JPH02285240A - 蛍光x線分析用液体試料容器 - Google Patents

蛍光x線分析用液体試料容器

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Publication number
JPH02285240A
JPH02285240A JP1104585A JP10458589A JPH02285240A JP H02285240 A JPH02285240 A JP H02285240A JP 1104585 A JP1104585 A JP 1104585A JP 10458589 A JP10458589 A JP 10458589A JP H02285240 A JPH02285240 A JP H02285240A
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JP
Japan
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liquid sample
container
fluorescent
rays
thin film
Prior art date
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Pending
Application number
JP1104585A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeo Tanaka
田中 猛夫
Shigeru Kato
茂 加藤
Akimitsu Kobayashi
小林 昭光
Yasuhiro Ayukawa
鮎川 保弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SEKIYU SANGYO KATSUSEIKA CENTER
Fuji Electric Co Ltd
Tonen General Sekiyu KK
Japan Petroleum Energy Center JPEC
Original Assignee
SEKIYU SANGYO KATSUSEIKA CENTER
Petroleum Energy Center PEC
Fuji Electric Co Ltd
Tonen Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by SEKIYU SANGYO KATSUSEIKA CENTER, Petroleum Energy Center PEC, Fuji Electric Co Ltd, Tonen Corp filed Critical SEKIYU SANGYO KATSUSEIKA CENTER
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Publication of JPH02285240A publication Critical patent/JPH02285240A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、蛍光xla分析装置において、特に液体試料
の充填が容易で、オンラインの分析装置等として自動サ
ンプリングが可能な蛍光X線分析用液体試料容器に関す
る。
(従来の技術) 蛍光X線分析装置は、測定試料にX線発生管球より発生
する強力な一次XSを照射することにより、試料中の測
定成分より発生する成分固有の波長を有する特性X線(
蛍光X線)を検出し、この蛍光X線の強度から試料中の
測定成分濃度を測定するものである。
この蛍光xm分析装置の測定試料としては、固体、液体
、粉体等の各種試料が採用可能で、測定材料の形態、利
用可能な試料の吊に応じて、それに最適な試料容器を選
択することが必要である。
測定試料として、例えばバキュームガスオイル(VGO
)を用い、この試料中に含まれるNi分またはV分を有
効に測定することができる。
第2図は従来の液体試料容器のR略構成図を示す(例え
ば、日本分析化学会編「X線分析法」1987年5月2
5日発行、f)l)141参照)。図において液体試料
容器3oは、下面反射形で、上下面が共に間口する筒状
の容器本体1と、この容器本体1の下方間口部1Aに設
けられ、X線を比較的通過し易い材料、例えばマイラー
からなる簿膜2およびこの薄膜2に均一な張力を付与し
、その周縁を容翠杢悴1の外側に固定する固定具、例え
ば外枠4とから構成きれる。液体試料3は、容器本体1
の次X線は液体試料容器30の下方から、1WIIA2
を経て液体試料3に照射される。蛍光X線は、この−次
X線によって液体試料′3から発生し、WIJ膜2を経
て下方向に放射され検出される。 このような液体試料
容器30は、試料層の深さdが任意に調整ひき、X線照
射面である下方開口部1AがX線を透過し得る薄膜2に
よって平面性を保持し、かつ液体試料3の中に気泡が発
生しても、上方に移動するから分析粘度に影響しない。
なお、薄膜2は、それ自身によるXF!吸収があって、
分析精度に悪影響を及ぼすから、膜厚を通常10ミクロ
ン程度以下とする。
次に、第3図は従来の他の液体試料容器の概略構成図を
示す(例えば日本分析化学金線「xm分析法J 198
7年5月25日発行pp142参照)。図において液体
試料容器40は、上面反射形で、容器本体5と、この容
器本体5の上面に設けられた11112およびこのII
I!J2に均一な張力を付与し、その周縁を容器本体5
の外側に固定する固定具、本実施例では外枠4とから構
成される。容器本体5は、上面が上方向に間口覆る上方
間口部5Aで、下面が擦り林状に形成され液体試料3を
注入する注入口6を設ける。
このような液体試料容器40は、容器本体5の上方開口
部5Aに薄膜2が外枠4によって均一に張設され、この
容器本体5の上下を反対にして注入口6から液体試料3
を注入し、気泡を排除した後、閉栓具8によって封栓し
、再び薄+1U2を上方として使用状態に復帰させる。
その後、図示されていない強力な一次X線は、液体試料
容器40の上方から、lllA2を経て液体試料3に照
射し、蛍光X線は、この−次X線によって液体試料3か
ら発生し、薄膜2を経て上方向に放射し検出される。
(発明が解決しようとする課題) ところが、第2図に示すように液体試料容器30は、?
