JPH02284045A - チューナブルエタロンを用いたガス濃度圧力検出方法 - Google Patents
チューナブルエタロンを用いたガス濃度圧力検出方法Info
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- JPH02284045A JPH02284045A JP10540589A JP10540589A JPH02284045A JP H02284045 A JPH02284045 A JP H02284045A JP 10540589 A JP10540589 A JP 10540589A JP 10540589 A JP10540589 A JP 10540589A JP H02284045 A JPH02284045 A JP H02284045A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、濃度(圧力)が検出されるガスの吸収ス□ベ
クトルに応じて光学的に狭m1jfflフィルタの特性
を持つチューナブルエタロンの共振波長を変調させるこ
とにより、任息のガスのfA度(圧力)を検出する方法
に関する。
クトルに応じて光学的に狭m1jfflフィルタの特性
を持つチューナブルエタロンの共振波長を変調させるこ
とにより、任息のガスのfA度(圧力)を検出する方法
に関する。
[従来の技術]
従来、例えばメタンガス等の濃度(圧力)を検出するた
めの手段として、第5図に示すような回路構成のものが
あった。
めの手段として、第5図に示すような回路構成のものが
あった。
これは、メタンガスが封入されたガスセルを透過した光
を、ハーフミラ−101により一部を透過させるととも
に一部を反射させ、反射光を参照光としてホトダイオー
ド102で光電変換したあと、光電変換された直流信号
をアンプ103で増幅し、増幅した直流信号を差動アン
プ104の一方の入力端子に印加する一方、ハーフミラ
−101を透過した光を、中心波長がメタンガスの吸収
スペクトルと一致する干渉フィルタ105に通し、干渉
フィルタ105を通過した光を計測光としてホトダイオ
ード106で光電変換したあと、光電変換された直流信
号をアンプ107で増幅し、増幅した直流信舅を差動ア
ンプ104のもう一方の入力端子に印加することにより
、差動アンプ104において前記参照光対応の直流信号
と計測光対応の直流信号との差を増幅し、差動アンプ1
04から出力された信号に基づいてメタンガスの′a度
を検出するようになっている。
を、ハーフミラ−101により一部を透過させるととも
に一部を反射させ、反射光を参照光としてホトダイオー
ド102で光電変換したあと、光電変換された直流信号
をアンプ103で増幅し、増幅した直流信号を差動アン
プ104の一方の入力端子に印加する一方、ハーフミラ
−101を透過した光を、中心波長がメタンガスの吸収
スペクトルと一致する干渉フィルタ105に通し、干渉
フィルタ105を通過した光を計測光としてホトダイオ
ード106で光電変換したあと、光電変換された直流信
号をアンプ107で増幅し、増幅した直流信舅を差動ア
ンプ104のもう一方の入力端子に印加することにより
、差動アンプ104において前記参照光対応の直流信号
と計測光対応の直流信号との差を増幅し、差動アンプ1
04から出力された信号に基づいてメタンガスの′a度
を検出するようになっている。
[発明が解決しようとする課題]
上記従来のガス濃度(圧力)検出手段は、ハーフミラ−
101で光路を参照光と計測光とに分け、それぞれの電
気回路を独立させているため、例えば前記アンプ103
.107及び差動アンプ104の電気的特性が周囲温度
の変化により変動すると、それぞれのアンプの増幅率が
微妙に変動し、前記参照光対応の直流信号と計測光対応
の直流信号が温度に対して変動するため、正確な濃度検
出ができないという問題があった。そのため従来は、そ
の電気回路を恒温槽の中に入れ、温度に対する回路特性
を安定させることが必要であった。そして1度(圧力)
検出精度を上げるためには恒温槽の温度ゐり御精度を上
げることが必要であった。しかしながら恒温槽の温度制
御211精度を上げることは技術的に限界があり、且つ
温度制御精度の高い恒温槽は高価であるという問題があ
った。
101で光路を参照光と計測光とに分け、それぞれの電
気回路を独立させているため、例えば前記アンプ103
.107及び差動アンプ104の電気的特性が周囲温度
の変化により変動すると、それぞれのアンプの増幅率が
微妙に変動し、前記参照光対応の直流信号と計測光対応
