JPH02295675A - 溶接線倣い制御方法 - Google Patents
溶接線倣い制御方法Info
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- JPH02295675A JPH02295675A JP28684589A JP28684589A JPH02295675A JP H02295675 A JPH02295675 A JP H02295675A JP 28684589 A JP28684589 A JP 28684589A JP 28684589 A JP28684589 A JP 28684589A JP H02295675 A JPH02295675 A JP H02295675A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、溶接トーチをオシレートさせてアーク長及び
ワイヤ突き出し長の変化に伴う電気的変化を検出し、溶
接線に倣わせる溶接線倣い制御方法に関するものである
。
ワイヤ突き出し長の変化に伴う電気的変化を検出し、溶
接線に倣わせる溶接線倣い制御方法に関するものである
。
特に、本発明は、被溶接物の板厚、材質、加工姿勢など
が異なっても、同一の装置で広範囲の溶接条件に適用で
きるアーク溶接用アークセンサによる溶接線倣い制御方
法に関するものである。
が異なっても、同一の装置で広範囲の溶接条件に適用で
きるアーク溶接用アークセンサによる溶接線倣い制御方
法に関するものである。
[従来の技術]
従来から、溶接トーチをオシレートさせてアーク長及び
ワイヤ突き出し長の変化によって発生する電気的変化を
検出するアークセンサの検出信号によって、溶接トーチ
を溶接線に倣わせる溶接線倣い制御方法が使用されてい
る。
ワイヤ突き出し長の変化によって発生する電気的変化を
検出するアークセンサの検出信号によって、溶接トーチ
を溶接線に倣わせる溶接線倣い制御方法が使用されてい
る。
この従来のアーク溶接方法に用いられているアークセン
サによる溶接線倣い制御方法の原理は、被溶接物の板厚
が2.0m+s以上の中又は厚板を対象とし、下向姿勢
のスプレーアーク溶接方法を対象とした制御方法である
。
サによる溶接線倣い制御方法の原理は、被溶接物の板厚
が2.0m+s以上の中又は厚板を対象とし、下向姿勢
のスプレーアーク溶接方法を対象とした制御方法である
。
この従来のアークセンサは、上記の原理を基本として各
種改良がなされて水平隅肉溶接の場合は、溶接速度が1
20cs/win程度の比較的低速度の溶接においては
比較的良好な結果が得れている。また、水平隅肉溶接の
場合は、板厚2.0mm程度までの薄板であれば、実用
可能になっている。
種改良がなされて水平隅肉溶接の場合は、溶接速度が1
20cs/win程度の比較的低速度の溶接においては
比較的良好な結果が得れている。また、水平隅肉溶接の
場合は、板厚2.0mm程度までの薄板であれば、実用
可能になっている。
しかし、最近の自動車各種部品の薄板溶接又は各種構造
物の立向下進溶接になると、入熱を制限するために、溶
接速度を高速度にするとともに、アーク長を短くして、
短絡現象が生じる領域を使用するショートアーク溶接方
法が広く使用されるようになってきた。さらに、ショー
トアーク溶接法のスパッタ発生を改善するために、アー
ク長が短くして、時々短絡が現われるMAGパルスアー
ク溶接方法も広く用いられるようになってきた。
物の立向下進溶接になると、入熱を制限するために、溶
接速度を高速度にするとともに、アーク長を短くして、
短絡現象が生じる領域を使用するショートアーク溶接方
法が広く使用されるようになってきた。さらに、ショー
トアーク溶接法のスパッタ発生を改善するために、アー
ク長が短くして、時々短絡が現われるMAGパルスアー
ク溶接方法も広く用いられるようになってきた。
しかし、従来のアークセンサは、前述したように、スプ
レーアークでアーク発生中のアーク長が略一定であると
して、ワイヤ先端の突出し長の変化による溶接電流の変
化を検出して、種々の演算を行い倣い制御に適用できる
ものである。
レーアークでアーク発生中のアーク長が略一定であると
して、ワイヤ先端の突出し長の変化による溶接電流の変
化を検出して、種々の演算を行い倣い制御に適用できる
ものである。
これに対して、入熱を制限するショートアーク溶接方法
、MAGパルスアーク溶接方法は、アーク長を短くして
いるので、短絡による溶接電流の変化が大きく影響して
従来のアークセンサでは倣い制御を行うことができない
。
、MAGパルスアーク溶接方法は、アーク長を短くして
いるので、短絡による溶接電流の変化が大きく影響して
従来のアークセンサでは倣い制御を行うことができない
。
C発明が解決しようとする問題点コ
通常、アーク溶接は、被溶接物の板厚、材質、加工姿勢
などが異なると、溶接電流、溶接電圧、シールドガスの
種類等を変化させることによって、アーク長、入熱を変
化させており、アーク現象も、スプレーアーク溶接方法
、短絡の比較的少ないMAGバルスアーク溶接方法、短
絡の多いショートアーク溶接方法等を選定することが必
要である。
などが異なると、溶接電流、溶接電圧、シールドガスの
種類等を変化させることによって、アーク長、入熱を変
化させており、アーク現象も、スプレーアーク溶接方法
、短絡の比較的少ないMAGバルスアーク溶接方法、短
絡の多いショートアーク溶接方法等を選定することが必
要である。
最近では、1台のロボットを用いて、各種姿勢の溶接方
法、特にシジートアーク溶接方法の適用が拡大している
。
法、特にシジートアーク溶接方法の適用が拡大している
。
しかし、通常のアークセンサ制御方法をショートアーク
溶接方法に適用しようとすると、アーク電流を検出する
周波数に問題がある。アーク発生と短絡とを繰り返すシ
ョートアーク溶接のアーク現象中で、短絡現象の継続期
間は、数[s see ]内の短時間であり、周波数に
して数100Hzの現象であるのに対して、アークセン
サで検出する電流の変化は、オシレート周波数の2倍、
すなわち、オシレート周波数をたとえ高速度にしても2
0Hz程度である。そこで、従来の方法では、検出した
電流のアナログ出力を50Hz程度のアナログ・ローパ
スフィルタに入力して、200乃至500Hz程度でサ
ンプリングを行うことにより、20Hz程度の変化を出
力して、倣い制御信号としている。このようなアナログ
・ローパスフィルタの出力信号は、トーチ位置信号に対
して30’前後の位相遅れが生じ、フィルタ回路のバラ
ッキをも含めて、種々のショートアーク溶接の加工条件
の変化に追従させて、高精度で補償することは、極めて
困難であるので、従来のアークセンサ制御方法をショー
トアーク溶接方法に適用できない。
溶接方法に適用しようとすると、アーク電流を検出する
周波数に問題がある。アーク発生と短絡とを繰り返すシ
ョートアーク溶接のアーク現象中で、短絡現象の継続期
間は、数[s see ]内の短時間であり、周波数に
して数100Hzの現象であるのに対して、アークセン
サで検出する電流の変化は、オシレート周波数の2倍、
すなわち、オシレート周波数をたとえ高速度にしても2
0Hz程度である。そこで、従来の方法では、検出した
電流のアナログ出力を50Hz程度のアナログ・ローパ
スフィルタに入力して、200乃至500Hz程度でサ
ンプリングを行うことにより、20Hz程度の変化を出
力して、倣い制御信号としている。このようなアナログ
・ローパスフィルタの出力信号は、トーチ位置信号に対
して30’前後の位相遅れが生じ、フィルタ回路のバラ
ッキをも含めて、種々のショートアーク溶接の加工条件
の変化に追従させて、高精度で補償することは、極めて
困難であるので、従来のアークセンサ制御方法をショー
トアーク溶接方法に適用できない。
すなわち、各溶接条件、例えば板厚によってオシレート
周波数を0.5乃至10Hzの範囲内で適正値を選定す
る必要が生じるが、オシレート周波数を広範囲の変化に
対応させて上記の位相遅れの誤差を高精度で補償するこ
とは、極めて困難である。
周波数を0.5乃至10Hzの範囲内で適正値を選定す
る必要が生じるが、オシレート周波数を広範囲の変化に
対応させて上記の位相遅れの誤差を高精度で補償するこ
とは、極めて困難である。
このように、前述したショートアーク溶接方法だけにし
か用いることができないアークセンサによる倣い制御方
法では、同一装置で、溶接条件を広く選定することがで
きないという問題点があった。
か用いることができないアークセンサによる倣い制御方
法では、同一装置で、溶接条件を広く選定することがで
きないという問題点があった。
[問題点を解決するための手段]
本発明は、従来からのスプレーアーク溶接方法に適用で
きることはもちろん、薄板又は立向下進溶接にも適用で
きるように入熱を制限するために、溶接速度を高速度に
するとともに、スプレーアーク溶接方法はもちろん、シ
ョートアーク溶接方法及ヒアーク長の短いMAGバルス
アーク溶接方法にも適用できる溶接線倣い制御方法を提
供することにある。
きることはもちろん、薄板又は立向下進溶接にも適用で
きるように入熱を制限するために、溶接速度を高速度に
するとともに、スプレーアーク溶接方法はもちろん、シ
ョートアーク溶接方法及ヒアーク長の短いMAGバルス
アーク溶接方法にも適用できる溶接線倣い制御方法を提
供することにある。
すなわち、本発明は、溶接速度を高速度にした溶接方法
に適用するため、及びショートアーク溶接及びアーク長
の短いMAGバルスアーク溶接方法のようにアーク現象
が短時間内に変化をする溶接方法に適用するために、オ
シレート周波数を、5乃至10Hzの高速度にするとと
もに、上述した短時間内に変化をする現象に追従するこ
とができるように、溶接電流のサンプリング周波数を大
きくシ、サンプリングしたデータの移動平均とトーチ位
置検出信号とから波形信号を出力して、その波形信号に
よって溶接線の倣い制御をする方法を要旨とするもので
ある。
に適用するため、及びショートアーク溶接及びアーク長
の短いMAGバルスアーク溶接方法のようにアーク現象
が短時間内に変化をする溶接方法に適用するために、オ
シレート周波数を、5乃至10Hzの高速度にするとと
もに、上述した短時間内に変化をする現象に追従するこ
とができるように、溶接電流のサンプリング周波数を大
きくシ、サンプリングしたデータの移動平均とトーチ位
置検出信号とから波形信号を出力して、その波形信号に
よって溶接線の倣い制御をする方法を要旨とするもので
ある。
そこで、本発明の構成は、溶接トーチをオシレートさせ
てアーク長及びワイヤ突き出し長の変化に伴う電気的変
化を検出し、前記検出信号により溶接トーチを溶接線に
倣わせる溶接線倣い制御方法において、溶接トーチの各
オシレート位置に対する一連のオシレート位置検出信号
S Oをオシレート用記憶回路のリングバッファ18a
に記憶し、前記オシレート用リングバッファ18aから
、オシレートN周期分の一連のオシレート位置検出信号
から成るデータXmを読み出し、このデータXmをオシ
レート用フィルタ回路19に出力して低周波ノイズ及び
ドリフトを取り除いた一連の位置フィルタ信号S19か
ら成るデータXを出力すると共に、溶接電流検出信号S
tOを高周波クロック信号によってサンプリングして
一連の溶接電流信号S tOを、溶接電流用記憶回路の
リングバッファ20aに記憶し、前記溶接電流用リング
バッファ20aから、オシレートN周期分の一連の溶接
電流信号から成るデータYmを読み出し、このデータY
mを溶接電流用フィルタ回路12に出力して、データY
mからU個のデータの平均値Yを演算することにより、
高周波ノイズの除去を行い、前記データXとデータYと
から波形信号S 13を出力し、前記波形信号の左半分
と右半分との比較信号との差が小さくなる方向に、前記
溶接トーチの中心を移動させる溶接線倣い制御方法であ
る。
てアーク長及びワイヤ突き出し長の変化に伴う電気的変
化を検出し、前記検出信号により溶接トーチを溶接線に
倣わせる溶接線倣い制御方法において、溶接トーチの各
オシレート位置に対する一連のオシレート位置検出信号
S Oをオシレート用記憶回路のリングバッファ18a
に記憶し、前記オシレート用リングバッファ18aから
、オシレートN周期分の一連のオシレート位置検出信号
から成るデータXmを読み出し、このデータXmをオシ
レート用フィルタ回路19に出力して低周波ノイズ及び
ドリフトを取り除いた一連の位置フィルタ信号S19か
ら成るデータXを出力すると共に、溶接電流検出信号S
tOを高周波クロック信号によってサンプリングして
一連の溶接電流信号S tOを、溶接電流用記憶回路の
リングバッファ20aに記憶し、前記溶接電流用リング
バッファ20aから、オシレートN周期分の一連の溶接
電流信号から成るデータYmを読み出し、このデータY
mを溶接電流用フィルタ回路12に出力して、データY
mからU個のデータの平均値Yを演算することにより、
高周波ノイズの除去を行い、前記データXとデータYと
から波形信号S 13を出力し、前記波形信号の左半分
と右半分との比較信号との差が小さくなる方向に、前記
溶接トーチの中心を移動させる溶接線倣い制御方法であ
る。
[実施例コ
(1)本発明の制御方法を実施するための装置全体の説
明 第1図(A)は、本発明の溶接線倣い制御方法を実施す
る装置の実施例のブッロク図を示し、第14図は、本発
明の制御方法を適用してアーク溶接するための装置全体
の概略構成図である。
明 第1図(A)は、本発明の溶接線倣い制御方法を実施す
る装置の実施例のブッロク図を示し、第14図は、本発
明の制御方法を適用してアーク溶接するための装置全体
の概略構成図である。
第1図(A)において、1は溶接ロボット本体、WTは
溶接ロボットの手首に取り付けられた溶接トーチ、Wは
消耗電極、Waは消耗電極先端、We及びW『はそれぞ
れぞれ左側の被溶接物及び右側の被溶接物であって両者
の突き合わせ線が溶接線WOを形成している。溶接トー
チWTと被溶接物との間には、溶接電流検出回路10を
通じて溶接電源9が接続されている。8はロボットの溶
接トーチ位置制御回路であって、溶接トーチWTの移動
及び矢印L.及びRoの方向のオシレート動作を制御す
ると共に、溶接トーチWTの位置を検出するエンコーダ
の出力信号を入力としてトーチ位置パルス列信号S8を
出力する。11はトーチ位置パルス列信号Ssを入力と
して第1図(B)に示すオシレート位置検出信号S I
1を出力する溶接トーチ位置検出回路である。18はオ
シレート位置検出信号SOを順次にメモリするオシレー
ト用記憶回路である。19は、オシレート用記憶回路1
8から、最新の信号よりも前のオシレートN周期分の信
号を読み出し低周波ノイズ及びドリフトを除去するオシ
レート用フィルタ回路である。
溶接ロボットの手首に取り付けられた溶接トーチ、Wは
消耗電極、Waは消耗電極先端、We及びW『はそれぞ
れぞれ左側の被溶接物及び右側の被溶接物であって両者
の突き合わせ線が溶接線WOを形成している。溶接トー
チWTと被溶接物との間には、溶接電流検出回路10を
通じて溶接電源9が接続されている。8はロボットの溶
接トーチ位置制御回路であって、溶接トーチWTの移動
及び矢印L.及びRoの方向のオシレート動作を制御す
ると共に、溶接トーチWTの位置を検出するエンコーダ
の出力信号を入力としてトーチ位置パルス列信号S8を
出力する。11はトーチ位置パルス列信号Ssを入力と
して第1図(B)に示すオシレート位置検出信号S I
1を出力する溶接トーチ位置検出回路である。18はオ
シレート位置検出信号SOを順次にメモリするオシレー
ト用記憶回路である。19は、オシレート用記憶回路1
8から、最新の信号よりも前のオシレートN周期分の信
号を読み出し低周波ノイズ及びドリフトを除去するオシ
レート用フィルタ回路である。
20は溶接電流検出回路10が検出した溶接電流に対応
した信号Sloを順次にメモリする溶接電流用記憶回路
である。12は、記憶回路20から、オシレート各位置
に対応した最新の信号よりも前のオシレートN周期分の
信号を読み出し高周波ノイズを除去して第1図(C)に
示す溶接電流■に対応する電流フィルタ信号S +2を
出力する溶接電流用フィルタ回路である。13は、位置
フィルタ信号S19と電流フィルタ信号S 12とを入
力として、第1図(D)に示すオシレート位置に対する
溶接電流の変化を示す波形信号S 13を出力する位置
・電流波形合成回路である。14は波形信号S 13を
入力としてオシレート幅の右半分を右方向に進行してい
るとき(以下、右進時という)に検出した溶接電流検出
信号(第1の検出信号)と左方向に進行している時(以
下、左進時という)に検出した溶接電流検出信号(第2
の瞬出信号)とを比較して第1図(E)に示す第1の比
較信号Rを出力する右位置電流差演算回路である。15
は波形信号S +3を入力としてオシレート幅の左半分
を左進時に検出した溶接電流検出信号(第3の検出信号
)と右進時に検出した溶接電流検出信号(第4の検出信
号)とを比較して第1図(F)に示す第2の比較信号L
を出力する左位置電流差演算回路である。16は第1の
比較信号Rと第2の比較信号Lとの差の左右電流差信号
J−R−Lを出力する左右電流差演算回路である。26
は、左右電流差信号Jを人力として、関数F (J)か
ら、溶接線中心位置のずれ方向とずれ量とを表わす信号
(以下、位置ずれ信号という)Zを出力する位置ずれ演
算回路である。17は位置ずれ信号Zを入力として、倣
い操作量Qを演算するオシレート中心位置補正回路であ
る。25は、倣い操作ffiQを入力として、オシレー
ト中心位置を修正する中心位置補正信号s +yを前述
したロボットの溶接トーチ位置制御回路8に出力する通
信ドライバである。
した信号Sloを順次にメモリする溶接電流用記憶回路
である。12は、記憶回路20から、オシレート各位置
に対応した最新の信号よりも前のオシレートN周期分の
信号を読み出し高周波ノイズを除去して第1図(C)に
示す溶接電流■に対応する電流フィルタ信号S +2を
出力する溶接電流用フィルタ回路である。13は、位置
フィルタ信号S19と電流フィルタ信号S 12とを入
力として、第1図(D)に示すオシレート位置に対する
溶接電流の変化を示す波形信号S 13を出力する位置
・電流波形合成回路である。14は波形信号S 13を
入力としてオシレート幅の右半分を右方向に進行してい
るとき(以下、右進時という)に検出した溶接電流検出
信号(第1の検出信号)と左方向に進行している時(以
下、左進時という)に検出した溶接電流検出信号(第2
の瞬出信号)とを比較して第1図(E)に示す第1の比
較信号Rを出力する右位置電流差演算回路である。15
は波形信号S +3を入力としてオシレート幅の左半分
を左進時に検出した溶接電流検出信号(第3の検出信号
)と右進時に検出した溶接電流検出信号(第4の検出信
号)とを比較して第1図(F)に示す第2の比較信号L
を出力する左位置電流差演算回路である。16は第1の
比較信号Rと第2の比較信号Lとの差の左右電流差信号
J−R−Lを出力する左右電流差演算回路である。26
は、左右電流差信号Jを人力として、関数F (J)か
ら、溶接線中心位置のずれ方向とずれ量とを表わす信号
(以下、位置ずれ信号という)Zを出力する位置ずれ演
算回路である。17は位置ずれ信号Zを入力として、倣
い操作量Qを演算するオシレート中心位置補正回路であ
る。25は、倣い操作ffiQを入力として、オシレー
ト中心位置を修正する中心位置補正信号s +yを前述
したロボットの溶接トーチ位置制御回路8に出力する通
信ドライバである。
第14図において、第1図(A)と同一の符号の説明は
省略する。同図において、2はロボット制御装置であっ
て、第1図(A)の溶接トーチ位置検出回路11及びト
ーチ位置制御回路8を含んでいる。3は、倣い制御装置
であって、第1図(A)で説明した符号12乃至26の
各回路を含んでいる。21は、トーチ位置検出回路11
の一部分を形成するエンコーダ信号累積カウンタであっ
て、オシレート位置に対応するエンコーダ信号を累積し
て累積カウンタ21のカウント値を後述するCPUに読
込む。23は、CPUであって、第1図(A)で説明し
た符号12乃至17.19及び26の各回路を形成する
。24は主記憶回路であって、その領域の一部分に、第
1図(A)の符号18及び20の回路を形成する。10
は溶接電流検出回路であって、電流検出ホール素子10
a,増幅回路10b,サンプリングホールド回路10c
及びA/Dコンバータ10dより構成される。
省略する。同図において、2はロボット制御装置であっ
て、第1図(A)の溶接トーチ位置検出回路11及びト
ーチ位置制御回路8を含んでいる。3は、倣い制御装置
であって、第1図(A)で説明した符号12乃至26の
各回路を含んでいる。21は、トーチ位置検出回路11
の一部分を形成するエンコーダ信号累積カウンタであっ
て、オシレート位置に対応するエンコーダ信号を累積し
て累積カウンタ21のカウント値を後述するCPUに読
込む。23は、CPUであって、第1図(A)で説明し
た符号12乃至17.19及び26の各回路を形成する
。24は主記憶回路であって、その領域の一部分に、第
1図(A)の符号18及び20の回路を形成する。10
は溶接電流検出回路であって、電流検出ホール素子10
a,増幅回路10b,サンプリングホールド回路10c
及びA/Dコンバータ10dより構成される。
(2)第2図乃至第10図の説明
第2図乃至第10図の説明は、図面の簡単な説明の項と
同じであるので、説明を省略する。(3)右位置電流差
演算回路14及び左位置電流差演算回路15の動作説明
(第5図乃至第9図参照)■第1の実施例 演算回路14は、波形信号S +3を入力として、溶接
トーチがオシレート幅の右半分を右進時に検出した溶接
電流の積分値ΣRr(第1の検出信号)と左進時に検出
した溶接電流の積分値ΣR1 (第2の検出信号)との
比ΣRr/ΣRflの第1の比較信号Rlを出力する。
同じであるので、説明を省略する。(3)右位置電流差
演算回路14及び左位置電流差演算回路15の動作説明
(第5図乃至第9図参照)■第1の実施例 演算回路14は、波形信号S +3を入力として、溶接
トーチがオシレート幅の右半分を右進時に検出した溶接
電流の積分値ΣRr(第1の検出信号)と左進時に検出
した溶接電流の積分値ΣR1 (第2の検出信号)との
比ΣRr/ΣRflの第1の比較信号Rlを出力する。
演算回路15は、波形信号S +3を入力として、溶接
トーチのオシレート幅の左半分を左進時に検出した溶接
電流の積分値ΣL1 (第3の検出信号)と右進時に
検出した溶接電流の積分値ΣLr(第4の検出信号)と
の比ΣL1/ΣL『の第2の比較信号L.を出力する。
トーチのオシレート幅の左半分を左進時に検出した溶接
電流の積分値ΣL1 (第3の検出信号)と右進時に
検出した溶接電流の積分値ΣLr(第4の検出信号)と
の比ΣL1/ΣL『の第2の比較信号L.を出力する。
■第2の実施例
演算回路14は、第1の実施例において、第1の検出信
号ΣRrと第2の検出信号ΣR1との差(ΣR『一ΣR
l)の第1の比較信号R2を出力する。演算回路15は
、第1の実施例において、第3の検出信号ΣL1と第4
の検出信号ΣL『との差(ΣL1−ΣLr)の第2の比
較信号L2を出力する。
号ΣRrと第2の検出信号ΣR1との差(ΣR『一ΣR
l)の第1の比較信号R2を出力する。演算回路15は
、第1の実施例において、第3の検出信号ΣL1と第4
の検出信号ΣL『との差(ΣL1−ΣLr)の第2の比
較信号L2を出力する。
■第3の実施例
演算回路14は、波形信号S 13を入力として、溶接
トーチがオシレート幅の右半分を右進時の中間位置で検
出した溶接電流信号Rr(第1の検出信号)と左進時の
中間位置で検出した溶接電流信号RJ! (第2の検
出信号)との比Rr/RJiの第1の比較信号R3を出
力する。演算回路15は、波形信号S 13を入力とし
て溶接トーチがオシレート幅の左半分を左進時の中間位
置で検出した溶接電流信号L1 (第3の検出信号)と
右進時の中間位置で検出した溶接電流信号 Lr(第4の検出信号)との比Ll/Lrの第2の比較
信号L3を出力する。
トーチがオシレート幅の右半分を右進時の中間位置で検
出した溶接電流信号Rr(第1の検出信号)と左進時の
中間位置で検出した溶接電流信号RJ! (第2の検
出信号)との比Rr/RJiの第1の比較信号R3を出
力する。演算回路15は、波形信号S 13を入力とし
て溶接トーチがオシレート幅の左半分を左進時の中間位
置で検出した溶接電流信号L1 (第3の検出信号)と
右進時の中間位置で検出した溶接電流信号 Lr(第4の検出信号)との比Ll/Lrの第2の比較
信号L3を出力する。
■第4の実施例
演算回路14は、第3の実施例において、第1の検出信
号Rrと第2の検出信号RIとの差(Rr−RJ!)の
第1の比較信号R4を出力する。演算回路15は、第3
の実施例において、第3の検出信号Lflと第4の検出
信号L『との差(L1−Lr)の第2の比較信号L4を
出力する。
号Rrと第2の検出信号RIとの差(Rr−RJ!)の
第1の比較信号R4を出力する。演算回路15は、第3
の実施例において、第3の検出信号Lflと第4の検出
信号L『との差(L1−Lr)の第2の比較信号L4を
出力する。
■第5の実施例
第5の実施例は、第1乃至第4の実施例において、オシ
レート速度が7〜10Hzの高速度の時に、第1の比較
信号Rと第2の比較信号Lとの極性を互に逆にした場合
である。
レート速度が7〜10Hzの高速度の時に、第1の比較
信号Rと第2の比較信号Lとの極性を互に逆にした場合
である。
■第6の・実施例
演第回路14は、波形信号S 13を入力として、溶接
トーチの右進時のオシレート右端で検出した溶接電流値
Re(第1の検出信号)と左進時のオシレート中心で検
出した溶接電流値C1 (第2の検出信号)との比R
e / C Jの第1の比較信号R6を出力する。演
算回路15は、波形信号S 13を入力として、溶接ト
ーチの左進時のオシレート左端で検出した溶接電流値L
e(第3の検出信号)と右進時のオシレート中心で検出
した溶接電流値Cr(第4の検出信号)との比L e
/ C rの第2の比較信号L6を出力する。なお、高
速度のオシレートの場合に、前述した検出精度の向上の
ために、第1の比較信号R6としてR e / C r
を出力し、第2の比較信号L e / C 1を出力す
るようにしてもよい。■第7の実施例 演算回路14は、第6の実施例において、第1の検出信
号Reと第2の検出信号C1との差(Re−CJ)の第
1の比較信号R7を出力する。演算回路15は、第6の
実施例において、第3の検出信号Leと第4の検出信号
C『との差(Le−Cr)の第2の比較信号 L7を出
力する。なお、前述した検出精度の向上のために、高速
度のオシレートの場合に、第1の比較信号R7として(
Re−Cr)を出力し、第2の比較信号として(Le−
CJ!)を出力するようにしてもよい。
トーチの右進時のオシレート右端で検出した溶接電流値
Re(第1の検出信号)と左進時のオシレート中心で検
出した溶接電流値C1 (第2の検出信号)との比R
e / C Jの第1の比較信号R6を出力する。演
算回路15は、波形信号S 13を入力として、溶接ト
ーチの左進時のオシレート左端で検出した溶接電流値L
e(第3の検出信号)と右進時のオシレート中心で検出
した溶接電流値Cr(第4の検出信号)との比L e
/ C rの第2の比較信号L6を出力する。なお、高
速度のオシレートの場合に、前述した検出精度の向上の
ために、第1の比較信号R6としてR e / C r
を出力し、第2の比較信号L e / C 1を出力す
るようにしてもよい。■第7の実施例 演算回路14は、第6の実施例において、第1の検出信
号Reと第2の検出信号C1との差(Re−CJ)の第
1の比較信号R7を出力する。演算回路15は、第6の
実施例において、第3の検出信号Leと第4の検出信号
C『との差(Le−Cr)の第2の比較信号 L7を出
力する。なお、前述した検出精度の向上のために、高速
度のオシレートの場合に、第1の比較信号R7として(
Re−Cr)を出力し、第2の比較信号として(Le−
CJ!)を出力するようにしてもよい。
■その他の変形例
本発明の倣い制御方法は、以上の実施例に限定されるも
のではなく、請求項に含まれる各種の変形、例えば溶接
トーチをオシレートさせてアーク長及びワイヤ突き出し
長の変化に伴う電気的変化であれば、溶接電流の平均値
、サンプリングした溶接電流のディジタル信号、ショー
トアーク溶接のアーク期間又は短絡期間の電圧又は電流
、バルスアークのベース期間の電流又は電圧等を使用す
ることができる。
のではなく、請求項に含まれる各種の変形、例えば溶接
トーチをオシレートさせてアーク長及びワイヤ突き出し
長の変化に伴う電気的変化であれば、溶接電流の平均値
、サンプリングした溶接電流のディジタル信号、ショー
トアーク溶接のアーク期間又は短絡期間の電圧又は電流
、バルスアークのベース期間の電流又は電圧等を使用す
ることができる。
(4)サンプリングの動作説明
第1図及び第14図に示す倣い制御装置3のサンプリン
グ動作について説明する。
グ動作について説明する。
トーチ位置及び溶接電流のサンプリング周期溶接トーチ
WTの各オシレート位置に対応した溶接電流値のデータ
をサンプリングする周期を定めるクロック信号の周波数
Fsは、シジートアーク溶接における短絡時又はアーク
長の短いMAGパルスアーク溶接におけるパルス電流と
ベース電流との変化時における溶接電流波形の微細な数
1sec (数100Hz)の変化を、正確にサンプ
リングできるようにするために、10〜L5K H z
の高い周波数を選定する。
WTの各オシレート位置に対応した溶接電流値のデータ
をサンプリングする周期を定めるクロック信号の周波数
Fsは、シジートアーク溶接における短絡時又はアーク
長の短いMAGパルスアーク溶接におけるパルス電流と
ベース電流との変化時における溶接電流波形の微細な数
1sec (数100Hz)の変化を、正確にサンプ
リングできるようにするために、10〜L5K H z
の高い周波数を選定する。
オシレート中心位置補正の周期
オシレート中心位置補正の周期(以下、位置補正周期と
いう)Tdを短くすると、溶接トーチと溶接線との位置
ずれを微細に制御することができるが、この位置補正周
期Tdは1回の位置補正演算時間Tcよりも小さくする
ことはできない。逆に、位置補正周期Tdを長くすると
、倣い制御のための演算時間を長くとることができるの
で、1回のオシレート中心位置補正に処理できるデータ
数を大きくすることができ、信頼性を向上させることが
できる。
いう)Tdを短くすると、溶接トーチと溶接線との位置
ずれを微細に制御することができるが、この位置補正周
期Tdは1回の位置補正演算時間Tcよりも小さくする
ことはできない。逆に、位置補正周期Tdを長くすると
、倣い制御のための演算時間を長くとることができるの
で、1回のオシレート中心位置補正に処理できるデータ
数を大きくすることができ、信頼性を向上させることが
できる。
そこで、位置補正周期Tdとしては、位置補正周期Td
の間に溶接トーチが溶接線方向に移動する距離Ldとす
ると、溶接トーチの溶接線方向への移動速度(溶接速度
)Vdの設定値に対して、移動距離Ldが略一定となり
、かつ位置補正周期Tdが、1回の位置補正演算時間 Tcよりも長くなる値を選定する。すなわち、TdはL
d/Vd又はTcのいずれかの最大値を選定すればよい
。
の間に溶接トーチが溶接線方向に移動する距離Ldとす
ると、溶接トーチの溶接線方向への移動速度(溶接速度
)Vdの設定値に対して、移動距離Ldが略一定となり
、かつ位置補正周期Tdが、1回の位置補正演算時間 Tcよりも長くなる値を選定する。すなわち、TdはL
d/Vd又はTcのいずれかの最大値を選定すればよい
。
溶接トーチ位置及び溶接電流検出信号の記憶オシレート
位置検出信号SO及び溶接電流検出信号S tOは、主
記憶回路24の領域の一部分をしめるバッファに記憶さ
れる。ここで使用するバッファは、バッファの最終アド
レスの次のアドレスが、先頭のアドレスに戻るリングバ
ッファ18a及び20aに、バッファのどの位置にデー
タを書き込み(読み出し)するかという情報(以下、リ
ングバッファポインタという)によって書き込み・読み
出しが行われる。
位置検出信号SO及び溶接電流検出信号S tOは、主
記憶回路24の領域の一部分をしめるバッファに記憶さ
れる。ここで使用するバッファは、バッファの最終アド
レスの次のアドレスが、先頭のアドレスに戻るリングバ
ッファ18a及び20aに、バッファのどの位置にデー
タを書き込み(読み出し)するかという情報(以下、リ
ングバッファポインタという)によって書き込み・読み
出しが行われる。
第15図に、オシレート位置検出信号S It及び溶接
電流検出信号S tOをサンプリングしてリングバッフ
ァ18a及び20aに書き込むサンプリング動作の流れ
図を示す。
電流検出信号S tOをサンプリングしてリングバッフ
ァ18a及び20aに書き込むサンプリング動作の流れ
図を示す。
■電源の投入時に、オシレート用記憶回路18及び溶接
電流用記憶回路20を初期化する。
電流用記憶回路20を初期化する。
■倣い制御の開始時に、図示していない検出信号サンプ
リング用クロック信号のクロックカウンタをリセットす
る。
リング用クロック信号のクロックカウンタをリセットす
る。
■倣い制御開始とともににサンプリング用クロック信号
を起動する。
を起動する。
■トーチ位置検出回路11のエンコーダが検出したエン
コーダ信号を、エンコーダ信号累積カウンタ21で累積
して一連のオシレート位置検出信号S 11をCPUに
読込む。
コーダ信号を、エンコーダ信号累積カウンタ21で累積
して一連のオシレート位置検出信号S 11をCPUに
読込む。
■CPUに読込んだ第16図(A)に示す一連のオシレ
ート位置検出信号S ttを、主記憶回路24のオシレ
ート用リングバッファ18gに、リングバッフ7ポイン
タが指示する位置に記憶する。
ート位置検出信号S ttを、主記憶回路24のオシレ
ート用リングバッファ18gに、リングバッフ7ポイン
タが指示する位置に記憶する。
■溶接電流検出回路10の溶接電流検出信号 Stoを
、第14図に示すA/Dコンバータ10dでディジタル
信号に変換してCPUに読込む。■CPUに読込んだ第
17図(A)に示す一連の溶接電流検出信号S tOを
、主記憶回路24の溶接電流用リングバッファ20aに
、リングバッファポインタが指示する位置へ記憶する。
、第14図に示すA/Dコンバータ10dでディジタル
信号に変換してCPUに読込む。■CPUに読込んだ第
17図(A)に示す一連の溶接電流検出信号S tOを
、主記憶回路24の溶接電流用リングバッファ20aに
、リングバッファポインタが指示する位置へ記憶する。
■リングバッファポインタを進め、第1図及び第14図
に図示していないクロックカウンタを1だけ増加させ、
クロックカウンタのカウント値が設定値Mに達するまで
サンプリングを繰り返す。
に図示していないクロックカウンタを1だけ増加させ、
クロックカウンタのカウント値が設定値Mに達するまで
サンプリングを繰り返す。
(設定値Mは、例えば、前述したサンプリングのクロッ
ク信号の周波数Fgと位置補正周期Tdとの積である。
ク信号の周波数Fgと位置補正周期Tdとの積である。
)
■クロックカウンタ値がMに達すると、クロックカウン
タをリセットするとともに、倣い制御演算開始の指令を
出力した後、サンプリングを繰り返す。
タをリセットするとともに、倣い制御演算開始の指令を
出力した後、サンプリングを繰り返す。
[相]サンプリングを継続しないときは、サンプリング
クロック信号を停止して倣い制御を終了する。
クロック信号を停止して倣い制御を終了する。
(5)フィルタの動作説明
オシレート用フィルタ
■第16図(A)に示す一連のオシレート位置検出信号
S 11を記憶しているオシレート用リングバッファ1
8aから、リングバッファポインタが指令する最新のオ
シレート位置検出信号 S Uよりも前のオシレートN周期(例えば1周期)の
一連のオシレート位置信号(以下、データXmという)
を読み出し、オシレート用バッファ18bに記憶する(
第16図(B)参照)。■オシレート用バッファ18b
に記憶されたデータXmを、オシレート用フィルタ回路
19に出力して低周波ノイズ及びドリフトを取り除き、
第16図(C)に示す位置フィルタ信号S19(以下、
データXという)を出力する。
S 11を記憶しているオシレート用リングバッファ1
8aから、リングバッファポインタが指令する最新のオ
シレート位置検出信号 S Uよりも前のオシレートN周期(例えば1周期)の
一連のオシレート位置信号(以下、データXmという)
を読み出し、オシレート用バッファ18bに記憶する(
第16図(B)参照)。■オシレート用バッファ18b
に記憶されたデータXmを、オシレート用フィルタ回路
19に出力して低周波ノイズ及びドリフトを取り除き、
第16図(C)に示す位置フィルタ信号S19(以下、
データXという)を出力する。
溶接電流用フィルタ
■第17図(A)に示す溶接電流検出信号S tOを記
憶している溶接電流用リングバッファ20aから、リン
グバッファポインタが指令する最新の電流信号S 20
よりも前のオシレートN周期(例えば1周期)の一
連の溶接電流信号(以下、データYmという)を読み出
し、溶接電流用バッファ20bに記憶する(第17図(
B)参照)。
憶している溶接電流用リングバッファ20aから、リン
グバッファポインタが指令する最新の電流信号S 20
よりも前のオシレートN周期(例えば1周期)の一
連の溶接電流信号(以下、データYmという)を読み出
し、溶接電流用バッファ20bに記憶する(第17図(
B)参照)。
■溶接電流用バッファ20bに記憶されたデータYmを
、溶接電流用フィルタ回路12に出力して高周波ノイズ
を取り除き、第17図(C)に示す電流フィルタ信号S
12(以下、データYという)を出力する。
、溶接電流用フィルタ回路12に出力して高周波ノイズ
を取り除き、第17図(C)に示す電流フィルタ信号S
12(以下、データYという)を出力する。
オシレート用フィルタ回路の動作説明
第18図(A)乃至(D)を参照してオシレート用フィ
ルタ回路19の動作を説明する。
ルタ回路19の動作を説明する。
■同図(A)に示すように、オシレート用バツファ18
bから読み出されたデータXmの最初の信号値と最後(
最新)の信号値S 11 とを直線で結び、その直線
をオシレート位置の零点となるように、同図(B)のと
おり変換する。
bから読み出されたデータXmの最初の信号値と最後(
最新)の信号値S 11 とを直線で結び、その直線
をオシレート位置の零点となるように、同図(B)のと
おり変換する。
■さらに、同図(B)のデータの最大値X1と最小値X
sとの平均値Xa(同図(C))が、オシレート位置の
零点となるように、同図(D)のとおり変換する。
sとの平均値Xa(同図(C))が、オシレート位置の
零点となるように、同図(D)のとおり変換する。
溶接電流用フィルタ回路の動作原理
第19図の実線は、溶接電流用リングバツファ回路20
aの一連の電流バッファ信号820(データYm)の時
間的経過tを示す。同設において、データYの平滑化時
間Ta (10〜 50+*sec)の間のU個のデータの移動平均を演算
する。
aの一連の電流バッファ信号820(データYm)の時
間的経過tを示す。同設において、データYの平滑化時
間Ta (10〜 50+*sec)の間のU個のデータの移動平均を演算
する。
このときの移動平均個数Uは、バッファ信号の平滑化時
間Taとサンプリング用クロック信号周波数Fsとの積
であり、時刻T1における移動平均値Ytは、次の式で
表わされ、移動平均Ytの時間的経過は第19図の点線
Yのようになる。
間Taとサンプリング用クロック信号周波数Fsとの積
であり、時刻T1における移動平均値Ytは、次の式で
表わされ、移動平均Ytの時間的経過は第19図の点線
Yのようになる。
上記のように移動平均Ytをとることにより、従来のア
ナログ・ローバスフィルタのような位相遅れを生じるこ
となく、ショートアーク溶接方法の短絡現象のような短
時間の変化に追従することができる。なお、オシレート
位置検出用エンコーダの出力信号Xの周波数を溶接電流
のサンプリング周波数と同一の10〜1 5 K H
zにしてもよいが、オシレート位置検出信号S 19は
ノイズが少ないので、この信号を処理する演算回路(C
PU)の処理能力を少なくするために、この信号のサン
プリング周波数をIKHz程度の低い周波数にすること
もできる。この場合においては、一連の電流バッファ信
号S20(データYm)の移動平均Ytの10〜15個
の平均をとることにより、データYの周波数をトーチ位
置検出用エンコーダの出力信号Xと同一の周波数までさ
げて、これらの両信号X及びYから波形信号を形成させ
ることができる。
ナログ・ローバスフィルタのような位相遅れを生じるこ
となく、ショートアーク溶接方法の短絡現象のような短
時間の変化に追従することができる。なお、オシレート
位置検出用エンコーダの出力信号Xの周波数を溶接電流
のサンプリング周波数と同一の10〜1 5 K H
zにしてもよいが、オシレート位置検出信号S 19は
ノイズが少ないので、この信号を処理する演算回路(C
PU)の処理能力を少なくするために、この信号のサン
プリング周波数をIKHz程度の低い周波数にすること
もできる。この場合においては、一連の電流バッファ信
号S20(データYm)の移動平均Ytの10〜15個
の平均をとることにより、データYの周波数をトーチ位
置検出用エンコーダの出力信号Xと同一の周波数までさ
げて、これらの両信号X及びYから波形信号を形成させ
ることができる。
なお、本発明では、第19図に示すように移動平均yt
の時間的経過Yを用いているので、従来のアナログ会ロ
ーパスフィルタのような位相遅れ及びエネルギロスがな
い。したがって、ショートアーク溶接方法においても、
アーク発生中の入熱と短絡中の入熱を正確に換算した出
力信号が得られ、等価なワイヤ突出し長が求められるの
で、スプレーアーク溶接方法のワイヤ突出し長の変化に
よる溶接電・流を検出したアークセンサの原理と同じ扱
いをすることができる。
の時間的経過Yを用いているので、従来のアナログ会ロ
ーパスフィルタのような位相遅れ及びエネルギロスがな
い。したがって、ショートアーク溶接方法においても、
アーク発生中の入熱と短絡中の入熱を正確に換算した出
力信号が得られ、等価なワイヤ突出し長が求められるの
で、スプレーアーク溶接方法のワイヤ突出し長の変化に
よる溶接電・流を検出したアークセンサの原理と同じ扱
いをすることができる。
(6)位置補正信号の演算
■第16図(C)に示す位置フィルタ信号S19(デー
タX)と第17図(C)に示す電流フィルタ信号S12
(データY)とを、位置・電流波形合成回路13に入力
して、第20図に示す波形信号S 13を形成する。
タX)と第17図(C)に示す電流フィルタ信号S12
(データY)とを、位置・電流波形合成回路13に入力
して、第20図に示す波形信号S 13を形成する。
■右位置電流差演算回路14は、波形信号S 13を人
力として、第21図CB)に示す溶接トーチがオシレー
ト幅の右半分を右進する時の電流データのディジタル値
の総和ΣR『と、同図(C)に示す右半分を左進する時
の電流データのディジタル値の総和ΣR1との差である
第1の比較信号R8−ΣR『一ΣRiを演算する(第2
1図(A)参照)。
力として、第21図CB)に示す溶接トーチがオシレー
ト幅の右半分を右進する時の電流データのディジタル値
の総和ΣR『と、同図(C)に示す右半分を左進する時
の電流データのディジタル値の総和ΣR1との差である
第1の比較信号R8−ΣR『一ΣRiを演算する(第2
1図(A)参照)。
なお、第21図(A)乃至(C)及び第22図(A)乃
至(C)の横軸は、オシレート位置Pに対応する位置フ
ィルタ信号8.19を表わし、縦軸は溶接電流値Iに対
応する電流フィルタ信号512を表わす。
至(C)の横軸は、オシレート位置Pに対応する位置フ
ィルタ信号8.19を表わし、縦軸は溶接電流値Iに対
応する電流フィルタ信号512を表わす。
■左位置電流差演算回路15は、波形信号S 13を入
力として、第22図(B)に示す溶接トーチがオシレー
ト幅の左半分を左進する時の電流データのディジタル値
の総和ΣLJと、同図(C)に示す左半分を右進する時
の電流データのディジタル値の総和ΣL『との差である
第2の比較信号L8一ΣL1−ΣLrを演算する(第2
2図(A)参照)。
力として、第22図(B)に示す溶接トーチがオシレー
ト幅の左半分を左進する時の電流データのディジタル値
の総和ΣLJと、同図(C)に示す左半分を右進する時
の電流データのディジタル値の総和ΣL『との差である
第2の比較信号L8一ΣL1−ΣLrを演算する(第2
2図(A)参照)。
■左右電流差演算回路16は、第1の比較信号R8と第
2の比較信号L8との差の信号J−R8−LlBを演算
する。
2の比較信号L8との差の信号J−R8−LlBを演算
する。
■位置ずれ演算回路26は、差の信号Jを変数とする関
数F (J)から、溶接線中心位置ずれの方向と量とを
表わす信号Z−F (J)を出力する。
数F (J)から、溶接線中心位置ずれの方向と量とを
表わす信号Z−F (J)を出力する。
関数F (J)としては、例えばaJ+bが用いられる
。
。
ただし、a及びbは、予め定めた定数で、例えば、オシ
レート周波数5[Hz]の時は、波形信号S 13が「
8の字」の正回転方向となるので、a〉0とする。又1
0[Hz]の時は、逆回転方向となるのでa<Qとする
。
レート周波数5[Hz]の時は、波形信号S 13が「
8の字」の正回転方向となるので、a〉0とする。又1
0[Hz]の時は、逆回転方向となるのでa<Qとする
。
位置ずれ信号Zの算出
消耗電極先端Waを、予め溶接線Woより既知の値Z『
だけずらして溶接を行ない、前述した■項の差の信号J
rを演算すると、開先形状、溶接トーチ姿勢等によって
、第23図(A)、(B)等に示される状態図が得られ
る。
だけずらして溶接を行ない、前述した■項の差の信号J
rを演算すると、開先形状、溶接トーチ姿勢等によって
、第23図(A)、(B)等に示される状態図が得られ
る。
これにより、例えば第23図(A)においては、Zrと
J『とが略直線状であるので、Zr−air+b式に置
換することができ、回帰分析によって、a,bの値を求
めると、前述した■項の差の信号Jから、オシレート中
心位置ずれデータZを求めることができる。
J『とが略直線状であるので、Zr−air+b式に置
換することができ、回帰分析によって、a,bの値を求
めると、前述した■項の差の信号Jから、オシレート中
心位置ずれデータZを求めることができる。
■17は、位置ずれ信号Zから、倣い操作ffiQを求
めるオシレート中心位置補正回路である。
めるオシレート中心位置補正回路である。
倣い操作量Qは、例えばPID制御においては^
Ql − kZi+J! ’X, ZI十m (Z
i−Zl−1 )i*0 ただし、k,J,mは定数、 iは倣い制御演算回数である。
i−Zl−1 )i*0 ただし、k,J,mは定数、 iは倣い制御演算回数である。
■倣い操作ffiQを入力とする通信ドライバ25は、
中心位置補正信号S IFを、トーチ位置制御回路8に
出力してオシレート中心位置ずれを補正することにより
、倣い制御を行う。
中心位置補正信号S IFを、トーチ位置制御回路8に
出力してオシレート中心位置ずれを補正することにより
、倣い制御を行う。
[発明の効果]
本発明の効果は次のとおりである。
(1)高速溶接における溶接線倣いが可能となった。
従来の溶接線倣い制御方法では、オシレート周波数が5
Hz程度の中速度までしか溶接線の検出ができなかった
。第12図は、オシレート周波数[Hz] (横軸)
に対する溶接線との位置ずれ検出誤差(以下、検出誤差
という)の標準偏差[mml(縦軸)を示す線図である
。同図の点線は、従来の制御方法の検出誤差の標準編差
を示す曲線であって、オシレート周波数が6Hz以上に
なると、検出誤差の標準偏差が1[+n]を大幅にこえ
るために使用できなかった。これに対して同図の実線は
、本発明の制御方法の検出誤差の標準編差を示す曲線で
あって、オシレート速度が2〜6Hzまでは検出誤差の
標準偏差が1.0 [mm]未満であり、6Hzをこ
えると従来とは逆に、検出誤差の標準偏差が減少して1
0Hzの高速度では、0.5 [mmlとなり、特に
高速度において検出誤差が小さくなっている。
Hz程度の中速度までしか溶接線の検出ができなかった
。第12図は、オシレート周波数[Hz] (横軸)
に対する溶接線との位置ずれ検出誤差(以下、検出誤差
という)の標準偏差[mml(縦軸)を示す線図である
。同図の点線は、従来の制御方法の検出誤差の標準編差
を示す曲線であって、オシレート周波数が6Hz以上に
なると、検出誤差の標準偏差が1[+n]を大幅にこえ
るために使用できなかった。これに対して同図の実線は
、本発明の制御方法の検出誤差の標準編差を示す曲線で
あって、オシレート速度が2〜6Hzまでは検出誤差の
標準偏差が1.0 [mm]未満であり、6Hzをこ
えると従来とは逆に、検出誤差の標準偏差が減少して1
0Hzの高速度では、0.5 [mmlとなり、特に
高速度において検出誤差が小さくなっている。
従来の倣い制御方法で、オシレート周波数を大にしない
で、溶接速度のみを大にすると、オシレートによる溶接
ビードの蛇行が目立つようになる。
で、溶接速度のみを大にすると、オシレートによる溶接
ビードの蛇行が目立つようになる。
そこで、従来の溶接線追従時の最高溶接速度は、下向隅
肉溶接では1 2 0 [co+/mln]程度であり
、重ね隅肉溶接では80 [am/m1n]程度であっ
た。
肉溶接では1 2 0 [co+/mln]程度であり
、重ね隅肉溶接では80 [am/m1n]程度であっ
た。
これに対して本発明では、オシレート周波数を7〜10
Hzの高速度にできるために、溶接線追従時の最高溶接
速度を、下向隅肉溶接では200[cs/sin] 、
重ね隅肉溶接では1 5 0 [cm/mfn]程度ま
で上昇させることができた。すなわち、溶接速度を従来
の2倍にしても、オシレート周波数も従来の2倍にする
ことができるために、オシレートによるビードの蛇行は
同じで問題にならない。
Hzの高速度にできるために、溶接線追従時の最高溶接
速度を、下向隅肉溶接では200[cs/sin] 、
重ね隅肉溶接では1 5 0 [cm/mfn]程度ま
で上昇させることができた。すなわち、溶接速度を従来
の2倍にしても、オシレート周波数も従来の2倍にする
ことができるために、オシレートによるビードの蛇行は
同じで問題にならない。
また、従来では、溶接線追従時の最高溶接速度に前述し
た限度があったために、薄板においても、溶接速度を速
くすることができないので、最小板厚は、水平隅肉溶接
では2.0 [mm] 、fJね隅肉溶接では3.2
[m+s]が限度であった。これに対して本発明で
は、最小板厚を、水平隅肉溶接では1。2τ市]まで、
重ね隅肉溶接では 2J [+n]まで適用が可能となった。
た限度があったために、薄板においても、溶接速度を速
くすることができないので、最小板厚は、水平隅肉溶接
では2.0 [mm] 、fJね隅肉溶接では3.2
[m+s]が限度であった。これに対して本発明で
は、最小板厚を、水平隅肉溶接では1。2τ市]まで、
重ね隅肉溶接では 2J [+n]まで適用が可能となった。
(2)溶接線追従の精度が向上した。
アークセンサではオシレートの一周期又は半周期の溶接
電流の平均電流のデータを基に、溶接線からの位置ずれ
が検出されるが、オシレート周波数を高くすることによ
って単位時間に検出を行うことができる回数が増加する
。
電流の平均電流のデータを基に、溶接線からの位置ずれ
が検出されるが、オシレート周波数を高くすることによ
って単位時間に検出を行うことができる回数が増加する
。
第13図は、教示された溶接線(横軸と一致)に対して
、傾斜して配置された実際の溶接線Wsの位置ずれを示
しており、横軸は溶接時間[秒コ、縦軸は教示溶接線(
横軸と一致)に対する傾斜して配置された実際の溶接線
との配置の位置ずれ距離[ mm ]である。同図にお
いて点線は、オシレート周波数が2.5Hzの従来の制
御方法による傾斜した実際の溶接線Wsとオシレート中
心Cとの位置ずれの時間経過を示し、位置ずれが最大1
.0 [mm] も生じている。これに対して、同図
の実線は、オシレート周波数が10Hzの本発明の制御
方法による傾斜した実際の溶接線Wsとオシレート中心
Cとの位置ずれの時間経過を示し、位置ずれの最大値は
0.5 [m+*]以下であって、従来の半分以下に
なり、溶接線追従の精度が向上している。
、傾斜して配置された実際の溶接線Wsの位置ずれを示
しており、横軸は溶接時間[秒コ、縦軸は教示溶接線(
横軸と一致)に対する傾斜して配置された実際の溶接線
との配置の位置ずれ距離[ mm ]である。同図にお
いて点線は、オシレート周波数が2.5Hzの従来の制
御方法による傾斜した実際の溶接線Wsとオシレート中
心Cとの位置ずれの時間経過を示し、位置ずれが最大1
.0 [mm] も生じている。これに対して、同図
の実線は、オシレート周波数が10Hzの本発明の制御
方法による傾斜した実際の溶接線Wsとオシレート中心
Cとの位置ずれの時間経過を示し、位置ずれの最大値は
0.5 [m+*]以下であって、従来の半分以下に
なり、溶接線追従の精度が向上している。
(3)立向下進溶接における倣い制御が可能になった。
立向下進溶接においては、溶融金属がアークの下方に垂
れさがり、開先の表面まで溶融金属が不安定に流動する
ために、従来の倣い制御方法では、立向下進溶接をアー
クセンサ倣い制御によって行うことは、極めて困難であ
った。それに対して本発明の制御方法においては、オシ
レート速度を高速度にして溶接速度を高速度にすること
ができるようになったために、溶融金属が垂れ落ちる速
度よりも速い溶接速度で溶接トーチ(アーク)を移動さ
せるので、溶融金属の垂れ落ちの影響をほとんど受ける
ことなく、安定した立向下進溶接の倣い制御を行うこと
が可能になり、例えば、溶接速度が2 0 0 [cm
/mln ]の立向隅肉下進溶接、溶接速度が1 5
0 [cm/sin]の立向重ね隅肉溶接を行うことが
できる。
れさがり、開先の表面まで溶融金属が不安定に流動する
ために、従来の倣い制御方法では、立向下進溶接をアー
クセンサ倣い制御によって行うことは、極めて困難であ
った。それに対して本発明の制御方法においては、オシ
レート速度を高速度にして溶接速度を高速度にすること
ができるようになったために、溶融金属が垂れ落ちる速
度よりも速い溶接速度で溶接トーチ(アーク)を移動さ
せるので、溶融金属の垂れ落ちの影響をほとんど受ける
ことなく、安定した立向下進溶接の倣い制御を行うこと
が可能になり、例えば、溶接速度が2 0 0 [cm
/mln ]の立向隅肉下進溶接、溶接速度が1 5
0 [cm/sin]の立向重ね隅肉溶接を行うことが
できる。
(4)小電流溶接時にも精度の高い倣い制御が可能にな
った。
った。
アークセンサによる倣い制御方法は、溶接電流が小さく
なると検出誤差が大になるが、本発明の倣い制御方法で
は、小電流になっても、オシレート速度を高速度にする
ことによって検出誤差が従来よりも小さくできるために
、従来よりも小電流溶接時にも倣い制御方法を行うこと
ができる。
なると検出誤差が大になるが、本発明の倣い制御方法で
は、小電流になっても、オシレート速度を高速度にする
ことによって検出誤差が従来よりも小さくできるために
、従来よりも小電流溶接時にも倣い制御方法を行うこと
ができる。
(5)各種溶接方法に共通に適用できる。
従来の倣い制御方法では、アーク長が略一定であること
が前提であったために、アーク長が変動したり、溶接電
源の回路インダクタンスの異なる溶接法に共通に使用す
ることができなかった。それに対して、本発明の倣い制
御方法は、短時間内にアーク長が変動しても、溶接電源
の回路インダクタンスが変化しても適用でき゜るために
、スブレ−アーク溶接方法でも、ショートアーク溶接方
法でも、アーク長の短いMAGパルスアーク溶接方法で
も広い溶接条件の範囲にわたって、単独に又は共用,し
て使用することができ、本発明の最大の特徴である。
が前提であったために、アーク長が変動したり、溶接電
源の回路インダクタンスの異なる溶接法に共通に使用す
ることができなかった。それに対して、本発明の倣い制
御方法は、短時間内にアーク長が変動しても、溶接電源
の回路インダクタンスが変化しても適用でき゜るために
、スブレ−アーク溶接方法でも、ショートアーク溶接方
法でも、アーク長の短いMAGパルスアーク溶接方法で
も広い溶接条件の範囲にわたって、単独に又は共用,し
て使用することができ、本発明の最大の特徴である。
第1図(A)は、本発明の溶接線倣い制御方法を実施す
るための装置の実施例のブロック図であり、同図CB)
乃至(E)は各回路の出力波形図であって、同図(B)
は溶接トーチ位置検出回路11の出力でオシレート位置
検出信号の波形図、同図(C)はフィルタ回路12の出
力の溶接電流検出信号の波形図、同図(D)は位置φ電
流波形合成合路13の出力の波形信号の波形図、同図(
E)は右位置電流差演算回路14の出力である第1の比
較信号の波形図、同図(F)は左位置電流差演算回路1
5の出力である第2の比較信号の波形図である。 第2図は、従来の倣い制御方法の位置ずれかない場合で
あってアーク長が一定と仮定した場合の説明図であって
、同図(A)はオシレート位置と溶接電流値との関係を
示す図、同図(B)は溶接トーチWTのオシレート位置
に対応したワイヤ先端位置W a ,ワイヤ突き出し長
At,AOアーク長BOの関係を示す図、同図(C)及
び(D)はそれぞれ時間の経過t(横軸)に対する溶接
電流値I及びオシレート位置P(縦軸)との関係を示す
図である。 第3図は、従来の倣い制御方法の第2図において、位置
ずれがある場合のオシレート位置と溶接電流値との関係
を示す図である。 第4図は、オシレート速度が2〜5Hz程度で位置ずれ
かない場合であって、実測したオシレート位置と溶接電
流値との関係を示す図であり、第5図は第4図において
、位置ずれが少ない場合の実測したオシレート位置と溶
接電流値との関係を示す図である。 第6図乃至第9図は、本発明の制御方法を検討するため
のアーク長の変動及び溶接電源回路のインダクタンスを
考慮にいれた微分方程式から求めたオシレート位置と溶
接電流値との関係を示す図であって、第6図(A)乃至
(C)はオシレート速度が0.5〜2Hzの超低速度、
第7図(A)乃至(C)は2〜5H’zの低速度、第8
図(A)乃至(C)は5〜7Hzの中速度及び第9図(
A)乃至(C)は7〜10Hzの高速度の場合のそれぞ
れオシレート中心が溶接線に対して右にずれている場合
、泣置ずれかない場合及び左にずれている場合のオシレ
ート位置と溶接電流値との関係を示す図である。 第10図(A)は溶接トーチのオシレート中心Cと溶接
線WOとが一致している時(位置ずれかない時)のオシ
レート位置と被溶接物の位置との関係を示す図であり、
同図(B)は時間経過tに対するオシレート位置Pを示
す図、同図(C)乃至(F)はオシレート速度がそれぞ
れ0.5Hz.5Hz,7Hz及び10Hzの時のオシ
レート位置Pに対する溶接電流値lの変化の軌跡を示す
図であり、同図(G)乃至(J)は時間経過tに対する
溶接電流値Iの変化を示す図である。 第11図は、溶接電源の回路インダクタンス[mH]
(横軸)とオシレート周波数[Hzl(縦軸)との関
係を示すグラフである。 第12図は、オシレート周波数[Hzl (横軸)に
対する溶接線との位置ずれ検出誤差の標準偏差[m■]
(縦軸)を示す線図である。 第13図は、教示された溶接線(横軸と一致)に対して
、傾斜して配置された実際の溶接線Wsに対する位置ず
れの溶接時間[秒] (横軸)と、教示溶接線に対する
傾斜して配置された実際の溶接線との配置の位置ずれ距
離[mml (縦軸)との関係を示す線図である。 第14図は、本発明の倣い制御方法を適用してアーク溶
接するための装置全体の概略構成図である。 第15図は、倣い制御装置のうちのサンプリング動作の
流れ図を示す。 第16図(A)は、オシレート用リングバツファ18a
に読込んだ一連のオシレート位置検出信号S 11の時
間的経過を示す図である。 第16図(B)は、オシレート用バツファ18bに読込
んだ一連のオシレート位置信号(データXm)の時間的
経過を示す図である。 第16図(C)は、オシレート
用フィルタ回路19から出力される一連の位置フィルタ
信号S19(データX)の時間的経過を示す図である。 第17図(A)は、溶接電流用リングバッファ20a
に読込んだ一連の溶接電流検出信号 S tOの時間的経過を示す図である。 第17図(B)は、溶接電流用バッファ20bに読込ん
だ一連の溶接電流検出信号(データYm)の時間的経過
を示す図である。 第17図(C)は、溶接電流用フィルタ回路12から出
力される一連の電流フィルタ信号S12(データY)の
時間的経過を示す図である。 第18図(A)乃至(D)は、オシレート用フィルタ回
路19の動作順序を説明する波形図である。 第19図は、溶接電流用バッファ回路20の一連の電流
バッファ信号(データY)の時間経過を示す図である。 第20図は、左右電流差演算回路16から出力する波形
信号S 13の波形図である。 第21図(A)乃至(C)は、右位置電流差演算回路1
4の動作を説明する波形図である。 第22図(A)乃至(C)は、左位置電流差演算回路1
5の動作を説明する波形図である。 第23図(A)及び(B)は、オシレート中心位置ずれ
を算出する関数の定数を求める図である。 (第6図乃至第9図参照) 第1の比較信号 R ・− ΣRr/ΣR1、ΣR『−
ΣR1, R e / R J * R r−R J! ,Re/
CJ!,Re−C1 第2の比較信号 L ΣLJ/ΣLr+ΣLr.一Σ
Lfll L1 /Lr.L1 −Lr. Le/Cr,Le−Cr P オシレート位置 I 一 溶接電流 第/ 図 (Dノ 丁 第2 図 第3図 WIL Wf (こ冫 第7図 (B) CA) →P →P 第g画 →P 一P 一P →P 第7 図 (C冫 <B) (A) →P →P →P 第4−図 第5図 第6 図 <C> <8) (ん →H →H →と 第/0 図 VJt vJr 第//図 θ (αど)0.5 ノズフ Is 2.0 →電5型@呂各のインダクタン2CmH1一才シレト厠
鑓オ丈(}fzl 1・ 第73図 十カ 第/8図 第l9図
るための装置の実施例のブロック図であり、同図CB)
乃至(E)は各回路の出力波形図であって、同図(B)
は溶接トーチ位置検出回路11の出力でオシレート位置
検出信号の波形図、同図(C)はフィルタ回路12の出
力の溶接電流検出信号の波形図、同図(D)は位置φ電
流波形合成合路13の出力の波形信号の波形図、同図(
E)は右位置電流差演算回路14の出力である第1の比
較信号の波形図、同図(F)は左位置電流差演算回路1
5の出力である第2の比較信号の波形図である。 第2図は、従来の倣い制御方法の位置ずれかない場合で
あってアーク長が一定と仮定した場合の説明図であって
、同図(A)はオシレート位置と溶接電流値との関係を
示す図、同図(B)は溶接トーチWTのオシレート位置
に対応したワイヤ先端位置W a ,ワイヤ突き出し長
At,AOアーク長BOの関係を示す図、同図(C)及
び(D)はそれぞれ時間の経過t(横軸)に対する溶接
電流値I及びオシレート位置P(縦軸)との関係を示す
図である。 第3図は、従来の倣い制御方法の第2図において、位置
ずれがある場合のオシレート位置と溶接電流値との関係
を示す図である。 第4図は、オシレート速度が2〜5Hz程度で位置ずれ
かない場合であって、実測したオシレート位置と溶接電
流値との関係を示す図であり、第5図は第4図において
、位置ずれが少ない場合の実測したオシレート位置と溶
接電流値との関係を示す図である。 第6図乃至第9図は、本発明の制御方法を検討するため
のアーク長の変動及び溶接電源回路のインダクタンスを
考慮にいれた微分方程式から求めたオシレート位置と溶
接電流値との関係を示す図であって、第6図(A)乃至
(C)はオシレート速度が0.5〜2Hzの超低速度、
第7図(A)乃至(C)は2〜5H’zの低速度、第8
図(A)乃至(C)は5〜7Hzの中速度及び第9図(
A)乃至(C)は7〜10Hzの高速度の場合のそれぞ
れオシレート中心が溶接線に対して右にずれている場合
、泣置ずれかない場合及び左にずれている場合のオシレ
ート位置と溶接電流値との関係を示す図である。 第10図(A)は溶接トーチのオシレート中心Cと溶接
線WOとが一致している時(位置ずれかない時)のオシ
レート位置と被溶接物の位置との関係を示す図であり、
同図(B)は時間経過tに対するオシレート位置Pを示
す図、同図(C)乃至(F)はオシレート速度がそれぞ
れ0.5Hz.5Hz,7Hz及び10Hzの時のオシ
レート位置Pに対する溶接電流値lの変化の軌跡を示す
図であり、同図(G)乃至(J)は時間経過tに対する
溶接電流値Iの変化を示す図である。 第11図は、溶接電源の回路インダクタンス[mH]
(横軸)とオシレート周波数[Hzl(縦軸)との関
係を示すグラフである。 第12図は、オシレート周波数[Hzl (横軸)に
対する溶接線との位置ずれ検出誤差の標準偏差[m■]
(縦軸)を示す線図である。 第13図は、教示された溶接線(横軸と一致)に対して
、傾斜して配置された実際の溶接線Wsに対する位置ず
れの溶接時間[秒] (横軸)と、教示溶接線に対する
傾斜して配置された実際の溶接線との配置の位置ずれ距
離[mml (縦軸)との関係を示す線図である。 第14図は、本発明の倣い制御方法を適用してアーク溶
接するための装置全体の概略構成図である。 第15図は、倣い制御装置のうちのサンプリング動作の
流れ図を示す。 第16図(A)は、オシレート用リングバツファ18a
に読込んだ一連のオシレート位置検出信号S 11の時
間的経過を示す図である。 第16図(B)は、オシレート用バツファ18bに読込
んだ一連のオシレート位置信号(データXm)の時間的
経過を示す図である。 第16図(C)は、オシレート
用フィルタ回路19から出力される一連の位置フィルタ
信号S19(データX)の時間的経過を示す図である。 第17図(A)は、溶接電流用リングバッファ20a
に読込んだ一連の溶接電流検出信号 S tOの時間的経過を示す図である。 第17図(B)は、溶接電流用バッファ20bに読込ん
だ一連の溶接電流検出信号(データYm)の時間的経過
を示す図である。 第17図(C)は、溶接電流用フィルタ回路12から出
力される一連の電流フィルタ信号S12(データY)の
時間的経過を示す図である。 第18図(A)乃至(D)は、オシレート用フィルタ回
路19の動作順序を説明する波形図である。 第19図は、溶接電流用バッファ回路20の一連の電流
バッファ信号(データY)の時間経過を示す図である。 第20図は、左右電流差演算回路16から出力する波形
信号S 13の波形図である。 第21図(A)乃至(C)は、右位置電流差演算回路1
4の動作を説明する波形図である。 第22図(A)乃至(C)は、左位置電流差演算回路1
5の動作を説明する波形図である。 第23図(A)及び(B)は、オシレート中心位置ずれ
を算出する関数の定数を求める図である。 (第6図乃至第9図参照) 第1の比較信号 R ・− ΣRr/ΣR1、ΣR『−
ΣR1, R e / R J * R r−R J! ,Re/
CJ!,Re−C1 第2の比較信号 L ΣLJ/ΣLr+ΣLr.一Σ
Lfll L1 /Lr.L1 −Lr. Le/Cr,Le−Cr P オシレート位置 I 一 溶接電流 第/ 図 (Dノ 丁 第2 図 第3図 WIL Wf (こ冫 第7図 (B) CA) →P →P 第g画 →P 一P 一P →P 第7 図 (C冫 <B) (A) →P →P →P 第4−図 第5図 第6 図 <C> <8) (ん →H →H →と 第/0 図 VJt vJr 第//図 θ (αど)0.5 ノズフ Is 2.0 →電5型@呂各のインダクタン2CmH1一才シレト厠
鑓オ丈(}fzl 1・ 第73図 十カ 第/8図 第l9図
Claims (1)
- 1、溶接トーチをオシレートさせてアーク長及びワイヤ
突き出し長の変化に伴う電気的変化を検出し、前記検出
信号により溶接トーチを溶接線に倣わせる溶接線倣い制
御方法において、溶接トーチの各オシレート位置に対す
る一連のオシレート位置検出信号をオシレート用記憶回
路に記憶し、前記オシレート用記憶回路から、オシレー
トN周期分の一連のオシレート位置検出信号から成るデ
ータXmを読み出し、このデータXmをオシレート用フ
ィルタ回路に出力して低周波ノイズ及びドリフトを取り
除いた一連の位置フィルタ信号から成るデータXを出力
すると共に、溶接電流検出信号を高周波クロック信号に
よってサンプリングして一連の溶接電流検出信号を溶接
電流用記憶回路に記憶し、前記溶接電流用記憶回路から
、オシレートN周期分の一連の電流バッファ信号から成
るデータYmを読み出し、このデータYmを溶接電流用
フィルタ回路に出力して、データYmからU個のデータ
の平均値Yを演算することにより、高周波ノイズの除去
を行い、前記データXとデータYとから波形信号を出力
し、前記波形信号の左半分と右半分との比較信号が小さ
くなる方向に、前記溶接トーチの中心を移動させる溶接
線倣い制御方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1286845A JP2969694B2 (ja) | 1989-11-02 | 1989-11-02 | 溶接線倣い制御方法 |
| US07/520,711 US5130514A (en) | 1989-05-10 | 1990-05-08 | Control apparatus for tracing a weld line in a welding apparatus and control method therefor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1286845A JP2969694B2 (ja) | 1989-11-02 | 1989-11-02 | 溶接線倣い制御方法 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11817689A Division JPH074666B2 (ja) | 1988-05-11 | 1989-05-10 | 溶接線倣い制御方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02295675A true JPH02295675A (ja) | 1990-12-06 |
| JP2969694B2 JP2969694B2 (ja) | 1999-11-02 |
Family
ID=17709777
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1286845A Expired - Lifetime JP2969694B2 (ja) | 1989-05-10 | 1989-11-02 | 溶接線倣い制御方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2969694B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018089655A (ja) * | 2016-12-02 | 2018-06-14 | ファナック株式会社 | アーク溶接ロボットシステム |
| CN119294155A (zh) * | 2024-12-13 | 2025-01-10 | 浙江大学湖州研究院 | 一种电弧焊接摆动过程的热力学仿真方法及装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58187263A (ja) * | 1982-04-26 | 1983-11-01 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | ア−ク溶接方法 |
-
1989
- 1989-11-02 JP JP1286845A patent/JP2969694B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58187263A (ja) * | 1982-04-26 | 1983-11-01 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | ア−ク溶接方法 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018089655A (ja) * | 2016-12-02 | 2018-06-14 | ファナック株式会社 | アーク溶接ロボットシステム |
| US10232457B2 (en) | 2016-12-02 | 2019-03-19 | Fanuc Corporation | Arc welding robot system |
| CN119294155A (zh) * | 2024-12-13 | 2025-01-10 | 浙江大学湖州研究院 | 一种电弧焊接摆动过程的热力学仿真方法及装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2969694B2 (ja) | 1999-11-02 |
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