその裏面グレーティングのブラッグ角から少しず
れた状態で入射することになり、これにより、そのデュ
アルグレーティングを通過した光の合成された回折効率
を、表裏両面のグレーティングのピッチを等しくし入射
角を表面グレーティングのブラッグ角と一致させた状態
で入射させた場合に比べて高くすることができる。従っ
て、このようにデュアルグレーティングを通過し九九の
回折効率を全体として上げることができれば、光利用効
率も向上させることができるため、これにより、フォー
カスエラー信号、トラックエラー信号等の信号検出感度
を上げ安定した信号の検出を行うことができるものであ
る。
ィングのピッチと異なる表面グレーティングに、その表
面グレーティングのブラッグ角から少しずれた入射角で
入射させるようにしたので、裏面グレーティングへの入
射角もその裏面グレーティングのブラッグ角から少しず
れた状態で入射することになり、これにより、そのデュ
アルグレーティングを通過した光の合成された回折効率
を、表裏両面のグレーティングのピッチを等しくし入射
角を表面グレーティングのブラッグ角と一致させた状態
で入射させた場合に比べて高くすることができる。従っ
て、このようにデュアルグレーティングを通過し九九の
回折効率を全体として上げることができれば、光利用効
率も向上させることができるため、これにより、フォー
カスエラー信号、トラックエラー信号等の信号検出感度
を上げ安定した信号の検出を行うことができるものであ
る。
第1図は本発明の一実施例を示す信号検出光学系の光路
図、第2図はそのデュアルグレーティングに入射する光
の入射角の関係を示す光路図、第3図は回折効率の入射
角依存性を示す波形図、第4図は従来例を示す構成図、
第5図はその信号検出光学系の光路図、第6図(a )
(b )(c )はフォーカスエラー信号の検出原理を
示す説明図である。 14・・・反射光、15・・・信号検出光学系、16・
・・集光レンズ、17・・・デュアルグレーティング、
18・・・受光素子、19・・・表面グレーティング、
20・・・裏面グレーティング、T・・・透過光、K・
・・回折光 出 願 人 株式会社 リ コ 図 フ 図
図、第2図はそのデュアルグレーティングに入射する光
の入射角の関係を示す光路図、第3図は回折効率の入射
角依存性を示す波形図、第4図は従来例を示す構成図、
第5図はその信号検出光学系の光路図、第6図(a )
(b )(c )はフォーカスエラー信号の検出原理を
示す説明図である。 14・・・反射光、15・・・信号検出光学系、16・
・・集光レンズ、17・・・デュアルグレーティング、
18・・・受光素子、19・・・表面グレーティング、
20・・・裏面グレーティング、T・・・透過光、K・
・・回折光 出 願 人 株式会社 リ コ 図 フ 図
Claims (1)
- レーザ光源から出射された光を光情報記録媒体に照射し
て情報の記録、再生を行うと共に、前記光情報記録媒体
からの反射光を信号検出光学系に導きフォーカスエラー
信号やトラックエラー信号等の信号検出を行う光ピック
アップ装置において、前記反射光が前記信号検出光学系
に導かれた光路上に、集光レンズを介して、最初に前記
反射光が入射する側に形成された表面グレーティングの
ピッチがこれと対向して形成された裏面グレーテイング
のピッチよりも小さく、前記反射光の前記表面グレーテ
ィングへの入射角をその表面グレーティングのブラッグ
角よりも大きく設定したデユアルグレーティングを配設
し、このデュアルグレーティングにより2分割して得ら
れた透過光及び回折光を検出する受光素子を設けたこと
を特徴とするデュアルグレーティングを用いた光ピック
アップ装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1089124A JP2716793B2 (ja) | 1989-04-07 | 1989-04-07 | デュアルグレーティングを用いた光ピックアップ装置 |
| US07/504,341 US5243583A (en) | 1989-04-06 | 1990-04-03 | Optical pickup device with dual grating element |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1089124A JP2716793B2 (ja) | 1989-04-07 | 1989-04-07 | デュアルグレーティングを用いた光ピックアップ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02267747A true JPH02267747A (ja) | 1990-11-01 |
| JP2716793B2 JP2716793B2 (ja) | 1998-02-18 |
Family
ID=13962138
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1089124A Expired - Lifetime JP2716793B2 (ja) | 1989-04-06 | 1989-04-07 | デュアルグレーティングを用いた光ピックアップ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2716793B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5257131A (en) * | 1990-06-13 | 1993-10-26 | Sharp Kabushiki Kaisha | Polarization diffraction element and polarization detector employing the same |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62120640A (ja) * | 1985-11-20 | 1987-06-01 | Fujitsu Ltd | 光ピツクアツプ |
| JPS62248144A (ja) * | 1986-04-22 | 1987-10-29 | Fujitsu Ltd | 光ピツクアツプ |
-
1989
- 1989-04-07 JP JP1089124A patent/JP2716793B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62120640A (ja) * | 1985-11-20 | 1987-06-01 | Fujitsu Ltd | 光ピツクアツプ |
| JPS62248144A (ja) * | 1986-04-22 | 1987-10-29 | Fujitsu Ltd | 光ピツクアツプ |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5257131A (en) * | 1990-06-13 | 1993-10-26 | Sharp Kabushiki Kaisha | Polarization diffraction element and polarization detector employing the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2716793B2 (ja) | 1998-02-18 |
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