の直流信号が温度に対して変動するため、正確な濃度検
出ができないという問題があった。そのため従来は、そ
の電気回路を恒温槽の中に入れ、温度に対する回路特性
を安定させることが必要であった。そして1度(圧力)
検出精度を上げるためには恒温槽の温度ゐり御精度を上
げることが必要であった。しかしながら恒温槽の温度制
御211精度を上げることは技術的に限界があり、且つ
温度制御精度の高い恒温槽は高価であるという問題があ
った。
また、直流信号増幅方式のためノイズの除去が困難であ
り、ドリフト電流が型骨されてもそれを除去することが
極めて困難であるという問題があった。
り、ドリフト電流が型骨されてもそれを除去することが
極めて困難であるという問題があった。
そこで、本発明では上記問題を解決するため、ガスセル
を透過した光を参照光と計測光との二つの光路に分岐す
ることなく甲−光路を通し、この単一光路あるいはガス
セルの4q k: 設けられた共振波長可変のチューナ
ブルエタロンを、濃度(圧力)が検出されるガスの吸収
波長を中心に僅かに共振波長を変調するように制御する
とともに、チューナブルエタロンの共振波長の変調の中
心を自動的に被1I11度(圧力)検出ガスの光の吸収
波長に合わせるようにフィードバックit、I!御する
ことにより、ガスn度(圧力)を高精度に検出すること
を解決寸べき技術的課題とするものである。
を透過した光を参照光と計測光との二つの光路に分岐す
ることなく甲−光路を通し、この単一光路あるいはガス
セルの4q k: 設けられた共振波長可変のチューナ
ブルエタロンを、濃度(圧力)が検出されるガスの吸収
波長を中心に僅かに共振波長を変調するように制御する
とともに、チューナブルエタロンの共振波長の変調の中
心を自動的に被1I11度(圧力)検出ガスの光の吸収
波長に合わせるようにフィードバックit、I!御する
ことにより、ガスn度(圧力)を高精度に検出すること
を解決寸べき技術的課題とするものである。
[課題を解決するための手段]
上記課題解決のための技術的手段は、被濃度(圧力)検
出ガスが封入されたガスセルにビーム状の光を透過させ
、ガスセルを透過した光をチューナブルエタロンに入射
させた状態でチューナブルエタロンを所定のタイミング
で共振変調し、前記被濃度〈圧力)検出ガスにより強く
吸収される波長の第1の光と上記ガスにより吸収されな
い波長の第2の光とを通過させるとともに、同チューナ
ブルエタOンを通過した前記第1の光と第2の光の合計
光Rをモニターし、この合計光量が所定量以下に減衰し
たとき、減衰光量に基づいて前記チューナブルエタロン
の共振変調を補正し、チュ−ナブルエタロンの共振波長
の変調の中心を被濃度(圧力)検出ガスの光の吸収波長
に合わせるようにフィードバック制御するととしに、前
記第1の光と第2の光を光電変換した第1の電気信号と
第2の電気信号とに基づいて萌記被濃度(圧力)検出ガ
スによる第1の光の吸収率を演算し、この吸収率から前
記被濃度(圧力)検出ガスの濃度(圧力)を演算するこ
とことである。
出ガスが封入されたガスセルにビーム状の光を透過させ
、ガスセルを透過した光をチューナブルエタロンに入射
させた状態でチューナブルエタロンを所定のタイミング
で共振変調し、前記被濃度〈圧力)検出ガスにより強く
吸収される波長の第1の光と上記ガスにより吸収されな
い波長の第2の光とを通過させるとともに、同チューナ
ブルエタOンを通過した前記第1の光と第2の光の合計
光Rをモニターし、この合計光量が所定量以下に減衰し
たとき、減衰光量に基づいて前記チューナブルエタロン
の共振変調を補正し、チュ−ナブルエタロンの共振波長
の変調の中心を被濃度(圧力)検出ガスの光の吸収波長
に合わせるようにフィードバック制御するととしに、前
記第1の光と第2の光を光電変換した第1の電気信号と
第2の電気信号とに基づいて萌記被濃度(圧力)検出ガ
スによる第1の光の吸収率を演算し、この吸収率から前
記被濃度(圧力)検出ガスの濃度(圧力)を演算するこ
とことである。
あるいはまた、被濃度(圧力)検出ガスが封入されたガ
スセルにビーム状の光を入射するための入射光路に配設
されたチューナブルエタロンを所定のタイミングで共振
変調し、前記被濃度(圧力)検出ガスにより強く吸収さ
れる波長の第1の光と上記検出ガスにより吸収されない
波長の第2の光どを通過させ、同チューナブルエタロン
を通過した前記第1の光と第2の光の合計光量をモニタ
ーし、この合計光量が所定量以下に減衰したとき、減衰
光量に基づいて前記チューナブルエタロンの共振変調を
補正し、チューナブルエタロンの共振波長の変調の中心
