JPH0228544A - Ｉｃｐ発光分析法 - Google Patents
Ｉｃｐ発光分析法Info
- Publication number
- JPH0228544A JPH0228544A JP18007388A JP18007388A JPH0228544A JP H0228544 A JPH0228544 A JP H0228544A JP 18007388 A JP18007388 A JP 18007388A JP 18007388 A JP18007388 A JP 18007388A JP H0228544 A JPH0228544 A JP H0228544A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- emission
- sample
- quantified
- emission line
- intensity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明はＩＣＰ発光分析における標準添加法に関する。
（従来の技術）
ＩＣＰ発光分析で定量を行う場合の一つの方法として標
準添加法がある。この方法は一々検量線を作らなくても
よく、実施が簡単と云う利点がある。この方法は被測定
試料において定量しようとする元素の輝線強度Ｔｏを測
定し、次に被測定試料に定量しようとする元素を既知量
添加して再び定量しようとする元素の輝線強度■を測定
する。
準添加法がある。この方法は一々検量線を作らなくても
よく、実施が簡単と云う利点がある。この方法は被測定
試料において定量しようとする元素の輝線強度Ｔｏを測
定し、次に被測定試料に定量しようとする元素を既知量
添加して再び定量しようとする元素の輝線強度■を測定
する。
定量しようとする元素の既知量を添加したときの試料溶
液の定量しようとする元素の濃度増加をΔＣとすると、
（１−１ｏ）／ΔＣは定量しようとする元素の単位濃度
変化に対する輝線強度の変化であるから、被測定試料に
おける定量しようとする元素の濃度数ＣＯは によって求められる。これが標準添加法の原理であるが
、この方法は定量しようとする元素の輝線のバックグラ
ウンド強度が既知であることが必要である。即ち実測さ
れたスペクトル強度からバックグラウンド強度を引いた
値が上記ｉｏ、！である。バックグラウンド強度は被測
定試料について定量しようとする元素の輝線スペクトル
のプロファイルを測定し、輝線スペクトルの両裾のベー
スラインからの立上り点のバックグラウンド強度の平均
として求められる。しかし次のような場合にはバックグ
ラウンド強度が求められず、標準添加法が適用できない
。
液の定量しようとする元素の濃度増加をΔＣとすると、
（１−１ｏ）／ΔＣは定量しようとする元素の単位濃度
変化に対する輝線強度の変化であるから、被測定試料に
おける定量しようとする元素の濃度数ＣＯは によって求められる。これが標準添加法の原理であるが
、この方法は定量しようとする元素の輝線のバックグラ
ウンド強度が既知であることが必要である。即ち実測さ
れたスペクトル強度からバックグラウンド強度を引いた
値が上記ｉｏ、！である。バックグラウンド強度は被測
定試料について定量しようとする元素の輝線スペクトル
のプロファイルを測定し、輝線スペクトルの両裾のベー
スラインからの立上り点のバックグラウンド強度の平均
として求められる。しかし次のような場合にはバックグ
ラウンド強度が求められず、標準添加法が適用できない
。
第３図に示すように試料における定量しようとする元素
の輝線スペクトルＳｓと試料の溶媒自身或は試料中の他
成分のスペク（・ルビークＳｉとが重なった場合で、こ
の場合見掛上定量しようとする元素の輝線スペクトルは
点線のようになり、真のスペクトル強度はＩｏであり、
見掛上のスペクトルビークの裾の立上り点をバックグラ
ウンド強度とすることはできない。スペクトルビークＳ
ｓとＳｉとは重なっているので真のバックグラウンド強
度であるＩｂを直接測定することができない。このよう
なことは試料の溶媒の水に由来するＯＨ基とか試料を溶
かすために硝酸を用いた場合のＮｏ基等によるバンドス
ペクトルの中に定量しようとする元素の輝線が存在する
ような場合に起る。第２図はこのようなバンドスペクト
ル上に目的元素の輝線スペクトルが重なっている場合の
発光スペクトルを示す。バンドスペクトルは詳細にＩｌ
！測すると密集した輝線の群であって、目的元素の輝線
はそのような密集した輝線群中の−っの輝線と重なって
いるのである。
の輝線スペクトルＳｓと試料の溶媒自身或は試料中の他
成分のスペク（・ルビークＳｉとが重なった場合で、こ
