JPH0227825A - 電波暗室 - Google Patents
電波暗室Info
- Publication number
- JPH0227825A JPH0227825A JP63176952A JP17695288A JPH0227825A JP H0227825 A JPH0227825 A JP H0227825A JP 63176952 A JP63176952 A JP 63176952A JP 17695288 A JP17695288 A JP 17695288A JP H0227825 A JPH0227825 A JP H0227825A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ceiling
- buffle
- baffle
- anechoic chamber
- radio wave
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は電波暗室に関し、特に電波暗室に右ける電波吸
収体の性能を改善するため壁面に設置するバッフルと称
する反射板の構造に関する。
収体の性能を改善するため壁面に設置するバッフルと称
する反射板の構造に関する。
（従来の技術）
従来より、放射雑音評価用試験場のように、床面が金属
であるような電波暗室ではアンテナの向き（偏波面）に
よって各壁面の寄与が異なるので、偏波面によって最適
の設計法を選択しなければならない。この電波暗室を水
平偏波で使用した場合、床面のイメージの影響で、送信
アンテナから放射された電波は第３図に示されているよ
うに、天井側に強く受信アンテナ側には弱く放射される
。その結果、天井より強い反射波が受信アンテナに到達
し大きな誤差の原因になる。天井から受信アンテナに到
達する反射波の強度は天井の高さ（送信アンテナからの
放射角）によって異なるが受信アンテナに到達する電波
より１０ｄＢ程度強い６反射波による測定誤差を±３ｄ
Ｂ以内に抑えるには、反射波の強度が入射波より１０ｄ
Ｂ弱くなければならない。従って、天井に装着される電
波吸収体は斜入射性能も含めて２０ｄＢ程度の反射減衰
性能を示さなければならない。現在の電波吸収体の能力
では３０ＭＨｚにおいて２０ｄＢの反射抑制性能を得る
のは非常に困難である。電波暗室における電波吸収体の
実質性能を改善する方法として、バッフルと称する反射
板を壁面に設置して反射波が直接受信アンテナに入射し
ないようにする方法がある。
であるような電波暗室ではアンテナの向き（偏波面）に
よって各壁面の寄与が異なるので、偏波面によって最適
の設計法を選択しなければならない。この電波暗室を水
平偏波で使用した場合、床面のイメージの影響で、送信
アンテナから放射された電波は第３図に示されているよ
うに、天井側に強く受信アンテナ側には弱く放射される
。その結果、天井より強い反射波が受信アンテナに到達
し大きな誤差の原因になる。天井から受信アンテナに到
達する反射波の強度は天井の高さ（送信アンテナからの
放射角）によって異なるが受信アンテナに到達する電波
より１０ｄＢ程度強い６反射波による測定誤差を±３ｄ
Ｂ以内に抑えるには、反射波の強度が入射波より１０ｄ
Ｂ弱くなければならない。従って、天井に装着される電
波吸収体は斜入射性能も含めて２０ｄＢ程度の反射減衰
性能を示さなければならない。現在の電波吸収体の能力
では３０ＭＨｚにおいて２０ｄＢの反射抑制性能を得る
のは非常に困難である。電波暗室における電波吸収体の
実質性能を改善する方法として、バッフルと称する反射
板を壁面に設置して反射波が直接受信アンテナに入射し
ないようにする方法がある。
バッフルは光学的な電波の経路が受信アンテナを通過し
ないように設定するので、レイトレースでは解が求まら
ない、従って、バッフルを設置する場合にはスケールモ
デルシミュレーションによリバッフルの大きさや角度を
決定しなければならない、バッフルの形状としては稜線
が電波暗室の長手方向軸に平行に置かれる縦バッフルと
、稜線が長手方向軸に直交する横バッフル（点線で第３
図中に示す）がよく採用される。スケールモデルシミュ
レーションによると３０〜８０ＭＨｚの範囲では縦バッ
フルは効果が少ない。
ないように設定するので、レイトレースでは解が求まら
ない、従って、バッフルを設置する場合にはスケールモ
デルシミュレーションによリバッフルの大きさや角度を
決定しなければならない、バッフルの形状としては稜線
が電波暗室の長手方向軸に平行に置かれる縦バッフルと
、稜線が長手方向軸に直交する横バッフル（点線で第３