を被濃度(圧力)検出ガスの光の吸収波長に合わせるよ
うにフィードバックlII御するとともに、前記第1の
光と第2の光を光電変換した第1の電気信号と第2の電
気信号とに基づいて前記被濃度(圧力)検出ガスによる
第1の光の吸、収率を演算し、この吸収率から前記被濃
度(圧力)検出ガスの濃度(圧力)を演算することであ
る。
スセルにビーム状の光を入射するための入射光路に配設
されたチューナブルエタロンを所定のタイミングで共振
変調し、前記被濃度(圧力)検出ガスにより強く吸収さ
れる波長の第1の光と上記検出ガスにより吸収されない
波長の第2の光どを通過させ、同チューナブルエタロン
を通過した前記第1の光と第2の光の合計光量をモニタ
ーし、この合計光量が所定量以下に減衰したとき、減衰
光量に基づいて前記チューナブルエタロンの共振変調を
補正し、チューナブルエタロンの共振波長の変調の中心
を被濃度(圧力)検出ガスの光の吸収波長に合わせるよ
うにフィードバックlII御するとともに、前記第1の
光と第2の光を光電変換した第1の電気信号と第2の電
気信号とに基づいて前記被濃度(圧力)検出ガスによる
第1の光の吸、収率を演算し、この吸収率から前記被濃
度(圧力)検出ガスの濃度(圧力)を演算することであ
る。
[作 用]
上記技術的手段により、ガスセルを透過した光は従来の
ガスセンサのように参照光と計測光とに分離されること
なく同一光路を通過されるもので、同一光路を通過した
光はガスセルの後の光路、あるいはガスセルの前の光路
に設けられたチューナブルエタロンの共振変調作用によ
り被濃度(圧力)検出ガスに吸収される波長の第1の光
と、被′a度(圧力)検出ガスに吸収されない波長の第
2の光とをそれぞれ計測光と参照光として通過させると
ともに、チューナブルエタロンの共振波長の中心を被濃
度(圧力)検出ガスの吸収波長に合わせるようにフィー
ドバック制御されるため、計測光としての第1の光の光
量対応信号と、参照光としての第2の光の先回対応信号
とに基づいて任意のガスの濃度(圧力)を高精度に検出
する作用をする。
ガスセンサのように参照光と計測光とに分離されること
なく同一光路を通過されるもので、同一光路を通過した
光はガスセルの後の光路、あるいはガスセルの前の光路
に設けられたチューナブルエタロンの共振変調作用によ
り被濃度(圧力)検出ガスに吸収される波長の第1の光
と、被′a度(圧力)検出ガスに吸収されない波長の第
2の光とをそれぞれ計測光と参照光として通過させると
ともに、チューナブルエタロンの共振波長の中心を被濃
度(圧力)検出ガスの吸収波長に合わせるようにフィー
ドバック制御されるため、計測光としての第1の光の光
量対応信号と、参照光としての第2の光の先回対応信号
とに基づいて任意のガスの濃度(圧力)を高精度に検出
する作用をする。
[実施例]
次に、本発明の実施例を図面を参照しながら説明ブーる
。
。
第1図は、本発明の一実施例を実現するための全体的な
構成系統図である。
構成系統図である。
第1図において、主ケース1に設けられた定電流回路2
から通電された定電流により、発光ダイオード<LED
)3から例えば1.3マイクロメータ帯の波長を有する
光が発光されると、この光は、光コネクタ4、及び光フ
ァイバ5を介して光器具ブラケット6に伝送される。こ
の光ブラケット6には、濃度(圧力)が検出される被8
1度(圧力)検出ガスとしての例えばメタンガスが均一
に封入されたガスセルフが配設されている。光器具ブラ
ケット6に伝送された上記光は、レンズ8に入射され、
レンズ8によりビーム状に集光された光線L1がガスセ
ルフを透過される。ガスセルフを透過された光線L1は
レンズ9により集光され、マルチモードファイバ10.
光コネクタ11を介して主ケース1に帰還される。主ケ
ース1にはサブケース12が内蔵されており、主ケース
1に帰還されたガスセル透過光は上記光コネクタ11に
接続されたサブ光コネクタ13を介してサブケース12
に入射される。
から通電された定電流により、発光ダイオード<LED
)3から例えば1.3マイクロメータ帯の波長を有する
光が発光されると、この光は、光コネクタ4、及び光フ
ァイバ5を介して光器具ブラケット6に伝送される。こ
の光ブラケット6には、濃度(圧力)が検出される被8
1度(圧力)検出ガスとしての例えばメタンガスが均一
に封入されたガスセルフが配設されている。光器具ブラ
ケット6に伝送された上記光は、レンズ8に入射され、
レンズ8によりビーム状に集光された光線L1がガスセ
ルフを透過される。ガスセルフを透過された光線L1は
レンズ9により集光され、マルチモードファイバ10.