の場合見掛上定量しようとする元素の輝線スペクトルは
点線のようになり、真のスペクトル強度はＩｏであり、
見掛上のスペクトルビークの裾の立上り点をバックグラ
ウンド強度とすることはできない。スペクトルビークＳ
ｓとＳｉとは重なっているので真のバックグラウンド強
度であるＩｂを直接測定することができない。このよう
なことは試料の溶媒の水に由来するＯＨ基とか試料を溶
かすために硝酸を用いた場合のＮｏ基等によるバンドス
ペクトルの中に定量しようとする元素の輝線が存在する
ような場合に起る。第２図はこのようなバンドスペクト
ル上に目的元素の輝線スペクトルが重なっている場合の
発光スペクトルを示す。バンドスペクトルは詳細にＩｌ
！測すると密集した輝線の群であって、目的元素の輝線
はそのような密集した輝線群中の−っの輝線と重なって
いるのである。
（発明が解決しようとする課題）
本発明は上述したように定量しようとする元素の輝線と
試料の溶媒或は他成分の輝線とが重なってバックグラウ
ンドレベルを直接測定できないような場合にも標準添加
法を適用することを可能にしようとするものである。
試料の溶媒或は他成分の輝線とが重なってバックグラウ
ンドレベルを直接測定できないような場合にも標準添加
法を適用することを可能にしようとするものである。
（課題を解決するための手段）
第１のＩＣＰ発光条件で４Ｗ＄添加法による測定を行っ
て、定量しようとする元素の輝線波長における標準添加
前の測光値１ｏ、標準添加後の測光値Ｉｓおよび上記輝
線が重なっているバンドスペクトル範囲の他波長におけ
る標準添加前或は後の測光値Ｂを測定し、次に第２のＩ
ＣＰ発光条件で同じ標準添加法による測定を行って、上
記Ｉｏ。
て、定量しようとする元素の輝線波長における標準添加
前の測光値１ｏ、標準添加後の測光値Ｉｓおよび上記輝
線が重なっているバンドスペクトル範囲の他波長におけ
る標準添加前或は後の測光値Ｂを測定し、次に第２のＩ
ＣＰ発光条件で同じ標準添加法による測定を行って、上
記Ｉｏ。
Ｉｓ、Ｂに対応する測光値１ ｏ ’ Ｉ ｓ ’
ｅ Ｂ ’を測定し、これら６個の測光値から下記５元
連立方程式を立て、これを解いて、標準添加前のもとの
試料における定量しようとする元素の第１の発光条件に
おけるバックグラウンド強度を差引いた正味の輝線強度
Ｉｘを算出し、これと標準添加による同輝線強度の増加
値ｌ５−１ｏから試料中の被定量元素の濃度を算出する
ものである。
ｅ Ｂ ’を測定し、これら６個の測光値から下記５元
連立方程式を立て、これを解いて、標準添加前のもとの
試料における定量しようとする元素の第１の発光条件に
おけるバックグラウンド強度を差引いた正味の輝線強度
Ｉｘを算出し、これと標準添加による同輝線強度の増加
値ｌ５−１ｏから試料中の被定量元素の濃度を算出する
ものである。
Ｂ ｓ ＋ Ｉ ｘ ＝ Ｉ ｏ ・・・
（１）Ｂｓ＋Ｉｘ＋Ｉｋ ＝ＩＳ ・・・■ＫＢ
ｓ＋ｅ Ｉｘ ＝Ｉｏ’−（３）ＫＢｓ＋ｉ
！ １ｘ＋ｅ Ｉｋ ＝Ｉｓ ’・・（４Ｂ ’ ＝
ｋＢ ・・・（！５） 上式において、Ｂｓは定量しようとする元素の輝線波長
における第１の発光条件下のバックグラウンド強度、に
は発光条件を変えたときのＢＳの変化率、Ｉｘは第１の
発光条件下で標準添加前の定量しようとする元素の正味
の輝線強度、Ｉｋは同輝線・強度の標準添加による増加
分、ｅは発光条件を変えたときのＩｘ、Ｉｋの変化率で
ある。
（１）Ｂｓ＋Ｉｘ＋Ｉｋ ＝ＩＳ ・・・■ＫＢ
ｓ＋ｅ Ｉｘ ＝Ｉｏ’−（３）ＫＢｓ＋ｉ
！ １ｘ＋ｅ Ｉｋ ＝Ｉｓ ’・・（４Ｂ ’ ＝
ｋＢ ・・・（！５） 上式において、Ｂｓは定量しようとする元素の輝線波長
における第１の発光条件下のバックグラウンド強度、に
は発光条件を変えたときのＢＳの変化率、Ｉｘは第１の
発光条件下で標準添加前の定量しようとする元素の正味
の輝線強度、Ｉｋは同輝線・強度の標準添加による増加
分、ｅは発光条件を変えたときのＩｘ、Ｉｋの変化率で
ある。
（作用）
ＩＣＰ発光条件を変えると輝線スペクトルとがバンドス
ペクトルの強度は変化するが、その変化率は一率でな（
輝線毎、バンドスペクトル毎に異っている。しかし一つ
のバンドスペクトルの中では発光条件を変えた場合の発
光強度の変化率は等しい。本発明はこのことを利用して
定量しようとする元素の輝線波長におけるバックグラウ
ンドを形成しているバンドスペクトルの強度を同じバン
ドスペクトルに属する他の波長の位置の発光強度のＩＣ
Ｐ発光条件を変えたときの変化を利用して算定するので
ある。
ペクトルの強度は変化するが、その変化率は一率でな（
輝線毎、バンドスペクトル毎に異っている。しかし一つ
のバンドスペクトルの中では発光条件を変えた場合の発
