JPH0227832B2 - Seramitsukusukiban - Google Patents

Seramitsukusukiban

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JPH0227832B2
JPH0227832B2 JP5898189A JP5898189A JPH0227832B2 JP H0227832 B2 JPH0227832 B2 JP H0227832B2 JP 5898189 A JP5898189 A JP 5898189A JP 5898189 A JP5898189 A JP 5898189A JP H0227832 B2 JPH0227832 B2 JP H0227832B2
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JP
Japan
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plating
powder
glass composition
ceramic
minutes
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JP5898189A
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Yoshito Akai
Noryuki Onaga
Yasunori Zairi
Yukikazu Moritsu
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Okuno Chemical Industries Co Ltd
Original Assignee
Okuno Chemical Industries Co Ltd
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B41/00After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
    • C04B41/45Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements
    • C04B41/52Multiple coating or impregnating multiple coating or impregnating with the same composition or with compositions only differing in the concentration of the constituents, is classified as single coating or impregnation

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Structural Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、セラミツクス基板に関する。
従来の技術及びその問題点 セラミツクス板上に導電体層を形成したセラミ
ツクス基板は、耐熱性、放熱性等が良好であり、
低熱膨脹性であるなどの優れた特性を有するもの
である。このようなセラミツクス基板の製造法と
しては、従来下記のような方法が知られている。
湿式めつき法で導電体層を形成する方法とし
て、セラミツクス板をフツ酸、硝酸等でエツチン
グした後、めつき皮膜を形成する方法がある。し
かしながら、この方法では、セラミツクス基材の
品質によつて、めつき皮膜の接合強度が一定せ
ず、また耐薬品性が高いセラミツクスの場合に
は、効果的なエツチングは困難であり、高い接合
強度は得難い。
また、Mo、W等の高融点金属の粉末をセラミ
ツクス上に塗布し、窒素雰囲気中で高温処理
(1500〜1800℃)する方法もある。この方法では、
導電層の接合強度は高いが、高温度と雰囲気調節
が必要なため、生産性が低いという欠点がある。
更に、直接半田付けを行なうことができないので
めつき工程が必要になり、また電気導体として抵
抗が高いという欠点もある。
Au、Ag、Pt等の貴金属粉末又はCu、Ni、Al
等の高導電性卑金属粉末と低融点ガラスフリツト
等のバインダー成分とを、有機ビヒクルに混合分
散させた、いわゆる厚膜導体ペーストをセラミツ
クス上に塗布し、加熱して焼付ける方法がある。
この方法は、貴金属の場合にはコストが高く、電
気導体として使用するとマイグレーシヨンの問題
がある。また卑金属の場合、加熱時に雰囲気調節
する必要があり、処理が煩雑である。
また、所定の形状の銅板をセラミツクス上に置
き、窒素雰囲気中で1100〜1500℃程度で加熱圧着
する方法がある。この方法では、雰囲気調節が必
要であるために操作が煩雑であることに加えて、
銅板の厚さが0.2〜0.3mm程度以上必要であり、銅
板のパターンニング精度が悪いという欠点があ
る。
問題点を解決するための手段 本発明者は、上記した如き問題点に鑑みて、鋭
意研究を行なつた結果、特定の組成のガラス組成
物をセラミツクス上に塗布して加熱処理した後、
その上にめつき皮膜を形成させることによつて、
簡単な方法で各種のセラミツクス上に、高い接合
強度を有する導電体層を形成することができ、し
かも形成される導電体層は、セラミツクス基板と
して要求される導電特性、ハンダ付け性、接合強
度等が良好であり、セラミツクス基板として極め
て有用なものであることを見出した。
即ち、本発明は、 () セラミツクス基材、 () 該セラミツクス基材上に、 (i) TiN、TiB2、AlN、AlB2、BN、B4C、
SiC及びSi3N4の少なくとも1種の粉末3〜
80重量%、 (ii) SiO2粉末4〜80重量%、 (iii) B2O3粉末1〜40重量%、及び (iv) (R12O、(R2)O、(R3)O2及び
(R42O3(ただし、R1はNa、KまたはL1、R2
はMg、Ca、Ba、Zn、PbまたはCd、R3
Ti、Zr、またはMn、R4はAlまたはBiであ
る)の少なくとも1種の粉末1〜80重量% からなるガラス組成物 を塗布し、加熱して得られためつき用下地層、
並びに () 該下地層上に形成されためつき皮膜 からなるセラミツクス基板に係る。
本発明セラミツクス基板では、用いるセラミツ
クス材料としては、従来のセラミツクス基板の材
料と同様のものでよく、500℃以上の耐熱温度を
有するセラミツクス材料から誘電率、絶縁性、誘
電正接等のセラミツクス基板として必要な特性を
考慮して、使用目的に応じて適宜選択すればよ
い。本発明での使用に適するセラミツクス材料と
しては、例えばアルミナ、ジルコニア、ベリリ
ア、ムライト、ホルステライト、コーデライト、
チタン酸鉛、チタン酸バリウム、チタン酸ジルコ
ン酸鉛等の酸化物系セラミツクス、窒素ケイ素、
窒化アルミニウム等の非酸化物系セラミツクス等
が挙げられる。
本発明のセラミツクス基板を得るには、まず、
セラミツクス基材上に、特定組成のガラス組成物
を塗布した後、加熱処理して、めつき用下地層を
形成する。
本発明で用いるガラス組成物は、 (i) TiN、TiB2、AlN、AlB2、BN、B4C、SiC
及びSi3N4の少なくとも1種の粉末3〜80重量
%、 (ii) SiO2粉末4〜80重量%、 (iii) B2O3粉末1〜40重量%、及び (iv) (R12O、(R2)O、(R3)O2及び(R42O3
(ただし、R1はNa、KまたはL1、R2はMg、
Ca、Ba、Zn、PbまたはCd、R3はTi、Zr、ま
たはMn、R4はAlまたはBiである)の少なくと
も1種の粉末1〜80重量% からなるものである。該ガラス組成物をセラミツ
クス上にコーテイングして加熱した場合に、上記
組成物中の非酸化物粉末がガラス組成物中に島状
に点在する形状になり、この上にめつき皮膜を形
成させた場合の接合強度が著るしく向上する。
本発明で用いるガラス組成物では、各成分の配
合量が上記範囲を下回る場合には、ガラス組成物
を加熱した場合にガラス化しないか、或いは接合
強度が著るしく低下し、また上記範囲を上回る場
合にも接合強度の著るしい低下があるので好まし
くない。
本発明ガラス組成物の各成分としては、いずれ
も市販のものを使用でき、特にその製法、粒度、
純度などは限定されないが、接合体の接合強度を
高めるためには、高純度のものを使用することが
好ましく、粒度は0.1〜100μm程度のものを使用
することが好ましい。
本発明で用いるガラス組成物を製造する方法
は、特に限定されるものではなく、例えば、各成
分物質をミキサー、ライカイ機、ミル等で単に混
合するだけでよい。また、2種以上の任意に選択
した成分物質を混合し、700〜1600℃で10〜20分
間加熱溶融した後、ボールミル等で0.1〜100μm
程度に粉砕して得た粉末に他の成分物質を添加混
合してもよい。
ガラス組成物の塗布方法としては、特に限定さ
れず以下のような方法を例示できる。
(i) 組成物を直接塗布する方法。
(ii) 組成物を溶射する方法。
(iii) 組成物をアルコール、アセトン等の溶剤に分
散させてスプレー塗装する方法。
(iv) 組成物を有機ビヒクルに分散させた後、分散
液をハケ塗り、スクリーン印刷、スプレー塗装
等により塗布する方法。
有機ビヒクルとしては、例えば、エチルセルロ
ース樹脂、アクリル樹脂等の有機高分子化合物を
イソプロピルアルコール、パインオイル、ブチル
カルビトールアセテート等の有機溶剤に溶解した
ものを使用できる。塗布量は、ガラス組成物の量
が0.005〜2g/cm2となるようにすることが好ま
しい。加熱温度は500〜1500℃とし、加熱時間は、
3〜60分程度とする。加熱時の雰囲気は、特に限
定されず、例えば空気、窒素ガス、水素ガス、ア
ルゴンガス等の雰囲気でよい。
次いでセラミツクスが室温となつた後、めつき
を行なつて、めつき用下地層上にめつき皮膜を形
成する。めつき方法としては、常法に従えばよ
く、例えば触媒物質を付着させた後、無電解ニツ
ケルめつき、または無電解銅めつきを行なう方法
でよい。触媒付着方法、無電触めつき方法等は、
いずれも常法に従えばよく、例えば、触媒付着方
法としては、感受性付与及び触媒付与の工程によ
る方法、触媒ペーストを印刷して焼成する方法等
がある。形成するめつき皮膜の種類としては、従
来のめつき法により形成されるセラミツクス基板
と同様のものでよく、例えば、無電解ニツケルめ
つき被膜または無電解銅めつき皮膜単独のめつき
皮膜の他に、これらの上に電気銅めつきを行なう
ことによつて、厚い金属層を形成したものでもよ
い。また、銅−Ni−金の組み合わせのような三
層のめつきも従来法と同様に可能である。めつき
皮膜の厚さは、特に限定的ではなく、通常のセラ
ミツクス基板の導電層と同様に、0.1〜300μm程
度とすればよい。
セラミツクス基板の回路パターン形成方法は、
従来のめつき法で作成するセラミツクス基板と同
様でよく、めつき皮膜を形成した後、エツチング
レジストを印刷して、エツチングにより回路パタ
ーンを形成する、いわゆるサブトラクテイブ法、
及びガラス組成物の焼成層を形成した後、無電解
めつき用触媒を付与し、次いでめつきレジストに
より必要なパターンを形成した後無電解めつきに
より回路パターンを直接形成する、いわゆるアデ
イテイブ法のいずれも可能である。
発明の効果 本発明のセラミツクス基板では、セラミツクス
基材とめつき皮膜とが強固に結合されており、め
つき皮膜の接合強度は充分な強さである。しかも
その製造工程では、特殊な雰囲気は必要なく、生
産性も良好である。そして、目的に応じて各種の
めつき皮膜を容易に形成できるので、非常に適用
範囲が広く、充分な導電性や良好なハンダ付け性
を簡単に付与できる。
実施例 以下、実施例を示して本発明を更に詳細に説明
する。
実施例 1 粒径30μmのSiO2139g、粒径約10μmのB2O328
g、粒径約10μmのCdO14g、粒径約20μmの
TiO28g及び粒径約5μmのBi2O328gからなる粉
末を白金ルツボで1450℃、30分加熱して溶融し
た。次いで、この溶融物が冷却した後、ボールミ
ルで粉砕して1〜10μmの粉末とし、これに粒径
1〜10μmのSi3N466g、AlB217g及びB4C17g
を加えて混合して、ガラス組成物を得た。次いで
該ガラス組成物100gに、エチルセルロース15重
量%及びパインオイル85重量%からなる有機ビヒ
クル19gを加えて混合し、3本ロールに3回通し
て塗布用組成物を得た。
次いで、該塗布用組成物を5×5×0.1cmのア
ルミナ板に200メツシユスクリーンでガラス組成
物の量が0.008g/cm2となるようにスクリーン印
刷した後、150℃10分間予備加熱してから、870℃
で20分間加熱した。アルミナ板を室温に冷却させ
た後、無電解めつき用触媒付与液(商標“CCP
−4230”、奥野製薬工業(株)製)中に25℃、5分間
浸漬して、200℃10分間加熱し、続いで室温とな
つてから無電解銅めつき液(商標“OPCカツパ
ー”、奥野製薬工業(株)製)中に55℃30分間浸漬し
て銅めつき皮膜を形成させた。次いで電気銅めつ
きを行ない銅めつき厚を40μmとすることによつ
て、セラミツクス基板を作製した。その後、銅め
つき表面に、2×2mmの正方形の形状にマスキン
グインキ(商標“トツプレジストG”奥野製薬工
業(株)製)を5ケ所スクリーン印刷し、次にUV照
射を10秒間行なつてマスキングインキを硬化させ
た。この試料を塩化第2鉄水溶液中に50℃で浸漬
して、マスキング部分以外の銅めつき部分を溶解
し、次いで塩化メチレン液中に浸漬してマスキン
グインキを剥離除去した。残つた銅めつき皮膜と
アルミナ板との接合強度を求めるために、この上
に直径1.0mmの銅線を、鉛対錫が37:63のはんだ
を用いて、260℃ではんだ付けし、25℃で銅線を
アルミナ板に対して垂直に引張り、めつき皮膜が
アルミナ板から剥離したときの強度を測定した。
その結果4.5Kg/mm2という非常に高い接合強度を
有するものであつた。また形成されためつき皮膜
のシート抵抗は0.7mΩ/口であり、非常に高い
導電性を有するものであつた。
実施例 2 粒径約1μmのSiO275g、粒径約0.5μmの
B2O320g、粒径約0.5μmのLi2O17.5g、粒径約
1μmのMgO7.5g、粒径約1μmのPbO12.5g及び
粒径約3μmのZrO210gを混合した粉末を白金ル
ツボにいれて1300℃30分間加熱して、溶融した。
この溶融物をボールミルで粉砕して5〜30μmの
粉末とした後、粒径約10μmのAlN100gと混合
しガラス組成物を得た。次いで該ガラス組成物80
gにメタノール10g及びイソプロピルアルコール
10gからなる混合溶媒を加えて、これを5×5×
0.05cmの窒化アルミニウム焼結体に、上記ガラス
組成物量が0.01g/cm2になるようにスプレー塗装
し、150℃で10分間予備加熱した後、1000℃で10
分間加熱した。窒化アルミニウム焼結体を室温ま
で冷却した後、次に示す方法で無電解銅めつきを
行なうことによつて、セラミツクス基板を作製し
た。
(i) 脱脂:アルコール液中に5分間浸漬した。
(ii) 触媒付与:センシタイザー液に25℃、3分間
浸漬後、水洗し、アクチベーター液に25℃、2
分間浸漬後、水洗した。センシタイザー液とし
ては、センシタイザー(商標“TMPセンシタ
イザー”奥野製薬工業(株)製)100ml/水溶液
を使用し、アクチベーター液としては、アクチ
ベーター(商標“TMPアクチベーター”奥野
製薬工業(株)製)100ml/水溶液を使用した。
(iii) 無電解銅めつき:無電解銅めつき液(商標
“OPCカツパー”、奥野製薬工業(株)製)中に55
℃で210分間浸漬した。
得られたセラミツクス基板は、厚さ15μmの銅
めつき皮膜からなる導電層を有するものであつ
た。
次いで実施例1と同様にしてマスキング及びエ
ツチングを行なつた後、銅皮膜と窒化アルミニウ
ム焼結体との接合強度を測定した。その結果、
4.3Kg/mm2という高い接合強度を有するものであ
つた。また、銅皮膜のシート抵抗は、1.3mΩ/
口であり、充分な導電性を有するものであつた。
実施例 3 実施例1と同様にして、有機ビヒクルとガラス
組成物とを混合して得た組成物を、200メツシユ
スクリーンにより、5×5×0.06cmのアルミナ板
にガラス組成物量0.008g/cm2の割合で塗布した
後、950℃で5分間加熱した。次いで実施例2に
示した(i)(ii)により触媒付与した後、無電解銅めつ
き液「OPCカツパ」中に55℃、30分間浸漬して
銅皮膜を2μm形成した後、銅めつき表面に、め
つき用マスキングインキ(商品名「フオトマール
MT」奥野製薬工業(株)製)を2×2mmの正方形の
形状を5ケ所残してスクリーン印刷し、次にUV
照射を10秒行なつてマスキングインキを硬化させ
た。次いで、電気銅めつきを行ない銅めつき厚を
30μmとした後、塩化メチレン液中に浸漬してマ
スキングインキを剥離除去した。次いで、試料を
過硫酸アンモニウム水溶液に20℃で浸漬して無電
解銅めつきのみの部分を溶解した。残つた銅めつ
き皮膜とアルミナ板との接合強度を実施例1と同
様にして測定したところ、4.6Kg/mm2であり、高
い接合強度を有するものであつた。また、銅皮膜
のシート抵抗は、1.0mΩ/口であり、高い導電
性を有するものであつた。
実施例 4 実施例2で用いたガラス組成物において、
AlNをSiCに代えた以外は、実施例2と同様にし
て、ガラス組成物と有機溶媒との混合物を得た。
次いで、これを実施例2と同様にして、3×3×
0.3cmのジルコニア焼結体上へ塗布し、加熱した。
その後、実施例1と同様にして無電解銅めつきを
行なうことによつてセラミツクス基板を得た。得
られたセラミツクス基板では、銅皮膜は、3.8
Kg/mm2という高い接合強度を有するものであり、
またシート抵抗は0.8mΩ/口であり、良好な導
電性を示した。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 () セラミツクス基材、 () 該セラミツクス基材上に、 (i) TiN、TiB2、AlN、AlB2、BN、B4C、
    SiC及びSi3N4の少なくとも1種の粉末3〜
    80重量%、 (ii) SiO2粉末4〜80重量%、 (iii) B2O3粉末1〜40重量%、及び (iv) (R12O、(R2)O、(R3)O2及び
    (R42O3(ただし、R1はNa、KまたはLi、R2
    はMg、Ca、Ba、Zn、PbまたはCd、R3
    Ti、ZrまたはMn、R4はAlまたはBiである)
    の少なくとも1種の粉末1〜80重量% からなるガラス組成物 を塗布し、加熱して得られためつき用下地層、
    並びに () 該下地層上に形成されためつき皮膜 からなるセラミツクス基板。
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