JPH02281122A - 光ファイバの波長分散分布測定装置 - Google Patents

光ファイバの波長分散分布測定装置

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JPH02281122A
JPH02281122A JP10401089A JP10401089A JPH02281122A JP H02281122 A JPH02281122 A JP H02281122A JP 10401089 A JP10401089 A JP 10401089A JP 10401089 A JP10401089 A JP 10401089A JP H02281122 A JPH02281122 A JP H02281122A
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JP
Japan
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optical
wavelength
distribution
optical fiber
waveform
Prior art date
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Pending
Application number
JP10401089A
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English (en)
Inventor
Shigeto Nishi
成人 西
Katsumi Iwatsuki
勝美 岩月
Kazuo Aida
一夫 相田
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NTT Inc
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
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Publication of JPH02281122A publication Critical patent/JPH02281122A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/31Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
    • G01M11/3109Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は、光ファイバの長手方向の波長分散値の分布を
光ファイバを破壊することなく測定する波長分散分布測
定装置に関するものである。
「従来の技術」 従来の光ファイバの波長分散の測定方法を第1表(最終
ページ)に示す。例えば光フアイバソリトン伝送等を実
現するためには、光ファイバの長手方向の波長分散値の
分布を測定する必要がある。
「発明が解決しようとする課題」 ところで、第1表の方法はいずれも光フアイバ全体での
分散値の積分値を測定するようになっている。したがっ
て、光ファイバの長手方向の波長分散値分布を測定する
ためには、測定対象の光ファイバを切断して測定せざる
を得す、従来、非破壊で光ファイバの長手方向の波長分
散値の分布を測定することは出来ない問題があった。
そこで本発明の目的は、非破壊で光ファイバの長手方向
の波長分散値の分布を測定する波長分散分布測定装置を
提供することにある。
「課題を解決するための手段」 本発明は、波長λlの第1の光パルスと、当該第1の光
パルスを誘導ラマン散乱効果によって増幅する波長λ2
の第2の光パルスとを時間軸上で互いに重なり合う様に
同期をとって、被測定対象である光ファイバに導くパル
ス送出部と、前記パルス送出部から前記光ファイバへ導
かれた光パルスの後方散乱光を受信し、波長λlの光パ
ルスを分波して電気パルスに変換する受光部と、当該受
光部の出力である電気パルスに基づいて被測定対象であ
る光ファイバの波長分散分布を測定する計測部とからな
ることを特徴とする 「作用」 本発明によれば、光ファイバに導かれた光パルスの後方
散乱光に基づいて波長分散分布を測定する。これにより
、光ファイバを切断することなく波長分散分布の測定が
可能となる。
「実施例」 第1図は本発明の一実施例の構成を示す図である。この
図において、lは同期信号発生器、2−12−2は各々
半導体レーザ駆動波形発生器、3−1.3−2は各々半
導体レーザ、4は合波器、5−1.5−2は各々光スィ
ッチ、6は被測定ファイバである。また、7は波長15
5μmの光を選択的に通過させる光フィルタ、8はフォ
トダイオード等による受光器、9は平均応答処理部、1
0は演算処理部、11は分布波形記憶部である。
このような構成において、同期信号発生器lから出力さ
れる同期信号により決まる繰り返し周期で、波長1.5
5μmの矩形状の光パルスLPI(第2図参照)をレー
ザ駆動波形発生回路2−1と半導体レーザ3〜lとによ
り発生させる。同様に、波長1.48μmの鋸歯状の光
パルスLP2(第2図)をレーザ駆動波形発生回路2−
2と半導体レーザ3−2とにより発生させる。当該二つ
の光パルスLPI、LP2をその時間的位置関係が第2
図の様になるようにタイミングをとって合波器4により
合波し、光スイッチ5−1を介して被測定ファイバ6に
導き入れる。導き入れjこ直後にタイミングをとって光
スイッチ5−1を切り替え、上記光パルスLPI、LP
2の後方散乱光を被測定ファイバ6から取り出して、光
スイッチ5−2を介して光フィルタ7により1.55μ
m光のみを切り出して受光器8で電気信号に変換し、平
均応答処理部9において1.55μmの後方散乱光パル
スを繰り返し加算し、波形を測定する。演算処理部10
ではこの波形と、予め測定し分布波形記憶部11に記憶
させておいた波長1.55μm及び波長1.48μmの
損失分布波形との差分をとり、その結果を基に分散分布
波形を出力する。
第2図に示すように、波長1.55μmの矩形状のパル
スLPIと波長l、48μmの鋸歯状の光パルスLP2
との相対的時間位置関係は、それぞれの波長における光
ファイバの波長分散値の分布5(z)と伝搬した距離り
とによって決まり、ラマン増幅による1、55μm光の
増幅度はその時両光パルスが重なった部分の1.48μ
m光の光7<ルスLP2の強度に比例する。l、48μ
m光の光パルスLP2の波形を鋸歯状にとれば、増幅度
は当該相対的時間位置関係に比例する。従って、1.5
5μm光の矩形状の光パルスLPIの入射時の強度をP
Oとし、光ファイバが損失がないと仮定すれば、距離り
だけ伝送した後の1.55μ亀先の矩形状の光パルスの
強度PLは なる式によって与えられる。但し、AcJfは被測定フ
ァイバのコアの有効断面積、γはラマン利得係数、kは
比例定数である。したがって、dB表示とすれば、 P L(dBm) −P O(dBm)−に−55(z
)  dz−−(2)なる式が成り立つ、但しKは比例
定数である。
この(2)式において、POの値は既知であり、当該被
測定光フアイバ6全体での波長分散値は別の方法(例え
ば表1の方法)で測定できるので、比例定数には決める
ことが出来る。したがって、PLをその後方散乱光によ
って連続的に測定すれば、s (z)の長手方向の累積
分布を測定することが出来る。ところで、上記の議論は
被測定光ファイバ6の損失を無視しているが、実際は波
長1.55μmの矩形状の光パルスLPIおよび波長1
.48μmの鋸歯状の光パルスLP2は減衰するので、
これを較正する必要がある。これには、それぞれの波長
での被測定光ファイバ6のファイバ長手方向の損失分布
が判ればよい。損失分布はいわゆる後方散乱法によって
測定することができる。これは第1図における半導体レ
ーザ3−1.3−2からそれぞれの波長の矩形状の光パ
ルスを発生させて上記と同様に測定すればよい。但しこ
の時は光スイッチ5−2を作動させ、光ファイバ7は介
さずに測定する。このようにすることにより、同じ装置
で後方散乱法による損失分布の測定も可能である。
この測定データは分布波形記憶部1.1に記憶させてお
き、上述のように演算処理部IOで光パルスの強度PL
の波形データと演算処理を行い、波長分散分布を求める
以上のことから明らかなように、上記実施例によれば、
従来できなかった非破壊でかつ連続的な波長分散分布測
定が可能となる。
なお、上記実施例では、波長1.48μmの波形を鋸歯
、波長1.55μmの波形を矩形としたが、一方を鋸歯
、もう一方を矩形とすれば、以上の動作は成立する。従
って、1.55μmの波形を鋸歯、1.48μmの波形
を矩形としてもよい。また、各々の波形は、必ずしも、
鋸歯、矩形波でなくてもよい。この場合には、波分散値
の分布S (Z)と光パルスの強度PLとの間に線形な
関係がないため、演算処理部lOで、線形な関係になる
ように換算する必要がある。
「発明の効果」 以上説明したように、本発明の光フアイバ波長分散分布
測定装置によれば、非破壊で光ファイバの波長分散分布
が測定でき、光フアイバソリトン伝送路の設計が可能と
なるが、この他にも、超高速光伝送路の設計に必要なパ
ラメターを知る上で有効である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例の構成を示すブロック図、第2
図は同実施例の動作を説明するための波形図である。 l・・・・・・同期信号発生器、2−1.2−2・・・
・・・レーザ駆動波形発生器、3−1.3−2・・・半
導体レーザ、4・・・・・合波器、5−1.5−2・・
・・・・光スィッチ、6・・・・・光ファイバ、7・・
・・光フィルタ、8・受光器、9・・・・・・平均応答
処理部、lO・・・・演算処理部、If・・・・分布波
形記憶部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 波長λ1の第1の光パルスと、当該第1の光パルスを誘
    導ラマン散乱効果によって増幅する波長λ2の第2の光
    パルスとを時間軸上で互いに重なり合う様に同期をとっ
    て、被測定対象である光ファイバに導くパルス送出部と
    、前記パルス送出部から前記光ファイバへ導かれた光パ
    ルスの後方散乱光を受信し、波長λ1の光パルスを分波
    して電気パルスに変換する受光部と、当該受光部の出力
    である電気パルスに基づいて被測定対象である光ファイ
    バの波長分散分布を測定する計測部とからなることを特
    徴とする光ファイバの波長分散分布測定装置。
JP10401089A 1989-04-24 1989-04-24 光ファイバの波長分散分布測定装置 Pending JPH02281122A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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