光強度の変化率は等しい。本発明はこのことを利用して
定量しようとする元素の輝線波長におけるバックグラウ
ンドを形成しているバンドスペクトルの強度を同じバン
ドスペクトルに属する他の波長の位置の発光強度のＩＣ
Ｐ発光条件を変えたときの変化を利用して算定するので
ある。
第２図は成る試料の発光条件を変えたときのスペクトル
の変化を示し、発光条件としてこの図はキャリヤガス（
後述）の流量を変えている。波長範囲は２６７〜３４８
ｎｍでバンドスペクトルはＯＨ基によるものである。Ｏ
Ｈ基のバンドスペクトルは二つ現れているが、両者にお
いて変化の仕方は異っている。しかし一つのハンド例え
ば図で中央のバンドスペクトルについて見れば明らかな
ように変化の仕方は一率である。なおキャリヤ流量２０
ｅ ／ ｍ ｉ ｎの場合多くの輝線が見えているが
これらはキャリヤ流量１０ ｅ ／ ｍ ｉ ｎの場合
バンドスペクトルと混じっていて識別できなかったり、
２０ ｅ ／ ｍ ｊ ｎにしたとき強度が増大して顕
在化したもので、輝線毎に発光条件の変化に伴う変化の
仕方が異っていることを示している。この関係を利用す
れば前項における（１）〜（５）の式を立て＼Ｉｘを算
出することが可能となる。
の変化を示し、発光条件としてこの図はキャリヤガス（
後述）の流量を変えている。波長範囲は２６７〜３４８
ｎｍでバンドスペクトルはＯＨ基によるものである。Ｏ
Ｈ基のバンドスペクトルは二つ現れているが、両者にお
いて変化の仕方は異っている。しかし一つのハンド例え
ば図で中央のバンドスペクトルについて見れば明らかな
ように変化の仕方は一率である。なおキャリヤ流量２０
ｅ ／ ｍ ｉ ｎの場合多くの輝線が見えているが
これらはキャリヤ流量１０ ｅ ／ ｍ ｉ ｎの場合
バンドスペクトルと混じっていて識別できなかったり、
２０ ｅ ／ ｍ ｊ ｎにしたとき強度が増大して顕
在化したもので、輝線毎に発光条件の変化に伴う変化の
仕方が異っていることを示している。この関係を利用す
れば前項における（１）〜（５）の式を立て＼Ｉｘを算
出することが可能となる。
（実施例）
第１図に本発明方法を実行する装置の一例を示す。１は
プラズマトーチ、２は分光器で、プラズマトーチ１によ
って形成されたプラズマ炎３の光を分光する。分光器２
において４は回折格子、５．５゛は回折格子によって形
成されるスペクトル像面上の任意波長位置に設置される
受光素子で、５は定量しようとする元素（目的元素と云
うことにする）の輝線波長位置に、５′は目的元素の輝
線と重なっている他元素或は分子のバンドスペクトル上
の一波長位置に設定されている。６は制御装置で受光素
子５．５゛の出力信号を取込んでデータ処理を行うと共
に装置の制御を行っている。７は試料霧化器で、試料容
器８内の試料を吸引霧化してプラズマトーチｌに供給し
ている。９はキャリヤガス供給管で、１０はキャリヤガ
ス流量調節弁である。１１は流量計で制御装置は流量計
１１の指示値を読込み流量調節弁１０を駆動して試料霧
化器７に供給するキャリヤガス流量を制御している。試
料のプラズマトーチ１への供給量はこのキャリヤガス流
量によって制御される。
プラズマトーチ、２は分光器で、プラズマトーチ１によ
って形成されたプラズマ炎３の光を分光する。分光器２
において４は回折格子、５．５゛は回折格子によって形
成されるスペクトル像面上の任意波長位置に設置される
受光素子で、５は定量しようとする元素（目的元素と云
うことにする）の輝線波長位置に、５′は目的元素の輝
線と重なっている他元素或は分子のバンドスペクトル上
の一波長位置に設定されている。６は制御装置で受光素
子５．５゛の出力信号を取込んでデータ処理を行うと共
に装置の制御を行っている。７は試料霧化器で、試料容
器８内の試料を吸引霧化してプラズマトーチｌに供給し
ている。９はキャリヤガス供給管で、１０はキャリヤガ
ス流量調節弁である。１１は流量計で制御装置は流量計
１１の指示値を読込み流量調節弁１０を駆動して試料霧
化器７に供給するキャリヤガス流量を制御している。試
料のプラズマトーチ１への供給量はこのキャリヤガス流
量によって制御される。
上述装置において定量分析動作は次のように行われる。
容器８に試料溶液を入れ、キャリヤ流量を第１の一定値
に保って受光素子５，５′の出力を制御装置６に取込ま
せる。受光素子５の出力は目的元素の輝線波長における
測光出力１ｏで、５゛の出力は目的元素の輝線が重なっ
ているバンドスペクトル上の一波長の出力Ｂである。次
いで同じ試料でキャリヤ流量を第２の一定値に保って受
光素子５の出力１ｏ’および受光素子５゛の出力Ｂ′を
制御装置６に取込ませる。次にもとの試料溶液に標準試
料を添加して目的元素濃度を既知量ΔＣだけ高めた溶液