t[2を下向けとする下面照射形であるから、測定中に
簿躾2が破損すれば、液体試料3が下方向に流出し図示
されていないX線光学系、すなわちXS発生管球、分光
結晶板等を汚損する恐れがあった。
第3図に示すように液体試料容器40は、薄膜2を上向
きとする上面照射形であるから、薄膜2の破損等によっ
て液体試料3が溢出しても、X線発生管球、分光結晶板
等を汚損する可能性は少ない。
しかし、液体試料3にX線等の放04@を照射すること
により、液体試料3の内部に気泡を発生することが多く
、この気泡が液体試料容器40の上面のIPIA2に集
まる結果、測定誤差の原因となることが知られている。
また、液体試料容器40内に気泡を残すことなく液体試
料3を充填しなければならないから、その手順が複雑と
なり、試料充填作業の自動化が困難であった。なお、液
体試料容器4oの上面に薄膜2を張設せず、液体試料3
の上面を大気開放して測定することは、上面の平面性が
得られず、測定に必要な試料面精度を維持することが困
難であった。
ここで改めて、液体用蛍光XS!jl測定用試料容器の
必要な要件を整理すると、 ・十分な試料層の深さがあること(一般に3〜4闇以上
)、 ・試料面がかできるだけ平坦で、試料面の位置精度が良
いこと(100μm以下の位置精度が望ましい)、 ・液体試料は、X線の照射により試料内部に気泡を生じ
ることが多く、測定精度に悪影響を及ぼすから、気泡の
影響を受けがたい構造とすること、等が挙げられる。さ
らに、これ以外にも試料の充填、移動、廃棄が容易で、
製作費が低減され経済的であることが要望される。
本汗明は、上述の点に鑑み、従来技術の問題点を有効に
解決し、薄膜の破損等によってX線光学系を汚染WJ傷
することが少なくなり、液体試料の充填が容易で、気泡
による影響が少なく、オンラインの自動分析システムへ
の適用が可能な蛍光×1腺分析用液体試料容器を提供す
ることを目的とする。
(課題を解決するための手段) このような目的を達成するために、本発明においては、
上方向に開口する上部開口部より注入された液体試料を
保持し、前記液体試料中の元素分析を一次X線の照射下
に生じる蛍光XSを利用して行う蛍光X線分析用の液体
試料容器において、前記試料容器の横向きに開口された
横向き開口部と、この横向き開口部に均一に張設され横
方向から照射される前記−次数射線を透過し前記液体試
料から発生ずる前記蛍光X線を透過し得る薄膜とから構
成した。
(作用) このような技術手段により、液体試料容器の横方向より
一次X線の照射が可能で、前記−次Xslによって液体
試料から発せられる2次X411(蛍光X線)も横方向
にて検知可能であるから、薄膜の破損等によってX41
光学系が汚染損−されることが少なくなり、液体試料の
充填が容易で、気泡による影響が少なく、オンラインの
自動分析システムへの適用が可能である。
(実施例) 次に、本発明の実施例を図面に基づき、詳細に説明する
第1図は本発明の一実施例の概略構成図を示し、(A)
はその正面断面図、(B)はその側面図である。図にお
いて液体試料容器50は、横向き照射形で、上方向に開
口する上方開口部10と横向きに円筒状に突出開口する
横向き開口部11とを有する筒状、本実施例では角形筒
状に形成された容器本体9と、横向き開口部11に設け
られる薄plA2およびこの薄膜2に均一な張力を付与
し、その周縁を横向き開口部11の外側に固定する固定
具である外枠12とから構成される。容器本体9は高分
子材料例えばポリプロピレンにて成形され、feWA2
は同じく高分子材料、例えばポリエチレンテレフタレー
ト(PET)またはポリプロピレン<pp>からなり、
外枠12は弾力性を有し薄膜2に所要の均一な張力を付
与し固定する硬質ポリエチレン等からなる。また、液体
試料3は、容器本体9の上方開口部10から、図示され
ていない吐出ポンプおよび導液案内用デカンタ−等を使
用して注入され充填される。
このように構成された液体試料容器50は、次X線が容
器本体9の横向ぎ開口部11に対して横方向から113
2を介して、液体試料3に照射され、液体試料3より発