光コネクタ11を介して主ケース1に帰還される。主ケ
ース1にはサブケース12が内蔵されており、主ケース
1に帰還されたガスセル透過光は上記光コネクタ11に
接続されたサブ光コネクタ13を介してサブケース12
に入射される。
サブケース12に入射されたガスセル透過光L2は、入
射光線の一部を反射づることが可能なハーフミラ−特性
を有する干渉フィルタF1において、透過光L3と反射
光L4とに分光される。尚、この干渉フィルタF1は第
3図に示すように20nm(ナノメータ)の波長帯域幅
を有している。上記反射光L4は、レンズ15により集
光されたあと、ホトダイオードPDIにより光電変換さ
れ、増幅器16により珊幅されたあと、AD変換器17
にJ3いてディジタル信号R1に変換される。そして反
射光L4の光量に対応した上記ディジタル信号R1はマ
イクロコンピュータ(CPU)18に入力される。この
ディジタル信号R1は、マイクロコンピユータ(CPU
)1Bが前記光ファイバ5、マルチモードフ?イバ10
の光ファイバ光路を監視するため、所定のタイミングで
マイクロコンピュータ18にサンプリングされ、サンプ
リングタイミングにおいて上記ディジタル化@R1が入
力されない場合、あるいは極めて低い電位になった場合
、上記光フアイバ光路に異常が発生したと判断し、マイ
クロコンピュータ18はアラーム出力回路19に異常信
号を出力する。
射光線の一部を反射づることが可能なハーフミラ−特性
を有する干渉フィルタF1において、透過光L3と反射
光L4とに分光される。尚、この干渉フィルタF1は第
3図に示すように20nm(ナノメータ)の波長帯域幅
を有している。上記反射光L4は、レンズ15により集
光されたあと、ホトダイオードPDIにより光電変換さ
れ、増幅器16により珊幅されたあと、AD変換器17
にJ3いてディジタル信号R1に変換される。そして反
射光L4の光量に対応した上記ディジタル信号R1はマ
イクロコンピュータ(CPU)18に入力される。この
ディジタル信号R1は、マイクロコンピユータ(CPU
)1Bが前記光ファイバ5、マルチモードフ?イバ10
の光ファイバ光路を監視するため、所定のタイミングで
マイクロコンピュータ18にサンプリングされ、サンプ
リングタイミングにおいて上記ディジタル化@R1が入
力されない場合、あるいは極めて低い電位になった場合
、上記光フアイバ光路に異常が発生したと判断し、マイ
クロコンピュータ18はアラーム出力回路19に異常信
号を出力する。
一方、前記透過光L3は、チューナブルエタロン21に
入射される。このチューナブルエタロン21は、2枚の
対向するエタロン板21△、21Bを備え、それぞれの
エタロン板21△、21Bの対向面には誘電体反射膜が
形成されており、入射された光をエタロン板21A、2
1Bの間で多重反射させ、エタロン板21△、21B間
の距離に対応した波長の光を共振通過させるように構成
されている。エタロン板21A、21Bのいずれか、例
えばエタロン板21Bには、エタロン板21A、21B
間の距離を微少変化させるためのチューナブルエタロン
駆動手段として、例えばピエゾ素子(PZT)22が取
付けられており、このピエゾ素子(PZT)22に印加
する電圧に応じてエタロン板21Δ、21B間の振動幅
が制御される。尚、このチューナブルエタロン21は、
帯域が1ナノメータのものを使用している。
入射される。このチューナブルエタロン21は、2枚の
対向するエタロン板21△、21Bを備え、それぞれの
エタロン板21△、21Bの対向面には誘電体反射膜が
形成されており、入射された光をエタロン板21A、2
1Bの間で多重反射させ、エタロン板21△、21B間
の距離に対応した波長の光を共振通過させるように構成
されている。エタロン板21A、21Bのいずれか、例
えばエタロン板21Bには、エタロン板21A、21B
間の距離を微少変化させるためのチューナブルエタロン
駆動手段として、例えばピエゾ素子(PZT)22が取
付けられており、このピエゾ素子(PZT)22に印加
する電圧に応じてエタロン板21Δ、21B間の振動幅
が制御される。尚、このチューナブルエタロン21は、
帯域が1ナノメータのものを使用している。
第2図に示すように、メタンガスの吸収スペクトルに対
応した波長、即ち 1.3312マイクロメータの波長
を有する第1の光と、この1.3312マイクロメータ
の波長より僅かにずれた1、3772マイクロメータ(
dλ=5nm)のメタンガスに吸収されない波長の第2
の光(第3図参照)とを交Hに通過させるようにエタロ
ン板21Bを振動させるため、ピエゾ素子22に制御信
号を出力するピエゾドライバ(チューナブルエタロン制
御手段)23が設けられている。
応した波長、即ち 1.3312マイクロメータの波長
を有する第1の光と、この1.3312マイクロメータ
の波長より僅かにずれた1、3772マイクロメータ(
dλ=5nm)のメタンガスに吸収されない波長の第2
の光(第3図参照)とを交Hに通過させるようにエタロ
ン板21Bを振動させるため、ピエゾ素子22に制御信
号を出力するピエゾドライバ(チューナブルエタロン制
御手段)23が設けられている。