を用いて上記第１．第２のキャリヤ流量のもとて受光素
子５の出力Ｉｓおよび■Ｓ°を制御装置６に取込ませる
。以上の動作を終った後制御装置６は次のような演算を
行ってもとの試料における目的元素の濃度Ｃを算出する
。
に保って受光素子５，５′の出力を制御装置６に取込ま
せる。受光素子５の出力は目的元素の輝線波長における
測光出力１ｏで、５゛の出力は目的元素の輝線が重なっ
ているバンドスペクトル上の一波長の出力Ｂである。次
いで同じ試料でキャリヤ流量を第２の一定値に保って受
光素子５の出力１ｏ’および受光素子５゛の出力Ｂ′を
制御装置６に取込ませる。次にもとの試料溶液に標準試
料を添加して目的元素濃度を既知量ΔＣだけ高めた溶液
を用いて上記第１．第２のキャリヤ流量のもとて受光素
子５の出力Ｉｓおよび■Ｓ°を制御装置６に取込ませる
。以上の動作を終った後制御装置６は次のような演算を
行ってもとの試料における目的元素の濃度Ｃを算出する
。
前述したようにもとの試料における第１のキャリヤ流量
における目的元素の正味の輝線強度をＩＸ、標準添加し
た後の第１のキャリヤ流量における目的元素の輝線強度
の増加分を！にとし、第１のキャリヤ流量における目的
元素の輝線波長位置でのバックグラウンド強度をＢｓと
すると、Ｂｓ＋Ｉｘ＋ ＝Ｉｏ ”（ｌ）Ｂｓ＋
Ｉｘ＋ｌｋ＝ｌ５ −（２） ＫＢｓ−＋ｌ Ｉｘ ＝Ｉｏ’−（３）ＫＢｓ
＋ｅ Ｉｘ＋ｅ Ｉｋ＝ Ｉ ｓ ’−（４）
Ｂ ’ ＝ＫＢ ・・・（５）上式で未知数は
Ｉｘ、Ｉｋ、Ｂｓ、に、ｅの５個である。上式からＩｘ
を求めるともとの試料における目的元素の濃度Ｃは で与えられる。■（１）式からｌｋ＝ｌ５−Ｉｏまた（
４） （３）式からｅ Ｅ ｋ −Ｉ ｓ ’ Ｉ
ＯＸこれからまた（５）式からＫ ＝ Ｂ ’ ／ Ｂ
、 （１）式にＫを掛けて（３）式から引くとＢｓが
消去できて Ｉｘ （ｅ−Ｋ）＝Ｉｏ −Ｋｌ。
における目的元素の正味の輝線強度をＩＸ、標準添加し
た後の第１のキャリヤ流量における目的元素の輝線強度
の増加分を！にとし、第１のキャリヤ流量における目的
元素の輝線波長位置でのバックグラウンド強度をＢｓと
すると、Ｂｓ＋Ｉｘ＋ ＝Ｉｏ ”（ｌ）Ｂｓ＋
Ｉｘ＋ｌｋ＝ｌ５ −（２） ＫＢｓ−＋ｌ Ｉｘ ＝Ｉｏ’−（３）ＫＢｓ
＋ｅ Ｉｘ＋ｅ Ｉｋ＝ Ｉ ｓ ’−（４）
Ｂ ’ ＝ＫＢ ・・・（５）上式で未知数は
Ｉｘ、Ｉｋ、Ｂｓ、に、ｅの５個である。上式からＩｘ
を求めるともとの試料における目的元素の濃度Ｃは で与えられる。■（１）式からｌｋ＝ｌ５−Ｉｏまた（
４） （３）式からｅ Ｅ ｋ −Ｉ ｓ ’ Ｉ
ＯＸこれからまた（５）式からＫ ＝ Ｂ ’ ／ Ｂ
、 （１）式にＫを掛けて（３）式から引くとＢｓが
消去できて Ｉｘ （ｅ−Ｋ）＝Ｉｏ −Ｋｌ。
故に
ｉ、−１゜
り
（８）式の右辺の各項は全て実測値であり、制御装置６
は（８）式によってＩｘを算出し、（６）式によってＣ
を算出する。
は（８）式によってＩｘを算出し、（６）式によってＣ
を算出する。
（発明の効果）
本発明によれば検量線を作成する必要がな（実施容易な
標準添加法がバックグランド強度を直接澗定できない場
合にも拡張できることになる。
標準添加法がバックグランド強度を直接澗定できない場
合にも拡張できることになる。
第１図は本発明方法を実行する装置の一例のブロック図
、第２図はＩＣＰ発光条件を変えたときのスペクトルの
変化を示す図、第３図は本発明方法が適用される場合を
説明する図である。 １・・・プラズマトーチ、２・・・分光器、３・・・プ
ラズマ炎、４・・・回折格子、５，５°・・・受光素子
、６・・・制御装置、７・・・試料霧化器、８・・・試
料容器、９・・・キャリヤガス供給管、１０・・・調節
弁、１１・・・流量計。 代理人 弁理士 縣 浩 介 区
、第２図はＩＣＰ発光条件を変えたときのスペクトルの
変化を示す図、第３図は本発明方法が適用される場合を
説明する図である。 １・・・プラズマトーチ、２・・・分光器、３・・・プ
ラズマ炎、４・・・回折格子、５，５°・・・受光素子
、６・・・制御装置、７・・・試料霧化器、８・・・試
料容器、９・・・キャリヤガス供給管、１０・・・調節
弁、１１・・・流量計。 代理人 弁理士 縣 浩 介 区
Claims (1)
- 第１のＩＣＰ発光条件で試料の標準添加の前後における
定量しようとする元素の輝線波長における測光値Ｉｏ、
Ｉｓおよび上記輝線が重なっているバンドスペクトル範
囲の他波長における標準添加前或は後の測光値Ｂと、第
２のＩＣＰ発光条件で試料の標準添加の前後における上
記輝線波長における測光値Ｉｏ’、Ｉｓ’および上記Ｂ
に対応する上記バンドスペクトル範囲の他波長における
測光値Ｂ′とから、第１のＩＣＰ発光条件における試料
の標準添加前の定量しようとする元素の輝線の正味の測
光値Ｉｘおよび、標準添加による同輝線の強度の増加分
Ｉｋを算出し、標準添加による定量しようとする元素の
試料中濃度増加分ΔＣを用いて、上記ＩｘとＩｋとから
試料中の定量しようとする元素の濃度を決定することを
特徴とするＩＣＰ発光分析法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18007388A JP2663532B2 (ja) | 1988-07-19 | 1988-07-19 | Ｉｃｐ発光分析法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18007388A JP2663532B2 (ja) | 1988-07-19 | 1988-07-19 | Ｉｃｐ発光分析法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0228544A true JPH0228544A (ja) | 1990-01-30 |
| JP2663532B2 JP2663532B2 (ja) | 1997-10-15 |
Family
ID=16076987
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18007388A Expired - Fee Related JP2663532B2 (ja) | 1988-07-19 | 1988-07-19 | Ｉｃｐ発光分析法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2663532B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04110653A (ja) * | 1990-08-31 | 1992-04-13 | Hitachi Ltd | プラズマを用いた気体試料の分析方法 |
| JPH08246288A (ja) * | 1994-12-21 | 1996-09-24 | Maeda Kousen Kk | 土木用厚織シート |
| JP2769245B2 (ja) * | 1992-03-27 | 1998-06-25 | アボツト・ラボラトリーズ | 検定結果を検証する方法及び自動連続ランダムアクセス分析システムを作動する方法 |
| CN103115918A (zh) * | 2013-01-22 | 2013-05-22 | 青岛云路新能源科技有限公司 | 一种测定非晶、纳米晶带材中主要元素含量的方法 |
| CN106053434A (zh) * | 2016-06-16 | 2016-10-26 | 重庆天原化工有限公司 | 次氯酸钠低含量金属盐的测定方法 |
| CN106124484A (zh) * | 2016-06-16 | 2016-11-16 | 重庆天原化工有限公司 | 次氯酸钠低含量金属盐icp测定前处理方法 |
-
1988
- 1988-07-19 JP JP18007388A patent/JP2663532B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04110653A (ja) * | 1990-08-31 | 1992-04-13 | Hitachi Ltd | プラズマを用いた気体試料の分析方法 |
| JP2769245B2 (ja) * | 1992-03-27 | 1998-06-25 | アボツト・ラボラトリーズ | 検定結果を検証する方法及び自動連続ランダムアクセス分析システムを作動する方法 |
| JPH08246288A (ja) * | 1994-12-21 | 1996-09-24 | Maeda Kousen Kk | 土木用厚織シート |
| CN103115918A (zh) * | 2013-01-22 | 2013-05-22 | 青岛云路新能源科技有限公司 | 一种测定非晶、纳米晶带材中主要元素含量的方法 |
| CN106053434A (zh) * | 2016-06-16 | 2016-10-26 | 重庆天原化工有限公司 | 次氯酸钠低含量金属盐的测定方法 |
| CN106124484A (zh) * | 2016-06-16 | 2016-11-16 | 重庆天原化工有限公司 | 次氯酸钠低含量金属盐icp测定前处理方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2663532B2 (ja) | 1997-10-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Ahern et al. | In situ photoreduced silver nitrate as a substrate for surface-enhanced Raman spectroscopy | |
| EP0758084A3 (en) | Optical measuring method of expiration components | |
| CN102177422B (zh) | 校准波长调制光谱设备的方法 | |
| SE8502946L (sv) | Sett och anordning for bestemning av parametrar for gasformiga emnen | |
| CN107091818A (zh) | 一种多气室复杂组分气体分析系统及方法 | |
| JPH0228544A (ja) | Ｉｃｐ発光分析法 | |
| Derzy et al. | Absolute CH concentration in flames measured by cavity ring-down spectroscopy | |
| CN107389607A (zh) | 一种单条吸收谱线实现气体多参数测量的方法 | |
| JPH0666808A (ja) | クロモゲンの測定方法 | |
| JPH05505027A (ja) | 分光計用インラインスペクトルリファレンス方法 | |
| DE59802164D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur identifizierung von wirkstoffen | |
| Carnrick et al. | Spectral interferences using the Zeeman effect for furnace atomic absorption spectroscopy | |
| Sanchez et al. | Synchronous scanning derivative spectrofluorimetry for the determination of cadmium with benzyl-2-pyridylketone 2-quinolylhydrazone | |
| CN106383083B (zh) | 流式细胞仪光谱重叠信号数字处理方法 | |
| US20100283992A1 (en) | Method of optical teledetection of compounds in a medium | |
| JPH0829255A (ja) | 波形解析装置 | |
| Gardner | Bandwidth correction for LED chromaticity | |
| Huang et al. | Determination of phosphorus using high-resolution diphosphorus molecular absorption spectra produced in the graphite furnace | |
| Vestin et al. | Improved species concentration measurements using a species‐specific weighting procedure on rotational CARS spectra | |
| CN104359882A (zh) | 同步荧光光谱结合rbf神经网络同时测定混合色素的方法 | |
| JP3727494B2 (ja) | 光計測方法および装置 | |
| Florisson et al. | Rapid determination of the Wobbe index of natural gas | |
| Ruyten | Assimilation of physical chemistry models for lifetime analysis of pressure-sensitive paint | |
| JP2001091358A (ja) | 調色方法および装置 | |
| Ghasemi et al. | β-Correction as a preprocessing method for partial least squares in simultaneous determination of zinc and lead |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |