JPH02293355A - 気密コーティングを有する光ファイバの製造方法 - Google Patents
気密コーティングを有する光ファイバの製造方法Info
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
ァイバの製造方法に関するもので、光ファイバをプレフ
ォームから線引きすることにより形成し、次いで直ちに
高温で反応器中で炭素含有ガスと接触させるものである
。
なガラス若しくは石英ガラスのファイバを意味するもの
と理解されたい。機械的損傷を防止するために、かかる
ファイバは一般に、種々の層からなる合成樹脂コーティ
ングで被覆されている.ファイバを厳しい条件下で用い
る場合には、更に気密コーティングを用いるのが望まし
い。かかる目的は、水及び水素がガラスファイバと接触
することを排除するものである。かかる理由により、炭
素の第1層をガラスファイバに直接施すことが知られて
いる。かかる第1層及び第1合成樹脂コーティングを、
ガラスファイバを線引きした後直ちに、すなわち該ファ
イバをプーりに導くか若しくは貯蔵する前に施す。
供する方法は、PCT特許公開第87/05831号に
、更に発明者エス9 レイ シャドウリ(S. Ray
Chaudhuri)とビー.シー.シュルツ(P.C
.Schultz)によるProceedings o
f SPIE , 71ユ、27〜32ページ(198
6)に開示されている。かかる方法においては、石英ガ
ラスのファイバを線引き炉中のプレフォームから線引き
する。かかる技術において通常行なうごとく、次いでフ
ァイバの厚みを測定し、その結果を線引きプロセスの制
御に用いる。かかる測定は一般に、レーザ光の移動性ビ
ーム及び1又はそれ以上の検出器により実施される。該
測定を実施するために、ファイバを空気中に10〜15
cmの距離にわたり存在させ、相当冷却する。蒸気層か
らの化学蒸着(CVD)により無定型炭素の層を加熱反
応器中1000−1100℃の温度で堆積する。50〜
100cm3/分の流速を有するブタンを炭素含有ガス
として、ファイバ輸送速度が2On+/分の場合に用い
る。形成される炭素層の厚みは20〜25nmで、咳層
は完全に気密でないことが結論づけられる。更に炭化チ
タンの他の層を該炭素層に施し、その後該ファイバに従
来の方法で合成樹脂コーティングを施す。
ず炉壁土にも生じるという欠点があった。
成し、従って多くの副生物も、特に水素が生じる。然る
に無定型炭素を含む気密コーティングを用いる目的の一
つは水素を抑えることにある.本発明の目的は、特に、
分解反応により高速度で光ファイバに炭素層をコーティ
ングする方法を提供することにあり、かかる方法におい
ては、炉壁はクリーンなままである。他の目的は、無定
型炭素層を提供することにあり、従って粒界(grai
n1)oundary)に沿って拡散が全く起こらなく
なる。
ならない。かかる理由により、米国特許第440299
3号明細書に記載してあるプラズマ堆積法及び米国特許
第4183621号明細書に記載してあるコロイド状懸
濁液を用いる浸せき法は、意図する目的には不適切であ
ると考えられる。更に、かかる方法は、少なくとも1秒
当たり5mの従来の線引き速度で使用するには緩慢すぎ
る。本発明の特別の目的は、ガラスファイバへの水素の
拡散が強く抑制されるような質の炭素層を提供すること
にある。水素は、ケーブル謹装に用いられる金属と水と
の反応の結果としての湿分にさらされるケーブル中で形
成される。石英ガラスファイバ中での水素の存在は、光
信号の減衰を極めて強く増大する結果を導《。
な方法により達成され、これはファイバの温度が110
0〜1500℃である位置でファイバを炭素含有ガスと
接触させ、反応器の壁温が800℃以下であることを特
徴とするものである。
のに用いる。該反応器は炭素含有ガスを供給する作用を
呈し、該ファイバが冷却されることを防止するが、炉を
介して追加の熱を供給する必要はなく、このことが更に
本発明の利点となる。
ど堆積しない。ファイバが反応器に導入される前の該フ
ァイバの過剰冷却を回避するために、ガラスファイバが
堆積反応器を出る場所での該ガラスファイバの直径を測
定することが有効である。
ァイバを用いてガラスファイバ上に炭素層を適用する方
法が開示されているが、炭素含有ガスを、プレフォーム
を加熱してファイバを線引きできる位置に若しくはその
付近に供給するものである。
いところで、約2000℃の温度で行われる。
小さい値に達していないので、形成した炭素層にはクラ
ンキングが起こることである。
定された長さの反応器でガラスファイバ上に堆積させる
ことが達せられるように、可能な限り反応器内でガラス
ファイバが冷却されることを防止するのが好ましい。こ
のため、炭素含有ガスは、小さい熱伝導係数、好ましく
は27℃で0.04J/m.s.’cより小さい係数を
有する不活性キャリアガスを含むことが望ましい。次の
表は幾つかの不活性ガス及び炭素化合物の1気圧27℃
での熱伝導係数をJ/m.s.℃で示すものである。
きる炭素化合物は、例えばベンゼン、アセチレン及びア
セトンである。本発明の方法の好適例においては、炭素
含有ガスは1〜6個の炭素原子を有する1又はそれ以上
のアルカンを含む。
物も本発明の方法に適切に用いることができる。
室温でガス状である炭素化合物を用いるのが効果的であ
る。所定のガス容積中に多くの炭素原子を提供する化合
物を選択するのが有効である。かかる点に鑑み、ブタン
及び4個の炭素原子を有する他の炭素化合物が適切な妥
協点であり、低い熱伝導を有する点においてもそうであ
る。
るように、炭素層を、ドープすることが可能であり、例
えば炭素含有ガスにボランを添加することによる数%の
ホウ素でドープすることができる。
。
のプレフォーム12から線引きすることによる従来の方
法で製造した。ここで用いるガラスファイバとはガラス
若し《は石英ガラスのファイバを意味すると理解される
べきである。ファイバには異なる屈折率を有するコアガ
ラス及びタラッドガラス(第1図には図示せず)を含む
。代わりに、コアが内側から外側に向かって傾斜屈折率
を有するガラスからなるファイバを用いることも可能で
ある。第1図の実施例により示されるファイバは125
μ一の直径を有する環状断面を有する。
を断熱壁18若しくは第1図には示されていない加熱装
置を含む炭素堆積装置16に導き、ガラスファイバが極
めて急速に冷却されることを防止する。本発明において
、該反応器16の壁温は最高800℃である。線引き炉
24の底面側と反応器16の間の距離はおよそ5cmで
、該反応器の長さは90cmである。プレフォーム20
の円錐部から線引き炉24の底面側までの距離は約16
cmである。該反応器は、炭素含有ガス用の入りロアパ
ーチャ22を含む。熱炭素含有ガスを供給することは有
利であり、その理由は、あらかじめ加熱されてないガス
を用いる場合よりも短い長さの堆積反応器の使用を可能
にするからである。
若しくはヘリウムのような不活性ガス用の入りロアパー
チャ30を備えるパイプ28中の直径測定装置26に該
ファイバを導く。該ガラスファイバを水冷却ジャケット
34を含む冷却バイプ32内で冷却する。次いで、該ガ
ラスファイバに、第1図には図示されていないファイバ
コーティング装置による従来の方法で、例えばUV光硬
化性合成樹脂組成物からなる一又はそれ以上のコーティ
ングを施す;これは例えば米国特許第4758447号
明細書を参照することができる。
Vの関数としてガラスファイバの温度Tを示す。位置A
は線引き炉からの距離が5cm、位置Bは距離が25c
mであり、例えば直径測定装置を線引き炉と位置Bの間
に設置することも可能である。第2図には、ファイバ輸
送速度が十分に速いときは、位置Aでのファイバ温度は
有効速度で炭素堆積を得るために十分(1100℃以上
)であることが示されている。
いる。9%のn−ブタンを含むアルゴンを炭素含有ガス
として、供給速度2.5f/分で用いる。
で堆積させる。ガラスファイバの縦方向で測定した炭素
層の電気抵抗は10kΩ/clI1である。
レープ中での処理に課した。該ガラスファイバを125
’Cの温度、14MPaの圧力で水素雰囲気中100
時間貯蔵した。光学減衰の増大を1100〜1250n
a+の波長の光で測定し、これは0.05dB/kmよ
りも少ない。厚みが半分の炭素層を有するガラスファイ
バ(電気抵抗20kΩ/cm)を用いた比較試験におい
ては、該ファイバを125 ’Cの温度、14MPaの
圧力で水素雰囲気中24時間だけ貯蔵した後の減衰の増
大は1240nmで20dB/kmであった。炭素で被
覆されてないファイバの場合、かかる試験の後には伝送
(transm iss ion)がもはや測定できな
かった。
引き炉24と炭素堆積反応器l6の上部との間の距離を
4〜12cmで変化させた。堆積した炭素の量は円錐部
までの距離が増加するに連れて減少することを見いだし
た。このことは距離の増大に伴い、温度の低下をもたら
し得るものである。炭素層の電気伝導率の減少は、該炭
素層の気密性の減少を示す炭素の重量に極めてよく比例
する。
ゴンと窒素の両者をキャリアガスとして用いた。2.6
m/秒のファイバ輸送速度、1〜2.5l/分のキャリ
アガス中0.271/分のブタンの供給で、形成された
炭素の量はキャリアガス量の増加に連れて僅かに減少す
ることが見いだされた。
用いた場合よりもおよそ5〜10%多くなり、このこと
はアルゴンを用いた場合、ガラスファイバの温度を高く
し、またアルゴンの熱伝導率を低くすることをもたらし
得るものである。窒素若しくはアルゴンの使用は形成さ
れた炭素層の気密性又は電気伝導率における差異を導く
ものではない。
、炭素はほとんど堆積しない。かかる場合、電気抵抗は
10kΩ/craのかわりに8500kΩ/cmである
。このことは、ヘリウムの本質的な熱伝導によりもたら
されるものである。ヘリウムの熱伝導係数は.27 ’
C、1気圧で0.151J/m.s. ”Cである.尖
籐K土 実施例3に記載した方法でファイバを製造したが、ファ
イバ輸送速度を4m/秒、ガス供給を2.5l/分、ブ
タン含量を4〜20容量%、アルゴン及び窒素をキャリ
アガスとして用いた。結果は前記実施例と同様である。
る方法においては、堆積プロセスを正確に制御rること
かできるようになる。4容量%のブタンを用いることに
より堆積した層の電気抵抗は20kΩ/cmで、20容
量%のブタンの場合は電気抵抗は7kΩ/cmであった
。
イバ輸送速度を2〜9m/秒で変化させた。
素含有ガスの量は2.5 1 /分であった。低い輸送
速度では、炭素堆積が少なくなるように、該ファイバを
反応器に導入する前に冷却する。高い輸送速度では、反
応器中のファイバの滞留時間は極めて短いため、同様に
少量ではあるが、層が高い気密性を呈するような高品質
な炭素堆積が達成される。記載した条件下では、ファイ
バ輸送速度が5〜6m/秒で最適な結果が得られた。
イバ直径を120〜130μmで変化させた.ファイバ
輸送速度は3〜4m/秒で、炭素含有ガス量は1.25
〜2.FM!/分であった。炭素含有ガスは10〜25
容量%のプタンを含むアルゴンであった。
炭素がより太いファイバ上に堆積した。このことは太い
ファイバの熱含量が多くなることをもたらすものであり
、従って該ファイバは長時間に渡り、若干より高い温度
を呈する。
反応器の壁温を600〜900℃で変化させた。ファイ
バ輸送速度は4m/秒で、炭素含有ガス量は2.51/
分であった。炭素含有ガスは5〜10容量%のブタンを
含むアルゴンから成るものであった。壁温が600から
800℃に増大した場合、ガラスファイバ上に堆積する
炭素量は僅かに増加する。
、炉壁上への炭素の堆積に従い著しく減少する。このた
めに、ブタンの濃度は減少し、水素の量は増加する。水
素の存在は、ガラスファイバの質に悪影響をもたらし、
更に、炭素含有ガスの熱伝導の増大をもたらす。水素の
熱伝導係数は27℃,1気圧で0.187J/m.s.
’Cである。
ブタン若しくはプロパンを炭素含有ガスに用いた。ファ
イバ輸送速度は4.6m/秒で、炭素含有p゛ス量は2
.i/分であった。炭素含有ガスは4〜25容量%のブ
タン又はプロパンを含むアルゴンから成るものであった
。ブタンの単位容量当たりの炭素原子の量が多量となる
ので、他の同様な条件下で形成される炭素の量は、ブタ
ンを用いる場合よりも約30%多い。
面図、 第2図は、ファイバ輸送速度の関数として、異なる位置
でのガラスファイバの温度を示す線図である。 10・・・ガラスファイバ 12・・・プレフォーム 14・・・炉 16・・・炭素堆積反応器 18・・・断熱壁 20・・・プレフォームの円錐部 22. 30・・・入りロアバーチャ 24・・・線引き炉の底面側 26・・・直径測定装置 28・・・パイプ 32・・・冷却パイプ 34・・・水冷却ジャケット F161 Vim/sl FlG.2
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光ファイバをプレフォームから線引きすることによ
り形成し、次いで直ちに高温で反応器中で炭素含有ガス
と接触させる無定型炭素の気密コーティングを有する光
ファイバを製造するにあたり、ファイバの温度が110
0〜1500℃である位置で、ファイバを炭素含有ガス
と接触させ、反応器の壁温が800℃以下で、該炭素含
有ガスは熱伝導係数が27℃で0.04J/m.s.℃
よりも小さい不活性キャリアガスを含むことを特徴とす
る光ファイバの製造方法。 2、炭素含有ガスは1〜6個の炭素原子を有する1又は
それ以上のアルカンを含むことを特徴とする請求項1記
載の光ファイバの製造方法。 3、炭素含有ガスはブタジエン、ブテン、n−ブタン及
びi−ブタンの一種又はそれ以上の化合物を含むことを
特徴とする請求項1記載の光ファイバの製造方法。 4、炭素層をホウ素でドープすることを特徴とする請求
項1〜3のいずれか1つの項記載の光ファイバの製造方
法。
Applications Claiming Priority (2)
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