JPH02268286A - 二次元レーザドップラ速度計 - Google Patents

二次元レーザドップラ速度計

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JPH02268286A
JPH02268286A JP9039089A JP9039089A JPH02268286A JP H02268286 A JPH02268286 A JP H02268286A JP 9039089 A JP9039089 A JP 9039089A JP 9039089 A JP9039089 A JP 9039089A JP H02268286 A JPH02268286 A JP H02268286A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
frequency
detection
optical system
laser doppler
Prior art date
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Pending
Application number
JP9039089A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisami Nishi
壽巳 西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HIKARI SANGYO GIJUTSU SHINKO KYOKAI
Nippon Sheet Glass Co Ltd
Original Assignee
HIKARI SANGYO GIJUTSU SHINKO KYOKAI
Nippon Sheet Glass Co Ltd
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Publication date
Application filed by HIKARI SANGYO GIJUTSU SHINKO KYOKAI, Nippon Sheet Glass Co Ltd filed Critical HIKARI SANGYO GIJUTSU SHINKO KYOKAI
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Publication of JPH02268286A publication Critical patent/JPH02268286A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、レーザ光を被測定体に照射し、その光周波数
の変移つまりドツプラシフトより被測定体の速度ないし
変位を測定するレーザドツプラ速度計に関し、特に二次
元の速度ベクトルを1つの測定器で同時に測定する測定
装置に間するものである。
〈従来の技術〉 従来、ドツプラ速度計として第4図に示ずような二光束
差動型レーザドップラ速度計が用いられている。第4図
を用いて測定原理を説明する。
レーザ光[1よりでたレーザ光は、超音波偏向器2を用
いた周波数シフタにて二元束4,5に分離され、このう
ち−次回折光4は、周波数シフタな通過しないビームに
対してドライバ3の駆動角周波数ωLだけ光周波数が増
加している。先負周波数ω−+ωLのビーム4と先負周
波数ω砂のビーム6は、集光レンズ6を経て、各ビーム
経路7,8より測定領域内の散乱粒子9で散乱され、再
び集光レンズ6で集められた後、光検出器10で検波さ
れる。
ここで得られる検波電流の角周波数ω1は(1)式%式
% ここで、Kは光の波数%VXはX方向の速度、2αはビ
ーム7.8の成す角である。そこで、光検出器lOの検
波電流を中心角周波数ωLのパンドバスフィルタに通ぜ
ばX方向速度電流が得られる。
〈発明が解決しようとする問題点〉 上述した従来の装置は、基本的には一次元計測であり、
X方向の速度は測定できるがX方向の速度は測定できな
い0本発明は、従来の二光束差動型レーザドップラ速度
計が一次元の速度しか測定できない欠点を解消し、四元
束を用いたり、2台の同一速度計を組み合わせることな
く、1台の二光束差動型レーザドップラ速度計で二次元
の速度計測を可能にするものである。
〈問題点を解決するための手段〉 二元束差動型レーザドツプラ速度計において、各光束を
それぞれ単独で周波数変調し、一方の光束内に参照光発
生用の光学系を挿入し、検波後の速度信号Wt流をバン
ドパスフィルタに通すようにした。
く作用〉 従来の、周波数シフタが1個の構成では、周波数の差が
大きくなるので電気信号処理が困難になるが、上記構成
のように2個の周波数シフタを設けることにより、周波
数の差の絶対値を小さく、しかも任意の値に設定できる
ので、二元束間のクロストークを除去することが可能と
なり、二次元の速度を精度良く同時測定できる。
〈実施例〉 第1図は本発明の一実施例を示す側面図である。
X方向速度成分の測定原理は、従来の二光束差動型レー
ザドップラ速度計と同一であり、ここでは詳細な説明は
省略する。以下本発明で追加した部分の説明を行なう。
レーザ光を二元束に分離したビームδ中にも、超音波偏
向器2′とドライバ3′を設けて一次回折光5′を発生
させ、この光路中にハーフミラ11を挿入し、ここで分
離した光線をミラー12で反射させて参照光として用い
る。光検出は光検出器13を用いて行なう、その結果、
4→6→7→9→8→6→11→13の経路を通る信号