図中に示す）がよく採用される。スケールモデルシミュ
レーションによると３０〜８０ＭＨｚの範囲では縦バッ
フルは効果が少ない。
（発明が解決しようとする課題）
一方、横バッフルは効果的であるが、稜線の先端から放
射される円筒波状の回折波が新たなトラブルの原因にな
る場合がある。その例を第４図に示す。同図において、
電波暗室中央断面のサイトアッテネーション分布である
が左上から右下に向かっている線は送信アンテナからの
入射波とバッフルからの回折波が打ち消し合って最小に
なる位置を示している。同図よりサイトアッテネーショ
ン最大の位置は打ち消し線上にあり、サイトアッテネー
ションにバッフルからの影響が出でいるのがわかる。
射される円筒波状の回折波が新たなトラブルの原因にな
る場合がある。その例を第４図に示す。同図において、
電波暗室中央断面のサイトアッテネーション分布である
が左上から右下に向かっている線は送信アンテナからの
入射波とバッフルからの回折波が打ち消し合って最小に
なる位置を示している。同図よりサイトアッテネーショ
ン最大の位置は打ち消し線上にあり、サイトアッテネー
ションにバッフルからの影響が出でいるのがわかる。
本発明はこの問題点を解決するためのもので、回折波の
影響を避け、バッフルの効果を最大にできる電波暗室を
提供することを目的とする。
影響を避け、バッフルの効果を最大にできる電波暗室を
提供することを目的とする。
（課題を解決するための手段）
本発明は前記問題点を解決するために、放射雑音評価用
試験場として対象壁面に電波吸収体を設け閉じた形状の
電波暗室において、この電波暗室の長手方向から見て手
前の天井の角の左右の一方を下げかつ奥の天井の左右の
角の他方を下げて各々下げた天井の角を結ぶ直線を稜線
とする丘陵を天井に設けたことに特徴がある。
試験場として対象壁面に電波吸収体を設け閉じた形状の
電波暗室において、この電波暗室の長手方向から見て手
前の天井の角の左右の一方を下げかつ奥の天井の左右の
角の他方を下げて各々下げた天井の角を結ぶ直線を稜線
とする丘陵を天井に設けたことに特徴がある。
（作用）
以上のような構成を有する本発明によれば、バッフルか
らの反射波は電波暗室の側壁に向かい、直接受信アンテ
ナに入射しないのでサイトアッテネーションの誤差を少
なくすることができる。
らの反射波は電波暗室の側壁に向かい、直接受信アンテ
ナに入射しないのでサイトアッテネーションの誤差を少
なくすることができる。
したがって、本発明は前記問題点を解決でき、回折波の
影響を避け、バッフルの効果を最大にできる電波暗室を
提供できる。
影響を避け、バッフルの効果を最大にできる電波暗室を
提供できる。
（実施例）
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す概略斜視図である。同
図に示されるように、本発明に係る電波暗室のバッフル
は電波暗室の長手方向から見て例えば手前の天井の右を
１〜３ｍ程度下げかつ奥の天井の左を１〜３ｍ程度下げ
て各々を結ぶ直線を稜線とするバッフルである。すなわ
ち、おおよそ横バッフルを４５±１５度回転したバッフ
ルに相当する。このようなバッフルを設置すればバッフ
ルからの反射波は電波暗室の側壁に向かい、直接受信ア
ンテナに入射しないのでサイトアッテネーションの誤差
を少なくすることが出来る。本実施例のバッフルの概略
とスケールモデルシミュレーションの結果も第２図に示
す。（図中のサイトアッテネーションはアンテナ高を固
定して測定されているので、条件は１０ｍ法による測定
より厳しい）この結果から明らかなように４５±１５度
回転したバッフル、を装着するとサイトアッテネーショ
ンは屋外試験場と同様の結果になることがわかる。スケ
ールモデルシミュレーションに使用した電波吸収体のＩ
Ｐ−１００Ｂ （これはくさび長１ｍの抵抗体の背面
にフェライトを設けた複合形電波吸収体である）が天井
の全面に使用される。これらの実験よりバッフルの効果
を充分に出すには天井の下がりを２ｍにする必要がある
と判明した。屋外試験場の伝搬特性より＋４ｄＢの範囲
内におさめるために室内天井高は７ｍ以上とされている
ので、バッフルの下端８ｍ、上端はｌＯｍと決定した。
図に示されるように、本発明に係る電波暗室のバッフル
は電波暗室の長手方向から見て例えば手前の天井の右を
１〜３ｍ程度下げかつ奥の天井の左を１〜３ｍ程度下げ
て各々を結ぶ直線を稜線とするバッフルである。すなわ
ち、おおよそ横バッフルを４５±１５度回転したバッフ
ルに相当する。このようなバッフルを設置すればバッフ
ルからの反射波は電波暗室の側壁に向かい、直接受信ア
ンテナに入射しないのでサイトアッテネーションの誤差
を少なくすることが出来る。本実施例のバッフルの概略
とスケールモデルシミュレーションの結果も第２図に示
す。（図中のサイトアッテネーションはアンテナ高を固
定して測定されているので、条件は１０ｍ法による測定
より厳しい）この結果から明らかなように４５±１５度
回転したバッフル、を装着するとサイトアッテネーショ
ンは屋外試験場と同様の結果になることがわかる。スケ
ールモデルシミュレーションに使用した電波吸収体のＩ
Ｐ−１００Ｂ （これはくさび長１ｍの抵抗体の背面
にフェライトを設けた複合形電波吸収体である）が天井
の全面に使用される。これらの実験よりバッフルの効果
を充分に出すには天井の下がりを２ｍにする必要がある
と判明した。屋外試験場の伝搬特性より＋４ｄＢの範囲
内におさめるために室内天井高は７ｍ以上とされている
ので、バッフルの下端８ｍ、上端はｌＯｍと決定した。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明によれば、バッフルからの
反射波は電波暗室の側壁に向かい、直接受信アンテナに
入射しないのでサイトアッテネーションの誤差を少なく
でき、回折波の影響を避け、バッフルの効果を最大にで
きる電波暗室を提供できる。
反射波は電波暗室の側壁に向かい、直接受信アンテナに
入射しないのでサイトアッテネーションの誤差を少なく
でき、回折波の影響を避け、バッフルの効果を最大にで
きる電波暗室を提供できる。
第１図は本発明の一実施例を示す概略斜視図、第２図は
本実施例のサイトアツテネーションの結果を示す特性図
、第３図は従来の電波暗室を示す概略斜視図、第４図は
従来のサイトアツテネーションの結果を示す特性図であ
る。
本実施例のサイトアツテネーションの結果を示す特性図
、第３図は従来の電波暗室を示す概略斜視図、第４図は
従来のサイトアツテネーションの結果を示す特性図であ
る。
Claims (1)
- 放射雑音評価用試験場として対象壁面に電波吸収体を設
け閉じた形状の電波暗室において、該電波暗室の長手方
向から見て手前の天井の角の左右の一方を下げかつ奥の
天井の角の左右の他方を下げて各々下げた天井の角を結
ぶ直線を稜線とする丘陵を天井に設けたことを特徴とす
る電波暗室。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63176952A JPH0227825A (ja) | 1988-07-18 | 1988-07-18 | 電波暗室 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63176952A JPH0227825A (ja) | 1988-07-18 | 1988-07-18 | 電波暗室 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0227825A true JPH0227825A (ja) | 1990-01-30 |
Family
ID=16022594
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63176952A Pending JPH0227825A (ja) | 1988-07-18 | 1988-07-18 | 電波暗室 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0227825A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5765934A (en) * | 1980-10-13 | 1982-04-21 | Tdk Corp | Appreciating device for capability of eliminating incident |
-
1988
- 1988-07-18 JP JP63176952A patent/JPH0227825A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5765934A (en) * | 1980-10-13 | 1982-04-21 | Tdk Corp | Appreciating device for capability of eliminating incident |
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