上記振動制御により、1.3312マイクロメータの波
長を有する第1の光と、この1.3312マイクロメー
タの波長から僅かにずれた1、 3372マイクロメー
タの波長の第2の光とがエタロンを交互に通過すると、
これらの光は二方向分光器24により分光N1とN2に
分けられる。分光N1は、第4図に示すように半値幅が
4ナノメータの帯域幅を有する干渉フィルタF2を通過
したあと、レンズ25により集光され、ホトダイオード
PD2において光電変換される。ホトダイオードPD2
において光電変換され、ホトダイオードPD2から出力
された直流信号は増幅器26において増幅されたあと、
キャパシタ27を通すことにより交流信号N3に変換さ
れ、同期検波回路28に入力される。
長を有する第1の光と、この1.3312マイクロメー
タの波長から僅かにずれた1、 3372マイクロメー
タの波長の第2の光とがエタロンを交互に通過すると、
これらの光は二方向分光器24により分光N1とN2に
分けられる。分光N1は、第4図に示すように半値幅が
4ナノメータの帯域幅を有する干渉フィルタF2を通過
したあと、レンズ25により集光され、ホトダイオード
PD2において光電変換される。ホトダイオードPD2
において光電変換され、ホトダイオードPD2から出力
された直流信号は増幅器26において増幅されたあと、
キャパシタ27を通すことにより交流信号N3に変換さ
れ、同期検波回路28に入力される。
一方、分光N2は、レンズ30により集光され、ホトダ
イオードPD3において光電変換される。
イオードPD3において光電変換される。
ホトダイオードPD3において光電変換され、ホトダイ
オードPD3から出力された直流信号は増幅器31にお
いて増幅されたあと、キャパシタ32を通すことにより
交流信号N4に変換され、更にゲイン調節可能なプログ
ラマブルゲインアンプ33によりゲイン調節された交流
信号N5が同期検波回路34に入力される。
オードPD3から出力された直流信号は増幅器31にお
いて増幅されたあと、キャパシタ32を通すことにより
交流信号N4に変換され、更にゲイン調節可能なプログ
ラマブルゲインアンプ33によりゲイン調節された交流
信号N5が同期検波回路34に入力される。
前記マイクロコンピュータ18に接続された発振回路(
O20)36は、50112の正弦波信号を発振して出
力するもので、この発振信号S1は加n器37に、また
同様の発振信号S2は位相制御回路38に送信される。
O20)36は、50112の正弦波信号を発振して出
力するもので、この発振信号S1は加n器37に、また
同様の発振信号S2は位相制御回路38に送信される。
加算器37は発振信号S1と、後述のデユーナブルエタ
ロン共振制御補正信号S3とを加締した加締信号S4を
前記ピエゾドライバ23に出力する。
ロン共振制御補正信号S3とを加締した加締信号S4を
前記ピエゾドライバ23に出力する。
上記位相制御回路38は、5oozの正弦波信号S2を
入力し、この50H7正弦波がゼ1コクロスするごとに
パルス信号を生成するもので、10011zの矩形波パ
ルス信号S5、S6を出力する。F記パルス信号S5は
薗記同朋検波回路28に、また、もう一方のパルス信号
S6は前記同期検波回路34に入力される。
入力し、この50H7正弦波がゼ1コクロスするごとに
パルス信号を生成するもので、10011zの矩形波パ
ルス信号S5、S6を出力する。F記パルス信号S5は
薗記同朋検波回路28に、また、もう一方のパルス信号
S6は前記同期検波回路34に入力される。
同期検波回路28は、上記パルス信号S5と前記交流信
号N3とを入力し、パルス信号S5に同期して交流信号
N3を同期検波する。同期検波回路28において同期検
波された出力信号S7は、PID回路(比例積分、比例
微分回路)40に入力される。同期検波された出力信号
S7は、前記チューナブルエタロン21がピエゾ素子2
2により振動されるとき、振動幅が何らかの原因により
所定値から変化し、前記1.3312マイクロメータの
波長を0する第1の光と、この1.3312マイクロメ
ータの波長から僅かにずれた 1.3372マイクロメ
ータの波長を有する第2の光が得られなくならないよう
、上記振動幅を所定値に戻すように補正づるための信号
で、この信号S7を前記PID回路(比例積分、比例微
分回路)40を通してより精密な踊正信号にした状態で
前記チューナブルエタロン共振制御補正信号$3として
前記加算器37に印加する。従って加q器37からピエ
ゾドライバ23に出力される信号S4は、前記発振信号
S1と、デユーナブルエタロン振動幅を補正するための
一種のフィードバック信号としてのチューノーゾルエタ
ロン共振制御補正信号S3とを加算した信舅となる。
号N3とを入力し、パルス信号S5に同期して交流信号
N3を同期検波する。同期検波回路28において同期検
波された出力信号S7は、PID回路(比例積分、比例
微分回路)40に入力される。同期検波された出力信号
S7は、前記チューナブルエタロン21がピエゾ素子2
2により振動されるとき、振動幅が何らかの原因により
所定値から変化し、前記1.3312マイクロメータの
波長を0する第1の光と、この1.3312マイクロメ