光は(3)式の丸角周波数を持つ。
ωR+ΔωL−Δω、 φ ・ ・ (3)但し、 ω
R= ωの+ω′ 。
Δω[= ωL−ω′ Δωy = 2 ” K ’ V y ” C08(1
ここで、■、はX方向速度である。そして、参照光とし
て5′→11→12→11→13の経路を通る丸角周波
数ωRのビームを用いる。その結果、(4)式の検波電
流ω2が光検出器の出力として得られる。
ω2=ΔωL−△ω、II  ◆ −(4)上述した新
規に追加した部分で、参照光型レーザドツプラ速度計が
構成されたことになる。
ところが、同時に6′→6→8→9→8→11→13の
経路を通るクロストーク光も光検出器13に入射しく6
)式の丸角周波数を持つ。
ωR−Δω8−Δω、  ・−拳(6)この光線とωR
の1#照光から(6)式の角周波数ω3を持つ検波it
流が生じる。
ω3=Δω8+Δω、 Φ・・ (6)そこで、ΔωL
)Δω8、ΔωE)Δω、と設定しておき、第2図の信
号処理回路を通せば、第3図からも判るように、検波電
流中のクロストーク成分ω3は、ΔωLを中心とするバ
ンドパスフィルタ16で除去され、X方向の速度成分に
対するω2構成だけが得られる。
〈発明の効果〉 本発明によれば、従来の二元束差動型レーザドツプラ速
度計に周波数シフタ1個と、ハーフミラ1枚と、光検出
器1つを追加するだけで、同時に二次元方向の速度計測
が可能になり、集光レンズ6から先には何も追加部品が
ないため、装置の大型化や複雑化に伴う操作性の低下を
まねくことがない。
また、2個の周波数シフタを使用することにより、周波
数差ΔωLのm1ll!1を容易にし、検波電流をバン
ドパスフィルタに通すだけでクロストーク信号を除去で
き、簡単な光学系で済むなどの利点がある。さらに、光
ファイバを使用すれば光学系の大きさを小さくできコン
パクト化が図れるという特徴も合わせもつ。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明実施例の二次元速度計の光学系を示す
図、第2図は同速度計の信号処理系を示す図、第3図は
光検出器で検波される検波it流の角周波数スペクトル
を説明する図、第4図は従来の二光束差動型レーザドツ
プラ速度計の光学系を示す図である。 110.レーザ光源  2.2’、、、超音波偏向器を
用いた周波数シフタ 3.3’、、、偏向器駆動用ドライバ 2.−次回折光  531.非回折光 0.−次回折光  609.集光レンズ8.プローブビ
ーム 0.被測定体(光散乱粒子) 13、、、光検出器 8.ハーフミラ   12  、  、、ミラ15、、
、バンドパスフィルタ 17、、、周波数弁別器 5 ′ 7.8 10゜ 1 4゜ 1B。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 二光束差動型レーザドップラ速度計において、各光束を
    それぞれ単独で周波数変調し、一方の光束内に参照光発
    生用の光学系を挿入し、検波後の速度信号電流をバンド
    パスフィルタに通すことを特徴とする二次元レーザドッ
    プラ速度計。
JP9039089A 1989-04-10 1989-04-10 二次元レーザドップラ速度計 Pending JPH02268286A (ja)

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JP9039089A JPH02268286A (ja) 1989-04-10 1989-04-10 二次元レーザドップラ速度計

Applications Claiming Priority (1)

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JP9039089A JPH02268286A (ja) 1989-04-10 1989-04-10 二次元レーザドップラ速度計

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JPH02268286A true JPH02268286A (ja) 1990-11-01

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ID=13997254

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JP9039089A Pending JPH02268286A (ja) 1989-04-10 1989-04-10 二次元レーザドップラ速度計

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JP (1) JPH02268286A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014513301A (ja) * 2011-05-03 2014-05-29 ポリテック・ゲー・エム・ベー・ハー 振動している物体の非接触光学振動測定装置と方法

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JP2014513301A (ja) * 2011-05-03 2014-05-29 ポリテック・ゲー・エム・ベー・ハー 振動している物体の非接触光学振動測定装置と方法

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