生して横方向に薄WA2を透過した蛍光X線が検出され
る。従って、液体試料容器50の取扱中に、簿膜2が損
傷する等の事故が発生しても、直接X線光学系が流出し
た液体試料3によって汚染されることは少ない。
また、X線照射によって液体試料3の内部に気泡が発生
しても、この気泡は上方開口部10の方向に上昇し、液
体試料3のX線が照射される部分には存在しないから、
気泡による測定精度への影響が排除される。
なお、容器本体9および外枠12は、その構成が簡単で
、プラスチック成形等によりその製作が容易である。さ
らに、上方開口部10は大形化され、液体試料3の充填
が容易で、かつその液体試料3のレベルがXIIの照射
される位置以上であれば、任意に選定が可能で、試料充
填量は差程精度を要しない。
この液体試料容器50は、例えばオンラインの自動分析
装置等に複雑な操作なくして、液体試料3の自動充填作
業に適応できる。
(発明の効果) 以上に説明したように、本発明によれば、試料容器の横
向きに開口された横向き開口部と、この横向き開口部に
均一に張設され横方向から前記液体試料に照射される前
記−次数射線を透過および前記液体試料から発生する前
記蛍光Xsを透過し青る薄膜とにより、従来技術の問題
点が有効に解決され、薄膜の破損等によってX線光学系
を汚染損傷することが少なくなり、液体試料の充填が容
易で、気泡による影響が少なく、オンラインの自動分析
システムへの適用が可能である等の効果を奏する。
なお、本実施例では、固定具として弾力性を有1yるプ
ラスチック製外枠につき説明したが、これに限ることな
く、例えばOリングを介在して1JIllを容器本体に
張着させてもよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の概略構成図を示し、同図(
A)はその正面断面図、同図(B)はその側面図、第2
図は従来の液体試料容器の概略構成図、第3図は従来の
他の液体試料容器の概略構成図である。 2・・・薄膜、 3・・・液体試料、 9・・・容器本体、 11・・・横向き開口部、 50・・・液体試料容器。 (A) 特許出願人 財団法人石油産業活性化センター東亜燃料
工業株式会社 2・・・薄膜 3・・・液体試料 9・・・容器本体 11・・・横向き開口部 50・・・液体試料容器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1)上方向に開口する上部開口部より注入された液体試
    料を保持し、前記液体試料中の元素分析を一次X線の照
    射下に生じる蛍光X線を利用して行う蛍光X線分析用の
    液体試料容器において、前記試料容器の横向きに開口さ
    れた横向き開口部と、この横向き開口部に均一に張設さ
    れ横方向から前記液体試料に照射される前記一次放射線
    を透過し前記液体試料から発生する前記蛍光X線を透過
    し得る薄膜とを備えたことを特徴とする蛍光X線分析用
    液体試料容器。
JP1104585A 1989-04-26 1989-04-26 蛍光x線分析用液体試料容器 Pending JPH02285240A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001255289A (ja) * 2000-03-08 2001-09-21 Horiba Ltd 液体試料セルおよびこれを用いた上面照射型x線分析方法および装置
US8550710B2 (en) 2009-10-09 2013-10-08 Horiba, Ltd. Sample cell for fluorescent X-ray analysis and sample cell assembly instrument
CN114740031A (zh) * 2022-04-13 2022-07-12 苏州佳谱科技有限公司 一种x射线荧光分析系统及其分析方法

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