ータの波長から僅かにずれた 1.3372マイクロメ
ータの波長を有する第2の光が得られなくならないよう
、上記振動幅を所定値に戻すように補正づるための信号
で、この信号S7を前記PID回路(比例積分、比例微
分回路)40を通してより精密な踊正信号にした状態で
前記チューナブルエタロン共振制御補正信号$3として
前記加算器37に印加する。従って加q器37からピエ
ゾドライバ23に出力される信号S4は、前記発振信号
S1と、デユーナブルエタロン振動幅を補正するための
一種のフィードバック信号としてのチューノーゾルエタ
ロン共振制御補正信号S3とを加算した信舅となる。
また、同期検波回路34は、前記パルス信号S6と前記
交流信号N5とを入力し、パルス信号S6に同期して交
流信9N5を同期検波する。同期検波回路34において
同期検波された出力信号88は、前記AD変換器17に
よりディジタル信号89に変換されたあと、マイクロコ
ンピュータ18に入力される。
交流信号N5とを入力し、パルス信号S6に同期して交
流信9N5を同期検波する。同期検波回路34において
同期検波された出力信号88は、前記AD変換器17に
よりディジタル信号89に変換されたあと、マイクロコ
ンピュータ18に入力される。
マイクロコンピュータ18は、同1!11検波回路34
から出力された同期検波出力信号S8に対応したディジ
タル信号S9を入力すると、このディジタル信号S9に
基づいて、メタンガスに吸収されたあとの前記1.33
12マイクロメータの波長を有する第1の光の光吊に対
応した信りと、メタンガスにより吸収されない前記1.
3372マイクロメータ波長の第2の光の光量に対応し
た信号との差を演算し、更に、その差に基づいて前記ガ
スセルフのメタンガスの濃度(圧力)を演算検出する。
から出力された同期検波出力信号S8に対応したディジ
タル信号S9を入力すると、このディジタル信号S9に
基づいて、メタンガスに吸収されたあとの前記1.33
12マイクロメータの波長を有する第1の光の光吊に対
応した信りと、メタンガスにより吸収されない前記1.
3372マイクロメータ波長の第2の光の光量に対応し
た信号との差を演算し、更に、その差に基づいて前記ガ
スセルフのメタンガスの濃度(圧力)を演算検出する。
そして演算されたメタンガスの濃度(圧力)は、キーボ
ード41の設定操作によりLEDデイスプレィ42に表
示される。
ード41の設定操作によりLEDデイスプレィ42に表
示される。
以上のように、被濃度(圧力)検出ガスに吸収される第
1の光の吸収スペクトルに応じた波長と、上記吸収スペ
クトル対応波長より僅かにずれた第2の光の非吸収波長
とに共振するようにチューナブルエタロン21を変調さ
せてガス濃度(圧力)を高精度に検出する手段は、本実
施例で開示したメタンガスに限らず、任意のガスの濃度
(圧力)を検出し、表示する場合にも有用である。
1の光の吸収スペクトルに応じた波長と、上記吸収スペ
クトル対応波長より僅かにずれた第2の光の非吸収波長
とに共振するようにチューナブルエタロン21を変調さ
せてガス濃度(圧力)を高精度に検出する手段は、本実
施例で開示したメタンガスに限らず、任意のガスの濃度
(圧力)を検出し、表示する場合にも有用である。
尚、ガス濃度(圧力)が予め設定された基準値を越えた
場合、警報を出すため、前記アラーム出力回路19から
警報信号を出力することができる。
場合、警報を出すため、前記アラーム出力回路19から
警報信号を出力することができる。
尚、上記実施例の変形例として、前記干渉フィルタF2
の代わりに、被濃度(圧力)検出ガスを封入したガスセ
ルを用い、前記分光N1をこのガスセルを透過させるこ
とにより、前記チューナブルエタロン21の共振波長の
変調の中心を常に被濃度(圧力)検出ガスの吸収波長に
合わせるようなフィードバック制御をしても良い。
の代わりに、被濃度(圧力)検出ガスを封入したガスセ
ルを用い、前記分光N1をこのガスセルを透過させるこ
とにより、前記チューナブルエタロン21の共振波長の
変調の中心を常に被濃度(圧力)検出ガスの吸収波長に
合わせるようなフィードバック制御をしても良い。
また、前記チューナブルエタロン21の配段位nは、前
記実施例のように前記干渉フィルタF1の直ぐ後でなく
ても、例えば前記ガスセルフの直前、あるいは直後でも
良く、あるいはその他の有効な位行でも良い。
記実施例のように前記干渉フィルタF1の直ぐ後でなく
ても、例えば前記ガスセルフの直前、あるいは直後でも
良く、あるいはその他の有効な位行でも良い。
更に、前記ガスセルフのすぐ後に光カブラ、あるいはビ
ームスプリッタを配設し、ガスセルフを透過した光を二
つに分け、一方の光を前記干渉フィルタF1に入射させ
、他方の光を基準パワー測定部に入光させ、前記光ファ
イバ5、マルチモードファイバ10の光ファイバ光路を
監視させることもできる。但し、この場合は前記干渉フ
ィルタF1にハーフミラ−機能を必要としない。
ームスプリッタを配設し、ガスセルフを透過した光を二
つに分け、一方の光を前記干渉フィルタF1に入射させ
、他方の光を基準パワー測定部に入光させ、前記光ファ
イバ5、マルチモードファイバ10の光ファイバ光路を
監視させることもできる。但し、この場合は前記干渉フ
ィルタF1にハーフミラ−機能を必要としない。
[発明の効果]
以上のように本発明によれば、濃度(圧力)が検出され
る任意のガスが封入されたガスセルにビーム状の光を透
過させ、上記ガスにより吸収される波長の第1の光の吸
収度に応じてガスの濃度を演口検出するとき、ガスセル
の復の光路、あるいはガスセルの前の光路に設けられた
チューナブルエタロンを共成変調することにより、計測
光としての上記第1の光と、ガスにより吸収されない波
長の参照光としての第2の光とを所定のタイミングで通
過させ、同チューナブルエタロンを通過した前記第1の
光と第2の光の合計先方をモニターし、この合計光mに
応じて前記チューナブルエタロンの共振波長の変調の中
心を被濃度(圧力)検出ガスの光の吸収波長に自動的に
合わIるようにフィードバック制御するとともに、前記
第1の光と第2の光を光電変換した第1の電気信号と第
2の電気信号とに基づいて被濃度く圧力)検出ガスによ
る第1の光の吸収率を演埠し、この吸収率から前記被濃
度(圧力)検出ガスのa度(圧力)を演粋することがで
きるため、任意のガスの濃度(圧力)を高精度に検出す
ることができるという効果がある。
る任意のガスが封入されたガスセルにビーム状の光を透
過させ、上記ガスにより吸収される波長の第1の光の吸
収度に応じてガスの濃度を演口検出するとき、ガスセル
の復の光路、あるいはガスセルの前の光路に設けられた
チューナブルエタロンを共成変調することにより、計測
光としての上記第1の光と、ガスにより吸収されない波
長の参照光としての第2の光とを所定のタイミングで通
過させ、同チューナブルエタロンを通過した前記第1の
光と第2の光の合計先方をモニターし、この合計光mに
応じて前記チューナブルエタロンの共振波長の変調の中
心を被濃度(圧力)検出ガスの光の吸収波長に自動的に
合わIるようにフィードバック制御するとともに、前記
第1の光と第2の光を光電変換した第1の電気信号と第
2の電気信号とに基づいて被濃度く圧力)検出ガスによ
る第1の光の吸収率を演埠し、この吸収率から前記被濃
度(圧力)検出ガスのa度(圧力)を演粋することがで
きるため、任意のガスの濃度(圧力)を高精度に検出す
ることができるという効果がある。
第1図は本発明の一実施例の全体的な構成を示す系統図
であり、第2図はメタンガスの吸収スペクトル特性図、
第3図は干渉フィルタと、チューナブルエタロンの特性
説明図、第4図は別の干渉フィルタの特性説明図である
。また、第5図は従来のガス濃度(圧力)検出信号の構
成系統図である。 3・・・発光ダイオード 7・・・ガスセル Fl、F2・・・干渉フィルタ 18・・・マイクロコンピュータ 21・・・チューナブルエタロン 22・・・ピエゾ素子 23・・・ピエゾドライバ 24・・・分光器 2G・・・MjIIA器 27・・・キャパシタ 28・・・同期検波回路 PO2,PO2・・・ホトダイオード 31・・・増幅器 32・・・キャパシタ 34・・・同期検波回路 36・・・発揚回路 37・・・加算器 38・・・位相制御回路 42・・・LEDディスプレイ
であり、第2図はメタンガスの吸収スペクトル特性図、
第3図は干渉フィルタと、チューナブルエタロンの特性
説明図、第4図は別の干渉フィルタの特性説明図である
。また、第5図は従来のガス濃度(圧力)検出信号の構
成系統図である。 3・・・発光ダイオード 7・・・ガスセル Fl、F2・・・干渉フィルタ 18・・・マイクロコンピュータ 21・・・チューナブルエタロン 22・・・ピエゾ素子 23・・・ピエゾドライバ 24・・・分光器 2G・・・MjIIA器 27・・・キャパシタ 28・・・同期検波回路 PO2,PO2・・・ホトダイオード 31・・・増幅器 32・・・キャパシタ 34・・・同期検波回路 36・・・発揚回路 37・・・加算器 38・・・位相制御回路 42・・・LEDディスプレイ
Claims (2)
- (1)被濃度(圧力)検出ガスが封入されたガスセルに
ビーム状の光を透過させ、ガスセルを透過した光をチュ
ーナブルエタロンに入射させた状態でチューナブルエタ
ロンを所定のタイミングで共振変調し、前記被濃度(圧
力)検出ガスにより強く吸収される波長の第1の光と上
記ガスにより吸収されない波長の第2の光とを通過させ
るとともに、同チューナブルエタロンを通過した前記第
1の光と第2の光の合計光間をモニターし、この合計光
量が所定量以下に減衰したとき、減衰光量に基いて前記
チューナブルエタロンの共振変調を補正し、チューナブ
ルエタロンの共振波長の変調の中心を被濃度(圧力)検
出ガスの光の吸収波長に合わせるようにフィードバック
制御するとともに、前記第1の光と第2の光を光電変換
した第1の電気信号と第2の電気信号とに基づいて前記
被濃度(圧力)検出ガスによる第1の光の吸収率を演算
し、この吸収率から前記被濃度(圧力)検出ガスの濃度
(圧力)を演算することを特徴とするチューナブルエタ
ロンを用いたガス濃度圧力検出方法。 - (2)被濃度(圧力)検出ガスが封入されたガスセルに
ビーム状の光を入射するための入射光路に配設されたチ
ューナブルエタロンを所定のタイミングで共振変調し、
前記被濃度(圧力)検出ガスにより強く吸収される波長
の第1の光と上記検出ガスにより吸収されない波長の第
2の光とを通過させ、同チューナブルエタロンを通過し
た前記第1の光と第2の光の合計光間をモニターし、こ
の合計光量が所定量以下に減衰したとき、減衰光量に基
づいて前記チューナブルエタロンの共振変調を補正し、
チユーナブルエタロンの共振波長の変調の中心を被濃度
(圧力)検出ガスの光の吸収波長に合わせるようにフィ
ードバック制御するとともに、前記第1の光と第2の光
を光電変換した第1の電気信号と第2の電気信号とに基
づいて前記被濃度(圧力)検出ガスによる第1の光の吸
収率を演算し、この吸収率から前記被濃度(圧力)検出
ガスの濃度(圧力)を演算することを特徴とするチユー
ナブルエタロンを用いたガス濃度圧力検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10540589A JPH067100B2 (ja) | 1989-04-25 | 1989-04-25 | チューナブルエタロンを用いたガス濃度圧力検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10540589A JPH067100B2 (ja) | 1989-04-25 | 1989-04-25 | チューナブルエタロンを用いたガス濃度圧力検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02284045A true JPH02284045A (ja) | 1990-11-21 |
| JPH067100B2 JPH067100B2 (ja) | 1994-01-26 |
Family
ID=14406706
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10540589A Expired - Fee Related JPH067100B2 (ja) | 1989-04-25 | 1989-04-25 | チューナブルエタロンを用いたガス濃度圧力検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH067100B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009123068A1 (ja) * | 2008-04-01 | 2009-10-08 | 国立大学法人豊橋技術科学大学 | 判別フィルタリング装置、対象物の判別方法、および判別フィルタリング装置のフィルタの設計方法 |
| JP2010528309A (ja) * | 2007-05-29 | 2010-08-19 | ユニベルシテ・クロード・ベルナール・リヨン・プルミエ | 媒体中の化合物の光学遠隔検出方法 |
| JP2010286291A (ja) * | 2009-06-10 | 2010-12-24 | Hioki Ee Corp | 赤外線分光器および赤外線分光測定装置 |
-
1989
- 1989-04-25 JP JP10540589A patent/JPH067100B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010528309A (ja) * | 2007-05-29 | 2010-08-19 | ユニベルシテ・クロード・ベルナール・リヨン・プルミエ | 媒体中の化合物の光学遠隔検出方法 |
| WO2009123068A1 (ja) * | 2008-04-01 | 2009-10-08 | 国立大学法人豊橋技術科学大学 | 判別フィルタリング装置、対象物の判別方法、および判別フィルタリング装置のフィルタの設計方法 |
| JPWO2009123068A1 (ja) * | 2008-04-01 | 2011-07-28 | 国立大学法人豊橋技術科学大学 | 判別フィルタリング装置、対象物の判別方法、および判別フィルタリング装置のフィルタの設計方法 |
| US8193500B2 (en) | 2008-04-01 | 2012-06-05 | National University Corporation Toyohashi University Of Technology | Discrimination filtering device, discrimination method of object, and designing method of filters for discrimination filtering device |
| JP2010286291A (ja) * | 2009-06-10 | 2010-12-24 | Hioki Ee Corp | 赤外線分光器および赤外線分光測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH067100B2 (ja) | 1994-01-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |