JPH02287127A - 高温度測定方法 - Google Patents

高温度測定方法

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JPH02287127A
JPH02287127A JP10720489A JP10720489A JPH02287127A JP H02287127 A JPH02287127 A JP H02287127A JP 10720489 A JP10720489 A JP 10720489A JP 10720489 A JP10720489 A JP 10720489A JP H02287127 A JPH02287127 A JP H02287127A
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Junichiro Mizuki
純一郎 水木
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  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、高温度測定方法に関するものである。
[従来の技術] 従来、ハロゲンランプまたはキセノロランプを用いたイ
メージ炉の測温方法は、試料の色で知る方法が、「ミネ
ラロジカル・ジャーナルJ 19B3年刊行、11巻、
232頁に報告されている。また熱電対を使用した方法
が、[ジャーナル・オフ・アプライド・クリスタルJ 
1976年刊行、9巻、466頁に報告されている。
[発明が解決しようとする課題] 上記従来のイメージ炉における高温度測定方法のうち、
試料の色で温度を測定する方法は、ランプの楕円鏡から
の反射光も同時に測光することになり、試料の正確な温
度を測定することは困難である。また、熱電対を用いて
、直接その出力を読むことにより試料の温度を測定する
方法は、ランプの楕円鏡からの反射光が直接熱電対の接
点を照射し、試料からの熱の他にさらに熱を接点に与え
ることになり、試料の正確な温度を測定するには不向き
である。
本発明の目的は、このような従来の課題を解決し、イメ
ージ炉内における試料の正確な温度を測定できる方法を
提供することにおる。
[課題を解決するための手段] 本発明は、楕円球状の長袖上に2つの焦点を有する反射
鏡が中空内面に形成され、一方の焦点にはランプ、もう
一方の焦点には試料がセットされた高温炉を用いた高温
度測定方法において、熱電対を試料に当接させると共に
、該熱電対の出力をランプ光源のオン・オフに同期して
コンピュータ処理し、電源オフ時における単位時間当た
りの温度変化率が、その初期値よりも所定値だけ小さく
なった時の温度変化率と時間から電源オフ時の初期温度
を計測し、これを試料温度とすることを特徴とする高温
度測定方法である。
[作用] 楕円鏡の一つの焦点に試料をセットし、それに熱電対を
当接させる。熱電対の出力は、ディジタルボルトメータ
を介してコンピュータに入力される。
一方、ランプの電源は電源コントローラを介してコンピ
ュータに接続されており、そのオン・オフは、コンピュ
ータからコントロールされるようになっている。点灯し
ているランプは、コンピュータによってオフにされ、そ
の時(1=0)から時間とディジタルポルトメータの出
力がコンピュータに入力され、時々朗々の温度変化(△
T)と、時間(△t)との比、ΔT/Δtが記録される
。
△T/△tの値が初期値よりも所定値だけ小さくなった
時、例えば約20%小さくなった時の時間(i=it 
)と、その時のΔT/Δtの値から、t=Qの時の温度
T。を計算し、真の試料の温度を測定することができる
。
[実施例] 以下、第1図および第2図を参照して、本発明の実施例
について詳細に説明する。
第1図は、本発明の一実施例の適用例を示すイメージ炉
の縦断面図であって、イメージ炉1にセットされた試料
2、それに装着された熱電対3を示している。熱電対3
の出力はディジタルポルトメータ4に入力され、このボ
ルトメータ4はGPIBによってコンピュータ5に接続
している。
一方、ランプ6の電源7は、そのコントローラ8によっ
てコントロールされ、コントローラ8は、R3−232
Cによってコンピュータ5に接続している。ランプ6が
点灯され、試料2の温度が安定した時、コンピュータ5
により電源7がオフとされ、それと同時にコンピュータ
5には、オフとした時から測定開始した時間(t)、温
度(T>およびその変化率(ΔT/△t)が計算される
。
第2図は、本発明の一実施例によって得られた温度(T
)を時間(1)に対してプロットした特性図である。電
源7をオフにした瞬間は熱電対3が直接ランプ6によっ
て温められていた効果が急にゼロになるため、急激に温
度は下がり、ある時刻t1で、実際の試料の温度下降を
記録することになる。この時の勾配△T/Δtを計算し
、1=0に内挿することにより、ランプ6のオン状態で
の試料温度(To)を計算することができる。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、イメージ炉を使
用した時における試料の温度を、ランプの楕円鏡からの
反射光の影響をうけることなく正確に測定することので
きる高温度測定方法が提供される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の適用例を示すイメージ炉の
縦断面図および測定ブロックダイヤグラム、第2図は本
発明の一実施例によって得られた温度の時間変化を示す
特性図である。 1・・・イメージ炉    2・・・試料3・・・熱電
対 4・・・ディジタルポルトメータ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)楕円球状の長軸上に2つの焦点を有する反射鏡が
    中空内面に形成され、一方の焦点にはランプ、もう一方
    の焦点には試料がセットされた高温炉を用いた高温度測
    定方法において、熱電対を試料に当接させると共に、該
    熱電対の出力をランプ光源のオン・オフに同期してコン
    ピュータ処理し、電源オフ時における単位時間当たりの
    温度変化率が、その初期値よりも所定値だけ小さくなっ
    た時の温度変化率と時間から電源オフ時の初期温度を計
    測し、これを試料温度とすることを特徴とする高温度測
    定方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH051996U (ja) * 1991-02-19 1993-01-14 三菱電機株式会社 光照射加熱炉

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH051996U (ja) * 1991-02-19 1993-01-14 三菱電機株式会社 光照射加熱炉

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JPH0810166B2 (ja) 1996-01-31

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